本发明涉及液晶面板技术领域,特别涉及一种GOA阵列基板及显示装置。
背景技术:
在显示技术领域,平板显示装置,如液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)和有机电致发光显示器(Organic Light Emitting Display,OLED)因其具有轻、薄、低功耗、高亮度,以及高画质等优点,在平板显示技术领域占据重要的地位。显示装置至少包括设置有像素阵列的阵列基板,一般地,阵列基板的显示区域设置有扫描线、数据线,以及位于像素区域的像素电极等,还包括位于外围区域或电路板上的栅极驱动电路和源极驱动电路。
目前一般采用在阵列基板上制备栅极驱动(Gate Driver On Array,GOA)技术制备显示基板,GOA电路是指直接制备在阵列基板上的扫描线驱动电路。GOA电路包括多级依次连接的移位寄存器,每个移位寄存器驱动一条扫描线,并为下一级移位寄存器提供开启信号,从而GOA电路整体上可实现使扫描线逐行开启的目的。GOA技术相比传统工艺,不仅节省了成本,同时由于可以省去栅极方向上的绑定工艺,对提升产能极为有利,并提高了液晶显示面板的集成度。对于大尺寸面板,由于其RC loading(负载)较大,一般采用双边GOA电路驱动,即在阵列基板两侧均设有GOA电路,一起驱动面板上的各行扫描线。当GOA电路的某个位置存在短接、断开等故障时,会将导致故障位置之后的各级移位寄存器不能正常工作,进而导致显示异常。在阵列基板生产过程中,当阵列基板上的功能模块存在缺陷时,显示过程中会出现各种与阵列基板有关的不良。例如,扫描线或数据线断线引起的显示不良,栅极驱动电路或源极驱动电路缺陷引起的显示不良。因此,对制作完成的阵列基板的不良进行准确检测非常重要,不良检测和分析的可靠性非常重要。
由于大尺寸显示面板的RC(电阻和电容)负载较大,为了减小GOA级联电路的负载,一般会采用多个CK(CK数量为=2N,N为正整数且N≥2)。比如8CK的GOA电路,就会将整个面板的负载分成4份,分担到4组GOA电路中。而CK总数为2a的GOA级联电路,前N级单元电路的上拉驱动模块均是连接至STV开启信号。
目前对盒检测工艺中对GOA产品进行检测时,栅极驱动时序信号(CK1、CK2、CK3、CK4、CK5、CK6、CK7、CK8、LC1、LC2、STV、VSS、ACOM)采用全接触(Full Contact)点灯方式从输入端区引入,由于液晶面板的分辨率越来越高,其输入端之间的间距有越来越小的趋势,从而导致放置面板检测衬垫(Cell test pad)的空间也越来越小,而使得各个信号衬垫间距过小,检测探针无法对位或者面板两侧无空间放置R/G/B信号衬垫,使得在检测的时候由于两侧R/G/B信号线负载过大而出现分屏的现象。在对盒检测工艺,目前检测探针对应的间距约30μm左右,采用全接触点灯时,检测探针有很大几率扎偏错位,造成瞬间电流过大,进而导致驱动电路被烧毁,造成备件严重浪费。
技术实现要素:
本发明的目的在于提供一种GOA阵列基板及显示装置,以解决现有技术中,因放置面板检测衬垫的空间不足,而使得各个信号衬垫的间距过小,检测探针无法对位或者面板两侧无空间放置R/G/B信号衬垫,使得在检测的时候由于面板两侧R/G/B信号线负载过大而出现分屏的问题。
本发明的技术方案如下:
一种GOA阵列基板,包括:
衬底基板,其包括中部的显示区域与外围的非显示区域;
TFT阵列结构,设于所述显示区域,用于显示图像信号;
行扫描驱动电路,设于所述非显示区域,用于对所述TFT阵列结构的多条扫描线进行驱动;
阵列检测衬垫组,设于所述非显示区域,并与所述行扫描驱动电路相连接,用于对所述阵列基板进行检测;
