一种用于测试LED芯片的运动装置的制作方法

本实用新型涉及测试LED芯片的运动装置技术领域，具体为一种用于测试LED芯片的运动装置。

背景技术：

LED芯片作为一种新兴行业，越来越广泛的被应用在各行各业中，具有低功耗、工作环境灵活度高、亮度高等特点，现在逐渐代替传统光源。不仅如此，由于其成本低、生产周期快、工作稳定、形状微小等各种优点，使其的应用十分广泛，可以看到LED芯片的行业发展的前景很光明。

伴随着社会对LED芯片的需求逐渐增多，人们对LED芯片质量的要求也越来越高，LED芯片的生产过程对其测试的装置也会提出更高的要求，比如检测速度、准确性和耐用性。由于需求量很多，这类设备的需求也就越多，前景也是十分光明的，但是目前市场上测试LED芯片的运动装置一般都是通过电机直接驱动旋转台或者螺旋杆带动LED芯片检测台的旋转和移动。针对上述问题的描述以及为了进一步提高测试LED芯片的运动装置的可靠性，本实用新型提出了一种用于测试LED芯片的运动装置。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种用于测试LED芯片的运动装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于测试LED芯片的运动装置，包括芯片测试台底座、安装台、小旋转电机、大旋转电机、CCD检测装置和芯片测试台，所述芯片测试台底座用于承载整个芯片测试的运动装置，且内部设置有横向锥齿轮和纵向锥齿轮，所述横向锥齿轮和纵向锥齿轮一侧设有安装台，小旋转电机通过螺栓固定在安装台上，所述小旋转电机和皮带轮通过皮带连接，且皮带轮一侧设有芯片测试台，所述芯片测试台一侧设置有CCD检测装置，所述CCD检测装置固定于Z向移动装置上，所述Z向移动装置内设有可活动的齿轮组，且可活动的齿轮组于大旋转电机的齿轮啮合，所述大旋转电机和皮带轮上固定有加强筋。

优选的，所述芯片测试台底座内部设置有横向锥齿轮和纵向锥齿轮。

优选的，所述小旋转电机和皮带轮通过皮带连接，且皮带轮一侧设有芯片测试台。

优选的，所述芯片测试台一侧设置有CCD检测装置，且CCD检测装置固定于Z向移动装置上。

优选的，所述Z向移动装置内设有可活动的齿轮组。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型通过在芯片测试台底座内部设置横向锥齿轮和纵向锥齿轮，来保证整个检测设备的X和Y方向的移动。小旋转电机的转动通过皮带传输给皮带轮，而且传输比可以通过齿数比来调控，皮带轮的旋转通过安装与芯片测试台上的六角轴来带动芯片测试台的旋转。芯片测试台旁安装的CCD检测装置可以用于检测芯片的外形和特性，其内部设置有高频CPU处理器和高速相机等装置，从而保证了其工作的可靠性。Z向移动装置内设置有可活动齿轮组，从而可以实现芯片测试台的Z向运动。此设备Z向运动装置内齿轮组分解了横向和纵向的力，保证各运动部件的工作负荷在合理范围内，具有结构紧凑、工作可靠的特点。

附图说明

图1为本实用新型一种用于测试LED芯片的运动装置的轴侧示意图；

图2为本实用新型一种用于测试LED芯片的运动装置的正视图。

图中：1-芯片测试台底座；2-横向锥齿轮；3-纵向锥齿轮；4-安装台；5-小旋转电机；6-皮带；7-皮带轮；8-大旋转电机；9-加强筋；10-CCD检测装置；11-芯片测试台；12-Z向移动装置。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，本实用新型提供一种技术方案：一种用于测试LED芯片的运动装置，包括芯片测试台底座1、安装台4、小旋转电机5、大旋转电机8、CCD检测装置10和芯片测试台11，所述芯片测试台底座1用于承载整个芯片测试的运动装置，且内部设置有横向锥齿轮2和纵向锥齿轮3，所述横向锥齿轮2和纵向锥齿轮3一侧设有安装台4，小旋转电机5通过螺栓固定在安装台4上，所述小旋转电机5和皮带轮7通过皮带6连接，且皮带轮7一侧设有芯片测试台11，所述芯片测试台11一侧设置有CCD检测装置10，且CCD检测装置10固定于Z向移动装置12上，所述Z向移动装置12内设有可活动的齿轮组，且可活动的齿轮组于大旋转电机8的齿轮啮合，所述大旋转电机8和皮带轮7上固定有加强筋9。

所述芯片测试台底座1内部设置有横向锥齿轮2和纵向锥齿轮3，来保证整个检测设备的X和Y方向的移动；所述小旋转电机5和皮带轮7通过皮带6连接，且皮带轮7一侧设有芯片测试台11，小旋转电机5的转动通过皮带6传输给皮带轮7，而且传输比可以通过齿数比来调控，皮带轮7的旋转通过安装与芯片测试台11上的六角轴来带动芯片测试台11的旋转；所述芯片测试台11一侧设置有CCD检测装置10，且CCD检测装置10固定于Z向移动装置12上，芯片测试台11旁安装的CCD检测装置10可以用于检测芯片的外形和特性，其内部设置有高频CPU处理器和高速相机等装置，从而保证了其工作的可靠性；所述Z向移动装置12内设有可活动的齿轮组，从而可以实现芯片测试台11的Z向运动。

工作原理：本实用新型通过在芯片测试台底座内部设置横向锥齿轮和纵向锥齿轮，来保证整个检测设备的X和Y方向的移动。小旋转电机的转动通过皮带传输给皮带轮，而且传输比可以通过齿数比来调控，皮带轮的旋转通过安装与芯片测试台上的六角轴来带动芯片测试台的旋转。芯片测试台旁安装的CCD检测装置可以用于检测芯片的外形和特性，其内部设置有高频CPU处理器和高速相机等装置，从而保证了其工作的可靠性。Z向移动装置内设置有可活动齿轮组，从而可以实现芯片测试台的Z向运动。此设备Z向运动装置内齿轮组分解了横向和纵向的力，保证各运动部件的工作负荷在合理范围内，具有结构紧凑、工作可靠的特点。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。