用于互连的结构和方法与流程

文档序号:12159942阅读:来源:国知局
技术总结
根据一些实施例,本发明提供了一种制造集成电路的方法。该方法包括:提供在第一介电材料层中具有第一导电部件的衬底;选择性地蚀刻第一导电部件,从而在第一导电部件上形成凹进的沟槽;在第一介电材料层上、第一导电部件上和凹进的沟槽的侧壁上形成蚀刻停止层;在蚀刻停止层上形成第二介电材料层;在第二介电材料层中形成开口;并且在第二介电材料层的开口中形成第二导电部件。第二导电部件与第一导电部件电连接。本发明实施例涉及用于互连的结构和方法。

技术研发人员:吕志伟;李忠儒;包天一
受保护的技术使用者:台湾积体电路制造股份有限公司
文档号码:201610596983
技术研发日:2016.07.27
技术公布日:2017.03.01

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