和方差数据，并且相应地像素特定表征数据D ^ Pim包括APL数据 和方差数据。像素特定表征数据Daffi Pim的APL数据一般指示相关联的像素9周围的区的 APL，并且像素特定表征数据Daffi Pim的方差数据一般指示相关联的像素9周围的区中的像 素9的亮度值的方差。
[0068] 通过基于某一像素 9的位置将线性内插应用于与该某一像素 9所位于的区域的顶 点相关联的经滤波的表征数据Daffi mTEK来计算与该某一像素9相关联的像素特定表征数据 Dc：m_Pim。详细来说，通过基于某一像素9的位置将线性内插应用于与该某一像素9所位于 的区域的顶点相关联的经滤波的表征数据D affi mTEK的APL数据来计算与该某一像素9相关 联的像素特定表征数据Daffi pim的APL数据。对应地，通过基于某一像素9的位置将线性内 插应用于与该某一像素9所位于的区域的顶点相关联的经滤波的表征数据D affi mTEK的方差 数据来计算与该某一像素9相关联的像素特定表征数据Daffi Pim的方差数据。在图10中， 与定位在显示区5中的位置（X，y)处的像素9相关联的像素特定表征数据Daffi Pim的APL 数据由符号"APL_PIXEL(y，X)"来表示，并且与定位在显示区5中的位置（X，y)处的像素 9相关联的像素特定表征数据D affi pim的方差数据由符号" 〇2_PIXEL(y，X)"来表示。随后 描述像素特定表征数据Daffij5im的计算的细节。由像素特定表征数据计算电路38计算的像 素特定表征数据D affi Pim被转发到校正点数据计算电路29。
[0069] 图12是图示了校正点数据计算电路29的配置的优选示例的框图。在图12中图 示的示例中，校正点数据计算电路29包括：校正点数据集存储寄存器41、内插/选择电路 42 以及校正点数据调整电路43。
[0070] 校正点数据集存储寄存器41在其中存储多个校正点数据集CP#1至CP#m。校正点 数据集CP#1至CP#m被用作用于确定上述的校正点数据集CP_L K、CP_Le和CP_LB的种子数 据（seed data)。校正点数据集CP#1至CP#m中的每一个包括如在图6中图示的那样限定 的校正点数据CPO到CP5。
[0071] 内插/选择电路42基于像素特定表征数据Daffi pim的APL数据APL_PIXEL(y，X) 来确定伽玛值γ_ΡΙΧΕ?Λ γ_ΡΙΧΕΙ^^Ρ y_PIXELB，并且确定对应于由此确定的伽玛值γ_ ΡΙΧΕ?Λ γ_ΡΙΧΕΙ^Ρ y_PIXELB的校正点数据集 CP_LK、CP_LG和 CP_LB。本文，伽玛值 γ_ PIXELK是用于要对指示输入图像数据D ΙΝ的R子像素 IlR的灰度等级的数据(也就是说，输 入图像数据D1/)执行的对比度校正的伽玛曲线的伽玛值。对应地，伽玛值γ_ΡΙΧΕΡ是用 于要对指示输入图像数据D in的G子像素 IlG的灰度等级的数据（也就是说，输入图像数据 D1/)执行的对比度校正的伽玛曲线的伽玛值，并且伽玛值Y_PIXELB是用于要对指示输入 图像数据D in的B子像素 IlB的灰度等级的数据(也就是说，输入图像数据D INB)执行的对比 度校正的伽玛曲线的伽玛值。
[0072] 在一个实施例中，内插/选择电路42可以基于伽玛值y_PIXELk来选择校正点数 据集CP#1至CP#m中的一个并且将校正点数据集CP_L k确定为校正点数据集CP#1至CP#m 中所选择的一个。可替换地，内插/选择电路42可以通过基于伽玛值y_PIXELk选择校正 点数据集CP#1至CP#m中的两个并且将线性内插应用于所选择的两个校正点数据集来确定 校正点数据集CP_L k。随后描述校正点数据集CP_LK、CP_Le和CP_LB的确定的细节。由内插 /选择电路42确定的校正点数据集CP_L K、CP_LG和CP_LB被转发到校正点数据调整电路43。
[0073] 校正点数据调整电路43基于包括在像素特定表征数据Daffi pim中的方差数据〇2_ PIXEL(y，x)来修改校正点数据集CP_LK、CP_Le和CP_LB，以由此计算校正点数据集CP_sel K、 CP^ele和CP_selB，它们最终被馈送到近似伽玛校正电路22。随后描述校正点数据计算电 路29中的相应电路的操作的细节。
