阵列基板及显示面板的制作方法

本发明涉及显示领域，具体涉及一种阵列基板及显示面板。

背景技术：

平面显示面板因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示面板中的主流。

平面显示面板通常包括阵列基板，阵列基板包括显示区和围绕显示区的非显示区，非显示区包括芯片集成区。为满足电子产品窄边框的设计需求，需要尽量缩减芯片集成区及芯片集成区附近的非显示区的面积，而在芯片集成区附近，往往还需要布置用于显示测试的电路。因此，芯片集成区及附近的非显示区的面积有限，期望一种测试组件的合理布局。

技术实现要素：

本发明提供一种阵列基板及显示面板，对测试组件分区布局，提高显示面板测试组件的布局合理性。

一方面，本发明实施例提供一种阵列基板，其包括：衬底，包括显示区和围绕显示区的非显示区，非显示区包括芯片集成区以及扇出区，扇出区位于连接于显示区与芯片集成区之间；信号端子阵列，位于芯片集成区，信号端子阵列包括多个信号线端子；多条信号线，延伸于显示区，并经由扇出区与多个信号线端子对应连接；以及测试组件，设置于非显示区，其中测试组件包括：测试数据线，用于提供测试数据信号；第一开关阵列，位于多个信号端子的背离显示区的一侧，第一开关阵列包括多个第一开关，每个第一开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接；第二开关阵列，位于扇出区，第二开关阵列包括多个第二开关，每个第二开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接；以及测试控制线，与多个第一开关的控制端、多个第二开关的控制端连接，用于提供控制第一开关、第二开关通断的测试控制信号。

另一方面，本发明实施例提供一种显示面板，其包括前述任一实施方式的阵列基板。

根据本发明实施例的阵列基板，测试组件包括第一开关阵列和第二开关阵列，其中第一开关阵列位于多个信号端子的背离显示区的一侧，第二开关阵列所述扇出区。即其中一部分测试组件被转移至扇出区，从而减少测试组件对芯片集成区的占用。当阵列基板的芯片集成区面积较小时，可以将芯片集成区无法容纳的一部分测试组件设置于扇出区，保证阵列基板具有完整的测试组件，使得阵列基板具有完整的显示测试功能，能够对扇出的各信号线进行检测，便于及时发现阵列基板的信号线连接不良，以更合理的结构布局实现阵列基板的完整功能。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。

图1是根据本发明一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；

图2是根据本发明一种实施例提供的阵列基板中第二开关阵列处的局部放大示意图；

图3是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；

图4是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图；

图5是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；

图6是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图；

图7是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；

图8是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图；

图9是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。

本发明实施例提供一种阵列基板，该阵列基板例如是用于形成显示面板的阵列基板。图1是根据本发明一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。阵列基板100包括衬底110、信号端子阵列120、多条信号线130以及测试组件。

衬底110包括显示区da和围绕显示区da的非显示区na。非显示区na包括芯片集成区ca以及扇出区fa，扇出区fa位于连接于显示区da与芯片集成区ca之间。信号端子阵列120位于芯片集成区ca，信号端子阵列120包括多个信号线端子121。多条信号线130延伸于显示区da，并经由扇出区fa与多个信号线端子121对应连接。

测试组件设置于非显示区na，其中测试组件包括测试数据线140、测试控制线150、第一开关阵列z1以及第二开关阵列z2。测试数据线140用于提供测试数据信号。第一开关阵列z1位于多个信号线端子121的背离显示区da的一侧，第一开关阵列z1包括多个第一开关t1，每个第一开关t1将对应一个信号线端子121与测试数据线140连接。第二开关阵列z2位于扇出区fa，第二开关阵列z2包括多个第二开关t2，每个第二开关t2将对应一个信号线端子121与测试数据线140连接。测试控制线150与多个第一开关t1的控制端、多个第二开关t2的控制端连接，用于提供控制第一开关t1、第二开关t2通断的测试控制信号。

根据本发明实施例的阵列基板100，测试组件包括第一开关阵列z1和第二开关阵列z2，其中第一开关阵列z1位于多个信号端子的背离显示区da的一侧，第二开关阵列z2所述扇出区fa。即其中一部分测试组件被转移至扇出区fa，从而减少测试组件对芯片集成区ca的占用。当阵列基板100的芯片集成区ca面积较小时，可以将芯片集成区ca无法容纳的一部分测试组件设置于扇出区fa，保证阵列基板100具有完整的测试组件，使得阵列基板100具有完整的显示测试功能，能够对扇出的各信号线130进行检测，便于及时发现阵列基板100的信号线130连接不良，以更合理的结构布局实现阵列基板100的完整功能。

