阵列基板、显示面板、弯曲程度检测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及液晶显示领域，具体涉及一种阵列基板、显示面板、弯曲程度检测方 法。
【背景技术】
[0002] 相对于传统显示面板，柔性显示面板不仅在外形上更加轻薄，功耗上也更低，有助 于提升设备的续航能力。同时基于其可弯曲、柔韧性好的特点，可以降低设备意外损伤的概 率，耐用程度也大大超过传统显示面板。然而在使用过程中，柔性显示面板的弯曲可能会导 致器件损伤、图像扭曲等问题，因此需要在柔性显示面板的使用过程中实时检测其弯曲程 度。
[0003] 在现有技术中，有通过布置多个感测元件的方式来检测柔性显示屏的弯曲程度的 技术方案，利用感测元件通过电磁力或者其他方式检测与其他感测元件之间的距离变化。 但是，对于厚度非常小的柔性显示面板来说，在显示面板内部布置感测元件有一定困难；也 有将感测元件布置在显示面板外部的方案，但是测量较小距离变化值时会有很大的误差； 此外，基于电磁力或者其他方式进行检测的感测元件很容易受到外部环境的干扰，例如周 围存在磁场时，感测元件的检测结果就会受到很大影响。
【发明内容】
[0004] 针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种阵列基板、显示面板、弯曲程度检测方 法，可以实现显示面板弯曲程度的实时检测。
[0005] 第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括柔性衬底，所述柔性衬底上设有多行 扫描线与多列数据线，多行扫描线与多列数据线交叉限定出所述柔性衬底上的多个像素单 元，所述柔性衬底上还设有多行第一信号线与多列第二信号线，所述柔性衬底在若干个所 述像素单元内设有导体层，所述导体层与所在列的所述第二信号线相连，用于生成与所述 阵列基板弯曲程度有关的电信号，并用于在所述第一信号线上信号的驱动下经由所述第二 信号线将所述电信号输出。
[0006] 可选地，所述阵列基板还包括：
[0007] 与多行所述第一信号线相连的扫描模块，用于依次向每一行所述第一信号线输出 扫描信号；
[0008] 位于若干个所述像素单元内的开关模块，所述开关模块与所在行的第一信号线相 连，并与所在像素单元的所述导体层相连，用于在接收到所述第一信号线上的扫描信号时 向所述导体层提供预设电压；
[0009] 与多列所述第二信号线相连的采集模块，用于采集所述第二信号线上的电信号， 并结合所述预设电压得到所述导体层的电阻值；
[0010] 与所述采集模块相连的计算模块，用于根据来自所述采集模块的电阻值计算所述 导体层的弯曲程度。
[0011] 可选地，任一行所述第一信号线与该行的扫描线采用同一条导体线形成；
[0012] 所述扫描模块位于所述阵列基板的扫描驱动电路中。
[0013] 可选地，对应于每一列所述第二信号线，所述采集模块包括第一参考电阻；
[0014] 所述第一参考电阻的第一端与所述第二信号线相连，第二端连接参考电压。
[0015] 可选地，对应于每一列所述第二信号线，所述采集模块还包括：
[0016] 与所述第二信号线相连的第一采集子模块，所述第一采集子模块用于采集所述第 二信号线上的电信号；
[0017] 与所述第一采集子模块相连的第一计算子模块，所述第一计算子模块用于根据所 述第一采集子模块得到的电信号结合所述预设电压的电压值、所述第一参考电阻的电阻值 以及所述参考电压的电压值计算所述导体层的电阻值。
[0018] 可选地，对应于每一所述第一参考电阻，所述采集模块还包括第二参考电阻与第 三参考电阻，
[0019] 所述第二参考电阻的第一端与所述第三参考电阻的第二端相连，第二端与所述第 一参考电阻的第二端相连；
[0020] 所述第三参考电阻的第一端连接所述预设电压。
