一种发光二极管芯片的制作方法

文档序号:17199128发布日期:2019-03-27 09:48阅读:387来源:国知局
一种发光二极管芯片的制作方法

本实用新型涉及半导体技术领域,特别涉及一种发光二极管芯片。



背景技术:

发光二极管(英文:Light Emitting Diode,简称:LED)是一种可以把电能转化成光能的半导体二极管,具有体积小、亮度高和能耗小的特点,被广泛地应用在显示屏和指示灯上。

芯片是LED的核心组件,芯片包括外延片和电极,电极设置在外延片上。现有的电极包括Cr膜层、Al膜层、Ni膜层和Au膜层,Cr膜层、Al膜层、Ni膜层和Au膜层依次层叠在外延片上。其中,Cr膜层的厚度为1nm~5nm,用于将电极粘附在外延片上;Al膜层的厚度为100nm~500nm,用于对射向电极的光线进行反射,避免光线被电极吸收,提高出光效率;Ni膜层的厚度为1nm~500nm,用于对Cr膜层和Al膜层进行保护;Au膜层的厚度为50nm~3um,用于与焊线结合实现打线。

在实现本实用新型的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题;

芯片在使用过程中绘发热,由于Al的热膨胀系数较大,因此Al膜层在长期的使用过程中会受热膨胀,冲破包覆在Al膜层外的Ni膜层与Au膜层接触。又由于Au和Al的扩散速率相差较大,在柯肯达尔效应(英文:kirkendall effect)的作用下,Al膜层和Au膜层的交界面形成的AlAu合金中有空洞甚至裂纹,导致芯片的电阻率升高,电导率和机械性能降低。



技术实现要素:

为了解决现有技术导致芯片的电阻率升高,电导率和机械性能降低的问题,本实用新型提供了发光二极管芯片。

本实用新型的技术方案如下:

一种发光二极管芯片,包括外延片和设置在所述外延片上的电极,所述电极包括粘附层、反光层、保护层和打线层,所述外延片上表面开设有梯形凹槽,所述梯形凹槽的底面面积大于其上端开口面积,所述电极的形状与所述梯形凹槽相适配,所述粘附层、反光层、保护层和打线层依次层叠在所述梯形凹槽内,所述粘附层、反光层、保护层、打线层均呈梯形且由下往上依次缩小,所述保护层的两侧连接有保护边,所述保护边将所述粘附层、反光层、打线层的侧边包覆住,所述打线层的上表面裸露出,且其裸露面与所述外延片的上表面平齐。

进一步地,所述外延片包括发光层、设置在所述发光层两侧的N型半导体层和P型半导体层、以及设置在所述发光层、N型半导体层、P型半导体层底部的衬底,所述发光层与所述反光层相对应,所述N型半导体层与P型半导体层之间形成所述梯形凹槽,所述N型半导体层、P型半导体层的顶端设有N型电极和P型电极,所述N型电极和P型电极的底面设有透明导电薄膜。

进一步地,所述粘附层为Cr膜层,其厚度为1nm~5nm,用于将电极粘附在外延片上。

进一步地,所述反光层为Al膜层,其厚度为100nm~500nm,用于对射向电极的光线进行反射。

所述保护层、保护边为Ni膜层,其厚度为1nm~500nm,用于对粘附层、反光层、打线层进行保护。

进一步地,所述打线层为Au膜层,其厚度为50nm~3um,用于与焊线结合实现打线。

相对于现有技术,本实用新型的有益效果在于:本实用新型通过在外延片上表面开设有梯形凹槽,电极设计成的形状与梯形凹槽相适配,粘附层、反光层、保护层和打线层依次层叠在梯形凹槽内,粘附层、反光层、保护层、打线层均呈梯形且由下往上依次缩小,同时在保护层的两侧增设有保护边,通过该保护边将粘附层、反光层、打线层的侧边包覆住,保护边一方面具有保护作用外,另一方面可增加Al膜层的散热面积,再加上在梯形凹槽及保护边的加固作用下,可减少Al膜层在长期的使用过程中受热膨胀而产生的影响,避免Al膜层冲破包覆在Al膜层外的Ni膜层与包覆在Ni膜外的Au膜层形成有缺陷的AlAu合金。

附图说明

图1为本实用新型一种发光二极管芯片的结构示意图;

图2为本实用新型中外延片的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例,对本实用新型进行详细说明。

请参阅图1,本实用新型提供一种发光二极管芯片,包括外延片1和设置在外延片1上的电极,电极包括粘附层21、反光层22、保护层23和打线层24,外延片1上表面开设有梯形凹槽11,梯形凹槽11的底面面积大于其上端开口面积,电极的形状与梯形凹槽11相适配,粘附层21、反光层22、保护层23和打线层24依次层叠在梯形凹槽11内,粘附层21、反光层22、保护层23、打线层24均呈梯形且由下往上依次缩小,保护层23的两侧连接有保护边25,保护边25将粘附层21、反光层22、打线层24的侧边包覆住,打线层24的上表面裸露出,且其裸露面与外延片1的上表面平齐。

其中,所述粘附层21为Cr膜层,其厚度为1nm~5nm,用于将电极粘附在外延片1上。

所述反光层22为Al膜层,其厚度为100nm~500nm,用于对射向电极的光线进行反射。

所述保护层23、保护边25为Ni膜层,其厚度为1nm~500nm,用于对粘附层21、反光层22、打线层24进行保护。

所述打线层24为Au膜层,其厚度为50nm~3um,用于与焊线结合实现打线。

如图2所示,所述外延片1为异侧电极芯片,其包括发光层12、设置在发光层12两侧的N型半导体层13和P型半导体层14、以及设置在发光层12、N型半导体层13、P型半导体层14底部的衬底15,发光层12与反光层22相对应,N型半导体层13与P型半导体层14之间形成所述梯形凹槽11,N型半导体层13提供的电子和P型半导体层14提供的空穴在电流的驱动下注入发光层12进行复合发光,N型半导体层13、P型半导体层14的顶端设有N型电极16和P型电极17,N型电极16和P型电极17的底面设有透明导电薄膜18,以扩展电流。

本实用新型通过在外延片1上表面开设有梯形凹槽11,电极设计成的形状与梯形凹槽11相适配,粘附层21、反光层22、保护层23和打线层24依次层叠在梯形凹槽11内,粘附层21、反光层22、保护层23、打线层24均呈梯形且由下往上依次缩小,同时在保护层23的两侧增设有保护边25,通过该保护边25将粘附层21、反光层22、打线层24的侧边包覆住,保护边25一方面具有保护作用外,另一方面可增加Al膜层的散热面积,再加上在梯形凹槽11及保护边25的加固作用下,可减少Al膜层在长期的使用过程中受热膨胀而产生的影响,避免Al膜层冲破包覆在Al膜层外的Ni膜层与包覆在Ni膜外的Au膜层形成有缺陷的AlAu合金。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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