本发明涉及显示技术领域，特别是指一种显示面板以及显示装置。
背景技术：
近年来移动显示技术发展迅猛，以柔性显示为代表的新一代显示技术正得到越来越广泛的应用。然而柔性显示面板在切割完成的后端工艺中，面板的边缘非常容易发生微小的裂纹。由于柔性显示一般使用的是有机发光二极管技术，有机发光二极管对封装工艺的要求很高，一旦面板边缘出现微小的裂纹，水汽很容易渗透进入面板内部从而造成有机发光材料的失效和寿命减少，因此如何监控面板周边的微小裂纹成为非常重要课题。
图1为现有的显示面板裂纹检测方法，其基本原理是在显示面板周边制作金属导线，该导线沿着面板的左、上、右三边走线，线的起始和终结都在显示面板的下端，并且起点和终点都分别连接到不同的测试引脚上，在进行et(电性测试)时，通过检测显示面板下端的左右et引脚是否开路来判断面板周边是否存在裂纹。如果左右et引脚开路，则表示显示面板周边存在裂纹；如果是短路则表示显示面板周边没有裂纹。如果制成模组，仍然可以通过ic(集成芯片)端的pcd(面板裂纹检测)引脚监控显示面板周边是否存在裂纹，原理是一样的。
然而，本发明的发明人发现，该方法在实际运用中裂纹检测率并不高，从而导致检测效果不佳。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明的目的在于提出一种显示面板以及显示装置，提高显示面板的裂纹检测率。
基于上述目的本发明提供一种显示面板，包括：显示区域和围绕所述显示区域的非显示区域，在所述非显示区域中布设有至少一根金属线，形成围绕所述显示区域的里外两层裂纹检测导线；其中，
位于所述显示面板同一侧互相平行的里外两层裂纹检测导线是由同一根金属线构成；且同一根金属线构成的里外两层裂纹检测导线之间有弯曲处或交叉处。
较佳地，在所述非显示区域中布设的金属线为一根；以及，
所述金属线的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边；
所述金属线形成的所述里外两层裂纹检测导线之间的一个交叉处位于与所述侧边相对的另一侧边。
进一步，所述显示面板还包括：tft阵列检测开关；以及所述金属线的起端与末端均接入数据信号；
其中，所述tft阵列检测开关中的第一部分开关的输入端与所述金属线的起端相连，第二部分开关的输入端与所述金属线的末端相连；至少两个的第三部分开关的输入端则与所述金属线的起端与末端之间的中间段相连；以及
所述开关的输出端与所述显示面板中像素单元连接，所述开关的控制端接入控制信号。
或者，在所述非显示区域中布设的金属线为两根；
其中，第一金属线在左部的非显示区域中，形成围绕左部显示区域的里外两层裂纹检测导线；
第二金属线在右部的非显示区域中，形成围绕右部显示区域的里外两层裂纹检测导线。
其中，第一/二金属线的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边，且第一/二金属线的起端位于外层；第一/二金属线形成的里外两层裂纹检测导线之间的弯曲处位于与所述侧边相对的另一侧边。
进一步，所述显示面板还包括：与第一/二金属线的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边的tft阵列检测开关；以及，第一/二金属线的起端接入数据信号；
其中，位于左部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第一部分开关的输入端与第一金属线的起端相连，第二部分开关的输入端与第一金属线的末端相连；
位于右部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第三部分开关的输入端与第二金属线的起端相连，第四部分开关的输入端与第二金属线的末端相连；以及
所述开关的输出端与所述显示面板中像素单元连接，所述开关的控制端接入控制信号。
或者，所述显示面板还包括：位于与第一/二金属线的起端与末端所在侧边相对的另一侧边的tft阵列检测开关；以及，第一/二金属线的起端接入数据信号；
