用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于设备实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
[0102]本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory, ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory, RAM)等。
[0103]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种残像测试方法，其特征在于，包括: 显示面板播放残像测试画面； 向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号； 通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。2.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息，具体为: 打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，所述数据线输出的信号即为所述像素电极上的电位信息。3.根据权利要求1或2所述的残像测试方法，其特征在于，所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，还包括: 断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平； 然后，将所述数据线悬空。4.根据权利要求3所述的残像测试方法，其特征在于， 所述第二固定电平信号为公共电压信号。5.根据权利要求1或2所述的残像测试方法，其特征在于，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，具体为: 打开所述显示面板上的所有栅线，通过数据线向像素电极加载第一固定电平信号。6.根据权利要求5所述的残像测试方法，其特征在于，所述第一固定电平信号为接地电压信号。7.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于， 所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。8.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号通过如下方式实现: 设定显示面板播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。9.一种残像消除方法，其特征在于，包括: 步骤S1、通过权利要求1-7任一项所述的残像测试方法获取像素电极的电位信息； 步骤S2、根据获得的电位信息对灰阶电压进行调整。10.根据权利要求9所述的残像消除方法，其特征在于，重复执行步骤SI和步骤S2，直至像素电极的电位信息满足预设条件。11.根据权利要求9或10所述的残像消除方法，其特征在于，获取像素电极的电位信息时，如果采用下述方式:先断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平，然后再将所述数据线悬空；打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；则步骤S2具体包括: 将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值； 对灰阶电压进行调整:如果所述像素电极电位比所述第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个所述差值；如果所述像素电极电位比所述第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个所述差值。12.根据权利要求9或10所述的残像消除方法，其特征在于，步骤S2中通过调整伽马电压来调整所述灰阶电压。13.根据权利要求10所述的残像消除方法，其特征在于，所述像素电极的电位信息满足预设条件，具体为: 所述像素电极电位与所述第一固定电平的差值满足预设值。14.一种残像测试装置，其特征在于，包括: 播放单元，用于使显示面板播放残像测试画面； 加载单元，用于在显示面板播放残像测试画面后，向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号； 获取单元，用于通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。15.根据权利要求14所述的残像测试装置，其特征在于，所述获取单元包括: 栅线控制模块，用于在通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通； 获取模块，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息。16.根据权利要求13所述的残像测试装置，其特征在于，所述栅线控制模块，还用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；所述获取单元还包括: 固定电平加载模块，用于在所述数据线与所述像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平； 数据输入控制模块，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空。17.根据权利要求16所述的残像测试装置，其特征在于， 所述第二固定电平信号为公共电压信号。18.根据权利要求14所述的残像测试装置，其特征在于，所述第一固定电平信号为接地电压信号。19.根据权利要求14所述的残像测试装置，其特征在于， 所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。20.根据权利要求19所述的残像测试装置，其特征在于，所述加载单元具体用于:向显示面板加载各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。21.一种残像消除装置，其特征在于，包括: 权利要求14-20任一项所述的残像测试装置； 灰阶电压调整单元，用于根据所述残像测试装置获得的电位信息对灰阶电压进行调整。22.根据权利要求21所述的残像消除装置，其特征在于，还包括: 终止单元，用于在像素电极的电位信息满足预设条件时，关闭所述残像测试装置和所述灰阶电压调整单元。23.根据权利要求21或22所述的残像消除装置，其特征在于，所述残像测试装置的获取单元包括: 栅线控制模块，用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通， 固定电平加载模块，用于在所述数据线与所述像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平， 数据输入控制模块，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空， 获取模块，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；所述灰阶电压调整单元，具体包括: 比较模块，用于将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值， 灰阶电压调整模块，用于如果所述像素电极电位比所述第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个所述差值；如果所述像素电极电位比所述第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个所述差值。24.根据权利要求22所述的残像消除装置，其特征在于，所述像素电极的电位信息满足预设条件，具体为: 所述像素电极电位与所述第一固定电平的差值满足预设值。
【专利摘要】本发明实施例公开了一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，涉及显示领域，能够解决现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。本发明的残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。
【IPC分类】G02F1/13, G09G3/36
【公开号】CN104950494
【申请号】CN201510450701
【发明人】张 浩, 孙伟, 时凌云, 孙海威
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方光电科技有限公司
【公开日】2015年9月30日
【申请日】2015年7月28日