在一些实施例中，显示区da的中心、信号端子阵列120的中心、第一开关阵列z1的中心位于同一轴线上，第二开关阵列z2的数量为两个，两个第二开关阵列z2关于轴线对称分布，使得测试组件的布置将阵列基板100的扇出区fa充分利用，并且布线结构对称，提高测试组件的测试稳定性。

在一些实施例中，第一开关t1为第一薄膜晶体管(thinfilmtransistor，tft)，其包括第一有源层和与第一有源层绝缘间隔的第一栅极，第一有源层可以包括第一源区和第一漏区。其中，第一开关t1的第一栅极与测试控制线150连接，第一开关t1的第一源区、第一漏区中的一者与信号线端子121连接，另一者与测试数据线140连接。

在一些实施例中，第二开关t2为第二薄膜晶体管，其包括第二有源层和与第二有源层绝缘间隔的第二栅极，第二有源层可以包括第二源区和第二漏区。其中，第二开关t2的第二栅极与测试控制线150连接，第二开关t2的第二源区、第二漏区中的一者与信号线端子121连接，另一者与测试数据线140连接。

图2是根据本发明一种实施例提供的阵列基板中第二开关阵列处的局部放大示意图。在一些实施例中，测试控制线150在衬底110上的正投影覆盖多个第二开关t2的第二有源层al2在衬底110上的正投影，使得测试控制线150的一部分兼做第二开关t2的第二栅极。

在一些实施例中，信号线端子121所连的信号线130在衬底110上的正投影穿过信号线端子121所连的第二薄膜晶体管的第二有源层al2在衬底110上的正投影，使得信号线130与对应的第二开关t2(第二薄膜晶体管)的第二源区或第二漏区之间连接，无需设置额外的用于连接信号线130和第二开关t2之间的连接线，节省布线空间，进一步提高阵列基板100的紧凑性。

图3是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。在一些实施例中，阵列基板100还包括像素阵列pz。像素阵列pz包括阵列排布于显示区da的多个子像素160，多个子像素160包括颜色不同的多种子像素160。多条信号线130包括多条数据线(dateline)，多条数据线包括与多种子像素160对应连接的多类数据线。测试数据线140的数量为多条，其中，不同类数据线所连的信号线端子121经由第一开关t1或第二开关t2与不同的测试数据线140连接。

例如，多种子像素160包括第一颜色子像素161、第二颜色子像素162以及第三颜色子像素163。第一颜色子像素161、第二颜色子像素162、第三颜色子像素163分别例如是红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素。

多条数据线包括与第一颜色子像素161连接的第一类数据线131、与第二颜色子像素162连接的第二类数据线132、与第三颜色子像素163连接的第三类数据线133。

图4是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图。请同时参考图3和图4。测试数据线140可以包括第一测试数据线141、第二测试数据线142以及第三测试数据线143。其中，第一类数据线131所连的信号线端子121经由第一开关t1或第二开关t2与第一测试数据线141连接，第二类数据线132所连的信号线端子121经由第一开关t1或第二开关t2与第二测试数据线142连接，第三类数据线133所连的信号线端子121经由第一开关t1或第二开关t2与第三测试数据线143连接。

驱动不同颜色子像素显示时，分别需要不同的数据信号。根据上述实施例的阵列基板100，通过不同的测试数据线140向各自对应颜色的子像素160提供测试数据信号，并由同一测试控制线150控制对多条信号线130的同时测试，提高对阵列基板100测试的准确性和便利性。

启动测试时，测试控制线150将多个第一开关t1和多个第二开关t2选通，使得测试数据线140中的测试数据信号能够经由各自对应的信号线130传输至对应的子像素160。当显示区da中出现暗线或亮线时，即出现一列子像素160显示异常时，说明该列子像素160所连的信号线130存在连接不良。

图5是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。在一些实施例中，阵列基板100还包括触控电极阵列tz。触控电极阵列tz包括阵列排布于显示区da的多个触控电极块170。多条信号线130包括多条触控信号线130，每条触控信号线130与对应一个触控电极块170连接。

