一种具有多种分辨率可调模式的质谱仪

1.本发明涉及质谱仪技术领域，特别是涉及一种具有多种分辨率可调模式的质谱仪。


背景技术：

2.质谱仪又称质谱计，是分离和检测不同同位素的仪器。即根据带电粒子在电磁场中能够偏转的原理，按物质原子、分子或分子碎片的质量差异进行分离和检测物质组成的一类仪器。
3.质谱仪的分辨率大小与入口狭缝和中间狭缝和出口狭缝的大小有关，对于多接收电感耦合等离子体质谱仪，其中出口狭缝是仪器的法拉第杯检测器的一部分，改造难度相对较大，而对入口狭缝和中间狭缝进行改造相比于出口狭缝更加易于实现。
4.入口狭缝大小不仅影响仪器的分辨率，而且影响仪器的灵敏度，现有的入口狭缝大小分别为250μm、50μm和25μm，对应的质谱仪分辨率分别为450、3000、8000，这虽然可以满足绝大多数情况下的试验需要，但是仍然有改造升级的空间。
5.中间狭缝位于静电场与磁场质量分析器之间，可以改变离子束的高度，以此改变仪器的分辨率，但其与现有的入口狭缝具有类似的问题，即对于中间狭缝的大小的选择十分有限，这对于提高质谱仪的分辨率是十分不利的，难以实现对目前国际新兴非传统稳定同位素的高精度测定。


技术实现要素：

6.针对现有技术中的不足，本发明提供了一种具有多种分辨率可调模式的质谱仪，用于解决上述问题。
7.本发明的实施例是这样实现的，本发明提供了一种具有多种分辨率可调模式的质谱仪，所述质谱仪包括：进样系统，所述进样系统用于导入样品；离子源，所述离子源用于电离所述样品得到样品离子；入口狭缝，所述入口狭缝用于调节质谱仪的分辨率和提供入口通道；静电场分析器，所述静电场分析器用静电场对所述样品离子加速；中间狭缝，所述中间狭缝提供多个离子通道，调节质谱仪分辨率；磁场分析器，所述磁场分析器用磁场分离不同荷质比的所述样品离子；出口狭缝，所述出口狭缝用于接收所述样品离子；检测器，所述检测器用于接收所述样品离子并获取质谱信号。
8.可选地，所述入口通道包括第一入口狭缝、第二入口狭缝和第三入口狭缝。
9.可选地，所述入口狭缝还包括金属主体，所述入口通道位于所述金属主体上。
10.可选地，所述第一入口狭缝至少有一个截面的形状为长方形，所述第一入口狭缝的宽度为50μm。
11.可选地，所述第二入口狭缝位于所述第一入口狭缝的一侧，所述第二入口狭缝至少有一个截面的形状为长方形，所述第二入口狭缝的宽度为25μm，所述第二入口狭缝的长边较所述第一入口狭缝的长边短，所述第二入口狭缝与所述第一入口狭缝之间的夹角为锐
角。
12.可选地，所述第三入口狭缝位于所述第一入口狭缝的另一侧，所述第三入口狭缝至少有一个截面的形状为长方形，所述第三入口狭缝的宽度为16μm，所述第三入口狭缝的长边较所述第一入口狭缝的长边短，所述第三入口狭缝与所述第一入口狭缝之间的夹角为锐角。
13.可选地，所述中间狭缝装置包括：极杆法兰，所述极杆法兰用于狭缝调节；挡高狭缝板，所述挡高狭缝板固定在所述极杆法兰上，所述挡高狭缝板能进行扇形旋转，所述离子通道位于所述挡高狭缝板上；磁体滑动器，所述磁体滑动器为所述挡高狭缝板的旋转提供动力。
14.可选地，所述极杆法兰包括：极杆法兰主体，所述极杆法兰主体包括第一凸起和第一底部，所述第一凸起至少有一个截面为等腰三角形截面，所述第一底部至少一个截面为半圆形截面，所述第一底部设有两个相同的凹陷，所述凹陷至少一个截面的形状为半圆形，所述半圆形截面的直径与所述等腰三角形截面的底边长度相同；所述极杆法兰主体还包括中心通孔以及围绕所述中心通孔设置的第一螺钉孔、第二螺钉孔、第三螺钉孔和第四螺钉孔，所述第一螺钉孔、所述第三螺钉孔和所述第四螺钉孔为多个，所述半圆形截面的直径的中点在所述中心通孔的轴线上，所述极杆法兰主体沿所述第四螺钉孔之间的中点与所述等腰三角形截面顶点之间的