一种薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构的制作方法

本实用新型涉及了一种薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构。

背景技术：

COG液晶显示器，是指驱动芯片（IC）通过各向异性导电胶固定在玻璃上，并由该芯片驱动显示器内显示电路的液晶显示器。此种COG液晶显示器，在没有啤上IC之前，是没有办法显示的。用传统的半成品测试断路时，从图1可看出，COM线1’和SEG线2’相邻处的间距太小（一般小于0.05mm），加上检测时是手工装架，导电条3’又是软的，压下时会扩展，所以两个导电条3’之间的距离d为0.15mm是极限，超出测试能力，故实际测试时会舍去几根COM线和SEG线（位于如图1中的虚框4’内）不测试。但是如果这些被舍去不测试的线出现断路，是没有办法测试出来的，只有等啤上IC，啤上FPC，做成成品后，才能挑选出来，但容易造成人力物力的浪费。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是提供了一种薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其结构简单，易于实现，成本低，且无需改变电测检测装置以及测试方法，即可实现全显示和线路全检测，解决现有检测时COM线和SEG线靠得很近时全部线路无法进行全部断路测试的问题，采用本引脚结构可半成品阶段尽早地挑出不良品，避免不良品流入下工序并制成成品，减少损失和提高工作效率和质量。

本实用新型所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

一种薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其包括连接薄膜电路扫描线的COM引线和连接薄膜电路数据线的SEG引线；所述COM引线包括与电测检测装置的第一导电条检测时电连接的若干条第一COM线和未与所述第一导电条检测时电连接的若干条第二COM线；所述SEG引线包括与检测装置的第二导电条检测时电连接的若干条第一SEG线和未与所述第二导电条检测时电连接的若干条第二SEG线；所述第二COM线和第二SEG线介于所述第一导电条和第二导电条之间；还包括若干条第一连接线和第二连接线，其分别连接在所述第二COM线和第二SEG线的末端，用于实现所述第二COM线与所述第一导电条检测时的电连接和所述第二SEG线与所述第二导电条检测时的电连接。

作为本实用新型提供的薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构的一种改进，所述第一连接线和第二连接线为L型或类L型连接线。

作为本实用新型提供的薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构的一种改进，所述薄膜电路、COM引线、SEG引线、第一连接线和第二连接线的材质为ITO。

作为本实用新型提供的薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构的一种改进，所述电测检测装置还包括夹具、测试架和检测用电路板，所述第一导电条和第二导电条电连接所述电路板，所述第一导电条还压接在所述第一COM线和第一连接线上，所述第二导电条还压接在所述第一SEG线和第二连接线上；所述电路板通过夹具固定在所述测试架上。

本实用新型具有如下有益效果：

本薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其结构简单，易于实现，成本较低，且无需改变现有的电测检测装置以及测试方法，可实现全显示和线路的全检测，检测方便快捷，解决现有检测时COM线和SEG线靠得很近时全部线路无法进行全部断路测试的问题，采用本引脚结构可在半成品阶段尽早地挑出不良品，避免不良品流入下工序并制成成品，造成不必要的损失，也进一步提高工作效率和质量。

附图说明

图1为现有引脚结构与导电条的测试连接示意图；

图2为本实用新型引脚结构的分解示意图；

图3为本实用新型引脚结构与导电条的测试连接示意图。

具体实施方式

下面结合实施例对本实用新型进行详细的说明，实施例仅是本实用新型的优选实施方式，不是对本实用新型的限定。

如图2、3所示，其显示了本实用新型提供的一种薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其包括连接薄膜电路扫描线的COM引线1和连接薄膜电路数据线的SEG引线2，用于连接薄膜电路和驱动芯片；其中，所述COM引线1包括与电测检测装置的第一导电条41检测时电连接的若干条第一COM线11和未与所述第一导电条41检测时电连接的若干条第二COM线12；所述SEG引线2包括与电测检测装置的第二导电条42检测时电连接的若干条第一SEG线21和未与所述第二导电条42检测时电连接的若干条第二SEG线22；所述第二COM线12和第二SEG线22介于所述第一导电条41和第二导电条42之间；还包括若干条第一连接线31和第二连接线32，其分别连接在所述第二COM线12和第二SEG线22的末端，用于实现所述第二COM线12与所述第一导电条41检测时的电连接和所述第二SEG线22与所述第二导电条42检测时的电连接。

需要说明的是，为了避免漏检，可增设与靠近所述第二COM线12的第一COM线11连接的第一连接线41，同理，增设与靠近所述第二SEG线22的第一SEG线21连接的第二连接线42，以减少每次压接导电条出现的对位不准确的问题而造成漏检。

所述电测检测装置包括第一导电条41、第二导电条42、夹具、测试架和检测用电路板，所述第一导电条41和第二导电条42电连接所述电路板，所述第一导电条41还压接在所述第一COM线11和第一连接线31上，所述第二导电条42还压接在所述第一SEG线21和第二连接线32上；所述电路板通过夹具固定在所述测试架上。打开测试架的电源开关，即可测试薄膜电路的断线缺陷，若未点亮即断线了。

值得注意的是，所述电测检测装置以及检测方法为本领域技术人员公知技术，在此不再详述。

所述第一连接线31和第二连接线32优选为L型或类L型连接线，便于将第二COM线12和第二SEG线22引入到所述第一导电条41和第二导电条42的测试极限范围内。

所述薄膜电路、COM引线1、SEG引线2、第一连接线31和第二连接线32的材质为ITO，但不局限于此。

本薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其结构简单，易于实现，成本较低，且无需改变现有的电测检测装置以及测试方法，可实现全显示和线路的全检测，检测方便快捷，从而在半成品阶段尽早地挑出不良品，避免不良品流入下工序并制成成品，造成不必要的损失，也进一步提高工作效率和质量。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本实用新型的保护范围之内。