技术总结
本发明公开用于集成电路的薄膜电阻设备，包括薄膜电阻设备的集成电路。如薄膜电阻传感器通常包括多个电阻元件。这些部件应当良好匹配，以便传感器提供准确的读数。当传感器结合在集成电路内时，电阻元件可以形成在形成其它部件的一部分的金属迹线上方或下方。结果，薄膜电阻部件经受不同水平的应力。本公开提供了一种被布置为减轻应力的影响的结构。
技术研发人员：J·库比克;S·P·威斯顿;P·M·朵兰
受保护的技术使用者：亚德诺半导体集团
文档号码：201610995575
技术研发日：2016.11.11
技术公布日：2017.05.17