电路装置以及电子设备的制造方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及一种电路装置以及电子设备等。
【背景技术】
[0002]作为对电机的转矩进行控制的方法，已知有对H电桥电路的晶体管进行PWM控制的方法。在该方法中，重复进行增加H电桥电路的输出电流的充电期间、和减少H电桥电路的输出电流的衰减期间，并通过对这些期间的长度进行控制从而对电机的驱动电流进行控制。
[0003]在实施这种控制的情况下，为了从因过电流而造成的故障中保护电机与H电桥，而设置有故障检测电路。例如，在专利文献I中公开了一种如下的技术，即，通过在H电桥的电源侧设置第一检测电阻，在H电桥的接地侧设置第二检测电阻，并对第一检测电阻的两端的电压和第二检测电阻的两端的电压进行检测，从而对过电流进行检测。
[0004]在专利文献I中，将在检测电阻中有过电流流过的情况下该检测电阻的两端的电压的上升的情况作为故障而进行检测。但是，在产生了与检测电阻不同的其他的电流路径的情况下，则无法正确地检测出过电流。例如，当H电桥的晶体管的漏极与衬底之间被过电压破坏时，过电流的一部分将流至衬底，从而使检测电阻的电压上升变小。
[0005]如此，在对有过电流流过电阻时的电压上升进行检测的方法中，在晶体管被破坏的情况下，存在无法将因该破坏而流动的过电流作为故障而进行检测的课题。
[0006]专利文献1:日本特开2007-74794号公报
【发明内容】
[0007]根据本发明的几种方式，能够提供可以对因晶体管的破坏而产生的过电流进行检测的电路装置以及电子设备等。
[0008]本发明的一个方式涉及一种电路装置，包括:电桥电路，其具有高压侧的晶体管和低压侧的晶体管；故障检测电路，其对作为检测对象晶体管的漏极节点与源极节点之间的电压的检测电压是否超过给定的比较电压进行检测的电路，其中，所述检测对象晶体管为，所述低压侧的晶体管以及所述高压侧的晶体管中的至少一方；控制电路，其根据来自所述故障检测电路的检测结果，而在判断为在使所述电桥电路的输出电流增加的充电期间结束之前所述检测电压未超过所述给定的比较电压的情况下，检测故障。
[0009]根据本发明的一个方式，在充电期间结束之前，在作为检测对象晶体管的漏极节点与源极节点之间的电压的检测电压未超过给定的比较电压的情况下，检测出故障。由于可以预想到如果不存在故障则在充电期间结束之前检测电压将超过给定的比较电压，因此根据本发明的一个方式，能够对由晶体管的破坏造成的过电流进行检测。
[0010]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下方式，S卩，所述给定的比较电压为，根据所述充电期间结束时的所述电桥电路的输出电流亦即截断电流的设定值而变化的电压。
[0011]电桥电路例如驱动直流电机。在该情况下，通过变更截断电流的设定值从而能够对直流电机的转矩进行控制。在这种情况下，通过以与截断电流的设定值联动的方式设定给定的比较电压，从而能够设定根据截断电流的设定值而被预想的、应该达到的下限的电压。而且，能够判断为，在未达到该电压的情况下存在故障。
[0012]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，S卩，所述控制电路在经过了所监控的过去的所述充电期间或预先被设定的期间时，根据来自所述故障检测电路的所述检测结果而对所述检测电压是否超过所述给定的比较电压进行判断。
[0013]充电期间例如在检测出电桥电路的输出电流达到了截断电流的设定值时结束。但是，在存在故障的情况下，由于未达到截断电流的设定值，因此无法知晓充电期间的结束。因此，通过将经过了所监控的过去的充电期间或预先设定的期间时视为充电期间的结束，从而能够实施故障检测。
[0014]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，即，所述故障检测电路具有:电流源电路；电压输出用晶体管，其漏极被输入有来自所述电流源电路的电流，并且源极与所述检测对象晶体管的源极连接，所述故障检测电路将所述电压输出用晶体管的漏极电压作为所述给定的比较电压而输出。
[0015]通过这样将来自电流源电路的电流向电压输出用晶体管的漏极输入，从而能够通过导通电阻而对该电流进行电压转换从而作为给定的比较电压而输出。由于通过利用晶体管而决定了其与检测对象晶体管之间的导通电阻之比，因此能够将检测电压与给定的比较电压之间的关系置换为电流的关系。
