专利名称：取样电路与测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种对已施加的输入信号进行取样所用的取样电路和测试装置，特别是涉及一种使用突返(step recovery)二极管以产生一种取样脉波所用的取样电路。就借由文献的参照而确认可编入的指定国而言，借由参照下记的日本申请案中所记载的内容而编入本申请案中，以作为本申请案记载的一部份。
特愿2004-328262申请日 西元2004年11月11日背景技术先前，作为一种对输入信号进行取样所用的电路时，一种使用突返二极管(SRD，Step Recovery Diode)的电路已为人所知(例如，请参阅专利文献1)。此电路借由SRD以产生一取样脉波，且借由二极管桥(bridge)来对输入信号进行取样。
图5是先前的取样电路200的构成的一例。取样电路200具备脉波产生器(pulser)210，电容器220，传送路径230，SRD240以及二极管桥250。
脉波产生器210对应于输入信号取样时应有的时序以产生脉波信号。SRD240接收脉波信号且依据此脉波信号以产生所需的取样脉波。然后，二极管桥250利用该取样脉波的时序来对该输入信号取样。
脉波产生器210所产生的脉波信号经由延迟量tpd的传送路径230而施加至SRD240。又，到达SRD240中的脉波信号在SRD240上反射，然后经由传送路径230而到达电容器220。已到达电容器220中的脉波信号在电容器220上反相且反射，经由传送路径230而施加至SRD240。即，脉波信号和此脉波信号只延迟2tpd后的脉波信号的反相信号都施加至SRD240上。借由这些脉波信号的合成，SRD240产生一种取样脉波，其具有由传送路径230所造成的与该延迟时间2tpd相对应的脉波宽度。
专利文件1特开2004-179912号公报发明内容发明所要解决的问题然而，一般而言，SRD使取样时脉输出时的时序是与SRD的温度有关。即，SRD240由接收脉波信号至输出该取样脉波为止的期间是与SRD240的温度有关，此乃因为由接收脉波信号至输出该取样脉波为止的期间虽然是由SRD240的所谓蓄积时间ts(逆方向电流所流过的时间)来决定，但蓄积时间是与SRD240的温度有关。
此处，SRD240的温度会由于操作频率和周围环境等而变动。因此，在先前的取样电路中，SRD在输出该取样脉波时的时序会发生误差，要很精确地对输入信号进行取样是困难的。
因此，本发明的目的提供一种可解决上述问题的取样电路。此目的借由申请专利范围独立项所记载的特征的组合来达成。又，各附属项规定了本发明的更有利的具体特征。
解决问题所用的手段为了解决上述问题，本发明的实施形式中提供一种取样电路，此种对所施加的输入信号进行取样所用的取样电路具备脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出该取样信号；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突返二极管在输出该取样脉波时的时序(timing)。
温度补偿部亦可依据温度检出电路所检出的温度以控制该施加至突返二极管中的偏压。在温度检出电路所检出的温度变高时，则温度补偿部使施加至突返二极管中的偏压减小。在温度检出电路所检出的温度变低时，则温度补偿部使施加至突返二极管中的偏压增大。
温度补偿部亦可预先储存温度表，其显示该突返二极管的温度与突返二极管所输出的取样脉波的相位的关系；以及偏压表，其显示出施加至突返二极管的偏压和该突返二极管所输出的取样脉波的相位的关系。
突返二极管的阴极端接地，取样电路更可具备传送路径，其一端连接至脉波产生器，多端连接至突返二极管的阳极，此传送路径具有一定的延迟时间；以及电容器，其设在传送路径的一端和接地电位之间。
取样电路更可具备变压器，其使取样脉波传送至检出器。此检出器具有二极管桥，其以变压器的正相输出和反相输出作为取样脉波以检出该输入信号的值。
