专利名称：磁共振图像诊断装置和静磁场修正方法
技术领域：
本发明涉及具备修正静磁场的不均匀成分的功能的磁共振图像诊断装置、该磁共振图像诊断装置的静磁场修正方法。
背景技术：
在磁共振成像(MRI)中，在各种各样的摄像法中都要求非常高的静磁场均匀性，修正静磁场的不均匀性的所谓磁场调整(shimming)非常重要。磁场调整大致区分为被动磁场调整和主动磁场调整。被动磁场调整通过将铁片(shim)等配置在静磁场磁铁所产生的静磁场中，来使摄像区域中的静磁场均匀。主动磁场调整通过将由磁场调整线圈产生的修正磁场与静磁场磁铁产生的静磁场重叠，来使摄像区域中的静磁场均匀。在近年的磁共振成像中，主动磁场调整非常重要，因此以下说明该主动磁场调整，并简记为磁场调整。
可以分为0次成分X0、Y0、Z0、1次成分X1、Y1、Z1、以及2次成分X2、Y2、Z2、XY、ZY、ZX等各成分地表示静磁场的不均匀性。也存在3次或以上更高次的成分。
一般对上述那样的每个不均匀成分进行磁场调整。其中，由于需要与所修正的成分一对一对应的磁场调整线圈，所以一般缩小范围到1次成分或2次成分地对成分进行修正。
在磁场调整计算中，实际进行用于测量关注区域中的磁场分布的信号收集，对作为磁场调整对象的每个磁场成分展开磁场分布，求出抵消静磁场的不均匀成分的修正磁场。另外，计算出为了产生上述修正磁场而应该提供给各磁场调整线圈的电流值，即修正值。例如设均匀的磁场强度的基准值为B0，直到1次成分为止求出磁场分布而进行磁场调整，进而为了简化，如果在磁场分布的展开式中，不考虑X方向和Y方向而只考虑Z方向，则针对直到1次为止展开了磁场分布的结果的公式C1Z+C0+B0，产生1次成分的修正值为-C1，0次成分的修正值为-C0。
另外，通过特公平3-51172号公报可以知道与磁场调整有关的现有技术。
但是，由于能够对磁场调整线圈设置的电流有上限，所以如果磁场调整的修正值为超过其能够允许的上限的值，则不能进行适当的修正。当然，即使在这些情况下，也对磁场分布进行成分展开并计算，因此能够求出磁场调整的修正值，但由于是在受到磁场调整线圈的允许电流值等的制约的影响的情况下计算出的结果，所以求出的修正磁场有可能不符合实际的磁场分布。
根据这样的情况，要求能够得到适当的修正磁场，提高静磁场均匀性。
发明内容
本发明的第一形式的磁共振图像诊断装置具备产生静磁场的产生部件；测量上述静磁场的强度分布特性的测量部件；通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的决定部件；根据上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场的修正磁场产生部件。
本发明的第二形式的磁共振图像诊断装置具备产生静磁场的产生部件；测量上述静磁场的强度分布特性的测量部件；通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的第一决定部件；通过根据上述强度分布特性，求出分别与上述1次～n次的各成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的第二决定部件；如果由上述第一决定部件决定的修正量没有超过阈值，则选择该修正量，在由上述第一决定部件决定的修正量超过阈值的情况下，针对相同成分选择由上述第二决定部件决定的修正量的选择部件；根据选择出的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场的修正磁场产生部件。
本发明的第三形式的磁共振图像诊断装置具备产生静磁场的产生部件；测量上述静磁场的强度分布特性的测量部件；通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的决定部件；一边变更上述特定成分，一边使上述决定部件多次执行上述修正量的决定，并选择每次决定的修正量中的一个的选择部件；根据选择出的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场的修正磁场产生部件。
在本发明的第四形式的静磁场修正方法中，测量由静磁场产生部件产生的静磁场的强度分布特性，通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量，根据上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场。