其中,所述行扫描驱动电路包括多个级联的GOA电路单元,多个所述GOA电路单元与多条所述扫描线一一对应连接,所述阵列检测衬垫组包括多个水平方向依序排列的不同的阵列检测衬垫,每个所述阵列检测衬垫的一端连接外部检测信号输出端,另一端连接至其对应的信号引入端,所述阵列检测衬垫组对应各个所述GOA电路单元,所述阵列检测衬垫组包括:
一CK检测衬垫,其分别输出2N个相同的第一时钟信号至对应的2N个不同的CK信号引入端,每个所述CK信号引入端通过电线与其对应的一个所述GOA电路单元连接,且不同的所述CK信号引入端连接不同的所述GOA电路单元,其中N为正整数且N≥2;
一XCK检测衬垫,其分别输出2N个相同的第二时钟信号至对应的2N个不同的XCK信号引入端,每个所述XCK信号引入端通过电线与其对应的一个所述GOA电路单元连接,且不同的所述XCK信号引入端连接不同的所述GOA电路单元,其中N为正整数且N≥2,所述第一时钟信号与所述第二时钟信号为电平相反的时钟信号;
一LC检测衬垫,其用于分别输出第一低频信号与第二低频信号至对应的2个LC信号引入端,该2个所述LC信号引入端分别通过电线和与其对应的一个所述GOA电路单元连接,且该2个所述LC信号引入端连接不同的所述GOA电路单元;
一VSS检测衬垫,用于提供电源信号至对应的VSS信号引入端,所述VSS信号引入端通过电线与每一个所述GOA电路单元连接;
一STV检测衬垫,用于提供开启信号至对应的STV信号引入端,所述VSS信号引入端通过电线与所述行扫描驱动电路的前面4个所述GOA电路单元及最后4个所述GOA电路单元连接;
一ACOM检测衬垫,其与所述显示区域内的公共电极相连接,用于提供驱动所述公共电极驱动信号,以点亮显示屏。
优选地,所述CK检测衬垫输出的所述第一时钟信号的个数,与所述XCK检测衬垫输出的所述第二时钟信号的个数相同。
优选地,所述第一时钟信号或所述第二时钟信号的个数为4个,一组所述GOA电路单元的个数为8个。
优选地,在一个所述阵列检测衬垫组中,所述CK检测衬垫对应的所述CK信号引入端连接的2N个不同的所述GOA电路单元,与所述XCK检测衬垫对应的所述XCK信号引入端连接的2N个不同的所述GOA电路单元交替排列,其中N为正整数且N≥2。
优选地,每个所述GOA电路单元包括:
上拉驱动模块,用于接收上一级的下传信号,并根据所述上一级的下传信号生成相应的所述扫描线的扫描电平信号;
上拉模块,用于根据所述扫描电平信号以及本级的时钟信号,拉升相应的所述扫描线的扫描信号;
下传模块,用于向下一级的上拉驱动模块发送本级的下传信号;
第一下拉维持模块,用于维持相应的所述扫描线的扫描信号的低电平;
第二下拉维持模块,用于维持相应的所述扫描线的扫描信号的低电平;
下拉模块,用于根据下四级的时钟信号以及下四级的扫描信号,拉低相应的所述扫描线的扫描信号;以及
自举电容,用于生成所述扫描线的扫描信号的高电平。
优选地,所述第一时钟信号或所述第二时钟信号输出至所述下传模块与所述上拉模块的连接点。
优选地,所述第一低频信号输出至所述第一下拉维持模块,所述第二低频信号输出至所述第二下拉维持模块的信号输入端。
优选地,所述电源信号输出至所述第一下拉维持模块、第二下拉维持模块与所述下拉模块。
优选地,所述开启信号输出至所述上拉驱动模块的输入端。
一种显示装置,其包括上述任一项所述的GOA阵列基板。
本发明的有益效果:
本发明的一种GOA阵列基板及显示装置,可以有效地解决现有技术中,因放置面板检测衬垫的空间不足,而使得各个信号衬垫间距过小,检测探针无法对位或者面板两侧无空间放置R/G/B信号Pad,使得在检测的时候由于两侧R/G/B信号线负载过大而出现分屏的问题,从而可以降低检测工艺的难度,提高不良检测的效率。