其中，位于左部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第一部分开关的输入端与第一金属线的起端相连，第二部分开关的输入端与位于里层的第一金属线的中间段相连；
位于右部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第三部分开关的输入端与第二金属线的起端相连，第四部分开关的输入端与位于里层的第二金属线的中间段相连；以及
所述开关的输出端与所述显示面板中像素单元连接，所述开关的控制端接入控制信号。
本发明还提供一种显示装置，包括：上述的显示面板。
本发明的技术方案中，在显示面板的周边布设至少一根金属线形成里外两层裂纹检测导线；其中，位于所述显示面板同一侧互相平行的里外两层裂纹检测导线是由同一根金属线构成；且同一根金属线构成的里外两层裂纹检测导线之间有弯曲处或交叉处。这样，由于里外两层裂纹检测导线之间具有弯曲或交叉从而两者之间有一定的张力，因此，当面板周边存在微裂纹而导致导线出现断点时，两者之间的张力将使得断点的两端被拉开，避免断点两端仍搭接在一起；而且，两层裂纹检测导线相比于一层裂纹检测导线，断点两端被拉开的几率也会更大；因此，在裂纹检测导线通电的情况下，断点处电阻值变化明显，易于裂纹检测，提高裂纹检测率和检测效果。
进一步，本发明的技术方案中利用了显示面板中为检测像素的tft阵列检测开关，与裂纹检测导线相连，可以使得裂纹检测结果更为直观，更便于检测人员辨识，提高检测效率。
附图说明
图1为现有技术的显示面板裂纹检测方案示意图；
图2为本发明实施例一提供的一种显示面板的结构示意图；
图3为本发明实施例二提供的一种显示面板的结构示意图；
图4为本发明实施例三提供的一种显示面板的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。
本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
本发明的发明人对现有的裂纹检测方法进行分析，发现其裂纹检测率不高的原因在于，在显示面板周边的单圈的绕线，即使当面板周边存在微裂纹而导致导线出现断点时，断点两端仍然有可能搭接在一起，因而检测出来的电阻值虽有变化但并不明显，以致难以判断，从而导致裂纹检测率不高，检测效果不佳。
本发明的发明人考虑到，在显示面板的周边布设至少一根金属线形成里外两层裂纹检测导线；其中，位于所述显示面板同一侧互相平行的里外两层裂纹检测导线是由同一根金属线构成；且同一根金属线构成的里外两层裂纹检测导线之间有弯曲处或交叉处。这样，由于里外两层裂纹检测导线之间具有弯曲或交叉从而两者之间有一定的张力，因此，当面板周边存在微裂纹而导致导线出现断点时，两者之间的张力将使得断点的两端被拉开，避免断点两端仍搭接在一起；而且，两层裂纹检测导线相比于一层裂纹检测导线，断点两端被拉开的几率也会更大；因此，在裂纹检测导线通电的情况下，断点处电阻值变化明显，易于裂纹检测，提高裂纹检测率和检测效果。
下面结合附图详细说明本发明技术方案。本发明技术方案提供了三个具体实施例；其中，实施例一的技术方案中的裂纹检测导线走线方式是以一根金属线在显示面板的周边构成里外两层裂纹检测导线；实施例二、三的技术方案中，裂纹检测导线走线方式则是以两根金属线分别在显示面板的两侧构成里外两层裂纹检测导线。实施例二、三的技术方案的差异主要在于裂纹检测导线接入tft阵列检测开关的方式不同。
实施例一
本发明实施例一提供的一种显示面板的结构，如图2所示，包括：显示区域201和围绕所述显示区域的非显示区域202，而非显示区域202中布设有一根金属线203，形成围绕所述显示区域201的里外两层裂纹检测导线。
较佳地，金属线203的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边；例如，如图2所示，金属线203的起端与末端均位于所述显示面板下端的侧边。