在一些实施例中，触控电极块170与阵列基板100的公共电极彼此复用。

在一些实施例中，多个触控电极块170包括至少两种类型的触控电极块170，其中，彼此相邻的触控电极块170的类型不同。多条触控信号线130包括与至少两种类型的触控电极块170对应连接的至少两类触控信号线130。测试数据线140的数量为至少两条，其中，不同类触控信号线130所连的信号线端子121经由第一开关t1或第二开关t2与不同的测试数据线140连接。

例如，至少两种类型的触控电极块170包括第一类触控电极块171和第二类触控电极块172，第一类触控电极块171和第二类触控电极块172在平行于衬底110的平面呈棋盘格排布。

多条触控信号线130包括与第一类触控电极块171连接的第一类触控信号线134、与第二类触控电极块172连接的第二类触控信号线135。

图6是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图。请同时参考图5和图6。测试数据线140包括第四测试数据线144、第五测试数据线145，其中，第一类触控信号线134所连的信号线端子121经由第一开关t1或第二开关t2与第四测试数据线144连接，第二类触控信号线135所连的信号线端子121经由第一开关t1或第二开关t2与第五测试数据线145连接。

在进行测试时，针对类型不同的触控电极块170，可以提供不同的测试数据信号。根据上述实施例的阵列基板100，通过不同的测试数据线140向各自对应类型的触控电极块170提供测试数据信号，并由同一测试控制线150控制对多条信号线130的同时测试，提高对阵列基板100测试的准确性和便利性。

启动测试时，测试控制线150将多个第一开关t1和多个第二开关t2选通，使得测试数据线140中的测试数据信号能够经由各自对应的信号线130传输至对应的触控电极块170。在一个示例中，在测试阶段中，合格的阵列基板100中不同类型的触控电极块170分别覆盖的显示子区域会呈现不同的预定频率的闪烁画面。当某个显示子区域的闪烁画面出现异常时，例如不显示画面或呈现新的频率的闪烁画面，说明该显示子区域对应的触控电极块170及该触控电极块170所连的信号线130可能存在异常。

图7是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。在一些实施例中，扇出区fa包括第一子扇出区sf1和第二子扇出区sf2，第一子扇出区sf1与显示区da邻接，第二子扇出区sf2连接于第一子扇出区sf1与芯片集成区ca之间。

每条信号线130包括处于第一子扇出区sf1的第一线段130a和处于第二子扇出区sf2的第二线段130b。在一些实施例中，每条信号线130还包括延伸于显示区da的第三线段130c。多条信号线130的第一线段130a沿第一方向x排列且分别沿第二方向y延伸，第二方向y与第一方向x交叉，每条信号线130的第二线段130b相对第一线段130a倾斜设置。第二方向y与第一方向x例如是彼此垂直。例如，阵列基板100还包括像素阵列，像素阵列包括阵列排布于显示区da的多个子像素，即多个子像素排布为多行及多列，第一方向x可以是像素阵列的行方向，第二方向y可以是像素阵列的列方向。

在一些实施例中，第二开关阵列z2位于第一子扇出区sf1，测试数据线140、测试控制线150围绕设置于第二子扇出区sf2的至少部分外周。由于多条信号线130在位于第一子扇出区sf1中的第一线段130a整齐排列，便于第二开关阵列z2中的多个第二开关t2在第一线段130a延伸的区域排列布置，同时便于各第二开关t2与相应的信号线130通过第一线段130a连接，使得第二开关阵列z2以及测试组件在阵列基板100上的位置布局更加合理。

在上述实施例中，测试数据线140与测试控制线150相互平行设置，测试数据线140位于测试控制线150的背离第二子扇出区sf2的一侧，使得测试数据线140、测试控制线150大致将扇出区fa部分包围环绕，测试数据线140、测试控制线150能够以类似扇出区fa的部分轮廓的形状围绕于扇出区fa外周侧，能够降低测试数据线140、测试控制线150的布线结构对阵列基板100上布局面积的占用，提高阵列基板100的布局紧凑性。

图8是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。在一些实施例中，阵列基板100还包括公共电极ce、至少一个公共电极端子180以及至少一条公共电极线190。

公共电极ce位于显示区da。公共电极端子180位于信号端子阵列120沿第一方向x的至少一侧。例如本实施例中，公共电极端子180的数量为两个，两个公共电极端子180分别位于信号端子阵列120沿第一方向x的两侧。每条公共电极线190将一个公共电极端子180与公共电极ce连接，使得公共电极ce能够经由公共电极端子180接收公共电压信号。

