一种特征点处理方法及装置制造方法

文档序号:7777821阅读:192来源:国知局
一种特征点处理方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种特征点处理方法及装置,能够减少非视距误差,从而提高定位精度。所述方法包括:根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,该矩阵S中的元素用于标识N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数;对该矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对该矩阵S1中的元素进行分类;去除该矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位。这样,通过对特征点进行分类并去除孤立点,从而减少非视距误差,应用去除孤立点后剩余的特征点进行定位能够提高定位精度。
【专利说明】一种特征点处理方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及计算机领域,特别涉及一种特征点处理方法及装置。
【背景技术】
[0002]通信基站覆盖范围广,推广成本低,基于通信基站实现定位是实现室内位置服务的重要手段。在基于通信基站的室内定位中,非视距(简称为NL0S,英文全称为None Lineof Sight)误差是重要误差来源。例如,信号受建筑物遮挡时将产生非视距传播现象,造成定位终端测得的信号传播距离大于定位终端与通信基站之间的真实距离,形成非视距误差。
[0003]随着通信基站密度的增大,NLOS误差相对减小,但仍可造成数十米甚至上百米的误差。故基于通信基站实现定位时,需要对选取的特征点进行处理减小非视距误差,应用处理后的特征点进行定位计算可以有效提高定位精度。
[0004]因此,如何对特征点进行处理,减小非视距误差,以提高定位精度是当前需要解决的问题。

【发明内容】

[0005]本发明实施例提供一种特征点处理方法及装置,能够减少非视距误差,从而提高定位精度。
[0006]本发明实施例采用如下技术方案:
[0007]一种特征点处理方法,包括:
[0008]根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,所述矩阵S中的元素用于标识所述N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数;
[0009]对所述矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对所述矩阵S1中的元素进行分类;
[0010]去除所述矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位。
[0011]一种特征点处理装置,包括:
[0012]建立单元,用于根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,所述矩阵S中的元素用于标识所述N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数;
[0013]第一处理单元,用于对所述矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对所述矩阵S1中的元素进行分类;
[0014]第二处理单元,用于去所述除矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位。
[0015]基于上述技术方案,本发明实施例的特征点处理方法及装置根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,矩阵S中的元素用于标识N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数;对矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对矩阵S1中的元素进行分类;去除矩阵31中每一类元素对应的特征点中的除孤立点。这样,通过对特征点进行分类并去除孤立点,从而减少非视距误差,应用去除孤立点后剩余的特征点进行定位能够提高定位精度。
【专利附图】

【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本发明实施例1提供的一种特征点处理方法的流程图;
[0018]图2为本发明实施例1提供的一种特征点选取示意图;
[0019]图3为本发明实施例2提供的一种特征点处理方法的流程图;
[0020]图4a为本发明实施例2提供的特征点聚类结果示意图之一;
[0021]图4b为本发明实施例2提供的特征点聚类结果示意图之二 ;
[0022]图5为本发明实施例3提供的一种定位方法的流程图;
[0023]图6为本发明实施例4提供的一种特征点处理装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0024]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
[0025]实施例1
[0026]如图1所示,本施例提供一种特征点处理方法,包括:
[0027]110、根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,该矩阵S中的元素用于标识N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数。
[0028]其中,特征点为预先选取,本发明实施例不限定特征点的选取方式。图2为一个具体室内场景示意图,图2中圆点即为选定的特征点。
[0029]120、对该矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对该矩阵S1中的元素进行分类。
[0030]可选地,可以对矩阵S中的相同的元素进行合并得到矩阵Sp
[0031]130、去除该矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位。
[0032]其中,孤立点为特征点中误差较大的点,应用孤立点进行定位影响定位精度。
[0033]上述110-130的执行主体可以为特征点处理装置,如定位终端、计算机终端、通信
终端等。
[0034]本发明实施例的特征点处理方法根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,矩阵S中的元素用于标识N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数;对矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对矩阵S1中的元素进行分类;去除矩阵31中每一类元素对应的特征点中的除孤立点。这样,通过对特征点进行分类并去除孤立点,从而减少非视距误差,应用去除孤立点后剩余的特征点进行定位能够提高定位精度。
[0035]实施例2
[0036]如图3所示,本施例提供一种特征点处理方法,包括:
[0037]210、根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,该矩阵S中的元素用于标识该N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数。
[0038]本实施例中,可以根据
[0039]
【权利要求】
1.一种特征点处理方法,其特征在于,包括: 根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,所述矩阵S中的元素用于标识所述N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数; 对所述矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对所述矩阵S1中的元素进行分类;去除所述矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1包括: 对所述矩阵S中包含相同元素的进行合并,并对相同元素所对应的特征点进行处理,得到所述矩阵Si。
4.根据权利要求1或2或3所述的方法,其特征在于,所述去除矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点包括: 每一类元素对应的特征点中第一 NLOS误差减去第二 NLOS误差所得到的值大于预设值的特征点为孤立点,将孤立点去除。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,根据
6.一种特征点处理装置,其特征在于,包括: 建立单元,用于根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,所述矩阵S中的元素用于标识所述N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,O其中N为大于或等于2的整数; 第一处理单元,用于对所述矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对所述矩阵S1中的元素进行分类; 第二处理单元,用于去所述除矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述建立单元具体用于,如
8.根据权利要求6或7所述的装置,其特征在于,所述第一处理单元具体用于,对所述矩阵S中包含相同元素的进行合并,并对相同元素所对应的特征点进行处理,得到所述矩阵S10
9.根据权利要求6或7或8所述的装置,其特征在于,所述第二处理单元具体用于,每一类元素对应的特征点中第一 NLOS误差减去第二 NLOS误差所得到的值大于预设值的特征点为孤立点,将孤立点去除。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述第二处理单元具体用于,根据
【文档编号】H04W64/00GK103634904SQ201310611399
【公开日】2014年3月12日 申请日期:2013年11月26日 优先权日:2013年11月26日
【发明者】邓中亮, 余彦培, 王克己, 安倩, 阮凤立, 李晓阳, 马文旭 申请人:北京邮电大学
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