一种碳化硅晶圆化学机械抛光系统及控制方法与流程

文档序号:37338074发布日期:2024-03-18 18:04阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,所述电化学反应单元还包括:

3.根据权利要求2所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,所述电极板组(4)包括:

4.根据权利要求2所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,所述电极板组(4)包括:

5.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,还包括:

6.根据权利要求5所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,所述转运装置包括翻转件(10),用于对送入所述抛光单元(3)中的待处理晶圆(2)进行翻转。

7.根据权利要求5所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,还包括:

8.根据权利要求5所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,还包括:

9.根据权利要求1-8中任一项所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,其特征在于,所述数据采集单元为电压表、电流表或者分流器和库仑计。

10.一种碳化硅晶圆化学机械抛光系统控制方法,其特征在于:采用权利要求1-9中任一项所述的碳化硅晶圆化学机械抛光系统,包括以下步骤:


技术总结
本发明提供一种碳化硅晶圆化学机械抛光系统及控制方法,属于晶圆化学机械抛光技术领域,抛光系统包括电化学反应单元、抛光单元、数据采集单元和控制单元,所述电化学反应单元包括反应槽,所述反应槽的内部用于放置待处理晶圆和电解液,所述电化学反应单元通电对所述待处理晶圆进行电化学反应;抛光单元用于对电化学反应后的待处理晶圆进行抛光处理;数据采集单元用于采集所述待处理晶圆电化学反应的电荷量;所述控制单元根据所述数据采集单元采集到的数据,对所述抛光单元进行调节,根据电荷量,控制单元控制抛光单元在抛光过程中的工艺参数,使其与电化学反应的程度适配,实现了对晶圆表面反应后的精准抛光,提高了抛光效率。

技术研发人员:张为强,戴豪,李伟,王嘉琪,王磊,吴尚东
受保护的技术使用者:北京晶亦精微科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/3/17
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