设条件具体以为像素电极电位与第一固定电平的差值满足预设值，即步骤S3中重复执行步骤SI和步骤S2，直至像素电极电位与第一固定电平的差值满足预设值，预设值与设计时对残像问题的最低要求标准有关，可以通过经验或实验确定。
[0077]为便于本领域普通技术人员理解实现上述残像测试及消除方法，下面结合具体实施例进行详细介绍:
[0078]步骤一、长时间(I小时)显示如图4所示测试画面，显示画面沿着数据线方向颜色一致；
[0079]步骤二、打开所有的栅线，并向数据线输出接地信号(GND信号)，加载GND信号时间应该足够长，能使像素电极上的电压同数据线上电压基本相同；
[0080]步骤三、关闭所有的栅线，并使原本连接源极驱动电路的数据线与公共电压短接，确保数据线与公共电极二者不存在压差，然后将数据线悬空。此处数据线悬空的含义为数据线不再接收数据信号，改而作为残像问题的信号采集的传输线使用。
[0081]步骤四、打开面板上的所有栅线，使数据线跟像素电极相导通，使用数据线及像素电极作为堆积离子的测试传感器；由于液晶面板内离子堆积会使悬空的数据线及像素电极上产生感应电压，测试数据线及像素电极上产生的感应电压(即像素电极上的电位信息)，即可获得有关残像问题的信息。
[0082]步骤五、根据像素电极上产生的感应电压的极性跟大小对原始灰阶电压进行反补偿，来抵消这部分离子堆积的电压偏量，从而削弱或消除残像现象。
[0083]本步骤中的反补偿指，如果像素电极上产生的感应电压的极性为正，像素电极电位比第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个感应电压的大小；如果像素电极上产生的感应电压的极性为负，像素电极电位比第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个感应电压的大小。
[0084]本实施例提供的上述测试方法，由于步骤二已经将像素内存储电荷已经释放掉，像素盒内残留的电荷电场产生电场，数据线作为传感单元(此时，需要切断数据线主动输出电平的功能，一般是将数据线输入悬空)连通像素电极，即可将像素内残留电荷产生的电场反映出来。如果步骤二中向数据线输出的不是接地信号(GND信号)，而是其它固定电平信号，则在步骤五像素电极上产生的感应电压需要先减去这个固定电平信号，再根据得到的差值的正负及大小对原始灰阶电压进行反补偿，抵消离子堆积的电压偏量，削弱或消除残像现象。
[0085]本实施例提供的上述测试方法，还可包括:重复测试、调整灰阶电压直至解决离子堆积问题(即残像现象)。因为测试时对液晶盒内残像电场感应的精准度可能存在误差，需要通过判定检测出来的电压信号是否小于一预设值来决定是否继续重复测试、调整灰阶电压的步骤，该预设值需要一般根据客户端对残像的容忍差异决定。
[0086]本发明实施例提供一种残像测试、消除方法，通过测量面板材料上离子积累极性和大小，通过反向补偿正负灰阶电压与公共极电压差，快速有效的解决面板显示残留的问题。
[0087]将原来残像测试中的光学问题转换到电学领域进行测量，反馈迅速、准确度高，并可实现自动化测量、调整功能，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。
[0088]实施例二
[0089]本发明实施例提供一种残像测试装置10，如图8所示，该装置包括:播放单元11，用于使显示面板播放残像测试画面；加载单元12，用于在显示面板播放残像测试画面后，向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；获取单元13，用于通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。
[0090]本实施例播放单元11用于使显示面板播放残像测试画面，可以直接使用显示面板中驱动面板进行显示的驱动电路。加载单元12在显示面板播放残像测试画面后，向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，加载单元12的功能还可以直接通过播放单元11实现，即在显示面板播放残像测试画面后，继续播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像，因此本实施例残像测试装置10也可只包括播放单元11和获取单元13。获取单元13与数据线直接或间接相连，用于通过数据线获取所述像素电极上的电位信息并存储，然后进行必要的信息处理，例如给出面板的残像测试结果如残像等级等。
[0091]具体而言，所述获取单元包括:栅线控制模块131，用于在通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；获取模块134，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息。
[0092]在本实施例的一种优选的实施方式中，如图9所示，栅线控制模块131，还用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；所述获取单元还包括:固定电平加载模块132，用于在数据线与像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；数据输入控制模块133，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空；获取模块134，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息。
[0093]本实施例栅线控制模块131可以直接通过栅极驱动器实现；固定电平加载模块132和数据输入控制模块133功能可以直接通过源极驱动器实现。需要注意的是，数据输入控制模块133在所述第二固定电平加载结束后，使数据线输入悬空，其目的是切断数据线的主动电压输入功能，以便获取模块134通过数据线读取像素电极上的电位信息，在残像消除装置中，数据输入控制模块133直接将数据线输入切换至灰阶电压调整单元，这样获取模块134通过数据线读取像素电极上的电位信息可以直接传递给灰阶电压调整单元，灰阶电压调整单元据此进行灰阶电压调整，从而削弱或消除残像现象。
[0094]本实施例通过栅线控制模块131、固定电平加载模块132、数据输入控制模块133和获取模块134相互配合，先使数据线上达到一个恒定的电平准位，再通过数据线采集像素电极上的电位信息，能够排除公共电压线上电压对测试的影响，增加测试精确度。
[0095]可选地，上述第一固定电平信号为接地电压信号，上述第二固定电平信号为公共电压信号。直接利用已有信号，便于连接，不需要增加新的信号线，并且后续计算也比较方便。
[0096]优选地，所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致，能够避免相连像素相互影响，提高测试准确度。
[0097]本发明实施例还提供一种残像消除装置，如图10所示，该残像消除装置包括:上述任一项所述的残像测试装置10 ;灰阶电压调整单元20，用于根据所述残像测试装置获得的电位信息对灰阶电压进行调整。
[0098]进一步地，所述残像消除装置10还包括:终止单元30，用于在像素电极的电位信息满足预设条件时，关闭残像测试装置10和灰阶电压调整单元20。
[0099]如果残像测试装置10的获取单元通过先使数据线上达到一个恒定的电平准位，再通过数据线采集像素电极上的电位信息的方式工作，即获取单元包括上述的栅线控制模块、固定电平加载模块、数据输入控制模块和获取模块，则所述灰阶电压调整单元对应包括:比较模块，用于将获得的所述电位信息与第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；灰阶电压调整模块，用于如果像素电极电位比第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个差值；如果像素电极电位比第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个差值。此时，终止测试和灰阶电压调整的条件为:像素电极电位与第一固定电平的差值满足预设值。
[0100]本发明实施例提供的残像测试、消除装置，通过数据线获取像素电极上的电位信息，并据此进行残像等级判定和修正。由于本发明实施例将原来残像测试中的光学问题转换到电学领域进行测量，发明实施例提供的残像测试、消除装置具有反馈迅速、准确度高的优势，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。
[0101]本说明书中的各个实施例均采