本发明的第2实施形式中提供一种测试装置，此种对被测试装置进行测试所用的测试装置具有图样产生部，其产生一种被测试装置进行测试用的测试图样；波形成形部，其产生一种与测试图样相对应的测试信号；以及判定部，其依据该被测试装置所输出的输出信号来判定该被测试装置的良否。判定部具有取样电路，其对输出信号进行取样。取样电路具有脉波产生器，其对应于输出信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出该取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输出信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管的近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度来控制该突返二极管输出该取样脉波时的时序。
又，上述的发明的概要未列举本发明的必要的特征的全部，这些特征群的下位组合(sub-combination)亦属本发明。
发明的效果依据本发明，温度变动所造成的取样脉波的相位的偏移可获得补偿，且可对输入信号很精确地进行取样。
为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
图1是本发明的实施形式的取样电路100的构成的一例。
图2是SRD26中所输入的脉波信号和SRD26所输出的取样脉波的波形的一例。图2(a)是温度无变动时的波形。图2(b)是温度有变动时的波形。图2(c)是有温度变动时，偏压受控制时的波形。
图3是控制部20的动作说明图。图3(a)是SRD26的温度和SRD26所输出的取样脉波的相位的关系。图3(b)是施加至SRD26中的偏压和SRD26所输出的取样脉波的相位的关系。
图4是温度补偿部16的构成的另一例。
图5是先前的取样电路200的构成的一例。
10脉波产生器 12电容器16温度补偿部 18电源20控制部 22电容器24传送路径 26突返二极管28变压器 30取样头32温度检出电路 34检出器36类比数位转换器 38运算电路40记忆体 42数位类比转换器100取样电路 200先前的取样电路210脉波产生器220电容器230传送路径 240突返电容器250二极管桥具体实施方式
以下，虽然依据发明的实施形式来说明本发明，但以下的实施形式不是对请求专利的范围所属的发明的一种限制。又，实施形式中所说明的特征的组合的全部不限于发明的解决手段中所必需者。
图1是本发明的实施形式的取样电路100的构成的一例。取样电路100是一种对所施加的输入信号进行取样所用的电路，其具备脉波产生器10，电容器12，温度补偿器16，电容器22，传送路径24以及取样头30。
脉波产生器10对应于输入信号取样时应有的时序而产生一种脉波信号。电容器12使脉波产生器10所输出的信号的高频成份通过。即，电容器12除去该脉波产生器10所输出的直流成份而使脉波成份通过。
传送路径24的一端连接至电容器12，另一端与取样头30相连接。即，此传送路径24经由电容器12接收脉波产生器10所产生的脉波信号以供给至取样头30。又，此传送路径24具有一种传送延迟时间tpd。即，传送路径24使脉波信号延迟此一延迟时间tpd以供给至取样头30。
电容器22设在电容器12所连接的传送路径24的一端和接地电位之间。由传送路径24供给至取样头30的脉波信号在突返二极管(SRD)26的阳极端反射后经由传送路径24而输入至电容器22。此时，脉波信号在电容器22中反相且反射，经由传送路径24而供给至取样头30。即，脉波信号和此脉波信号延迟2tpd后的脉波信号的反相信号所形成的合成波供给至取样头30中。
取样头30具有SRD26，变压器28，检出器34以及温度检出电路32。SRD26依据上述的合成波以产生且输出“取样脉波”。
检出器34例如具有二极管桥电路等，且对应于所施加的取样脉波以检出所施加的输入信号的值。变压器28将SRD26所输出的取样脉波传送至检出器34。本例中检出器34具有一种二极管桥电路，其以变压器28的正相输出和反相输出作为取样脉波来检出一输入信号的值。
温度检出电路32设在SRD26的近旁，以检出SRD26近旁的温度。温度检出电路32例如可具有一种在特性上与温度有关的元件。温度检出电路32例如具有二极管，SRD，热阻器(thermistor)等。温度检出电路32具有二极管，SRD时，该二极管或SRD设在SRD26的近旁，借由检出二极管等的顺向电压以检出温度。又，温度检出电路32具有热阻器时，该热阻器设在SRD26的近旁，借由检出此热阻器的电阻以检出温度。
