1.一种薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其包括连接薄膜电路扫描线的COM引线和连接薄膜电路数据线的SEG引线；所述COM引线包括与电测检测装置的第一导电条检测时电连接的若干条第一COM线和未与所述第一导电条检测时电连接的若干条第二COM线；所述SEG引线包括与检测装置的第二导电条检测时电连接的若干条第一SEG线和未与所述第二导电条检测时电连接的若干条第二SEG线；所述第二COM线和第二SEG线介于所述第一导电条和第二导电条之间；其特征在于，还包括若干条第一连接线和第二连接线，其分别连接在所述第二COM线和第二SEG线的末端，用于实现所述第二COM线与所述第一导电条检测时的电连接和所述第二SEG线与所述第二导电条检测时的电连接。
2.根据权利要求1所述的薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其特征在于，所述第一连接线和第二连接线为L型或类L型连接线。
3.根据权利要求1或2所述的薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其特征在于，所述薄膜电路、COM引线、SEG引线、第一连接线和第二连接线的材质为ITO。
4.根据权利要求1所述的薄膜电路全显示电测断路用的引脚结构，其特征在于，所述电测检测装置还包括夹具、测试架和检测用电路板，所述第一导电条和第二导电条电连接所述电路板，所述第一导电条还压接在所述第一COM线和第一连接线上，所述第二导电条还压接在所述第一SEG线和第二连接线上；所述电路板通过夹具固定在所述测试架上。