测试夹具的供电系统的制作方法

本发明涉及测试夹具技术领域，尤其涉及一种测试夹具的供电系统。

背景技术：

测试夹具，是手机产线上大规模使用的一种夹具，主要用于手机主板的程序下载、功能性测试、校准以及漏电流测试等场景，电源线和信号线通过测试夹具上的顶针与手机主板连接，实现供电和通信功能。

目前，测试夹具的供电方式主要有两种：一种是直流电源直接接入测试夹具的供电接口，这种方式是最简单的供电方式，但是操作过程复杂，产线质量难以管控，电源上电瞬间产生的过冲电压和夹具压合瞬间产生的抖动电压，都会对手机主板造成冲击，导致手机主板损坏；另一种供电方式是直流电源先经过稳压电路，再接入测试夹具的供电接口，这种方式在一定程度上可以消除电源上电瞬间产生的过冲电压，但是无法消除测试夹具压合瞬间产生的抖动电压，这些抖动电压还是会导致手机主板损坏。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：

测试夹具采用现有的供电方式，容易导致手机主板损坏。

技术实现要素：

本发明提供一种测试夹具的供电系统，能够同时消除电源上电瞬间的过冲电压和夹具压合瞬间的抖动电压。

本发明提供一种测试夹具的供电系统，包括：直流电源、稳压电路及受控制的缓开启电路，所述直流电源的输出经过所述稳压电路后进入所述缓开启电路，所述缓开启电路的输出端连接测试夹具的供电接口，所述缓开启电路的使能端连接测试夹具的行程开关。

可选地，所述缓开启电路包括延时芯片，所述延时芯片包括输入端、输出端、使能端、过压锁定端及接地端，所述输入端连接所述稳压电路的输出信号，所述接地端接地，所述输出端及接地端连接到测试夹具的供电接口，所述使能端通过第一电阻连接到所述输入端，同时所述使能端及接地端连接到测试夹具的行程开关上。

可选地，所述缓开启电路还包括第二电阻及第三电阻，所述第二电阻与第三电阻串联接在所述输入端和地之间，所述第二电阻与第三电阻的公共端连接至所述延时芯片的过压锁定端。

可选地，所述缓开启电路还包括第一电容，所述第一电容连接在所述输入端和地之间。

可选地，所述缓开启电路还包括第二电容，所述第二电容连接在所述输出端和地之间。

可选地，所述稳压电路为线性稳压器。

本发明提供的测试夹具的供电系统，在现有供电电路的基础上，增加了缓开启电路，通过测试夹具上的行程开关对缓开启电路进行控制，可以实现延时上电，能够同时消除电源上电瞬间的过冲电压和夹具压合瞬间的抖动电压，从而对手机主板起到保护作用，提高产品优良率，进一步地，可以简化测试夹具操作流程，无需严格遵守先压合夹具再上电的顺序，直接压合即可，便于产线质量管控。

附图说明

图1为本发明实施例提供的测试夹具的供电系统的连接示意图；

图2为本发明实施例提供的测试夹具的供电系统的上电时序图；

图3为本发明实施例提供的稳压电路的示意图；

图4为本发明实施例提供的缓开启电路的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种测试夹具的供电系统，如图1所示，所述供电系统包括：直流电源、稳压电路及受控制的缓开启电路，所述直流电源的输出经过所述稳压电路后接到所述缓开启电路的输入端A，所述缓开启电路的输出接到测试夹具的供电接口B上，供电接口B上端固定有顶针C。在测试夹具上安装有行程开关Key，用于控制所述缓开启电路的工作状态。将缓开启电路的使能端Enable接到行程开关Key上，当测试夹具未压合时，行程开关Key断开，Enable被上拉至高电平，此时缓开启电路无输出，测试夹具的供电接口B没有电压，因此顶针C也没有电压。手机主板位于夹板D和E之间，上电时，测试夹具压合，顶针C首先和手机主板接触上，此时顶针C无电压，不会对主板产生任何影响，之后夹具继续下压，行程开关闭合，使能端Enable被拉低，缓开启电路开始工作，如图2所示，经过一段时间的延迟后缓开启电路输出电压，通过顶针C给手机主板供电。

