一种集成式框架类芯片产品切断测试装置的制作方法

本发明涉及一种机械装置，尤其涉及一种集成式框架类芯片产品切断测试装置。

背景技术：

现有集成电路的芯片产品，如桥式整流器，在生产时采用双排镜向交错排列形成芯片框架，其主要目的是为了节约铜材消耗及提高生产效率，由于芯片框架在模切后分离的芯片产品是相对放置，因此，芯片产品引脚朝向相反，需要操作人员手动将其收集调整位置使得芯片产品引脚朝向一致，随后将芯片产品放置于测试机构内进行测试，由于切断与测试分离，导致工时延长，效率降低。鉴于以上缺陷，实有必要设计一种集成式框架类芯片产品切断测试装置。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题在于：提供一种集成式框架类芯片产品切断测试装置，来解决框架类芯片切断与测试分离导致品质受控难，效率低的问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：一种集成式框架类芯片产品切断测试装置，包括机架、下托板、立柱、上托板、伺服增压缸、切断模具、进料轨道、旋转轨道、过渡轨道、推料机构、抓料机构、测试机构、斜台、分料机构、送管机构、料管、测试仪、控制器，所述的下托板位于机架内侧上端，所述的下托板与机架螺纹相连，所述的立柱位于下托板上端，所述的立柱与下托板螺纹相连，所述的上托板位于立柱上端，所述的上托板与立柱螺纹相连，所述的伺服增压缸位于上托板上端，所述的伺服增压缸与上托板螺纹相连，所述的切断模具位于下托板上端且位于伺服增压缸下端，所述的切断模具与下托板螺纹相连且与伺服增压缸螺纹相连，所述的进料轨道位于下托板上端且位于切断模具右侧，所述的进料轨道与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的旋转轨道位于下托板上端且位于切断模具左侧，所述的旋转轨道与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的过渡轨道位于下托板上端且位于旋转轨道左侧，所述的过渡轨道与下托板螺纹相连且与旋转轨道活动相连，所述的推料机构固连于下托板，所述的抓料机构固连于下托板，所述的测试机构位于过渡轨道左侧，所述的测试机构与过渡轨道螺纹相连，所述的斜台位于机架左侧，所述的斜台与机架螺纹相连，所述的分料机构位于斜台上端且位于测试机构下端，所述的分料机构与斜台螺纹相连且与测试机构活动相连，所述的送管机构位于斜台上端且位于分料机构下端，所述的送管机构与斜台螺纹相连且与分料机构活动相连，所述的料管放置于送管机构内，所述的测试仪位于机柜内侧下端，所述的测试仪与机柜活动相连，所述的机柜还设有控制器，所述的控制器与机柜螺纹相连；

所述的旋转轨道还包括支撑板、轨道板、旋转气缸、转动板、盖板、钢球，所述的支撑板位于下托板上端且位于切断模具左侧，所述的支撑板与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的轨道板位于支撑板上端，所述的轨道板与支撑板螺纹相连，所述的旋转气缸位于轨道板下端，所述的旋转气缸与轨道板螺纹相连，所述的转动板位于旋转气缸上端且位于轨道板上端，所述的转动板与旋转气缸螺纹相连且与轨道板活动相连，所述的盖板位于轨道板上端，所述的盖板与轨道板螺纹相连，所述的钢球嵌入转动板，所述的钢球与转动板弹性相连，旋转气缸带动转动板转动180°，即可将转动板上的芯片产品转动180°，从而使得该芯片产品引脚与限位槽内的芯片产品引脚方向一致，钢球用于定位，保证旋转精度；

