测试装置的制作方法

本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种测试装置。

背景技术：

太阳能电池生产线中，需要对电池片进行封装，封装工序中会对电池片进行iv测试。目前，进行iv测试的iv测试平台为固定式，即通过吸盘将前工序的电池片放到固定式iv测试平台，然后测试电池的iv特性曲线，测试结束后通过吸盘将电池片移走，送入下一个工序。

然而，由于吸盘抓手的原因，如压力不足或吸盘手没有完全接触到电池片，可能出现吸盘抓空现象，导致电池片不能被及时送入下一个工序而继续停留在该固定式iv测试平台。此时，当下一个电池片进入固定式iv测试平台后，就会出现与上一个电池片相互重叠的现象，简称叠片现象。叠片现象将导致无测试数据或者数据不准确，而且后续测试一直处于叠片状态。

目前叠片现象的解决方案是：人工暂停芯片封装设备，由人工取出iv测试平台上滞留的电池片，然后再重新运行芯片封装设备。然而，该方法只能暂时解决叠片问题，后续可能还会出现电池片滞留；同时，通过人工操作会增高人工成本；且停机解决叠片现象会降低芯片封装设备的利用率。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种测试装置，以解决现有的测试台无法彻底解决叠片问题，人工成本高，且停机解决叠片现象会降低芯片封装设备的利用率的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种测试装置，包括：

测试台；

传送装置，所述传送装置包括传送带、主传动轴以及从传动轴，所述主传动轴、所述从转动轴以及所述传送带围合形成一容置空间，所述测试台设置于所述容置空间内且所述测试台与所述传送带贴合，所述传送带上设置有与所述测试台的工作区域相对应的开口；

工件抓取机构，所述工件抓取机构用于抓取待测试工件；以及

控制机构，所述控制机构与所述传送装置和所述工件抓取机构连接，用于在所述待测试工件完成测试后控制所述工件抓取机构抓取所述待测试工件以将所述待测试工件送入下一工序，以及在所述工件抓取机构抓取所述待测试工件后，控制所述传送带传动预设长度。

可选的，所述传送带传动所述预设长度所需的传动时间小于测试相邻两个待测试工件之间的时间间隔。

可选的，所述传送带上设置有两个开口，当其中任一开口与所述测试台的工作区域相对应使得所述工作区域露出所述传送带时，其中另一所述开口与所述工作区域相对应。

可选的，所述工作区域包括多个子工作区域，所述开口包括与所述子工作区域一一对应的多个子开口。

可选的，所述子开口的尺寸与对应的所述子工作区域的尺寸的比值为1.3～1.5。

可选的，所述测试装置还包括收集装置，所述收集装置设置于所述传送带的出料端，所述收集装置的尺寸大于所述待测试工件的尺寸。

可选的，所述工件抓取机构包括安装板和吸盘，所述吸盘设置于所述安装板上，所述安装板与所述控制机构连接。

可选的，所述传送带为柔性透明传送带。

与现有技术相比，本发明测试装置在测试台的上方设置传送带，当待测试工件完成测试后，首先会通过工件抓取机构抓取待测试工件，然后传送带传送预设长度，因此即使出现工件抓取机构抓空导致待测试工件未从测试台上移走的现象，传送带也会带动待测试工件移动而将待测试工件移走，从而解决了叠片现象；同时，解决该叠片现象无需人工操作，从而降低了人工成本；此外，不需停机即可解决叠片现象，提高了设备的利用率。

附图说明

图1为本发明测试装置一实施例的示意图；

图2为本发明测试装置一实施例的示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，并结合附图，对本发明的坩埚吊运机构进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。相反，当元件被称作“直接在”另一元件“上”时，不存在中间元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

请参见图1和图2，本发明一实施例提供了一种测试装置100,该测试装置100包括测试台11、传送装置、工件抓取机构13以及控制机构。其中，传送装置包括传送带、主传动轴123以及从传动轴124，主传动轴123、从传动轴124以及传送带围合形成一容置空间，测试台11设置于容置空间内且测试台11与传送带贴合，传送带上设置有与测试台11的工作区域111相对应的开口122；工件抓取机构13用于抓取待测试工件；控制机构与传送装置和工件抓取机构13连接，用于在待测试工件完成测试后控制工件抓取机构13抓取待测试工件以将待测试工件送入下一工序，以及在工件抓取机构13抓取待测试工件后，控制传送带传动预设长度。

具体的，该测试装置100用于对待测试工件进行性能测试。进行测试时，首先通过工件抓取机构13将待测试工件从上一工序取出，然后放至测试台11上，当测试完成后，通过工件抓取机构13抓取待测试工件并移走，如将待测试工件送入下一工序。本发明中，测试装置100可以用于对电池片进行光电性能参数测试，如测试电池片的iv特性，此时待测试工件为电池片，具体可以为进行封装工艺后的电池片。当然，本发明测试装置100不局限于测试电池片的光电性能参数，其还可以用于测试其他工件。