温度补偿部16具有电源18和控制部20。电源18施加一种偏压至SRD26。本例中，SRD26的阴极端接地，电源18使偏压经由传送路径24而施加至SRD26的阳极端。
控制部20依据温度检出电路32所检出的温度以控制电源18所产生的偏压。SRD26输出该取样脉波时的时序由于会随着所施加的偏压而变动，则控制部20应依据温度变动来对电源18所产生的偏压进行控制，以补偿由温度变动所造成的取样脉波的输出时序的偏差。例如，温度检出电路32所检出的温度变高时，控制部20使电源18所产生的偏压减少，温度检出电路32所检出的温度变低时，控制部20使电源18所产生的偏压增大。
借由上述的构成，则由温度变动所造成的取样脉波的输出时序的偏差可获得补偿。因此，可很精确地对输入信号进行取样。
图2是SRD26中所输入的脉波信号和SRD26所输出的取样脉波的波形的一例。图2(a)是温度无变动时的波形。图2(b)是温度有变动时的波形。图2(c)是有温度变动时，偏压受控制时的波形。
如图2(b)所示，SRD26中发生温度变动时，对温度无变动时的情况而言，取样脉波的相位会发生偏差。控制部20依据温度检出电路32所检出的温度以算出该相位的偏差。然后，对该电源18所产生的偏压进行控制，使已算出的相位的偏差获得补偿。借由上述的控制方式，如图2(c)所示，则由温度变动所造成的取样脉波的相位的偏差可获得补偿。
图3是控制部20的动作的说明图。图3(a)是SRD26的温度和SRD26所输出的取样脉波的相位的关系。图3(b)是施加至SRD26中的偏压和SRD26所输出的取样脉波的相位的关系。控制部20较佳是预先储存着温度表，其显示该突返二极管SRD26的温度与突返二极管SRD26所输出的取样脉波的相位的关系；以及偏压表，其显示施加至突返二极管SRD26的偏压和该突返二极管SRD26所输出的取样脉波的相位的关系。
在温度表中，控制部20检出该温度检出电路32所检出的温度所对应的取样脉波的相位。然后，算出该温度时的取样脉波的相位的偏移量。然后，在偏压表中，检出该已算出的偏移量补偿用的偏压，以控制该电源18所产生的偏压。
又，如图3(a)及图3(b)所示，这些关系是线性关系时，为了对SRD26的温度和此温度时的相位的偏移量进行补偿，则最适当的偏压须一致地被确定。控制部20亦可预先储存着SRD26的温度和为了补偿此温度时的取样脉波的相位的偏移量所需的最适当的偏压的关系。
又，控制部20亦可产生温度表和偏压表且予以储存着。此时，控制部20具有一种测定一取样脉波的相位所用的装置。然后，亦可借由对各别的温度来测定该取样脉波的相位以产生温度表，以及亦可借由对各别的偏压来测定该取样脉波的相位以产生该偏压表。因此，例如，即使SRD26的特性中存在着偏差，仍可很精确地对取样脉波的相位进行补偿。
又，温度检出电路32可将二极管、SRD等之中已测定的顺向电压等的特性值告知该控制部20。此时的控制部20依据该特性值来算出SRD26的温度。此时，控制部20较佳是预先施加该特性值和温度的关系。
图4是温度补偿部16的构成的另一例。温度补偿部16具有类比数位转换器(ADC)36，运算电路38，记忆体40以及数位类比转换器(DAC)42。本例中，温度补偿部16接收该温度检出电路32所测定的顺向电压等的特性值。
ADC36使已接受的特性值转换成数位资料。运算电路38依据该数位资料以算出应施加至SRD26中的偏压。记忆体40预先储存着显示该特性值和该偏压的关系所用的资讯。
例如，记忆体40预先储存着该特性值与SRD26的温度的关系，SRD26的温度与取样脉波的相位的偏移量的关系以及取样脉波的相位的偏移量和偏压的关系。然后，运算电路38依据此种关系，以检出一种与已接收的特性值相对应的偏压。
又，记忆体40在所接收的特性值属非线性时可预先储存着该特性值的逆特性算出时所用的补正函数。此运算电路38借由该补正函数来对该特性值进行补正，使应施加至SRD26上的偏压和该特性值的关系一致地被确定。
又，DAC42产生该运算电路38已算出的偏压值所对应的电压以施加至SRD26。借由此种构成，使已检出的温度变动所对应的偏压施加至SRD26，则可补偿该取样脉波的相位的偏差。