连线对称；承轴座，所述承轴座安装在所述极杆法兰主体上，所述承轴座呈圆筒状；承轴，所述承轴呈圆筒状，所述承轴的底面有环形凹槽，所述承轴安装在所述承轴座中，且所述承轴与所述承轴座同轴设置；游丝簧片，所述游丝簧片的一端卷起呈筒状结构，所述筒状结构至少一个截面的形状为圆环的四分之三，所述游丝簧片的另一端为圆环片，所述圆环片与所述中心通孔同轴设置；第一挡块和第二挡块，所述第一挡块和所述第二挡块安装在所述极杆法兰主体上，所述第一挡块和所述第二挡块为长方体形状，所述第一挡块和所述第二挡块的一面设有螺栓孔，所述螺栓孔用于安装螺栓。
15.可选地，所述挡高狭缝板包括：挡高狭缝底板，所述挡高狭缝底板包括第二凸起、中间结构、第二底部和挡高狭缝孔，所述第二凸起至少有一个截面的形状为长方形，所述中间结构至少有一个截面的形状为等腰梯形，所述第二底部至少有一个截面的形状为u形，所述第二凸起上分别设有第五螺钉孔和第六螺钉孔，所述第五螺钉孔和所述第六螺钉孔为多个；所述中间结构的一个形状为等腰梯形的截面的长底边的最大长度，与所述第二底部一个形状为u形的截面的开口的最大距离相同；所述第二底部设有缝轴孔，所述挡高狭缝孔至少有一个截面的形状为v形，所述挡高狭缝底板沿所述第五螺钉孔之间的中点与所述缝轴孔的一个圆形截面的圆心之间的连线对称；挡高狭缝，所述挡高狭缝安装在所述挡高狭缝孔中，所述挡高狭缝的形状与所述
挡高狭缝孔适配，所述离子通道位于所述挡高狭缝上，所述离子通道包括第一中间狭缝和第二中间狭缝，所述第一中间狭缝和所述第二中间狭缝至少有一个截面的形状为长方形；挡高缝轴，所述挡高缝轴为通孔型圆头螺钉；磁吸块，所述磁吸块安装在所述挡高狭缝底板上，所述磁吸块包括顶部和第三底部，所述第三底部设有第七螺钉孔，所述第七螺钉孔为多个，所述顶部与所述第三底部以与所述第七螺钉孔轴线方向平行的边为宽，所述顶部的宽大于所述第三底部的宽，利用螺钉穿过所述第五螺钉孔和所述第七螺钉孔将所述磁吸块与所述挡高狭缝底板连接。
16.可选地，所述磁体滑动器包括：磁体，所述磁体通过磁场吸引力带动所述磁吸块旋转，所述磁吸块带动所述挡高狭缝板旋转；滑动槽，所述滑动槽用于为所述磁体提供安装位置，所述磁体能在所述滑动槽上滑动，并通过磁场吸引力带动所述狭缝调节主体旋转；气缸，所述气缸利用气体为所述磁体在所述滑动槽上的滑动提供动力；气缸磁体连接器，所述气缸磁体连接器的一端与所述磁体连接，所述气缸磁体连接器的另一端的一部分伸入气缸内；气管，所述气管安装在所述气缸的一端，所述气管用于向所述气缸中注入气体或者抽出所述气缸中的气体。
17.综上所述，本发明提供的质谱仪通过对现有的多接收电感耦合等离子体质谱仪的入口狭缝和中间狭缝进行升级改造，减小了现有的入口狭缝的尺寸，初步提升质谱仪的分辨率，同时设计并加工了新的中间狭缝，新的中间狭缝不仅可以自由切换狭缝的大小，提高了质谱仪的中间狭缝的可选择性，而且进一步提高了质谱仪的分辨率，易于实现；同时，新的入口狭缝和中间狭缝都是可选的，可以通过调节入口狭缝和中间狭缝实现多种不同的搭配方式，因此可以根据需要选择不同的质谱仪的分辨率，有利于实现对国际新兴非传统稳定同位素的高精度测定。
附图说明
18.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它相关的附图。
19.图1为本发明实施例的一种具有多种分辨率可调模式的质谱仪结构示意图；图2为本发明实施例的入口通道示意图；图3为本发明实施例的极杆法兰示意图；图4为本发明实施例的挡高狭缝板示意图；图5为本发明实施例的磁吸块示意图；图6为本发明实施例的磁体滑动器示意图。