所述的推料机构还包括第一气缸、杆组、第一导向机构、第一滑块、沿第一滑块平行布置的2件推料杆、第二导向机构、第二滑块、连接杆、第三导向机构、第三滑块、第二气缸、拨料板，所述的第一气缸位于下托板下端，所述的第一气缸与下托板铰链相连，所述的杆组位于下托板上端且位于第一气缸上端，所述的杆组与下托板活动相连且与第一气缸铰链相连，所述的第一导向机构位于下托板上端且位于切断模具右侧，所述的第一导向机构与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的第一导向机构贯穿第一滑块，所述的第一滑块与第一导向机构滑动相连，所述的推料杆位第一滑块左侧，所述的推料杆与第一滑块螺纹相连，所述的第二导向机构位于下托板上端且位于切断模具右侧，所述的第二导向机构与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的第二滑块被第二导向机构贯穿且位于第一滑块一侧，所述的第二滑块与第二导向机构间隙相连且与第一滑块螺纹相连，所述的连接杆位于第二滑块底部，所述的连接杆与第二滑块螺纹相连，所述的第三导向机构位于下托板上端且位于切断模具左侧，所述的第三导向机构与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的第三滑块被第三导向机构贯穿且位于连接杆上端，所述的第三滑块与第三导向机构滑动相连且与连接杆螺纹相连，所述的第二气缸位于第三滑块上端，所述的第二气缸与第三滑块螺纹相连，所述的拨料板位于第二气缸上端且位于旋转轨道上端，所述的拨料板与第二气缸螺纹相连且与旋转轨道活动相连，第一气缸通过杆组带动第一滑块沿第一导向机构前移，从而带动推料杆将切断模具切断的芯片产品推入旋转轨道，同时，由于第一滑块与第二滑块固连，第一滑块前移时带动第二滑块沿第二导向机构前移，同时，第二气缸带动拨料板下移，设置于拨料板上的拨料销插入盖板上的拨料槽内，将芯片产品推入过渡轨道，随后第一气缸和第二气缸复位；

所述的抓料机构还包括第三气缸、导向座、第四气缸、移动板、框架、沿框架平行布置的2件分料板，所述的第三气缸位于下托板上端且位于切断模具外侧，所述的第三气缸与下托板螺纹相连且与切断模具活动相连，所述的导向座位于第三气缸一侧且位于下托板上端，所述的导向座与第三气缸螺纹相连且与下托板滑动相连，所述的第四气缸位于导向座上端，所述的第四气缸与导向座螺纹相连，所述的移动板位于第四气缸上端，所述的移动板与第四气缸螺纹相连，所述的框架位于移动板一侧，所述的框架与移动板螺纹相连，所述的分料板位于移动板一侧且伸入切断模具，所述的分料板与移动板螺纹相连且与切断模具活动相连，第三气缸推动导向座前移到位后，第四气缸带动与移动板固连的框架下移，设置在分料板上的分料齿插入芯片框架内侧相邻芯片产品间的空隙内，随后，第三气缸带动导向座复位，从而将芯片框架按相同的步距送入切断模具内，随后，第四气缸复位，从而带动分料板复位。

本发明进一步的改进如下：

进一步的，所述的轨道板还设有限位槽，所述的限位槽不贯穿轨道板。

进一步的，所述的轨道板还设有料槽，所述的料槽位于轨道板上端，所述的料槽不贯穿轨道板。

进一步的，所述的盖板还设有拨料槽，所述的拨料槽贯穿盖板，所述的拨料槽数量为2件，对称布置于盖板。

进一步的，所述的拨料板还设有拨料销，所述的拨料销位于拨料板下端，所述的拨料销与拨料板螺纹相连。

进一步的，所述的分料板还设有分料齿，所述的分料齿位于分料板下端，所述的分料齿与分料板一体相连。

进一步的，所述的分料齿数量为8件，所述的分料齿等间距布置于分料板。

进一步的，所述的测试机构还包括测试轨道、测试电极、沿测试轨道平行布置的2件导向柱、上压板、上绝缘压头、下压板、下绝缘压头、底板、第五气缸，所述的测试轨道位于过渡轨道左侧，所述的测试轨道与过渡轨道螺纹相连，所述的测试电极位于测试轨道外侧，所述的测试电极与测试轨道螺纹相连且与测试仪电相连，所述的导向柱贯穿测试轨道，所述的导向柱与测试轨道间隙相连，所述的上压板位于导向柱上端且位于测试轨道上端，所述的上压板与导向柱螺纹相连且与测试轨道活动相连，所述的上绝缘压头位于上压板外侧，所述的上绝缘压头与上压板螺纹相连，所述的下压板位于导向柱下端且位于测试轨道下端，所述的下压板与导向柱间隙相连且与测试轨道活动相连，所述的下绝缘压头位于下压板上端，所述的下绝缘压头与下压板螺纹相连，所述的底板位于导向柱下端，所述的底板与导向柱螺纹相连，所述的第五气缸位于底板一侧且位于下压板一侧，所述的第五气缸与底板螺纹相连且与下压板螺纹相连，第五气缸工作，推动上压板与下压板沿导向柱相对运动，从而带动上绝缘压头和下绝缘压头将测试电极与测试轨道内的芯片产品引脚压合，测试仪进而对芯片产品进行检测。

