一种晶硅太阳能电池测试分档的方法

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一种晶硅太阳能电池测试分档的方法
【专利摘要】本发明涉及一种晶硅太阳能电池测试分档的方法。其包括对电池效率测试并分段以及对电池工作电流测试并分档两步骤。将电池效率差≤δe的电池片分入同一效率段;对电池工作电流为Impp±δI的电池片进行分档,将≥Impp-δI且≤Impp的电池片分入同一档,将>Impp且≤Impp+δI的分入另一档。δe的取值范围为0.05%~0.2%;Impp的取值范围为7.500A~9.000A,δI的取值范围为0.030A~0.080A。采用本发明对电池进行有效的测试分档,使得串联结构组件的电池单元的性能比较一致,降低电池单元不匹配而导致的功率损耗,进而降低电池到组件的封装损失,提高电池到组件的产出。
【专利说明】—种晶硅太阳能电池测试分档的方法
【技术领域】
[0001]本发明属于光伏【技术领域】,特别是涉及一种晶硅太阳能电池测试分档的方法。
【背景技术】
[0002]目前,晶硅太阳能电池市场都是按照组件的功率来定价格,而且高功率组件正成为市场的主流,提高组件的功率已成为生产企业的重点研发方向,这也将为生产企业直接带来利益。为了获得所需的电流电压和输出功率,同时也为了保护电池不遭受机械损伤和环境损害,必须将电池片串联或者并联封装成组件。一般条件下,封装后的组件的输出功率都会小于理论的组件功率,通常称之为封装损失。而影响组件封装损失的因数很多,包括电池片分档方式、组件封装材料、封装工艺与电池片工艺的匹配等,通过优化这些方面,可以降低组件的封装损失。
[0003]组件的封装损失是不可避免的,重要的是尽量去降低封装损失。如果能够降低组件的封装损失,那么组件的功率相应地就会增加,就会带来收益。由于大部分组件的工作原理是电池的串联结构,而这就需要电池的工作电流接近来匹配,这样才能避免组件的不匹配,而造成组件封 M装损失较大。
[0004]常见的组件都是采用电池串联形式,若在串联的正常电池中混入低电流电池,那么根据电流最小原则,组件的输出电流就由最小的电流决定,组件的输出功率会降低,组件的封装损失会变大。要减少电池匹配损失获得最大的输出功率,需要选择相同或相近的电性能参数的电池串联成组件。
[0005]要解决组件中电池单元不匹配的问题,就需要对不同的电池片进行重新测试,并按照合适的规则进行测试分档,从而将电池片分为不同类型的组别,再分别进行组件制作,才能达到很好的组件功率输出。