20.图中：1-第一入口狭缝、2-第二入口狭缝、3-第三入口狭缝、4-极杆法兰主体、5-承轴座、6-承轴、7-游丝簧片、8-第一挡块、9-第二挡块、10-第一螺钉孔、11-第二螺钉孔、12-第三螺钉孔、13-中心通孔、14-第四螺钉孔、15-挡高狭缝底板、16-挡高狭缝、17-挡高缝轴、
18-第一中间狭缝、19-第二中间狭缝、20-第五螺钉孔、21-第六螺钉孔、22-挡高狭缝孔、23-缝轴孔、24-第七螺钉孔、25-磁吸块、26-磁体、27-滑动槽、28-气缸、29-气缸磁体连接器、30-气管。
具体实施方式
21.下面将详细描述本发明的具体实施例，应当注意，这里描述的实施例只用于举例说明，并不用于限制本发明。在以下描述中，为了提供对本发明的透彻理解，阐述了大量特定细节。然而，对于本领域普通技术人员显而易见的是：不必采用这些特定细节来实行本发明。在其他实例中，为了避免混淆本发明，未具体描述公知的电路，软件或方法。
22.在整个说明书中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”或“示例”的提及意味着：结合该实施例或示例描述的特定特征、结构或特性被包含在本发明至少一个实施例中。因此，在整个说明书的各个地方出现的短语“在一个实施例中”、“在实施例中”、“一个示例”或“示例”不一定都指同一实施例或示例。此外，可以以任何适当的组合和、或子组合将特定的特征、结构或特性组合在一个或多个实施例或示例中。此外，本领域普通技术人员应当理解，在此提供的示图都是为了说明的目的，并且示图不一定是按比例绘制的。
23.需要提前说明的是，在一个可选地实施例当中，除了做出独立的说明之外，其它的在所有公式中出现的相同的符号或字母带表的含义相同，所述的用于表示空间位置关系的“垂直”、“水平”、“平行”、“上”或“下”等都是以水平面为参考系。
24.请参见图1，在一个可选地实施例当中，本发明提供了一种具有多种分辨率可调模式的质谱仪，包括进样系统a1、离子源a2、入口狭缝a3、静电场分析器a4、中间狭缝a5、磁场分析器a6、出口狭缝a7以及检测器a8。
25.进样系统a1，所述进样系统a1用于导入样品。
26.具体的，在本实施例当中，使用微流雾化器自动提升液态的所述样品，将所述样品送入所述离子源a2中，然后利用所述离子源a2将所述样品离子化得到样品离子。
27.在其他可选地实施例当中，还可以根据所述样品的状态选择其它的进样系统a1，例如当所述样品为固体时，可以选用激光剥蚀进样系统a1，当所述待测样品为液态且含量较低时，可以选用膜去溶进样系统a1。
28.离子源a2，所述离子源a2与所述进样系统a1相连接，所述离子源a2用于把所述样品电离得到样品离子。
29.具体的，在本实施例当中，使用icp作为质谱仪的离子源a2，所述离子源a2可以使所述样品在高频等离子体高温的作用下，电离形成所述样品离子。
30.入口狭缝a3，所述入口狭缝a3与所述离子源a2相连接，所述入口狭缝a3处于真空环境当中，所述入口狭缝a3包括多个入口通道，所述入口通道用于选择所述样品离子，所述入口狭缝a3用于调节质谱仪的分辨率和为所述样品离子提供所述入口通道。
31.具体的，在本实施例中，所述入口通道为三个，所述样品离子通过所述入口通道进入所述静电场分析器a4。
32.静电场分析器a4，所述静电场分析器a4与所述入口狭缝a3相连接，所述静电场分析器a4用于提供静电场，所述静电场用于对所述样品离子加速。
33.中间狭缝，所述中间狭缝与所述静电场分析器a4相连接，所述中间狭缝处于真空
环境当中，所述中间狭缝包括多个离子通道，所述中间狭缝可根据需要切换所述离子通道，所述离子通道用于为所述静电场分析器a4中的所述样品离子提供出口，所述中间狭缝通过改变所述样品离子形成的离子束的高度来改变质谱仪的分辨率。