在本发明的第五形式的静磁场修正方法中，测量由静磁场产生部件静磁场的强度分布特性，通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的第一修正量，通过根据上述强度分布特性，求出分别与上述1次～n次的各成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的第二修正量，如果上述第一修正量没有超过阈值，则选择该第二修正量，在上述第一修正量超过阈值的情况下，选择与相同成分有关的上述第二修正量，根据选择出的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场。
在本发明的第六形式的静磁场修正方法中，测量由静磁场产生部件产生的静磁场的强度分布特性，通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量，在一边变更上述特定成分，一边多次执行上述修正量的决定时，选择每次决定的修正量中的一个，根据选择出的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场。
通过以下的说明和附图可以了解本发明其他特征和优点。但本发明并不只限于这些说明和附图。
图1是表示本发明的实施例的磁共振成像装置(MRI装置)的结构的图。
图2是从其轴方向看图1中的磁场调整线圈单元的各磁场调整线圈的层叠状态的配置图。
图3是表示图1中的磁场调整控制器决定磁场调整值的步骤的流程图。
具体实施例方式
以下，参考附图，说明本发明的一个实施例。
图1是表示本实施例的磁共振成像装置(MRI装置)的结构的图。该图1所示的MRI装置具备静磁场磁铁1、倾斜磁场线圈2、倾斜磁场电源3、卧台4、卧台控制部件5、发送RF线圈单元6、发送部件7、接收RF线圈单元8、接收部件9、计算机系统10、磁场调整线圈单元11、磁场调整线圈电源、磁场调整控制器13、时序器14。
静磁场磁铁1为中空的圆筒形，在内部的空间中产生均匀的静磁场。作为该静磁场磁铁1，例如使用永磁铁、超导磁铁等。
倾斜磁场线圈2为中空的圆筒形，被配置在静磁场磁铁1的内侧。倾斜磁场线圈2组合了与相互垂直的X、Y、Z的各轴对应的3种线圈。倾斜磁场线圈2的上述3个线圈分别从倾斜磁场电源3接受电流供给，产生磁场强度沿着X、Y、Z的各轴变化的倾斜磁场。另外，Z轴方向是例如与静磁场相同的方向。X、Y、Z各轴的倾斜磁场例如分别与切片选择用倾斜磁场Gs、相位编码用倾斜磁场Ge和读出用倾斜磁场Gr对应。为了任意地决定摄像断面而利用切片选择用倾斜磁场Gs。为了与空间位置对应地使磁共振信号的相位变化而利用相位编码用倾斜磁场Ge。为了与空间位置对应地使磁共振信号的频率变化而利用读出用倾斜磁场Gr。
静磁场磁铁1和倾斜磁场线圈2被容纳在架台(gantory)中。在架台中，在倾斜磁场线圈2的内侧形成空洞，该空洞的内部为摄像区域。
被检体P在被载置在卧台4的顶板41上的状态下被插入到摄像区域。卧台4的顶板41被卧台控制部件5驱动，在其长度方向和上下方向上移动。通常，将卧台4设置得其长度方向与静磁场磁铁1的中心轴平行。
发送RF线圈单元6内置有至少一个线圈，并被配置在倾斜磁场线圈2的内侧。发送RF线圈单元6从发送部件7接受高频脉冲的供给，产生高频磁场(旋转磁场)。
发送部件7向发送RF线圈单元6发送与拉摩尔频率对应的高频脉冲。
接收RF线圈单元8内置有至少一个线圈，并被配置在倾斜磁场线圈2的内侧。接收RF线圈单元8接收在由于上述高频磁场的影响而激励出的被检体的对象原子核的自旋缓和的过程中释放的高频磁共振信号。来自接收RF线圈单元8的输出信号被输入到接收部件9。另外，接收RF线圈单元8也可以兼用作发送RF线圈单元6。
接收部件9通过对接收RF线圈单元8输出的磁共振信号进行放大并进行正交相位检波，进而进行模拟/数字变换，而生成磁共振信号数据。
计算机系统10具备接口部件101、数据收集部件102、重构部件103、存储部件104、显示部件105、输入部件106和主控制部件107。
接口部件101与倾斜磁场电源3、卧台控制部件5、发送部件7、接收RF线圈单元8和接收部件9等连接。接口部件101在这些连接的各部件与计算机系统10之间进行收发信号的输入输出。
数据收集部件102经由接口部件101收集从接收部件9输出的数字信号。数据收集部件102将收集到的数字信号，即磁共振信号数据存储在存储部件104中。
重构部件103针对存储在存储部件104中的磁共振信号数据，执行后处理，即2维傅立叶变换(2DFT)等的重构，求出被检体P内的希望的原子核自旋的频谱数据或图像数据。
存储部件104针对每个患者存储磁共振信号数据、频谱数据或图像数据。
显示部件105在主控制部件107的控制下显示频谱数据或图像数据等各种信息。作为显示部件105，可以利用液晶显示器等显示设备。