[0074] 接下来，在下文给出本实施例中的液晶显示设备1的操作(特别是用于对比度校 正的校正计算)的概述。图13是图示了在本实施例中的液晶显示设备1中执行的用于对比 度校正的校正计算的内容的流程图。
[0075] 总体上，本实施例中的校正计算包括其中针对每一个像素 9的每一个子像素 11确 定用于对比度校正的伽玛曲线的形状(步骤SlO到S16)的第一阶段和其中依照所确定的伽 玛曲线对与每一个像素9的每一个子像素11相关联的输入图像数据D in执行校正计算(步 骤S17)的第二阶段。由于在本实施例中用于对比度校正的伽玛曲线的形状由校正点数据 集CP_sel k指定，所以第一阶段牵涉到针对每一个像素9的每一个子像素11确定校正点数 据集CP_selk，并且第二阶段牵涉到依照所确定的校正点数据集CP_sel k对与每一个子像素 11相关联的输入图像数据Din执行校正计算。
[0076] 总体上，第一阶段中的伽玛曲线的形状的确定如下那样实现：应注意随后描述第 一阶段中的每一个步骤处的计算的细节。
[0077] 在步骤SlO处，通过将APL计算滤波过程应用于输入图像数据Din来生成APL计算 图像数据D fiuek m，并且通过将均方计算滤波过程应用于输入图像数据Din来生成均方计算 图像数据Dfiuek Y2。要注意的是，APL计算图像数据Dfiuek 指示APL计算亮度图像的相应 像素9的亮度值，并且均方计算图像数据Dfiuek Y2指示均方计算亮度图像的相应像素9的 亮度值。如以上所述，由表征数据计算电路28的区域表征数据计算部28a中的改变率滤波 器30来执行APL计算滤波过程，并且由改变率滤波器32来执行均方计算滤波过程(参见图 9)。随后描述APL计算滤波过程和均方计算滤波过程的内容的细节及其技术含义。
[0078] 在步骤Sll处，根据APL计算图像数据DmTEK_APIj和均方计算图像数据D FIUEK_Y2计算 LCD面板2的显示区5的每一个区域的区域表征数据Daffi AKEA。如以上所述，与每一个区域 相关联的区域表征数据Daffi AKEA包括APL数据和均方数据(参见图8)。根据APL计算图像数 据DfiueilaiJ十算区域表征数据D _ ^的APL数据，并且根据均方计算图像数据D _^2计 算区域表征数据Daffi AKEA的均方数据。由表征数据计算电路28的区域表征数据计算部28a 的APL计算电路31来实现区域表征数据Daffi AKEA的APL数据的计算，并且由均方数据计算 电路33来实现区域表征数据Daffi AKEA的均方数据的计算。
[0079] 在步骤S12处，然后由表征数据计算电路28的像素特定表征数据计算部28b的经 滤波的表征数据计算电路36根据与每一个区域相关联的区域表征数据D affi AKEA计算与每一 个区域的顶点相关联的经滤波的表征数据Daffi mTEK。参照图11，根据与某一顶点所属于的 区域(或多个区域）相关联的区域表征数据Daffi AKEA来计算与该某一顶点相关联的经滤波的 表征数据Daffi mTEK。要指出的是，某一顶点可以属于多个区域。如以上所述，经滤波的表征 数据包括APL数据和方差数据。详细来说，根据与某一顶点所属于的区域(或多个 区域)相关联的区域表征数据D affi _4的APL数据来计算与该某一顶点相关联的经滤波的表 征数据APL数据，并且根据与某一顶点所属于的区域(或多个区域）相关联的区 域表征数据D affi AKEA的APL数据和均方数据来计算与该某一顶点相关联的经滤波的表征数 iS Dche_filtee 的方差数据。
[0080] 此外，在步骤S13处，由像素特定表征数据计算部28b的像素特定表征数据计算电 路38根据与每一个区域的顶点相关联的经滤波的表征数据D affi mTEK来计算与每一个像素 9相关联的像素特定表征数据Daffi Pim。通过基于某一区域中的某一像素9的位置将线性内 插应用于与某一区域的顶点相关联的经滤波的表征数据Daffi mTEK来计算与位于某一区域中 的某一像素9相关联的像素特定表征数据Daffi Pim。如以上所述，像素特定表征数据Daffi Pim 包括APL数据和方差数据。根据与某一像素9所位于的区域的顶点相关联的经滤波的表征 数据Daffi mTEK的APL数据来计算与该某一像素9相关联的像素特定表征数据D Pim的APL 数据，并且根据与某一像素9所位于的区域的顶点相关联的经滤波的表征数据Daffi 1_的 方差数据来计算与该某一像素9相关联的像素特定表征数据Daffi Pim的方差数据。