【附图说明】
图1为本发明实施例的一个阵列检测衬垫组、对应的信号引入端和多个级联的GOA电路单元相连接的示意图;
图2为本发明实施例的一个GOA电路单元的电路模块示意图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。在图中,结构相似的单元是以相同标号表示。
实施例一
请参考图1和图2,图1为本发明实施例的一个阵列检测衬垫组200、对应的信号引入端和多个级联的GOA电路单元相连接的示意图,图2为本发明实施例的一个GOA电路单元的电路模块示意图。从图1和图2可以看到,本发明的一种GOA阵列基板,包括:
衬底基板,其包括中部的显示区域与外围的非显示区域,优选采用玻璃基板。
TFT阵列结构,设于所述显示区域,用于显示图像信号。该TFT阵列结构包括多条水平方向排列的扫描线,和多条竖直方向排列的数据线,该多条扫描线和多条数据线交叉排列。
行扫描驱动电路,设于所述非显示区域,用于对所述TFT阵列结构的多条扫描线进行驱动。
一阵列检测衬垫组200,设于左边或右边的所述非显示区域,并与所述行扫描驱动电路相连接,用于对所述阵列基板进行检测。另外,在本实施例中,如果是采用双边GOA电路单元对显示电路进行驱动的话,则在左右两边的非显示区域上均设有一个阵列检测衬垫组200。
其中,所述行扫描驱动电路包括多个级联的GOA电路单元,其中8个GOA电路单元为一个GOA电路单元组100,一个该GOA电路单元组100为一个循环单元。多个所述GOA电路单元与多条所述扫描线一一对应连接,所述阵列检测衬垫组200包括多个水平方向依序排列的不同的阵列检测衬垫,每个所述阵列检测衬垫的一端连接外部检测信号输出端,另一端连接至其对应的信号引入端(即图1中的Bonding lead),所述阵列检测衬垫组200对应各个所述GOA电路单元,所述阵列检测衬垫组200包括:
一CK检测衬垫,其分别输出2N个相同的第一时钟信号至对应的2N个不同的CK信号引入端,每个所述CK信号引入端通过电线(图1中的WOA,即Wire on array)与其对应的一个所述GOA电路单元连接,且不同的所述CK信号引入端连接不同的所述GOA电路单元,其中N为正整数且N≥2。
一XCK检测衬垫,其分别输出2N个相同的第二时钟信号至对应的2N个不同的XCK信号引入端,每个所述XCK信号引入端通过电线与其对应的一个所述GOA电路单元连接,且不同的所述XCK信号引入端连接不同的所述GOA电路单元,其中N为正整数且N≥2,所述第一时钟信号与所述第二时钟信号为电平相反的时钟信号。
一LC检测衬垫,其用于分别输出第一低频信号与第二低频信号至对应的2个LC信号引入端,该2个所述LC信号引入端分别通过电线和与其对应的一个所述GOA电路单元连接,且该2个所述LC信号引入端连接不同的所述GOA电路单元。
一VSS检测衬垫,用于提供电源信号至对应的VSS信号引入端,所述VSS信号引入端通过电线与每一个所述GOA电路单元连接。
一STV检测衬垫,用于提供开启信号至对应的STV信号引入端,所述VSS信号引入端通过电线与所述行扫描驱动电路的前面4个所述GOA电路单元及最后4个所述GOA电路单元连接。
一ACOM检测衬垫,其与所述显示区域内的公共电极相连接,用于提供驱动所述公共电极驱动信号,以点亮显示屏。
在本实施例中,阵列检测衬垫组200和信号引入端(Bonding lead)的连接电线上标有最后切割线(即图1的Laser cut line)标识,当检测完成后,就沿着该最后切割线将电线剪断。