金属线203形成的里外两层裂纹检测导线之间的一个交叉处位于与所述侧边相对的另一侧边。例如，如图2所示，金属线203形成的里外两层裂纹检测导线之间的一个交叉处位于所述显示面板上端的侧边的中间处。里外两层裂纹检测导线于交叉处并不相互连接，可以通过跨接一段金属线来达到里外两层裂纹检测导线交叉但不连接的目的。
本发明实施例一的技术方案中，由于里外两层裂纹检测导线之间具有交叉从而里外两层裂纹检测导线之间有一定的张力，因此，当面板周边存在微裂纹而导致导线出现断点时，两者之间的张力将使得断点的两端被拉开，避免断点两端仍搭接在一起；而且，两层裂纹检测导线相比于一层裂纹检测导线，断点两端被拉开的几率也会更大；因此，在裂纹检测导线通电的情况下，断点处电阻值变化明显，易于裂纹检测，提高裂纹检测率和检测效果。
更优地，为使得裂纹检测结果更为直观，更便于检测人员辨识，本发明实施例一的技术方案中利用了显示面板中为检测像素的tft阵列检测开关204。
在金属线203的起端与末端均接入数据信号；tft阵列检测开关204中的第一部分开关的输入端与金属线203的起端相连，第二部分开关的输入端与所述金属线203的末端相连；至少两个的第三部分开关的输入端则与金属线203的起端与末端之间的中间段相连。例如，图2所示，tft阵列检测开关204与金属线203的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边，所述其余开关中的两个分别连接于金属线203的a、b点，而处于中间段的a、b点可以与金属线203的起端与末端位于显示面板的同一侧边。
金属线203的起端与末端的数据信号可以直接经过tft阵列检测开关204点亮/点暗显示面板中像素，而与中间段相连的开关所接收的数据信号则需要经过一段裂纹检测导线的传导后才能点亮/点暗显示面板中像素；若裂纹检测导线有断裂，则与中间段相连的开关接收不到数据信号，从而，显示面板中部分像素将不被点亮/点暗，形成暗线/亮线。检测人员一旦发现出现暗线/亮线的现象就可以判断出有裂纹，相比于现有技术通过检测电阻阻值的变化，可以大大提高检测结果的直观性，提高检测效率。
具体地，tft阵列检测开关204的控制端可以接入控制信号(ctsw)，tft阵列检测开关204的输入端连接所述金属线接入数据信号(ctd)，tft阵列检测开关204的输出端与显示面板中像素单元连接。ctsw和ctd都可以由et单元供给。此外，在制成模组后，ctd可以由ic(集成芯片)的pcd1引脚和pcd2引脚提供，ctsw信号也可由ic提供。
在金属线203没有断裂的情况下，通过控制信号(ctsw)开启tft阵列检测开关204，则显示面板显示的检测画面为纯色画面，即为纯亮或暗色画面。
若裂纹检测导线有断裂，通过控制信号(ctsw)开启tft阵列检测开关204后，与中间段相连的开关接收不到数据信号，显示面板中部分像素将不被点亮/点暗，形成暗线/亮线，便于检测人员根据该现象判断出裂纹，大大提高检测结果的直观性，提高检测效率。
实施例二
本发明实施例二提供的一种显示面板的结构，如图3所示，包括：显示区域301和围绕所述显示区域的非显示区域302，而非显示区域302中布设有两根金属线，其中，第一金属线311在左部的非显示区域中，形成围绕左部显示区域的里外两层裂纹检测导线；第二金属线312在右部的非显示区域中，形成围绕右部显示区域的里外两层裂纹检测导线。
较佳地，如图3所示，第一金属线311的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边，且第一金属线311的起端位于外层，即第一金属线311的起端为外层裂纹检测导线；第一金属线形成的里外两层裂纹检测导线之间的弯曲处位于与所述侧边相对的另一侧边。
类似地，第二金属线312的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边，且第二金属线312的起端位于外层，即第二金属线312的起端为外层裂纹检测导线；第二金属线312形成的里外两层裂纹检测导线之间的弯曲处位于与所述侧边相对的另一侧边。如图3所示，弯曲处的弯曲角度为90°或大于90°。