[0081] 在步骤S14处，根据与每一个像素9相关联的像素特定表征数据Daffi Pim的APL数 据APL_PIXEL(y，z)来计算用于每一个像素9的校正计算的伽玛曲线的伽玛值γ_ΡΙΧΕ!Λ γ _ΡΙΧΕΙ^Ρ γ _PIXELB。此外，在步骤S15处，选择或确定校正点数据集CP_L\CP_LG和CP_ LB，它们分别指示由伽玛值γ_PIXELK、γ_PIXELqP γ_PIXELB所指定的伽玛曲线。伽玛值 γ _ΡΙΧΕΙΛ γ _ΡΙΧΕΙ^Ρ γ _PIXEL B的计算和校正点数据集CP_L K、CP_LG和CP_L B的选择由 校正点数据计算电路29的内插/选择电路42来实现。
[0082] 在步骤S16处，响应于与每一个像素9相关联的像素特定表征数据Daffi Pim的方 差数据σ 2_PIXEL(y，X)来修改针对每一个像素9所选择的校正点数据集CP_LK、CP_L e和 CP_LB，以计算校正点数据集CP_sel\ CP+sel"和CP_selB，它们最终被馈送到近似伽玛校正 电路22。基于像素特定表征数据D affi pim的方差数据〇2_PIXEL(y，X)来修改校正点数据 集CP_Lk (k是"R"、"G"和"B"中的任何一个）的过程在技术上等价于基于像素特定表征数 据Da^pim的方差数据σ 2_PIXEL(y，X)来修改用于输入图像数据DInk的对比度校正的伽 玛曲线的形状。
[0083] 校正点数据集CP_selK、CP+sef和CP_sel B被转发到近似伽玛校正电路22。在步 骤S17处，近似伽玛校正电路22依照由针对每一个像素9而确定的校正点数据集CP_sel K、 CP^ele和CP_sel B所指定的伽玛曲线来对与每一个像素9相关联的输入图像数据D IN执行 校正计算。
[0084] 在步骤Sll到S16处的上述过程处，基本上通过基于与某一区域并与该某一区域 相邻的区域相关联的区域表征数据D affi AKEA (APL数据和方差数据）确定与每一个像素相关 联的像素特定表征数据Daffi Pim (APL数据和方差数据）以及基于由此确定的像素特定表征 数据〇?_ΡΙΧΕ^^定要对与每一个像素9相关联的输入图像数据D IN执行的校正计算来实现针 对与位于该某一区域中的每一个像素9相关联的输入图像数据Din的校正计算。与每一个 像素9相关联的像素特定表征数据D affi Pim对与相邻区域相关联的区域表征数据D Qffi 41^的 依赖性依赖于每一个像素9的位置。因此，根据像素特定表征数据Daffi Pim确定的校正计算 可以依赖于区域中的每一个像素9的位置而变化。
[0085] 在此类情形中，如以上参照图1和2所描述的，即使在某一区中的像素 9被指示成 显示相同颜色时，对输入图像数据Din执行的校正计算也可以依赖于区域中的像素9的位置 而变化。尽管有效地抑制块状噪声，但是此类过程可能导致晕圈效应的出现。
[0086] 在步骤SlO处所执行的APL计算滤波过程和均方计算滤波过程针对解决晕圈效应 的问题。图14图示了 APL计算滤波过程和均方计算滤波过程的概念。
[0087] 本实施例中的APL计算滤波过程包括如下计算：响应于目标像素的亮度值与原始 图像(也就是说，与输入图像数据D in相关联的亮度图像）中的目标像素附近的像素9的亮 度值的差异而将感兴趣的像素9 (下文可以将其称为"目标像素"）的亮度值设定为特定亮 度值(下文，其被称为"APL计算可替换亮度值")。当目标像素的亮度值与原始图像中的目 标像素附近的像素9的亮度值的差异小时，APL计算亮度图像(通过APL计算滤波过程所获 得的亮度图像)的目标像素的亮度值被设定为APL计算可替换亮度值。应指出，APL计算可 替换亮度值是固定值。另一方面，当目标像素的亮度值与原始图像中的目标像素附近的像 素9的亮度值的差异大时，APL计算亮度图像的目标像素的亮度值被设定为等于原始图像 的目标像素的亮度值。当目标像素的亮度值与原始图像中的目标像素附近的像素9的亮度 值的差异为中等时，APL计算亮度图像的目标像素的亮度值被确定为原始图像的目标像素 的亮度值与APL计算可