输入部件106接受从操作者的各种指令或信息的输入。作为输入部件106，可以适当地利用鼠标、跟踪球等指示设备(pointing device)、模式切换开关等选择设备、或键盘等输入设备。
主控制部件107具有未图示的CPU、存储器等，统一地控制本实施例的MRI装置。
磁场调整线圈单元11将在FUC(field uniformity correction)法中不直接和间接地作为修正对象的高次的不均匀磁场成分作为修正对象。磁场调整线圈单元11包含作为修正对象的静磁场的不均匀磁场成分分别不同的多个磁场调整线圈。
图2是从其轴方向看磁场调整线圈单元11的各磁场调整线圈的层叠状态的配置图。
在图1中，为了容易区别倾斜磁场线圈2和磁场调整线圈单元11，而分离地表示它们，但实际上磁场调整线圈单元11无间隙地接合在倾斜磁场线圈2的外周表面上。
如图2所示，磁场调整线圈单元11为“ZX”、“ZY”、“XY”、“X2-Y2”、“Z2”的2次磁场调整的结构。如果详细说明，则磁场调整线圈单元11包含内侧树脂层20、磁场调整线圈21、22、23、24、25和树脂带层26。
内侧树脂层20在倾斜磁场线圈2的外周面上形成为圆筒状。磁场调整线圈21、22、23、24、25例如分别在绝缘性的基材上形成可变形基板，使其成为需要的线圈图形。另外，磁场调整线圈21、22、23、24、25在顺序地层叠的状态下，被配置在内侧树脂层20的外周面上。磁场调整线圈21具有产生以下这样的磁场的线圈图形，即该磁场具有与静磁场磁铁1所产生的静磁场的ZX成分大致相同的磁场方向。磁场调整线圈22具有产生以下这样的磁场的线圈图形，即该磁场具有与静磁场磁铁1所产生的静磁场的ZY成分大致相同的磁场方向。磁场调整线圈23具有产生以下这样的磁场的线圈图形，即该磁场具有与静磁场磁铁1所产生的静磁场的XY成分大致相同的磁场方向。磁场调整线圈24具有产生以下这样的磁场的线圈图形，即该磁场具有与静磁场磁铁1所产生的静磁场的X2-Y2成分大致相同的磁场方向。磁场调整线圈25具有产生以下这样的磁场的线圈图形，即该磁场具有与静磁场磁铁1所产生的静磁场的Z2成分大致相同的磁场方向。树脂带层26将树脂带缠绕在磁场调整线圈25的外周面上而构成。树脂带层26对磁场调整线圈21、22、23、24、25进行保护和绝缘。
另外，在美国注册专利5773976中详细记载了具有该图2所示那样的构造的磁场调整线圈单元11，在此引用该记载。
通过这样的结构，磁场调整线圈单元11能够产生5信道的修正磁场。也可以实现安装更多的磁场调整线圈而能够产生13信道或18信道的修正磁场的磁场调整线圈单元。
磁场调整线圈电源12分别独立地向磁场调整线圈单元11的多个磁场调整线圈供给电流(磁场调整电流)。磁场调整线圈电源12将磁场调整电流设置为与从磁场调整控制器13输出的磁场调整值对应的大小。
磁场调整控制器13从接收部件9取得磁共振信号数据，根据它求出空间磁场分布，根据该磁场分布，针对每个成分，求出磁场调整值(修正量)。磁场调整控制器13一边与进行数据收集的部分区域的移动对应地改变由磁场调整线圈单元11作为修正对象的不均匀成分的磁场调整值，一边将其提供给磁场调整线圈电源12。磁场调整控制器13一边作为偏移值，与进行数据收集的部分区域的移动对应地改变1次的不均匀成分的磁场调整值，一边将其提供给时序器14。进而，磁场调整控制器13通过与0次成分，即对共振频率的偏离的磁场调整值对应地调整接收部件9内的正交相位检波的参照频率，来对0次成分进行磁场调整。
时序器14控制发送部件7、接收部件9和倾斜磁场电源3的各动作定时，执行用于决定磁场调整值的脉冲时序和用于成像的脉冲时序。时序器14在执行用于成像的脉冲时序时，将上述偏移值加上基准值，并将该相加值提供给倾斜磁场电源3。倾斜磁场电源3将与上述相加值对应的倾斜磁场电流提供给X、Y、Z各轴的倾斜磁场线圈，来对1次成分进行磁场调整。
接着，说明如上所述那样构成的MRI装置的动作。
在本实施例中，将使用磁场调整线圈的磁场调整、基于向倾斜磁场施加偏移量的被称为FUC法的磁场调整的任意一个都作为对象。FUC法是指通过将偏移量重叠到X、Y、Z各轴的倾斜磁场上，而直接修正静磁场的1次的不均匀成分，但在本实施例中，也可以使用该FUC法，对比其高次的，即2次的不均匀成分间接地进行修正。在本实施例中，与FUC法一样，也可以间接地修正由磁场调整线圈分别直接修正的不均匀成分以外的成分。
接着，说明磁场调整值的决定方法。
作为磁场调整值的决定方法，有以下方法。
(1)不重叠倾斜磁场而取得来自对象区域的磁共振信号，求出该信号衰减时间常数最长的磁场调整电流值。
