一种自动温升测试装置及方法
【技术领域】
[0001]本发明属于自动化检测领域，尤其涉及一种自动温升测试装置及方法。
【背景技术】
[0002]手机热设计是手机研发阶段很重要的一个阶段。如果手机热设计不好，会使得手机在工作时温度过高。首先，过高的温度会导致手机的中央处理器(Central ProcessingUnit，CPU)降频工作，具体表现为手机在使用时卡顿、反应慢等；其次，过高的温度也会导致手机在使用过程中死机，影响用户体验；最后，手机电池爆炸等极端情况等也与手机过度发热有很大关系。
[0003]目前研发阶段对于手机热的测试都是工程师手动测试。首先必须要在一个恒温的条件中选择测试模式(如游戏模式、极限模式等)，然后让手机运行45分钟或一个小时，工程师在此期间要用热成像仪定时观察手机的发热情况，如哪个时刻哪个工作模块的温度为多少，整机温度是多少，并且看整机最高温度热的来源等。这样在整个测试过程中都需要工程师全程值守并时刻保持数据纪录，极大地增加工程师的工作量，并且在手动记录过程中，由于手机的模块多、时间点不一致等原因很容易导致记录出现误差。
【发明内容】
[0004]本发明所要解决的技术问题在于提供一种自动温升测试装置，旨在方便快捷且测试数据准确。
[0005]本发明是这样实现的，一种自动温升测试装置，用于对一个电子设备的各个工作模块进行温升测试。该自动温升测试装置包括一个微控制器及与该微控制器电连接的一个温度传感器、一个热成像仪。该温度传感器用于感测当前环境温度。该热成像仪用于在该微控制器的控制下每隔一预定时间对该各个工作模块的工作温度进行一次测试。该微控制器用于读取该温度传感器所感测的当前环境温度，并判断该当前环境温度是否是最佳测试温度，若该当前环境温度是最佳测试温度，则读取该热成像仪的测试数据，并根据该测试数据制成该各个工作模块的温度变化图。
[0006]本发明还提供了一种自动温升测试方法，用于对一个电子设备的各个工作模块进行温升测试。该自动温升测试方法包括如下步骤:感测当前环境温度；判断该当前环境温度是否是最佳测试温度；若该当前环境温度是最佳测试温度，则每隔一预定时间测试一次该各个工作模块的工作温度，并记录测试数据；及根据该测试数据制成该各个工作模块的温度变化图。
[0007]本发明与现有技术相比，有益效果在于:该自动温升测试装置及方法不需要人工参与，能自动对电子设备进行温升测试，方便快捷且测试数据准确。
【附图说明】
[0008]图1是本发明实施例提供的自动温升测试装置的功能模块图。
[0009]图2是图1的自动温升测试装置的温度变化图。
[0010]图3是本发明实施例提供的自动温升测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0011]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0012]如图1所示，本发明实施例提供的自动温升测试装置100，用于测试一个电子设备(比如手机)在工作过程中各个工作模块的温度变化情况。该自动温升测试装置100包括一个微控制器10及与该微控制器10电连接的一个温度传感器20、一个模式选择模块30及一个热成像仪40。
[0013]该温度传感器20用于感测当前环境温度。由于在该电子设备进行温升测试的过程中，当前环境温度过高或者过低都会影响到测试数据的准确性。最佳的当前环境温度是25摄氏度。
[0014]该模式选择模块30用于选择该电子设备的测试模式。由于在温升测试中的测试模式有游戏模式和极限模式等，在不同测试模式下，该各个工作模块的工作状态不同，发热情况也不同。游戏模式是模仿用户在正常使用该电子设备的情况下，该各个工作模块的发热情况。极限模式是模仿该电子设备工作在最大功耗及最大发热状态下，该各个工作模块所能承受的最大发热情况。
[0015]该热成像仪40用于在该微控制器10的控制下每隔一预定时间对该各个工作模块在已选择的测试模式下的工作温度进行一次测试。该热成像仪40能够根据该各个工作模块在工作时产生的热量而发出的红外线的波长来计算该各个工作模块的温度。在本实施例中，该热成像仪40通过拍照的方式来确定各个工作模块的工作温度。
[0016]该微控制器10用于读取该温度传感器20所感测的当前环境温度，并判断该当前环境温度是否是最佳测试温度，若不是最佳测试温度，则控制该模式选择模块30及该热成像仪40停止工作；若是最佳测试温度，则读取该模式选择模块30的模式选择结果及该热成像仪40的测试数据，并根据该测试数据制成该各个工作模块在不同测试模式下的温度变化图。在本实施例中，该微控制器10通过一个串口通信模块与该热成像仪40相互通信。由于该电子设备在工作时所产生的热量随着时间的递增逐渐增加，因此该各个工作模块的温度变化图是通过曲线图的形式表现，以方便研发工程师通过该温度变化图能快速得知该各个工作模块的发热情况。如图2所示，该温度变化图的横轴为时间，纵轴为温度，该温度变化图中的多条曲线分别是该各个工作模块的温度变化曲线，比如曲线Tl是第一工作模块的温度变化曲线，曲线T2是第二工作模块的温度变化曲线。