以上，虽然使用本发明的实施形式来说明，但本发明的技术范围不限于上述实施形式中所记载的范围。上述实施形式中可施加多样化的变更或改良。施加此种变更或改良后的形式亦属本发明的技术范围中可得到者，这由申请专利范围的记载即可明白。
例如，在半导体电路等的测试装置中，可使用该取样电路100。此时，该测试装置具备图样产生部，其产生该被测试电路测试时用的测试图样；波形成形部，其产生一种对应于该测试图样的测试信号；以及判定部，其依据被测试电路所输出的输出信号来判定该被测试装置的良否。然后，判定部具有一种取样电路100，以对该输出信号进行取样，且借由已对输出信号进行取样后的资料和由图样产生部所施加的期待值资料此二种资料的比较，以判定该被测试电路的良否。依据此种测试装置，由于可很精确地对输出信号进行取样，因此可很精确地判定该被测试装置的良否。
产业上的可利用性就像以上所述者一样，依据本发明中的取样电路，可使温度变动所造成的取样脉波的相位的偏差获得补偿，且很精确地对输入信号进行取样。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。
权利要求
1.一种取样电路，其对所施加的输入信号进行取样，其特征在于该取样电路包括脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出该取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突反二极管在输出该取样脉波时的时序。
2.根据权利要求1所述的取样电路，其特征在于其中所述的温度补偿部亦可依据温度检出电路所检出的温度以控制该施加至突返二极管中的偏压。
3.根据权利要求2所述的取样电路，其特征在于其在温度检出电路所检出的温度变高时，则温度补偿部使施加至突返二极管中的偏压减小，在温度检出电路所检出的温度变低时，则温度补偿部使施加至突返二极管中的偏压增大。
4.根据权利要求2所述的取样电路，其特征在于其中所述的度补偿部预先储存着温度表，其显示该突返二极管的温度与突返二极管所输出的取样脉波的相位的关系；以及偏压表，其显示施加至突返二极管的偏压和该突返二极管所输出的取样脉波的相位的关系。
5.根据权利要求2所述的取样电路，其特征在于其中所述的突返二极管的阴极端接地，取样电路更可具备传送路径，其一端连接至脉波产生器，多端连接至突返二极管的阳极，此传送路径具有一定的延迟时间；以及电容器，其设在传送路径的一端和接地电位之间。
6.根据权利要求5所述的取样电路，其特征在于其中所述的取样电路更可具备变压器，其使取样脉波传送至检出器，以及此检出器可具有二极管桥，其以变压器的正相输出和反相输出作为取样脉波以检出该输入信号的值。
7.一种对被测试装置进行测试所用的测试装置，其特征在于其具有图样产生部，其产生一种被测试装置进行测试用的测试图样；波形成形部，其产生一种与测试图样相对应的测试信号；以及判定部，其依据该被测试装置所输出的输出信号来判定该被测试装置的良否，判定部具有取样电路，其对输出信号进行取样，取样电路具有脉波产生器，其对应于输出信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出该取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输出信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度来控制该突返二极管输出该取样脉波时的时序。
全文摘要
本发明是有关于一种取样电路，其对所施加的输入信号进行取样，包括脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出一取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突返二极管在输出该取样脉波时的时序。
文档编号H03K17/00GK101057402SQ20058003825
公开日2007年10月17日 申请日期2005年10月27日 优先权日2004年11月11日
发明者山川雅裕, 梅村芳春, 淡路利明, 志波诚士 申请人:爱德万测试株式会社