在一些实施例中，每条公共电极线190的至少部分线段位于测试控制线150的朝向第二子扇出区sf2的一侧并与测试控制线150相互平行设置，使得测试控制线150包绕公共电极线190设置，提高阵列基板100上布线结构的位置布局合理性。在一些实施例中，公共电极线190在经过第二开关阵列z2处时，从第二开关阵列z2的周边绕过设置，以避免公共电极线190与测试组件之间相互干扰。

图9是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图。在一些实施例中，信号端子阵列120包括第一亚阵列120a和第二亚阵列120b。第一亚阵列120a、第二亚阵列120b分别包括多个信号线端子121，其中第二亚阵列120b中的至少部分信号线端子121与显示区da的距离大于第一亚阵列120a中的信号线端子121与显示区da的距离。例如，第一亚阵列120a中的信号线端子121沿预设方向排列，使得第一亚阵列120a中的信号线端子121与显示区da的距离都相等。第二亚阵列120b的数量可以是两个，两个第二亚阵列120b分别位于第一亚阵列120a的信号线端子121排列方向上的两端。每个第二亚阵列120b中信号线端子121的排列方向相对于第一亚阵列120a中信号线端子121的排列方向倾斜设置。在一个示例中，第一亚阵列120a和第二亚阵列120b中的信号线端子121大致排列为梯形状。

第一开关阵列z1位于第一亚阵列120a的背离显示区da的一侧，第一开关t1将第一亚阵列120a的信号线端子121与测试数据线140连接。第二开关t2将第二亚阵列120b的信号线端子121与测试数据线140连接。

根据上述实施例的阵列基板100，信号端子阵列120包括第一亚阵列120a和第二亚阵列120b。第二亚阵列120b中信号线端子121的排列方向相对于第一亚阵列120a中信号线端子121的排列方向倾斜设置，使得信号端子阵列120的全部信号线端子121在芯片集成区ca中的横向占据长度降低，同时便于与信号线130连接。测试组件包括第一开关阵列z1和第二开关阵列z2，第一开关阵列z1能够利用第一亚阵列120a的背离显示区da的一侧的空间，从而将第一亚阵列120a的信号线端子121与测试数据线140连接。第二亚阵列120b的背离显示区da的一侧的空间较小，从而此区域难以布置测试组件，本发明实施例利用布置在扇出区fa的第二开关阵列z2将第二亚阵列120b的信号线端子121与测试数据线140连接，从而对阵列基板100的非显示区na充分利用，实现全部信号线端子121与测试组件的连接，便于对阵列基板100进行全面的检测。

本发明实施例还提供一种显示面板，其包括根据前述任一实施方式的阵列基板100。该阵列基板100包括衬底110、信号端子阵列120、多条信号线130以及测试组件。衬底110包括显示区da和围绕显示区da的非显示区na。非显示区na包括芯片集成区ca以及扇出区fa，扇出区fa位于连接于显示区da与芯片集成区ca之间。信号端子阵列120位于芯片集成区ca，信号端子阵列120包括多个信号线端子121。多条信号线130延伸于显示区da，并经由扇出区fa与多个信号线端子121对应连接。

测试组件设置于非显示区na，其中测试组件包括测试数据线140、测试控制线150、第一开关阵列z1以及第二开关阵列z2。测试数据线140用于提供测试数据信号。第一开关阵列z1位于多个信号线端子121的背离显示区da的一侧，第一开关阵列z1包括多个第一开关t1，每个第一开关t1将对应一个信号线端子121与测试数据线140连接。第二开关阵列z2位于扇出区fa，第二开关阵列z2包括多个第二开关t2，每个第二开关t2将对应一个信号线端子121与测试数据线140连接。测试控制线150与多个第一开关t1的控制端、多个第二开关t2的控制端连接，用于提供控制第一开关t1、第二开关t2通断的测试控制信号。

根据本发明实施例的显示面板，将其中一部分测试组件转移至扇出区fa，从而减少测试组件对芯片集成区ca的占用。当阵列基板100的芯片集成区ca面积较小时，可以将芯片集成区ca无法容纳的一部分测试组件设置于扇出区fa，保证阵列基板100及显示面板具有完整的测试组件，使得阵列基板100及显示面板具有完整的显示测试功能，能够对扇出的各信号线130进行检测，便于及时发现显示面板的信号线130连接不良，以更合理的结构布局实现显示面板的完整测试功能。

依照本发明如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。