34.具体的，在本实施例当中，所述离子通道的数量为两个，在其他可选地实施例当中，还可以根据实际需要选择其它数量的离子通道，例如3个、4个、5个等。
35.磁场分析器a6，所述磁场分析器a6与所述中间狭缝相连接，所述磁场分析器a6用于提供磁场，所述磁场用于分离不同荷质比的所述样品离子。
36.出口狭缝a7，所述出口狭缝a7用于接收所述样品离子，并为所述磁场分析器a6中的所述样品离子提供出口。
37.检测器a8，所述检测器a8为法拉第杯检测器，所述检测器a8包括所述出口狭缝a7，所述检测器a8与所述磁场分析器a6相连接，所述检测器a8用于接收所述样品离子并根据所述样品离子获取质谱信号。
38.在本实施例中，请参见图2，所述入口通道包括第一入口狭缝1、第二入口狭缝2和第三入口狭缝3；所述入口狭缝还包括金属主体，所述第一入口狭缝1、所述第二入口狭缝2和所述第三入口狭缝3位于所述金属主体上。
39.进一步的，所述金属主体可采用多种类型的金属主体，所述入口通道在所述金属主体上的具体位置以及所述金属主体的类型可参考现有技术。
40.在本实施例中，所述第一入口狭缝1至少有一个截面的形状为长方形，所述第一入口狭缝1的宽度为50μm；进一步的，在其他可选地实施例当中，所述第一入口狭缝1的宽度也可以是其它大小，但为了提高质谱仪的分辨率，所述第一入口狭缝1的宽度应当小于250μm。
41.所述第二入口狭缝2位于所述第一入口狭缝1的一侧，所述第二入口狭缝2与所述第一入口狭缝1具有相同的形状，所述第二入口狭缝2至少有一个截面的形状为长方形，所述第二入口狭缝2的宽度为25μm，所述第二入口狭缝2的长边较所述第一入口狭缝1的长边短，所述第二入口狭缝2与所述第一入口狭缝1之间的夹角为锐角。
42.进一步的，在其他可选地实施例当中，所述第二入口狭缝2的宽度也可以是其它大小，但为了提高质谱仪的分辨率，所述第二入口狭缝2的宽度应当小于50μm。
43.所述第三入口狭缝3位于所述第一入口狭缝1的另一侧，所述第三入口狭缝3与所述第二入口狭缝2的形状相同，所述第三入口狭缝3至少有一个截面的形状为长方形，所述第三入口狭缝3的宽度为16μm，所述第三入口狭缝3的长边较所述第一入口狭缝1的长边短，所述第三入口狭缝3与所述第一入口狭缝1之间的夹角为锐角。
44.进一步的，在其他可选地实施例当中，所述第三入口狭缝3的宽度也可以是其它大小，但为了提高质谱仪的分辨率，所述第三入口狭缝3的宽度应当小于25μm。
45.相比于现有的质谱仪中的入口狭缝，所述第一入口狭缝1、所述第二入口狭缝2和所述第三入口狭缝3的宽度更小，可以有效的提高质谱仪的分辨率。
46.在本实施例中，所述中间狭缝包括极杆法兰、挡高狭缝板和磁体滑动器。
47.所述极杆法兰用于狭缝调节，所述极杆法兰可以使用螺钉固定在质谱仪自带的基座上；同时，为了保护所述极杆法兰，本实施例还使用了与所述极杆法兰适配的极杆盖，所述极杆盖为盖状结构，所述极杆法兰可放置在所述极杆盖里，所述极杆盖可拆卸安装在所述基座和所述极杆法兰之间。
48.具体的，所述基座可采用多种类型的基座，所述基座的具体类型可参考现有技术，在此就不做限定。
49.所述挡高狭缝板固定在所述极杆法兰上，所述挡高狭缝板能进行扇形旋转，所述离子通道位于所述挡高狭缝板上。
50.所述磁体滑动器使用磁体之间的引力为所述挡高狭缝板的旋转提供动力。
51.在本实施例中，请参见图3，所述极杆法兰包括极杆法兰主体4、承轴座5、承轴6、游丝簧片7、第一挡块8和第二挡块9。
52.所述极杆法兰主体4包括第一凸起和第一底部，所述第一凸起至少有一个截面为等腰三角形截面，所述等腰三角形截面的顶角为圆角，所述第一底部至少一个截面为半圆形截面，所述第一底部设有两个相同的凹陷，所述凹陷至少一个截面的形状为半圆形，所述半圆形截面的直径与所述等腰三角形截面的底边长度相同，所述半圆形截面的直径与所述等腰三角形截面的底边相连接。