本发明实施例二的技术方案中，由于里外两层裂纹检测导线之间具有弯曲处，从而里外两层裂纹检测导线之间有一定的张力，因此，当面板周边存在微裂纹而导致导线出现断点时，两者之间的张力将使得断点的两端被拉开，避免断点两端仍搭接在一起；而且，两层裂纹检测导线相比于一层裂纹检测导线，断点两端被拉开的几率也会更大；因此，在裂纹检测导线通电的情况下，断点处电阻值变化明显，易于裂纹检测，提高裂纹检测率和检测效果。
更优地，为使得裂纹检测结果更为直观，更便于检测人员辨识，本发明实施例二的技术方案中利用了显示面板中为检测像素的tft阵列检测开关304。
较佳地，第一金属线311的起、末端，可以与第二金属线312的起、末端位于所述显示面板的同一侧边，而tft阵列检测开关304可以与第一、二金属线的起端与末端也位于所述显示面板的同一侧边。
第一、二金属线的起端接入数据信号；在位于左部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第一部分开关的输入端与第一金属线311的起端相连，其余的第二部分开关(至少一个)的输入端与第一金属线311的末端相连；在位于右部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第三部分开关的输入端与第二金属线312的起端相连，其余的第四部分开关(至少一个)的输入端与第二金属线312的末端相连。
接入第一/二金属线的起端的数据信号可以直接经过tft阵列检测开关304点亮/点暗显示面板中像素，而与末端相连的开关所接收的数据信号则需要经过第一/二金属线的传导后才能点亮/点暗显示面板中像素；若裂纹检测导线有断裂，则与末端相连的开关接收不到数据信号，从而，显示面板中部分像素将不被点亮/点暗，形成暗线/亮线。检测人员一旦发现出现暗线/亮线的现象就可以判断出有裂纹，相比于现有技术通过检测电阻阻值的变化，可以大大提高检测结果的直观性，提高检测效率。
具体地，tft阵列检测开关304的控制端可以接入控制信号(ctsw)，tft阵列检测开关304的输入端连接第一金属线311或第二金属线312接入数据信号(ctd)，tft阵列检测开关304的输出端与显示面板中像素单元连接。ctsw和ctd都可以由et单元供给。此外，在制成模组后，ctd可以由ic(集成芯片)的pcd1～pcd4引脚提供，ctsw信号也可由ic提供。
在第一/二金属线没有断裂的情况下，通过控制信号(ctsw)开启tft阵列检测开关304，则显示面板显示的检测画面为纯色画面，即为纯亮或暗色画面。
若裂纹检测导线有断裂，通过控制信号(ctsw)开启tft阵列检测开关204后，与末端相连的开关接收不到数据信号，显示面板中部分像素将不被点亮/点暗，形成暗线/亮线，便于检测人员根据该现象判断出裂纹，大大提高检测结果的直观性，提高检测效率。
实施例三
本发明实施例三提供的一种显示面板的结构，如图4所示，包括：显示区域401和围绕所述显示区域的非显示区域402，而非显示区域402中布设有两根金属线，其中，第一金属线411在左部的非显示区域中，形成围绕左部显示区域的里外两层裂纹检测导线；第二金属线412在右部的非显示区域中，形成围绕右部显示区域的里外两层裂纹检测导线。
较佳地，如图4所示，第一金属线411的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边，且第一金属线411的起端位于外层，即第一金属线411的起端为外层裂纹检测导线；第一金属线形成的里外两层裂纹检测导线之间的弯曲处位于与所述侧边相对的另一侧边。
类似地，第二金属线412的起端与末端均位于所述显示面板的同一侧边，且第二金属线412的起端位于外层，即第二金属线412的起端为外层裂纹检测导线；第二金属线412形成的里外两层裂纹检测导线之间的弯曲处位于与所述侧边相对的另一侧边。