[0016]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，即，来自所述电流源电路的电流根据所述充电期间结束时的所述电桥电路的输出电流亦即截断电流的设定值而被设定。
[0017]如上所述，由于能够将检测电压与给定的比较电压之间的关系置换为电流的关系，因此通过相对于截断电流的设定值而设定来自电流源电路的电流，因此能够设定与截断电流的设定值相对应的适当的给定的比较电压。
[0018]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，S卩，所述故障检测电路在将所述电压输出用晶体管与所述检测对象晶体管的尺寸比设为I/η的情况下，使来自所述电流源电路的电流被设定在所述截断电流的所述设定值的I/η以下，其中，η为2以上的自然数。
[0019]通过电压输出用晶体管与检测对象晶体管的尺寸比，而使导通电阻之比成为η。根据该导通电阻之比，能够决定截断电流的设定值与电流源电路的输出电流之间的关系。即，通过设定为截断电流的设定值的I/η以下，从而能够对在充电期间结束之前是否达到了截断电流的设定值进行判断，由此能够对故障进行检测。
[0020]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，即，所述故障检测电路具有比较器，所述比较器由第一耐压的晶体管构成，并对所述检测电压和所述给定的比较电压进行比较，所述高压侧的晶体管以及所述低压侧的晶体管为，与所述第一耐压相比而较高的第二耐压的晶体管。
[0021]通过如此设置比较器从而能够对检测电压和给定的比较电压进行比较，并能够对在充电期间结束之前检测电压是否超过给定的比较电压进行判断。
[0022]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，即，所述故障检测电路具有开关电路，所述开关电路由所述第二耐压的晶体管构成，并被设置于所述检测对象晶体管的所述漏极节点与所述比较器的所述检测电压的输入端子之间，所述开关电路在使所述电桥电路的所述输出电流减少的衰减期间内成为断开。
[0023]如上所述，电桥电路的晶体管为高于第一耐压的第二耐压。由于在衰减期间内检测对象晶体管的漏极电压超过第一耐压，因此通过设置开关电路从而能够对由第一耐压的晶体管构成的比较器进行保护。
[0024]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，即，所述控制电路对所述高压侧的晶体管以及所述低压侧的晶体管进行导通或断开控制，并在检测出所述故障的情况下，停止进行所述高压侧的晶体管以及所述低压侧的晶体管的所述导通或断开控制。
[0025]通过在检测出故障时停止电桥电路的导通或断开控制，从而能够抑制过电流从电桥电路输出的情况。由此，能够抑制电桥电路的驱动对象被过电流破坏的情况。
[0026]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，S卩，包括检测电路，所述检测电路在所述充电期间内，对流至所述电桥电路的电流是否达到截断电流的设定值进行检测，所述控制电路在检测出流至所述电桥电路的电流达到了所述截断电流的设定值的情况下，从所述充电期间切换至使所述电桥电路的所述输出电流减少的衰减期间。
[0027]如果采用这种方式，则能够通过对截断电流的设定值进行变更从而控制电桥电路的输出。根据本发明的一个方式，由于能够对在充电期间结束之前是否达到了应该达到的截断电流的设定值进行检测，因此由此能够对故障进行判断。
[0028]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，S卩，所述检测对象晶体管为所述低压侧的晶体管，所述电路装置的基板为被设定为接地电压的P型基板，所述低压侧的晶体管的所述漏极节点与形成于所述P型基板上的N型区域连接。
[0029]被设定为接地电压的P型基板、和与被形成于该P型基板上的N型区域连接的漏极节点之间成为PN接合。在该PN接合例如被静电破坏等的情况下，从低压侧的晶体管的漏极向接地电压产生电流路径。该电流路径使低压侧的晶体管的漏极一源极间电压降低。根据本发明的一个方式，通过与给定的比较电压进行比较而对该电压的降低进行检测，从而能够对故障进行检测。
[0030]另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，S卩，所述检测对象晶体管为所述高压侧的晶体管，所述电路装置的基板为P型基板，被形成于所述P型基板上的N型区域被设定为电源电压，所述高压侧的晶体管的漏极节点与