53.所述极杆法兰主体4还包括中心通孔13以及围绕所述中心通孔13设置的第一螺钉孔10、第二螺钉孔11、第三螺钉孔12和第四螺钉孔14，所述第一螺钉孔10、所述第三螺钉孔12和所述第四螺钉孔14为多个，所述半圆形截面的直径的中点在所述中心通孔13的轴线上，所述极杆法兰主体4沿所述第四螺钉孔14之间的中点与所述等腰三角形截面顶点之间的连线对称。
54.具体的，在通过螺钉将所述极杆法兰连接在所述基座上时，所述第一螺钉孔10和所述第四螺钉孔14处使用常见的普通螺钉，所述第二螺钉孔11处使用通孔型六角头螺栓，所述第三螺钉孔12处使用通孔型开槽螺钉，以此来最大程度的保证所述极杆法兰与所述基座连接的牢固性。
55.所述承轴座5安装在所述极杆法兰主体4上，所述承轴座5呈圆筒状，所述承轴座5与所述中心通孔13不相切。
56.具体的，由于本实施例所使用的承轴座5为圆筒状，因此所述承轴座5远离其轴线的一面至少有一个截面的形状为圆形，在其它可选的实施例当中，所述承轴座5远离其轴线的一面的所有截面的形状可都不为圆形。
57.所述承轴6呈圆筒状，所述承轴6的底面有环形凹槽，所述承轴6安装在所述承轴座5中，且所述承轴6与所述承轴座5同轴设置。
58.具体的，所述承轴6与所述承轴座5适配，即所述承轴6的最大半径与所述承轴座5的最小半径相同，且所述承轴6可以在所述承轴座5中转动，便于狭缝调节。
59.所述游丝簧片7的一端卷起呈筒状结构，所述筒状结构至少一个截面的形状为圆环的四分之三，所述游丝簧片7的另一端为圆环片，所述圆环片与所述中心通孔13同轴设置，所述游丝簧片7用于在狭缝切换时减震。
60.所述第一挡块8和所述第二挡块9安装在所述极杆法兰主体4上，所述第一挡块8和所述第二挡块9为长方体形状，所述第一挡块8和所述第二挡块9的一面设有螺栓孔，所述螺栓孔用于安装螺栓，所述第一挡块8和所述第二挡块9远离所述极杆法兰主体4，并且与所述螺栓孔轴线平行的边所在的的棱角为倒角。
61.具体的，所述螺栓孔的轴线指向所述第一凸起的一个等腰三角形截面的顶角，安装所述螺栓时，所述螺栓的尾部指向所述第一凸起的一个等腰三角形截面的顶角，所述挡
块8和所述挡块9能够限制所述挡高狭缝板的旋转范围，所述螺栓用于在狭缝切换时进行微调。
62.在本实施例中，请参见图4，所述挡高狭缝板包括挡高狭缝底板15、挡高狭缝16、挡高缝轴17和磁吸块25。
63.所述挡高狭缝底板15包括第二凸起、中间结构、第二底部和挡高狭缝孔22，所述第二凸起至少有一个截面的形状为长方形，所述中间结构至少有一个截面的形状为等腰梯形，所述第二底部至少有一个截面的形状为u形，所述第二凸起上分别设有第五螺钉孔20和第六螺钉孔21，所述第五螺钉孔20和所述第六螺钉孔21为多个，在所述第二凸起的一个形状为长方形的截面上，所述第五螺钉孔20和所述第六螺钉孔21对应的截面为圆形且分别处于靠近所述长方形的截面的四个角的位置，所述第五螺钉孔20所处的所述长方形的截面的角为圆角。
64.所述中间结构的一个形状为等腰梯形的截面的长底边的最大长度，与所述第二底部一个形状为u形的截面的开口的最大距离相同。
65.所述第二底部设有缝轴孔23，所述挡高狭缝孔22至少有一个截面的形状为v形，所述挡高狭缝底板15沿所述第五螺钉孔20之间的中点与所述缝轴孔23的一个圆形截面的圆心之间的连线对称。
66.所述挡高狭缝16安装在所述挡高狭缝孔22中，所述挡高狭缝16的形状与所述挡高狭缝孔22适配，所述离子通道位于所述挡高狭缝16上，所述离子通道包括第一中间狭缝18和第二中间狭缝19，所述第一中间狭缝18和所述第二中间狭缝19至少有一个截面的形状为长方形。