(2)不重叠倾斜磁场而取得来自对象区域的磁共振信号，对该磁共振信号进行傅立叶变换，求出该变换数据的频带最小那样的磁场调整电流值。
(3)作为相位映射在空间上求出磁场分布，并针对作为磁场调整对象的每个磁场成分对该磁场分布进行展开(分解)，求出为了得到磁场分布对每个磁场成分都稳定那样的磁场强度所需要的电流值。
由于这些方法中的最优方法是(3)的方法，所以在本实施例中，以上述(3)的方法为基础。在该方法中，关注对象例如是非常薄的3mm厚的切片区域。如果考虑切片方向是最一般的Z方向，则在只根据一张薄的切片区域的磁场分布，求出与表示Z方向的不均匀性的成分对应的磁场调整电流值时，有可能精度低下。因此，在本实施例中，通过根据广区域，即多个切片区域全体的磁场分布，求出磁场调整电流值，来消除该问题。
图3是表示磁场调整控制器13决定磁场调整值的步骤的流程图。
在步骤Sa1中，磁场调整控制器13将作为修正对象的成分的全部作为磁场调整值的计算对象。然后，在步骤Sa2中，磁场调整控制器13分别计算出作为计算对象的各成分的磁场调整值。在该磁场调整值的计算中，可以适用公知的处理。在步骤Sa3中，磁场调整控制器13在通过上述计算求出的磁场调整值中，确认是否包含超过对每个成分预先决定的阈值的值。另外，阈值被设置为与磁场调整线圈电源12能够向磁场调整线圈单元11的各磁场调整线圈提供的最大电流量相当的值，或比其稍小的值。
如果没有超过阈值的磁场调整值，则磁场调整控制器13从步骤Sa3前进到步骤Sa4。在步骤Sa4中，磁场调整控制器13将上述那样计算出的值决定为用于在本次的磁场调整中使用的磁场调整值。
另一方面，在有超过阈值的磁场调整值的情况下，磁场调整控制器13从步骤Sa3前进到步骤Sa5。在步骤Sa5中，磁场调整控制器13将作为修正对象的成分中的一部分成分的磁场调整值确定为规定值。在步骤Sa6中，磁场调整控制器13将上述一部分成分以外的成分作为计算对象。在步骤Sa7中，磁场调整控制器13在将一部分成分的磁场调整值确定为规定值的条件下，分别计算出作为计算对象的各成分的磁场调整值。然后，在步骤Sa8中，磁场调整控制器13将在步骤Sa5中对一部分成分确定的规定值、在步骤Sa7中计算出的值决定为用于在本次的磁场调整中使用的磁场调整值。
另外，一部分成分例如可以考虑为在步骤Sa2中计算出的值超过了阈值的成分、或高次的成分。规定值例如可以考虑为0。
因此，根据本实施例，在现有的直接修正全部成分的方法中磁场调整不稳定的情况下，可以限定成分而间接地进行修正，能够进一步提高磁场调整的稳定性。
另外，对于规定值，也可以作为阈值程度的值，在可能的范围内对一部分成分进行修正，但如本实施例那样，通过将规定值设置为0，在将与一部分成分有关的修正量设置为0并用其他成分进行修正的情况下，能够适当地修正静磁场。
本实施例可以进行如下这样的各种变形实施。
可以省略上述的步骤Sa1～步骤Sa4的处理，从最初开始将一部分成分的磁场调整值固定为规定值。由此，例如可以通过将ZX成分的磁场调整值固定为某值，并且将ZX以外的2次或以上的高次成分的磁场调整值固定为0，求出剩余的成分的磁场调整值，来只用ZX和小于2次的成分，间接地修正ZX的成分和上述高次成分。其他，例如如果将特定次数的成分的磁场调整值设置为0而求解其他成分的磁场调整值，则结果能够用上述特定次数以外的成分间接地对上述特定次数的成分进行修正等，通过本发明的方法，能够在磁场调整的修正中，提高成分的组合的自由度。
另外，为了找到比通过1次磁场调整计算求出的修正值更能够提高磁场均匀性的收敛的解，例如可以在考虑到进行直到2次为止的磁场调整的情况下，最初将2次成分的磁场调整值设置为0，求出剩余的成分的磁场调整值，然后将求出的成分固定，求出最初设置为0的2次成分，并循环多次进行上述的步骤。当然，在各磁场调整计算中，将哪个成分固定为哪个值是任意的。由此，在通过1次计算无法得到最优解的情况下，通过循环进行计算，能够求出更收敛的解，能够进一步提高磁场调整的稳定性。
另外，本发明并不只限于上述实施例本身，在实施阶段，在不脱离其宗旨的范围内，可以对构成要素进行变形而具体化。另外，通过适当地组合上述实施例所揭示的多个构成要素，可以形成各种发明。这些各种发明也包含在本发明中。
权利要求
1.一种磁共振图像诊断装置，其特征在于包括产生静磁场的静磁场产生部件；测量上述静磁场的强度分布特性的测量部件；通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的决定部件；根据上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场的修正磁场产生部件。