在本实施例中,所述CK检测衬垫输出的所述第一时钟信号的个数,与所述XCK检测衬垫输出的所述第二时钟信号的个数相同。在本实施例中,优选所述第一时钟信号或所述第二时钟信号的个数为4个,一组所述GOA电路单元的个数为8个。
在本实施例中,在一个所述阵列检测衬垫组200中,所述CK检测衬垫对应的所述CK信号引入端连接的2N个不同的所述GOA电路单元,与所述XCK检测衬垫对应的所述XCK信号引入端连接的2N个不同的所述GOA电路单元交替排列,其中N为正整数且N≥2。
在本实施例中,每个所述GOA电路单元包括:
上拉驱动模块20,用于接收上一级的下传信号,并根据所述上一级的下传信号生成相应的所述扫描线的扫描电平信号。
上拉模块10,用于根据所述扫描电平信号以及本级的时钟信号,拉升相应的所述扫描线的扫描信号。
下传模块60,用于向下一级的上拉驱动模块20发送本级的下传信号。
第一下拉维持模块40,用于维持相应的所述扫描线的扫描信号的低电平。
第二下拉维持模块50,用于维持相应的所述扫描线的扫描信号的低电平。
下拉模块30,用于根据下四级的时钟信号以及下四级的扫描信号,拉低相应的所述扫描线的扫描信号。以及
自举电容Cb,用于生成所述扫描线的扫描信号的高电平。
在本实施例中,所述第一时钟信号或所述第二时钟信号输出至所述下传模块60与所述上拉模块10的连接点。
在本实施例中,所述第一低频信号输出至所述第一下拉维持模块40,所述第二低频信号输出至所述第二下拉维持模块50的信号输入端。
在本实施例中,所述电源信号输出至所述第一下拉维持模块40、第二下拉维持模块50与所述下拉模块30。
在本实施例中,所述开启信号输出至所述上拉驱动模块20的输入端。
本发明的基本原理如下所述:
现有技术的2N CK GOA电路单元(N为正整数且N≥2)对应的一组面板检测衬垫分别为:CK、XCK、LC、STV、VSS、ACOM。以8CK GOA电路单元为例,原有的CK1/2/3/4这4个信号检测衬垫用CK检测衬垫代替,CK5/6/7/8这4个信号检测衬垫用XCK检测衬垫代替,LC1/LC2信号检测衬垫用LC检测衬垫代替,原来共13组信号检测衬垫现在只需要6组信号检测衬垫即可。本发明的CK检测衬垫连接输入面内GOA电路单元的CK1/2/3/4信号线,XCK检测衬垫连接输入面内GOA电路单元的CK5/6/7/8信号线,LC检测衬垫连接输入面内GOA电路单元的LC1/LC2信号线,即可通过同时开启四行扫描线的模式来点画面检测不良。而一般检测画面为R、G、B、黑、白、灰等纯色画面,所以针对扫描线是逐行开启还是同时开启多行均对检测效果并无影响。
本发明的一种GOA阵列基板,可以有效地解决现有技术中,因放置面板检测衬垫的空间不足,而使得各个信号衬垫间距过小,检测探针无法对位或者面板两侧无空间放置R/G/B信号衬垫,使得在检测的时候由于两侧R/G/B信号线负载过大而出现分屏的问题,从而可以降低检测工艺的难度,提高不良检测的效率。
实施例二
本实施例提供一种显示装置,该显示装置包括一实施例一所述的GOA阵列基板,该GOA阵列基板已经在实施例一中进行了详细的说明,在此不再详细论述。
本发明的一种显示装置,可以有效地解决现有技术中,因放置面板检测衬垫的空间不足,而使得各个信号衬垫间距过小,检测探针无法对位或者面板两侧无空间放置R/G/B信号衬垫,使得在检测的时候由于两侧R/G/B信号线负载过大而出现分屏的问题,从而可以降低检测工艺的难度,提高不良检测的效率。
综上所述,虽然本发明已以优选实施例揭露如上,但上述优选实施例并非用以限制本发明,本领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。