技术总结
本公开提供了一种短路棒结构及其制作方法以及薄膜晶体管(TFT)。所述短路棒结构包括：测试线；检测探针接触部分，与测试线相连，用于与检测探针接触；至少一个PN结结构，位于测试线与至少一根待测线之间，使测试信号沿从所述测试线至所述待测线的方向单向导通。
技术研发人员：王勇;朱载荣;郭宏雁;于洋;郑尧燮;谢宗添;蒋增杨;汤存对;吴怀亮
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司;福州京东方光电科技有限公司
文档号码：201710009041
技术研发日：2017.01.06
技术公布日：2017.05.24