专利名称：反光镜角度方位的调节装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及原子吸收分光光度计，特别是一种反光镜角度方位的调节装置。
背景技术：
原子吸收分光光度计广泛应用于工农业、生化、地质、冶金、环保等各个领域，目前已成为金属元素含量分析的最有力的工具之一。分光系统作为原子吸收分光光度计的重要组成部分，有不同的光学零件按设计要求安装在光学平台上，通过光束传导，构成仪器的光学系统，它能将待测元素的共振线分出，而这个光学系统的光轴位置的精确定位，直接关系到仪器的测量精度。但是由于不同零件存在加工误差，在进行光路的调试过程中，要求反光镜的角度和方位可调，以保证整个光路系统处于最佳工作状态。现有的反光镜架结构十分简单，只是在垂直于底板的支架上胶接一块反光镜，底板上打上个略大的安装孔，装配时直接用螺钉安装固定在仪器上。光路调试时，反光镜的角度只能在底板下插入各种薄片调节，反光镜的方位只能利用安装孔的空隙调节，这种调节方法存在如下问题1.仅凭经验反复调试，操作既烦琐又耗时；2.在运输过程中插片容易松动，引起反光镜移位。
发明内容
本实用新型为了解决现有光度计反光镜的角度方位不容易调节所存在的技术问题，而提供一种反光镜角度方位的调节装置。
根据上述目的，本实用新型提供一种反光镜角度方位的调节装置，由反光镜、支架、底板，还有定位件、底座构成；其中定位件正面的一端中间有螺纹孔、两旁有弧形调节孔，其另一端中间有螺纹孔、调节孔，两旁有螺纹洞，其反面有圆形凸台；其中底座上面有呈三角分布的螺纹洞，一端四角有安装孔，中间有一大孔；其中底板由螺钉通过安装孔旋入定位件上的螺纹洞固定连接，定位件反面凸台与底座上大孔相嵌，由螺钉通过调节孔旋入底座上的螺纹洞固定连接，底座由螺钉通过安装孔固定连接在仪器上。
本实用新型由于采取了以上技术措施，使光度计光学系统的光轴定位调试方便、精确。
图1是本实用新型反光镜架的结构示意图。
图2是本实用新型定位件的结构示意图。
图3是本实用新型底座的结构示意图。
图4是本实用新型结构装配示意图。
具体实施方式
如图1所示，反光镜1胶接于平板支架2上，支架2中央的园孔(图中虚线所示)可使反光镜1易于胶接或拆卸，支架2与底板3呈直角固定连接，底板3上有安装孔3-1，用于螺钉与定位件安装固定。
如图2所示，定位件4正面的一端中间有螺纹孔4-1，两旁有弧形调节孔4-2，其另一端中间有螺纹孔4-1、调节孔4-2、两旁有螺纹洞4-3，其反面有凸台4-4。螺纹孔4-1用于由螺钉来调节反光镜1的角度，调节孔4-2用于由螺钉来调节反光镜1的方位，螺纹洞4-3用于由螺钉与底板3安装固定，凸台4-4用于与底座5上大孔5-3相嵌，起定位作用。
如图3所示，底座5上有呈三角分布的螺纹洞5-1，一端四角有安装孔5-2，中间有一大孔5-3。螺纹洞5-1用于由螺钉与定位件4安装固定，安装孔5-2用于由螺钉将底座5安装固定在仪器上，大孔5-3用于嵌入定位件4上的圆形凸台4-4起定位作用。
本实用新型为了保持仪器内部原来结构，因此增加的两个零件——定位件4和底座5也相应切去了其多余的部分。
如图4所示，首先将反光镜底板3由螺钉3-2通过安装孔3-1旋入定位件4上的螺纹洞4-3中安装固定；然后将螺钉4-6通过螺纹孔4-1旋入定位件4，将定位件4由螺钉4-5通过弧形调节孔4-2旋入底座5上的螺纹洞5-1中。
反光镜1的方位调试时，须将三个调节孔4-2的螺钉4-5旋松，使定位件4在底座5上面作小幅度转动，直至使反光镜1处于最佳方位。反光镜1的角度调试时，须旋动上个螺纹孔4-1中的螺钉4-6，以调节其顶在底座5上面的高度，直至反光镜1处于最佳角度时，再旋紧三个调节孔4-2中的螺钉4-5，使定位件4固定连接在底座5上。
权利要求1.一种反光镜角度方位的调节装置，由反光镜、支架、底板，其特征是还有定位件、底座构成；其中定位件正面的一端中间有螺纹孔、两旁有弧形调节孔，其另一端中间有螺纹孔、调节孔，两旁有螺纹洞，其反面有圆形凸台；其中底座上面有呈三角分布的螺纹洞，一端四角有安装孔，中间有一大孔；其中底板由螺钉通过安装孔旋入定位件上的螺纹洞固定连接，定位件反面凸台与底座上大孔相嵌，由螺钉通过调节孔旋入底座上的螺纹洞固定连接，底座由螺钉通过安装孔固定连接在仪器上。
专利摘要本实用新型提供一种反光镜角度方位的调节装置，由反光镜、支架、底板，还有定位件、底座构成；其中定位件正面的一端中间有螺纹孔、两旁有弧形调节孔，其另一端中间有螺纹孔、调节孔，两旁有螺纹洞，其反面有圆形凸台；其中底座上面有呈三角分布的螺纹洞，一端四角有安装孔，中间有一大孔；其中底板由螺钉通过安装孔旋入定位件上的螺纹洞固定连接，定位件反面凸台与底座上大孔相嵌，由螺钉通过调节孔旋入底座上的螺纹洞固定连接，底座由螺钉通过安装孔固定连接在仪器上。本实用新型使光度计光学系统的光轴定位调试方便、精确。
文档编号G02B7/182GK2682436SQ200420020430
公开日2005年3月2日 申请日期2004年2月26日 优先权日2004年2月26日
发明者杜志芳 申请人:上海精密科学仪器有限公司