67.所述挡高缝轴17为通孔型圆头螺钉，所述通孔型圆头螺钉与所述缝轴孔23和所述承轴6适配，所述通孔型圆头螺钉穿过所述缝轴孔23和所述承轴6将所述极杆法兰与所述挡高狭缝板连接。
68.请参见图5，所述磁吸块25包括顶部和第三底部，所述顶部与所述第三底部皆为正方体形状，所述第三底部设有第七螺钉孔24，所述第七螺钉孔24为多个，所述顶部与所述第三底部以与所述第七螺钉孔24轴线方向平行的边为宽，所述顶部远离所述第三底部的宽所在的棱角为倒角，所述顶部的宽大于所述第三底部的宽，利用螺钉穿过所述第五螺钉孔20和所述第七螺钉孔24将所述磁吸块25与所述挡高狭缝底板15连接。
69.在本实施例中，请参见图6，所述磁体滑动器包括磁体26、滑动槽27、气缸28、气缸磁体连接器29和气管30，图中所示出的圆形结构为上述的中间狭缝。
70.所述磁体26通过磁场吸引力带动所述磁吸块25旋转，所述磁吸块25带动所述挡高狭缝板旋转，所述磁体26可以是方形、圆形、三角形等，具体形状在此就不做限定。
71.所述滑动槽27用于为所述磁体26提供安装位置，所述磁体26能在所述滑动槽27上滑动，并通过磁场吸引力带动所述挡高狭缝板旋转。
72.所述气缸28利用气体驱动所述磁体26在所述滑动槽27上滑动。
73.所述气缸磁体连接器29的一端与所述磁体26连接，所述气缸磁体连接器29的另一端的一部分伸入所述气缸29内。
74.所述气管30位于所述气缸28的最左端，所述气管30用于向所述气缸28里注入气体或者抽出所述气缸28里的气体。
75.具体的，本实施例使用气管30向所述气缸28内注入气体，使气缸28内气管30与所述气缸磁体连接器29伸入气缸28的部分之间的压强增大，进而推动所述气缸磁体连接器29向气缸28压强较小的一边滑动，所述气缸磁体连接器29会带动所述磁体26在所述滑动槽27上滑动，由于所述磁体26与所述磁吸块25之间存在磁场，所述磁吸块25又安装在所述挡高狭缝底板15上，因此当所述磁体26在所述滑动槽27上滑动时，所述磁吸块25会因为磁场的作用带动整个挡高狭缝板转动。
76.更为具体的，当所述磁体26处于所述滑动槽27最左边的位置时，所述第二凸起将与所述第二挡块9相接触，同时所述第二中间狭缝19将透过所述圆环片和所述中心通孔13对应，且此时所述第二中间狭缝19的对角线交点在所述中心通孔13的轴线上，如果所述第二中间狭缝19的对角线交点不在所述中心通孔13的轴线上，就可以通过旋转所述第二挡块9上的所述螺栓进行微调，以确保所述第二中间狭缝19与所述中心通孔13完全对应；当所述磁体26滑动到所述滑动槽27最右边的位置时，所述第二凸起将与所述第一挡块8相接触，同时所述第一中间狭缝18将透过所述圆环片和所述中心通孔13对应，且此时所述第一中间狭缝18的对角线交点在所述中心通孔13的轴线上，如果所述第一中间狭缝19的对角线交点不在所述中心通孔13的轴线上，就可以通过旋转所述第一挡块8上的所述螺栓进行微调，以确保所述第一中间狭缝18与所述中心通孔13完全对应；如果想要让磁体26向左滑动，只需要利用气管30抽出所述气缸28里的气体即可。
77.综上所述，本发明提供的质谱仪通过对现有的多接收电感耦合等离子体质谱仪的入口狭缝和中间狭缝进行升级改造，减小了现有的入口狭缝的尺寸，初步提升质谱仪的分辨率，同时设计并加工了新的中间狭缝，新的中间狭缝不仅可以自由切换狭缝的大小，提高了质谱仪的中间狭缝的可选择性，而且进一步提高了质谱仪的分辨率，易于实现；同时，新的入口狭缝和中间狭缝都是可选的，可以通过调节入口狭缝和中间狭缝实现多种不同的搭配方式，因此可以根据需要选择不同的质谱仪的分辨率，有利于实现对国际新兴非传统稳定同位素的高精度测定。
78.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。