【发明内容】

[0006]本发明目的在于提供一种晶硅太阳能电池测试分档的方法,通过测试分档,再按分档分别进行组件制作,实现电池组件匹配,降低封装损失。
[0007]本发明实现创新目的所采取的技术方案是,一种晶硅太阳能电池测试分档的方法,其包括电池效率测试并按电池效率分段以及电池工作电流测试并按电池工作电流分档步骤;
所述的电池效率测试并按电池效率分段为:对电池片进行电池效率测试,并根据测试所得电池效率进行电池效率分段,将电池效率差< Se的电池片分入同一效率段;所述的6 e的取值范围为0.05%~0.2% ;
所述的电池工作电流测试并按电池工作电流分档为:对经电池效率分段的各效率段电池片进行电池工作电流测试,取测试所得电池工作电流为Impp± S1的电池片进行电池工作电流分档,将电池工作电流≥Impp - 8 I且≤Impp的电池片分入同一档,将电池工作电流> Impp且≤Impp + 8 I的电池片分入另一档;所述的Impp的取值范围为7.500A~9.000A,所述的8 j的取值范围为0.030A~0.080A。
[0008]作为一种优选,所述的S e的取值范围为0.1%。
[0009]作为一种优选,所述的Impp的取值范围为8.000A~8.500A,所述的S x的取值范围为 0.030A ~0.050A。
[0010]在本发明中,5 e通常根据待测试分档批次电池片具体效率数值分布情况,从其取值范围内设定。1mpp是指相应的效率段的电池片的电池最佳工作电流,Impp与S1根据待测试分档效率段电池片具体电池工作电流数值分布情况,从其取值范围内设定。
[0011]本发明突破传统的效率分档,采用效率和工作电流Impp同时优先的原则,实现分档细化。根据对组件的要求,首先对电池片进行电池效率测试并按电池效率进行分段,然后对各效率段电池片分别进行电池工作电流测试并按电池工作电流进行分档。通过细分,同一档内电池片的性能比较一致,不仅电池效率比较接近,而且电池工作电流也比较接近。在本发明中,被分入同一效率段的电池片的电池效率差较小(S e),亦即电池效率一致性较高;并且对同一效率段的电池片再进行电池工作电流的分档,因此,进一步地,被分入同一档的电池片的电池工作电流差较小(S1),亦即电池工作电流的一致性较高。因此同一档内电池片的相互匹配程度大大提高,以同一档内电池片为电池单元封装电池组件,封装损失小。
[0012]本发明技术的进步在于建立晶硅太阳能电池的测试分档方法,从而对电池进行有效的测试分档,使得串联结构组件的电池单元的性能比较一致,从而降低电池单元不匹配而导致的功率损耗,进而降低电池到组件的封装损失,提高电池到组件的产出。通过本发明,可以使相同电池片到组件的功率产出提高0.5W-1W。
【具体实施方式】
[0013]实施例1:
对一批圆角156单晶电池片进行电池效率测试,选取电池效率为18.4%~18.6%的电池片进行电池效率分段。设定Se=0.1%,即将电池效率差<0.1%的电池片分入同一效率段。具体地是将电池效率≥18.4%且≤18.5%的电池片分入第一效率段,将电池效率> 18.5%且≤18.6%的电池片分入第二效率段。
[0014]对第一效率段电池片进行电池工作电流测试,设定电池最佳工作电流1mpp=8.300A, 8 1=0.050A,即将电池工作电流≥8.300A — 0.050A且≤8.300A的电池片分入第一效率段第一档,将电池工作电流> 8.300A且》8.300A + 0.050A的电池片分入第一
效率段第二档。
[0015]对第二效率段电池片进行电池工作电流测试,设定电池最佳工作电流Impp=8.400A, 8 I=0.050A,即将电池工作电流≥8.400A — 0.050A且≤8.400A的电池片分入第二效率段第一档,将电池工作电流> 8.400A且≤8.400A + 0.050A的电池片分入第二
效率段第二档。
[0016]按照上述方法,已经将该批圆角156单晶电池片测试并分成四档,分别为:
第一效率段第一档:电池效率≥18.4%且≤18.5%,电池工作电流 ≥8.300A 一 0.050A且≥ 8.300A ;
第一效率段第二档:电池效率≥18.4%且≤18.5%,电池工作电流> 8.300A且(8.300A + 0.050A ;
第二效率段第一档:电池效率> 18.5%且≤18.6%,电池工作电流≥8.400A 一 0.050A且≤ 8.400A ;
第二效率段第二档:电池效率> 18.5%且≤18.6%,电池工作电流> 8.400A且≤8.400A + 0.050A。
[0017]上述各档电池片分别制作组件,封装损耗小。
[0018]实施例2:
对一批直角156多晶电池片进行电池效率测试,选取电池效率为17.4%~17.6%的电池片进行电池效率分段。设定Se=0.1%,即将电池效率差≤0.1%的电池片分入同一效率段。具体地是将电池效率≥17.4%且≤17.5%的电池片分入第一效率段,将电池效率> 17.5%且≤17.6%的电池片分入第二效率段。
[0019]对第一效率段电池片进行电池工作电流测试,设定电池最佳工作电流Impp=8.100A, 8 I=0.030A,即将电池工作电流≥8.100A — 0.030A且≤8.100A的电池片分入第一效率段第一档,将电池工作电流> 8.100A且≤8.100A + 0.030A的电池片分入第一
效率段第二档。
[0020]对第二效率段电池片进行电池工作电流测试,设定电池最佳工作电流Impp=8.150A, 8 I=0.030A,即将电池工作电流≥8.150A — 0.030A且≤8.150A的电池片分入第二效率段第一档,将电池工作电流> 8.150A且≤8.150A + 0.030A的电池片分入第二
效率段第二档。
[0021]按照上述方法,已经将该批圆角156单晶电池片测试并分成四档,分别为:
第一效率段第一档:电池效率≥17.4%且≤17.5%,电池工作电流≥8.100A — 0.030A且 ≤8.100A ;
第一效率段第二档:电池效率≥17.4%且≤17.5%,电池工作电流≥8.100A且≤8.100A + 0.030A ;
第二效率段第一档:电池效率> 17.5%且≤17.6%,电池工作电流≥8.150A 一 0.030A且≤ 8.150A ;
第二效率段第二档:电池效率> 17.5%且≤17.6%,电池工作电流> 8.150A且≤8.150A + 0.030A。
[0022]上述各档电池片分别制作组件,封装损耗小。
【权利要求】
1.一种晶硅太阳能电池测试分档的方法,其特征在于,包括电池效率测试并按电池效率分段以及电池工作电流测试并按电池工作电流分档步骤; 所述的电池效率测试并按电池效率分段为:对电池片进行电池效率测试,并根据测试所得电池效率进行电池效率分段,将电池效率差< Se的电池片分入同一效率段;所述的6 e的取值范围为0.05%~0.2% ; 所述的电池工作电流测试并按电池工作电流分档为:对经电池效率分段的各效率段电池片进行电池工作电流测试,取测试所得电池工作电流为Impp± S1的电池片进行电池工作电流分档,将电池工作电流≤Impp - 8 I且≤Impp的电池片分入同一档,将电池工作电流> Impp且≤Impp + 8 I的电池片分入另一档;所述的Impp的取值范围为7.500A~9.000A,所述的8 j的取值范围为0.030A~0.080A。
2.根据权利要求1所述的晶硅太阳能电池测试分档的方法,其特征在于,所述的Sj勺取值范围为0.1%。
3.根据权利要求1所述的晶硅太阳能电池测试分档的方法,其特征在于,所述的Impp的取值范围为8.000A~8.500A,所述的5 T的取值范围为0.030A~0.050A。
【文档编号】H02S50/10GK103618500SQ201310488940
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年10月18日 优先权日:2013年10月18日
【发明者】徐华浦, 陈康平, 金浩, 蒋方丹 申请人:浙江晶科能源有限公司, 晶科能源有限公司
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