本发明实施例三的技术方案中，由于里外两层裂纹检测导线之间具有弯曲处，从而里外两层裂纹检测导线之间有一定的张力，因此，当面板周边存在微裂纹而导致导线出现断点时，两者之间的张力将使得断点的两端被拉开，避免断点两端仍搭接在一起；而且，两层裂纹检测导线相比于一层裂纹检测导线，断点两端被拉开的几率也会更大；因此，在裂纹检测导线通电的情况下，断点处电阻值变化明显，易于裂纹检测，提高裂纹检测率和检测效果。
更优地，为使得裂纹检测结果更为直观，更便于检测人员辨识，本发明实施例二的技术方案中利用了显示面板中为检测液晶像素的tft阵列检测开关404。
较佳地，第一金属线411的起、末端，可以与第二金属线412的起、末端位于所述显示面板的同一侧边，而tft阵列检测开关404可以位于与第一、二金属线的起端与末端所在侧边相对的另一侧边。
第一、二金属线的起端接入数据信号；在位于左部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第一部分开关的输入端与第一金属线411的起端相连，其余的第二部分开关的输入端与位于里层的第一金属线411的中间段相连；在位于右部的非显示区域中的tft阵列检测开关中，第三部分开关与第二金属线412的起端相连，其余的第四部分开关的输入端与位于里层的第二金属线412的中间段相连。
接入第一/二金属线的起端的数据信号可以直接经过tft阵列检测开关404点亮/点暗显示面板中像素，而与里层位于中间段的裂纹检测导线相连的开关所接收的数据信号则需要经过外层裂纹检测导线的传导后才能点亮/点暗显示面板中像素；若外层裂纹检测导线有断裂，则与里层裂纹检测导线相连的开关接收不到数据信号，从而显示面板中部分像素将不被点亮/点暗，形成暗线/亮线。检测人员一旦发现出现暗线/亮线的现象就可以判断出有裂纹，相比于现有技术通过检测电阻阻值的变化，可以大大提高检测结果的直观性，提高检测效率。
具体地，tft阵列检测开关404的控制端可以接入控制信号(ctsw)，tft阵列检测开关404的输入端连接第一金属线411或第二金属线412接入数据信号(ctd)，tft阵列检测开关404的输出端与显示面板中像素单元连接。ctsw和ctd都可以由et单元供给。此外，在制成模组后，ctd可以由ic(集成芯片)的pcd1～pcd4引脚提供，ctsw信号也可由ic提供。
在第一/二金属线没有断裂的情况下，通过控制信号(ctsw)开启tft阵列检测开关404，则显示面板显示的检测画面为纯色画面，即为纯亮或暗色画面。
若裂纹检测导线有断裂，通过控制信号(ctsw)开启tft阵列检测开关204后，与里层裂纹检测导线相连的开关接收不到数据信号，显示面板中部分像素将不被点亮/点暗，形成暗线/亮线，便于检测人员根据该现象判断出裂纹，大大提高检测结果的直观性，提高检测效率。
本发明提供的一种显示装置中可以包括上述三个实施例的显示面板。
本发明的技术方案中，在显示面板的周边布设至少一根金属线形成里外两层裂纹检测导线；其中，位于所述显示面板同一侧互相平行的里外两层裂纹检测导线是由同一根金属线构成；且同一根金属线构成的里外两层裂纹检测导线之间有弯曲处或交叉处。这样，由于里外两层裂纹检测导线之间具有弯曲或交叉从而两者之间有一定的张力，因此，当面板周边存在微裂纹而导致导线出现断点时，两者之间的张力将使得断点的两端被拉开，避免断点两端仍搭接在一起；而且，两层裂纹检测导线相比于一层裂纹检测导线，断点两端被拉开的几率也会更大；因此，在裂纹检测导线通电的情况下，断点处电阻值变化明显，易于裂纹检测，提高裂纹检测率和检测效果。
进一步，本发明的技术方案中利用了显示面板中为检测像素的tft阵列检测开关，与裂纹检测导线相连，可以使得裂纹检测结果更为直观，更便于检测人员辨识，提高检测效率。
技术领域技术人员可以理解，本发明中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地，具有本发明中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地，现有技术中的具有与本发明中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。