具体的，工件抓取机构13用于抓取待测试工件，本实施例中，工件抓取机构13通过吸附方式抓取待测试工件。下面以待测试工件为电池片为例说明本发明，具体的，工件抓取机构13包括安装板131和吸盘133，吸盘133用于吸住电池片，并在安装板131的带动下移动电池片。安装板131与控制机构连接，用于在控制机构的控制下移动。在一实施例中，吸盘133的数量为多个，多个吸盘133均匀分布于安装板131上，用于为待测试工件提供均匀的吸附力。

具体的，控制机构包括控制单元和驱动单元，控制单元与驱动单元连接，用于控制驱动单元工作，驱动单元与传送装置和工件抓取机构13连接，用于控制传送装置传送或停止传送，以及控制工件抓取机构13抓取待测试工件并将待测试工件移送至所需位置。

与现有技术相比，本发明测试装置在测试台的上方设置传送带，当待测试工件完成测试后，首先会通过工件抓取机构抓取待测试工件，然后传送带传送预设长度，因此即使出现工件抓取机构抓空导致待测试工件未从测试台上移走的现象，传送带也会带动待测试工件移动而将待测试工件移走，从而解决了叠片现象；同时，解决该叠片现象无需人工操作，从而降低了人工成本；此外，不需停机即可解决叠片现象，提高了芯片封装设备的利用率。

在一些实施例中，预设长度为传送带的长度的二分之一。为了方便描述，本发明中，将传送带位于测试台11下方的部分记为下传送带121a，将传送带位于测试台11上方的部分记为上传送带121b，因此传送带每传动一次，则位于测试台11下方的下传送带121a会翻转到测试台11的上方，而传送带位于测试台11上方的上传送带121b会翻转到测试台11的下方。此外，待测试工件的测试过程中，为了使得下一个待测试工件进入测试台11前，上传送带121b和下传送带121a的位置已经完成翻转，需要对传送带的传动时间进行限制。具体的，传送带传动预设长度所需的传动时间小于测试相邻两个待测试工件之间的时间间隔，其中，测试相邻两个待测试工件之间的时间间隔是指相邻两个待测试工件进入测试台11的时间间隔。

请参考图1，由于测试台11上设置有工作区域111，为了避免传送带遮挡工作区域111，传送带上设置有两个开口122，其中每一开口122与工作区域的尺寸相对应以使得工作区域能够露出开口122，当其中任一开口122与测试台11的工作区域111相对应使得工作区域111露出传送带时，其中另一开口122也与工作区域相对应，从而当传送带传动一次时，另一开口122能够刚好翻转至测试台11的上方，使得工作区域111能够通过该开口122露出传送带。其中，工作区域111为测试台11上用于对待测试工件进行测试的区域，本发明中，工作区域111用于读取待测试工件的身份信息，如测试台11上工作区域111内设置有读取器，用于读取待测试工件上的二维码信息。当然，在其他实施例中，工作区域111内还可以设置有其他与测试相关的结构，如设置测试探针等结构。

请参考图2，在一些实施例中，工作区域111包括多个子工作区域111a，开口122包括与子工作区域111a一一对应的多个子开口122a。在图1所示实施例中，工作区域111包括3个子工作区域111a，基于此，每一开口122包括3个子开口122a。为了避免传送带停止位置存在误差时导致子工作区域111a被传送带遮挡，子开口122a的尺寸被配置为略大于对应的子工作区域的111a的尺寸，从而当传送带的停止位置存在一些误差时，子工作区域111a仍然能够露出子开口122a，使得测试装置100能够正常工作。如在一些实施例中，子开口122a的尺寸与对应的子工作区域的111a的尺寸的比值为1.3～1.5。进一步的，为了避免传送带停止位置误差而导致子工作区域111a与子开口122a位置不对应，使得子工作区域111a无法露出传送带，本发明中将传送带设置为透明传送带，这样，即使子工作区域111a与子开口122a位置不对应，由于传送带为透明材质，从而子工作区域111a也能透过传送带进行正常工作。更进一步的，传送带为柔性透明传送带，将传送带设置为柔性材质，有利于传送带的弯曲以及避免损伤待测试工件。

再请参考图1，在一些实施例中，测试装置100还包括收集装置15，收集装置15设置于传送带的出料端，收集装置15用于收集传送带传送的待测试工件。为了实现对待测试工件的收集，收集装置15的尺寸大于待测试工件的尺寸。具体的，收集装置15可以为收集盒。当待测试工件被抓空时，传送带会带动待测试工件移动而掉落至收集装置15内，之后可以由人工将收集装置15内收集的待测试工件送入下一工序。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。