进一步的，所述的测试电极数量为10组，对称布置于测试轨道。

与现有技术相比，该集成式框架类芯片产品切断测试装置，工作时，载有芯片产品的芯片框架放置于进料轨道上，控制器控制抓料机构将芯片框架送入切断模具内，随后，伺服增压缸推动切断模具将芯片产品从芯片框架上切下，随后，伺服增压缸复位，推料机构将芯片产品经过渡轨道推入旋转轨道，旋转轨道将其中一颗芯片产品旋转180°，使得两芯片产品引脚同向，随后，芯片产品进入测试轨道，测试机构与测试仪配合对芯片产品进行检测，分料机构根据检测结果将芯片产品送入不同的料管内，当合格区内的料管装满后，送管机构将空料管送入设定位置。该装置结构简单，自动将切断后的框架类芯片产品进行旋转、测试，极大降低操作人员劳动强度，提高生产效率，提高产品品质的稳定性。

附图说明

图1示出本发明三维图

图2示出本发明旋转轨道结构示意图

图3示出本发明轨道板俯视图

图4示出本发明盖板俯视图

图5示出本发明推料机构三维图

图6示出本发明抓料机构三维图

图7示出本发明测试机构三维图

机架 1 下托板 2

立柱 3 上托板 4

伺服增压缸 5 切断模具 6

进料轨道 7 旋转轨道 8

过渡轨道 9 推料机构 10

抓料机构 11 测试机构 12

斜台 13 分料机构 14

送管机构 15 料管 16

测试仪 17 控制器 18

支撑板 801 轨道板 802

旋转气缸 803 转动板 804

盖板 805 钢球 806

限位槽 807 料槽 808

拨料槽 809 第一气缸 1001

杆组 1002 第一导向机构 1003

第一滑块 1004 推料杆 1005

第二导向机构 1006 第二滑块 1007

连接杆 1008 第三导向机构 1009

第三滑块 1010 第二气缸 1011

拨料板 1012 拨料销 1013

第三气缸 1101 导向座 1102

第四气缸 1103 移动板 1104

框架 1105 分料板 1106

分料齿 1107 测试轨道 1201

测试电极 1202 导向柱 1203

上压板 1204 上绝缘压头 1205

下压板 1206 下绝缘压头 1207

底板 1208 第五气缸 1209

具体实施方式

如图1、图2、图3、图4、图5、图6、图7所示，一种集成式框架类芯片产品切断测试装置，包括机架1、下托板2、立柱3、上托板4、伺服增压缸5、切断模具6、进料轨道7、旋转轨道8、过渡轨道9、推料机构10、抓料机构11、测试机构12、斜台13、分料机构14、送管机构15、料管16、测试仪17、控制器18，所述的下托板2位于机架1内侧上端，所述的下托板2与机架1螺纹相连，所述的立柱3位于下托板2上端，所述的立柱3与下托板2螺纹相连，所述的上托板4位于立柱3上端，所述的上托板4与立柱3螺纹相连，所述的伺服增压缸5位于上托板4上端，所述的伺服增压缸5与上托板4螺纹相连，所述的切断模具6位于下托板2上端且位于伺服增压缸5下端，所述的切断模具6与下托板2螺纹相连且与伺服增压缸5螺纹相连，所述的进料轨道7位于下托板2上端且位于切断模具6右侧，所述的进料轨道7与下托板2螺纹相连且与切断模具6活动相连，所述的旋转轨道8位于下托板2上端且位于切断模具6左侧，所述的旋转轨道8与下托板2螺纹相连且与切断模具6活动相连，所述的过渡轨道9位于下托板2上端且位于旋转轨道8左侧，所述的过渡轨道9与下托板2螺纹相连且与旋转轨道8活动相连，所述的推料机构10固连于下托板2，所述的抓料机构11固连于下托板2，所述的测试机构12位于过渡轨道9左侧，所述的测试机构12与过渡轨道9螺纹相连，所述的斜台13位于机架1左侧，所述的斜台13与机架1螺纹相连，所述的分料机构14位于斜台13上端且位于测试机构12下端，所述的分料机构14与斜台13螺纹相连且与测试机构12活动相连，所述的送管机构15位于斜台13上端且位于分料机构14下端，所述的送管机构15与斜台13螺纹相连且与分料机构14活动相连，所述的料管16放置于送管机构15内，所述的测试仪17位于机柜1内侧下端，所述的测试仪17与机柜1活动相连，所述的机柜1还设有控制器18，所述的控制器18与机柜1螺