[0021] 可选地，对应于每一所述第一参考电阻，所述采集模块还包括：
[0022] 与所述第二信号线相连的第二采集子模块，所述第二采集子模块用于采集所述第 二信号线上的电信号；
[0023] 与所述第二参考电阻的第一端相连的第三采集子模块，所述第三采集子模块用于 采集所述第二参考电阻的第一端处的电信号；
[0024] 与所述第二采集子模块、第三采集子模块相连的第二计算子模块，所述第二计算 子模块用于比较所述第二采集子模块得到的电信号与所述第三采集子模块得到的电信号， 并利用比较结果结合所述第一至第三参考电阻的电阻值计算所述导体层的电阻值。
[0025] 第二方面，本发明提供了一种显示面板，所述显示面板应用了上述的阵列基板。
[0026] 第三方面，本发明还提供了一种显示面板的弯曲程度检测方法，该显示面板包括 阵列基板，所述阵列基板包括柔性衬底；所述柔性衬底上设有多行扫描线与多列数据线，多 行扫描线与多列数据线交叉限定出所述阵列基板上的多个像素单元；所述柔性衬底上还 设有多行第一信号线与多列第二信号线；所述阵列基板在若干个所述像素单元内设有导体 层，所述导体层与所在列的所述第二信号线相连，所述方法包括：
[0027] 依次向每一行所述第一信号线输出扫描信号；
[0028] 在任一所述像素单元接收到所述第一信号线上的扫描信号时向该像素单元内的 所述导体层提供预设电压；
[0029] 采集所述第二信号线上的电信号，并结合所述预设电压得到所述导体层的电阻 值；
[0030] 根据所述导体层的电阻值计算所述导体层的弯曲程度。
[0031] 可选地，任一行所述第一信号线与该行的扫描线采用同一条导体线形成；
[0032] 所述依次向每一行所述第一信号线输出扫描信号，包括：
[0033] 接收来自所述阵列基板的扫描驱动电路的扫描信号，并将该扫描信号依次向每一 行所述第一信号线输出。
[0034] 可选地，所述阵列基板对应于每一列所述第二信号线还包括第一参考电阻，所述 第一参考电阻的第一端与所述第二信号线相连，第二端连接参考电压；
[0035] 所述采集所述第二信号线上的电信号，并结合所述预设电压得到所述导体层的电 阻值，包括：
[0036] 采集所述第二信号线上的电信号；
[0037] 根据所述第二信号线上的电信号结合所述预设电压的电压值、所述第一参考电阻 的电阻值以及所述参考电压的电压值计算所述导体层的电阻值。
[0038] 可选地，所述阵列基板对应于每一列所述第二信号线还包括第二参考电阻与第三 参考电阻，
[0039] 所述第二参考电阻的第一端与所述第三参考电阻的第二端相连，第二端与所述第 一参考电阻的第二端相连；
[0040] 所述第三参考电阻的第一端连接所述预设电压；
[0041] 所述采集所述第二信号线上的电信号，并结合所述预设电压得到所述导体层的电 阻值，包括：
[0042] 采集所述第二信号线上的电信号；
[0043] 采集所述第二参考电阻的第一端处的电信号；
[0044] 比较所述第二信号线上的电信号与所述第二参考电阻的第一端处的电信号，并利 用比较结果结合所述第一参考电阻、所述第二参考电阻和第三参考电阻的电阻值计算所述 导体层的电阻值。
[0045] 由上述技术方案可知，本发明在阵列基板的像素单元设置导体层，通过测量导体 层的电阻值，可以计算得到阵列基板的弯曲程度，从而有助于调整在非平面显示时图像扭 曲等问题，提升显示效果。而且，导体层可以设置在阵列基板的所有像素单元，也可以设置 在部分像素单元，可以测得每个导体层的弯曲程度，同样，也可以测得阵列基板的任意位置 处的弯曲程度，可以在较低的成本下得到较佳的弯曲程度检测效果。本发明适用于目前 的OLED(OrganicLight-EmittingDiode，有机发光二极管）和LTPS(LowTemperature Poly-silicon，低温多晶娃）等