测试完毕下电时，测试夹具上升，行程开关断开，使能端Enable被拉高，缓开启电路停止工作，然后顶针C上没有电压，最后手机主板与顶针C分离。

具体地，所述直流电源，用于提供所述测试夹具需要的电源，包括电源变压器、整流模块、滤波模块及稳压模块，其中电源变压器用于将220V电网电压降至实际需要的供电电压；整流模块用于将电源变压器输出的供电电压转换成脉动的直流电压；滤波模块用于减小整流模块输出的直流电压的脉动，使所述直流电压更加平滑；稳压模块用于当电网电压波动或者负载电流变化时，保持所述直流电源输出电压稳定。直流电源的主要参数包括电压调整率、电流调整率及纹波电压，由于直流电源质量参差不齐，当电网电压波动或者负载电流变化时，直流电源的输出电压可能发生变化。

所述稳压电路，用于进一步稳定所述直流电源的输出电压，可以采用一颗集成的LDO(Low Dropout Regulator，低压差线性稳压器)，如图3所示，所述稳压电路包括串联调整管VT、取样电阻R10、R20和比较放大器A，将取样电阻R10、R20分压后的输出电压加在比较放大器A的同相输入端，将基准电压Uref加在比较放大器A的反相输入端，两者的差值经过比较放大器A放大后，进入串联调整管VT的基极，用来控制串联调整管VT的压降，从而稳定输出电压。

所述稳压电路，也可以采用开关式稳压电路，利用电容、电感的储能特性，通过MOSFET等作为可控开关进行高频开关动作，当开关闭合时，输入的电能储存在电容、电感里，当开关断开时，储存的电能再释放给负载，提供能量。

与开关式稳压电路相比，LDO外围器件较少、稳定性高、无开关噪声且纹波电压较小，可以在对电源效率要求不是特别苛刻的条件下采用。考虑到稳定性和较好的电磁干扰性能，本发明实施例采用一颗集成的LDO作为稳压电路。

如图4所示，所述缓开启电路包括延时芯片U1，所述延时芯片U1带有计数器，可以实现延时上电，包括：输入端IN、输出端OUT、使能端EN、过压锁定端OVLO以及接地端GND，其中，所述输入端IN连接所述稳压电路的输出信号，即图中VIN，所述接地端GND接地PGND，所述输出端OUT及接地端GND连接到测试夹具的供电接口，所述使能端EN通过第一电阻R1连接到所述输入端IN，同时所述使能端EN及接地端GND连接到测试夹具的行程开关上。

具体地，所述使能端EN用于控制所述延时芯片U1是否有输出，当使能端EN为高电平时，芯片无输出，当使能端EN为低电平时，芯片有输出。

可选地，如图4所示，所述缓开启电路还包括第二电阻R2及第三电阻R3，用于调节过压锁定端OVLO的端口电压，所述第二电阻R2与第三电阻R3串联接在所述输入端VIN和地PGND之间，所述第二电阻R2与第三电阻R3的公共端连接至所述延时芯片U1的过压锁定端OVLO，所述过压锁定端OVLO用于所述延时芯片U1的过压保护，当过压锁定端电压超过芯片设定的保护阈值后，芯片进入锁定状态，停止输出。

可选地，如图4所示，所述缓开启电路还包括第一电容C1，所述第一电容C1连接在所述输入端VIN和地PGND之间，用于稳定输入电压。

可选地，如图4所示，所述缓开启电路还包括第二电容C2，所述第二电容C2连接在所述输出端OUT和地PGND之间，用于稳定输出电压。

本发明实施例提供的测试夹具的供电系统，包括直流电源、稳压电路及缓开启电路，在现有电路的基础上，增加了缓开启电路，通过行程开关对缓开启电路进行控制，由于测试夹具供电接口是否有电是由使能端Enable控制的，所以无论此时直流电源是否有输出，当测试夹具未压合时，顶针C都不会有电压，在测试夹具压合后延迟一段时间顶针C才会有电压，所以该供电系统能够有效消除电源上电瞬间的过冲电压和夹具压合瞬间的抖动电压，从而对手机主板起到保护作用，提高产品优良率，进一步地，可以简化测试夹具操作流程，无需严格遵守先压合夹具再上电的顺序，直接压合即可，便于产线质量管控。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。