[0017]该自动温升测试装置100的工作过程如下:该微控制器10通过该温度传感器20感测当前环境温度，并判断该当前环境温度是否是最佳测试温度(比如25摄氏度)，若不是最佳测试温度，则直接结束；若是最佳测试温度，则该微控制器10通过该模式选择模块20对该电子设备的测试模式进行选择，接着该微控制器10控制该热成像仪30每隔一预定时间测试一次该各个工作模块在已选择的测试模式下的工作温度，该微控制器10记录该热成像仪的测试数据并根据该测试数据制成该各个工作模块在不同测试模式下的温度变化图。
[0018]如图3所示，本发明实施例提供的自动温升测试方法，用于对一电子设备进行温升测试。该自动温升测试方法包括如下步骤:
[0019]S1:测试当前环境温度。
[0020]S2:判断该当前环境温度是否是最佳测试温度。在本实施例中，该最佳测试温度是25摄氏度。
[0021]S3:若该当前环境温度不是最佳测试温度，则直接结束。
[0022]S4:若该当前环境温度是最佳测试温度，则选择该电子设备的测试模式。
[0023]S5:每隔一预定时间测试一次该各个工作模块在已选择的测试模式下的工作温度，并记录该测试数据。
[0024]S6:根据不同测试模式下的测试数据制成该各个工作模块在不同测试模式下的温度变化图。
[0025]与现有技术相比较，本发明的自动温升测试装置，能够在不需要人工值守的情况下自动对电子设备进行温升测试并制成温度变化图，方便快捷且测试数据准确，能有效帮助工程师合理进行电子设备的热设计。
[0026]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种自动温升测试装置，用于对一个电子设备的各个工作模块进行温升测试，该自动温升测试装置包括一个微控制器及与该微控制器电连接的一个温度传感器、一个热成像仪，该温度传感器用于感测当前环境温度，该热成像仪用于在该微控制器的控制下每隔一预定时间对该各个工作模块的工作温度进行一次测试，该微控制器用于读取该温度传感器所感测的当前环境温度，并判断该当前环境温度是否是最佳测试温度，若该当前环境温度是最佳测试温度，则读取该热成像仪的测试数据，并根据该测试数据制成该各个工作模块的温度变化图。2.如权利要求1所述自动温升测试装置，其特征在于，该微控制器还用于当判断该当前环境温度不是最佳测试温度时，控制该热成像仪停止工作。3.如权利要求1所述自动温升测试装置，其特征在于，该最佳测试温度为25摄氏度。4.如权利要求1所述自动温升测试装置，其特征在于，该温度变化图为曲线图，该温度变化图的横轴为时间，纵轴为温度，该温度变化图中的多条曲线分别是该各个工作模块的温度变化曲线。5.如权利要求1所述自动温升测试装置，其特征在于，该自动温升测试装置还包括一个模式选择模块，该模式选择模块用于对该电子设备的测试模式进行选择，该微控制器还用于读取该模式选择模块的选择结果及该热成像仪在不同测试模式下的温度数据，并制成该各个工作模块在不同测试模式下的温度变化图。6.如权利要求5所述自动温升测试装置，其特征在于，该测试模式包括游戏模式及极限模式。7.一种自动温升测试方法，用于对一个电子设备的各个工作模块进行温升测试，该自动温升测试方法包括如下步骤:测试当前环境温度；判断该当前环境温度是否是最佳测试温度；若该当前环境温度是最佳测试温度，则每隔一预定时间测试一次该各个工作模块的工作温度，并记录测试数据；及根据该测试数据制成该各个工作模块的温度变化图。8.如权利要求7所述自动温升测试方法，其特征在于，在该步骤“若该当前环境温度是最佳测试温度，则每隔一预定时间测试一次该各个工作模块的工作温度，并记录测试数据”的步骤中还包括“选择该电子设备的测试模式”的步骤，先选择该电子设备的测试模式，然后每隔一预定时间测试一次该各个工作模块在已选择的测试模式下的工作温度，并记录测试数据。9.如权利要求8所述自动温升测试方法，其特征在于，在该步骤“根据该测试数据制成该各个工作模块的温度变化图”中，需要根据不同测试模式下的测试数据制成该各个工作模块在不同测试模式下的温度变化图。10.如权利要求7所述自动温升测试方法，其特征在于，若该当前环境温度不是最佳测试温度，则直接结束。
【专利摘要】本发明适用于自动化检测领域，提供了一种自动温升测试装置，用于对一电子设备的各个工作模块进行温升测试，其包括微控制器及与微控制器电连接的温度传感器、热成像仪。温度传感器感测当前环境温度。热成像仪在微控制器的控制下每隔一预定时间对各个工作模块的工作温度进行一次测试。微控制器读取温度传感器所感测的当前环境温度，并判断当前环境温度是否是最佳测试温度，若是最佳测试温度，则读取热成像仪的测试数据，并根据测试数据制成各个工作模块的温度变化图。自动温升测试装置不需要人工参与，能自动进行温升测试，方便快捷且测试数据准确。本发明还涉及一种自动温升测试方法。
【IPC分类】G01R31/00, H04M1/24
【公开号】CN105187596
【申请号】CN201510659420
【发明人】孙旺泉
【申请人】上海斐讯数据通信技术有限公司
【公开日】2015年12月23日
【申请日】2015年10月13日