一种AlGaN外延结构及其制备方法和半导体器件与流程

文档序号:32007219发布日期:2022-11-02 13:50阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种algan外延结构,其特征在于,包括:衬底;gan外延复合层,位于所述衬底上,所述gan外延复合层包括gan外延工艺层和sin
x
插入层,所述gan外延复合层的至少一部分为交替层叠的gan外延工艺层和sin
x
插入层;algan外延复合层,位于所述gan外延复合层上,所述algan外延复合层包括algan外延工艺层和mgn
y
插入层,所述algan外延复合层的至少一部分为交替层叠的algan外延工艺层和mgn
y
插入层;algan外延层,位于所述algan外延复合层上。2.根据权利要求1所述的algan外延结构,其特征在于,所述gan外延复合层的厚度为1-2μm,交替层叠的gan外延工艺层的单层厚度为10-100nm,交替层叠的sin
x
插入层的单层厚度为1-2nm;所述algan外延复合层的厚度为5-200nm,交替层叠的algan外延工艺层的单层厚度为1-10nm,交替层叠的mgn
y
插入层的单层厚度为0.5-1nm;所述algan外延层的厚度为20-2000nm。3.根据权利要求1所述的algan外延结构,其特征在于,所述gan外延复合层中,交替层叠的所述gan外延工艺层的总厚度不超过所述gan外延复合层厚度的二分之一;所述algan外延复合层中,交替层叠的所述algan外延工艺层的总厚度不超过所述algan外延复合层厚度的二分之一。4.根据权利要求3所述的algan外延结构,其特征在于,所述gan外延复合层中,非交替层叠的所述gan外延工艺层的厚度为0.5-1μm;所述algan外延复合层中,非交替层叠的所述algan外延工艺层的厚度为2.5-100nm。5.根据权利要求1所述的algan外延结构,其特征在于,所述gan外延复合层中,交替层叠的所述gan外延工艺层和sin
x
插入层位于非交替层叠的所述gan外延工艺层的上方或下方,或者,位于两个非交替层叠的所述gan外延工艺层之间;所述algan外延复合层中,交替层叠的algan外延工艺层和mgn
y
插入层位于非交替层叠的algan外延工艺层的上方或下方,或者,位于两个非交替层叠的所述algan外延工艺层之间。6.根据权利要求1所述的algan外延结构,其特征在于,所述algan外延层表面粗糙度为0.1-10nm。7.一种algan外延结构的制备方法,其特征在于,包括:步骤s1:提供衬底;步骤s2:在所述衬底上生长gan外延复合层,所述gan外延复合层包括gan外延工艺层和sin
x
插入层,所述gan外延复合层的至少一部分为交替生长的gan外延工艺层和sin
x
插入层;步骤s3:在所述gan外延复合层上生长algan外延复合层,所述algan外延复合层包括algan外延工艺层和mgn
y
插入层,所述algan外延复合层的至少一部分为交替生长的algan外延工艺层和mgn
y
插入层;步骤s4:在所述algan外延复合层上生长algan外延层。
8.根据权利要求7所述的algan外延结构的制备方法,其特征在于,所述步骤s2包括:先在所述衬底上生长非交替层叠的所述gan外延工艺层,再在非交替层叠的所述gan外延工艺层上生长交替层叠的gan外延工艺层和sin
x
插入层;或者,先在所述衬底上生长交替层叠的gan外延工艺层和sin
x
插入层,再在交替层叠的gan外延工艺层和sin
x
插入层上生长非交替层叠的所述gan外延工艺层;或者,先在所述衬底上生长非交替层叠的所述gan外延工艺层,再在非交替层叠的所述gan外延工艺层上生长交替层叠的gan外延工艺层和sin
x
插入层,最后在交替层叠的gan外延工艺层和sin
x
插入层上生长非交替层叠的所述gan外延工艺层。9.根据权利要求7所述的algan外延结构的制备方法,其特征在于,所述步骤s3包括:先在所述衬底上生长非交替层叠的所述algan外延工艺层,再在非交替层叠的所述algan外延工艺层上生长交替层叠的algan外延工艺层和mgn
y
插入层;或者,先在所述衬底上生长交替层叠的algan外延工艺层和mgn
y
插入层,再在交替层叠的algan外延工艺层和mgn
y
插入层上生长非交替层叠的所述algan外延工艺层;或者,先在所述衬底上生长非交替层叠的所述algan外延工艺层,再在非交替层叠的所述algan外延工艺层上生长交替层叠的algan外延工艺层和mgn
y
插入层,最后在交替层叠的algan外延工艺层和mgn
y
插入层上生长非交替层叠的所述algan外延工艺层。10.一种半导体器件,其特征在于,包括权利要求1-6任一项所述的algan外延结构。

技术总结
本发明公开了一种AlGaN外延结构及其制备方法和半导体器件。AlGaN外延结构包括:衬底;GaN外延复合层,位于所述衬底上,所述GaN外延复合层包括GaN外延工艺层和SiN


技术研发人员:闫其昂 王国斌
受保护的技术使用者:江苏第三代半导体研究院有限公司
技术研发日:2022.07.21
技术公布日:2022/11/1
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1