纹相连，所述的旋转轨道8还包括支撑板801、轨道板802、旋转气缸803、转动板804、盖板805、钢球806，所述的支撑板801位于下托板2上端且位于切断模具6左侧，所述的支撑板801与下托板2螺纹相连且与切断模具6活动相连，所述的轨道板802位于支撑板801上端，所述的轨道板802与支撑板801螺纹相连，所述的旋转气缸803位于轨道板802下端，所述的旋转气缸803与轨道板802螺纹相连，所述的转动板804位于旋转气缸803上端且位于轨道板802上端，所述的转动板804与旋转气缸803螺纹相连且与轨道板802活动相连，所述的盖板805位于轨道板802上端，所述的盖板805与轨道板802螺纹相连，所述的钢球806嵌入转动板804，所述的钢球806与转动板804弹性相连，旋转气缸803带动转动板804转动180°，即可将转动板804上的芯片产品转动180°，从而使得该芯片产品引脚与限位槽807内的芯片产品引脚方向一致，钢球806用于定位，保证旋转精度，所述的推料机构10还包括第一气缸1001、杆组1002、第一导向机构1003、第一滑块1004、沿第一滑块1004平行布置的2件推料杆1005、第二导向机构1006、第二滑块1007、连接杆1008、第三导向机构1009、第三滑块1010、第二气缸1011、拨料板1012，所述的第一气缸1001位于下托板2下端，所述的第一气缸1001与下托板2铰链相连，所述的杆组1002位于下托板2上端且位于第一气缸1001上端，所述的杆组1002与下托板2活动相连且与第一气缸1001铰链相连，所述的第一导向机构1003位于下托板2上端且位于切断模具6右侧，所述的第一导向机构1003与下托板2螺纹相连且与切断模具6活动相连，所述的第一导向机构1003贯穿第一滑块1004，所述的第一滑块1004与第一导向机构1003滑动相连，所述的推料杆1005位第一滑块1004左侧，所述的推料杆1005与第一滑块1004螺纹相连，所述的第二导向机构1006位于下托板2上端且位于切断模具3右侧，所述的第二导向机构1006与下托板2螺纹相连且与切断模具6活动相连，所述的第二滑块1007被第二导向机构1006贯穿且位于第一滑块1004一侧，所述的第二滑块1007与第二导向机构1006间隙相连且与第一滑块1004螺纹相连，所述的连接杆1008位于第二滑块1007底部，所述的连接杆1008与第二滑块1007螺纹相连，所述的第三导向机构1009位于下托板2上端且位于切断模具6左侧，所述的第三导向机构1009与下托板2螺纹相连且与切断模具6活动相连，所述的第三滑块1010被第三导向机构1009贯穿且位于连接杆1008上端，所述的第三滑块1010与第三导向机构1009滑动相连且与连接杆1008螺纹相连，所述的第二气缸1011位于第三滑块1010上端，所述的第二气缸1011与第三滑块1010螺纹相连，所述的拨料板1012位于第二气缸1011上端且位于旋转轨道8上端，所述的拨料板1012与第二气缸1011螺纹相连且与旋转轨道8活动相连，第一气缸1001通过杆组1002带动第一滑块1004沿第一导向机构1003前移，从而带动推料杆1005将切断模具6切断的芯片产品推入旋转轨道8，同时，由于第一滑块1004与第二滑块1007固连，第一滑块1004前移时带动第二滑块1007沿第二导向机构1006前移，同时，第二气缸1011带动拨料板1012下移，设置于拨料板1012上的拨料销1013插入盖板805上的拨料槽809内，将芯片产品推入过渡轨道9，随后第一气缸1001和第二气缸1011复位，所述的抓料机构11还包括第三气缸1101、导向座1102、第四气缸1103、移动板1104、框架1105、沿框架1105平行布置的2件分料板1106，所述的第三气缸1101位于下托板2上端且位于切断模具6外侧，所述的第三气缸1101与下托板2螺纹相连且与切断模具6活动相连，所述的导向座1102位于第三气缸1101一侧且位于下托板2上端，所述的导向座1102与第三气缸1101螺纹相连且与下托板2滑动相连，所述的第四气缸1103位于导向座1102上端，所述的第四气缸1103与导向座1102螺纹相连，所述的移动板1104位于第四气缸