2.根据权利要求1所述的磁共振图像诊断装置，其特征在于将上述规定量设置为0。
3.根据权利要求1所述的磁共振图像诊断装置，其特征在于上述修正磁场产生部件具备用于分别产生上述1次～n次的各成分的磁场的多个磁场调整线圈；分别向上述多个磁场调整线圈供给与上述修正量对应的电流的供给部件。
4.一种磁共振图像诊断装置，其特征在于包括产生静磁场的产生部件；测量上述静磁场的强度分布特性的测量部件；通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的第一决定部件；根据上述强度分布特性，决定分别与上述1次～n次的各成分有关的修正量的第二决定部件；如果由上述第一决定部件决定的修正量没有超过阈值，则选择该修正量，在由上述第一决定部件决定的修正量超过阈值的情况下，针对相同成分选择由上述第二决定部件决定的修正量的选择部件；根据选择出的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场的修正磁场产生部件。
5.根据权利要求4所述的磁共振图像诊断装置，其特征在于将上述规定量设置为0。
6.根据权利要求4所述的磁共振图像诊断装置，其特征在于上述修正磁场产生部件具备用于分别产生上述1次～n次的各成分的磁场的多个磁场调整线圈；分别向上述多个磁场调整线圈供给与上述修正量对应的电流的供给部件。
7.一种磁共振图像诊断装置，其特征在于包括产生静磁场的产生部件；测量上述静磁场的强度分布特性的测量部件；通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的决定部件；通过一边变更上述特定成分，一边使上述决定部件多次执行上述修正量的决定，来选择所决定的多组修正量中的一组的选择部件；根据包含在选择出的组中的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场的修正磁场产生部件。
8.根据权利要求7所述的磁共振图像诊断装置，其特征在于将上述规定量设置为0。
9.根据权利要求7所述的磁共振图像诊断装置，其特征在于上述修正磁场产生部件具备用于分别产生上述1次～n次的各成分的磁场的多个磁场调整线圈；分别向上述多个磁场调整线圈供给与上述修正量对应的电流的供给部件。
10.一种静磁场修正方法，其特征在于测量由静磁场产生部件产生的静磁场的强度分布特性，通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量，根据上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场。
11.一种静磁场修正方法，其特征在于测量由静磁场产生部件产生的静磁场的强度分布特性，通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的第一修正量，通过根据上述强度分布特性，求出分别与上述1次～n次的各成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的第二修正量，如果上述第一修正量没有超过阈值，则选择该第一修正量，在上述第一修正量超过阈值的情况下，选择与相同成分有关的上述第二修正量，根据选择出的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场。
12.一种静磁场修正方法，其特征在于测量由静磁场产生部件产生的静磁场的强度分布特性，通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量，通过一边变更上述特定成分，一边多次执行上述修正量的决定，来选择所决定的多组修正量中的一组，根据包含在选择出的组中的上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场。
全文摘要
本发明的磁共振图像诊断装置具备产生静磁场的产生部件；测量上述静磁场的强度分布特性的测量部件；通过将与上述强度分布特性中的1次～n次(n为2或以上的自然数)的各成分中的一部分，即特定成分有关的修正量固定为规定量，同时根据上述强度分布特性求出与上述特定成分以外的成分有关的修正量，来决定与上述1次～n次的各成分有关的修正量的决定部件；根据上述修正量，产生用于修正上述静磁场的修正磁场的修正磁场产生部件。
文档编号A61B5/055GK101055307SQ20071009612
公开日2007年10月17日 申请日期2007年4月13日 优先权日2006年4月13日
发明者池户雅人 申请人:株式会社东芝, 东芝医疗系统株式会社