1103、上端，所述的移动板1104与第四气缸1103、螺纹相连，所述的框架1105位于移动板1104一侧，所述的框架1105与移动板1104螺纹相连，所述的分料板1106位于移动板1104一侧且伸入切断模具6，所述的分料板1106与移动板1104螺纹相连且与切断模具6活动相连，第三气缸1101推动导向座1102前移到位后，第四气缸1103带动与移动板1104固连的框架1105下移，设置在分料板1106上的分料齿1107插入芯片框架内侧相邻芯片产品间的空隙内，随后，第三气缸1101带动导向座1102复位，从而将载有芯片产品的芯片框架按相同的步距送入切断模具6内，随后，第四气缸1103复位，从而带动分料板1106复位，所述的轨道板802还设有限位槽807，所述的限位槽807不贯穿轨道板802，所述的轨道板802还设有料槽808，所述的料槽808位于轨道板802上端，所述的料槽808不贯穿轨道板802，所述的盖板805还设有拨料槽809，所述的拨料槽809贯穿盖板805，所述的拨料槽809数量为2件，对称布置于盖板805，所述的拨料板1012还设有拨料销1013，所述的拨料销1013位于拨料板1012下端，所述的拨料销1013与拨料板1012螺纹相连，所述的分料板1106还设有分料齿1107，所述的分料齿1107位于分料板1106下端，所述的分料齿1107与分料板1106一体相连，所述的分料齿1107数量为8件，所述的分料齿1107等间距布置于分料板1106，所述的测试机构12还包括测试轨道1201、测试电极1202、沿测试轨道1201平行布置的2件导向柱1203、上压板1204、上绝缘压头1205、下压板1206、下绝缘压头1207、底板1208、第五气缸1209，所述的测试轨道1201位于过渡轨道9左侧，所述的测试轨道1201与过渡轨道9螺纹相连，所述的测试电极1202位于测试轨道1201外侧，所述的测试电极1202与测试轨道1201螺纹相连且与测试仪17电相连，所述的导向柱1203贯穿测试轨道1201，所述的导向柱1203与测试轨道1201间隙相连，所述的上压板1204位于导向柱1203上端且位于测试轨道1201上端，所述的上压板1204与导向柱1203螺纹相连且与测试轨道1201活动相连，所述的上绝缘压头1205位于上压板1204外侧，所述的上绝缘压头1205与上压板1204螺纹相连，所述的下压板1206位于导向柱1203下端且位于测试轨道1201下端，所述的下压板1206与导向柱1203间隙相连且与测试轨道1201活动相连，所述的下绝缘压头1207位于下压板1206上端，所述的下绝缘压头1207与下压板1206螺纹相连，所述的底板1208位于导向柱1203下端，所述的底板1208与导向柱1203螺纹相连，所述的第五气缸1209位于底板1208一侧且位于下压板1206一侧，所述的第五气缸1209与底板1208螺纹相连且与下压板1206螺纹相连，第五气缸1209工作，推动上压板1204与下压板1206沿导向柱1203相对运动，从而带动上绝缘压头1205和下绝缘压头1207将测试电极1202与测试轨道1201内的芯片产品引脚压合，测试仪17进而对芯片产品进行检测，所述的测试电极数量为10组，对称布置于测试轨道，该集成式框架类芯片产品切断测试装置，工作时，载有芯片产品的芯片框架放置于进料轨道7上，控制器18控制抓料机构11将芯片框架送入切断模具内，随后，伺服增压缸5推动切断模具6将芯片产品从芯片框架上切下，随后，伺服增压缸5复位，推料机构10将芯片产品经过渡轨道9推入旋转轨道8，旋转轨道8将其中一颗芯片产品旋转180°，使得两芯片产品引脚同向，随后，芯片产品进入测试轨道1201，测试机构12与测试仪17配合对芯片产品进行检测，分料机构14根据检测结果将芯片产品送入不同的料管16内，当合格区内的料管16装满后，送管机构15将空料管送入设定位置。该装置结构简单，自动将切断后的框架类芯片产品进行旋转、测试，极大降低操作人员劳动强度，提高生产效率，提高产品品质的稳定性。

本发明不局限于上述具体的实施方式，本领域的普通技术人员从上述构思出发，不经过创造性的劳动，所做出的种种变换，均落在本发明的保护范围之内。