一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备的制造方法_2

文档序号:10288648阅读:来源:国知局
32串口逻辑电平转换电路:标准RS232的电平EIA-RS-232C对电器特性、逻辑电平和各种信号线功能都作了规定。在TxD和RxD上:逻辑1(1^狀)=-3¥?-15¥,逻辑0(SPACE)=+3?+ 15V,在RTS、CTS、DSR、DTR和DCD等控制线上:信号有效(接通,ON状态,正电压)=+3V?+15V,信号无效(断开,OFF状态,负电压)=_3V?-15V。
[0028]由于电脑串口RS232电平是-1OV至+10V,而一般的单片机应用系统的信号电压是TTL电平O至+5V,电路中的型号为MAX232的芯片U2就是用来进行电平转换的。
[0029]单片机控制电路:单片机I/O 口P3.0、P3.1分别与MAX232芯片引脚12、11相连,单片机通过P3.0、P3.1 口接收测试软件发出的测试结果和发送测试命令给测试软件,通过Ρ0、Ρ1、Ρ3.4、Ρ3.5、Ρ3.6、Ρ3.7 发送 BIN 及 EOT 信号给分类机,P2.0、Ρ2.1、Ρ2.2、P2.3 口用于判断芯片分类机发出SOT信号,对应芯片Sitel、Site2、Site3和Site4。
[0030]该电路的工作原理:五十个引脚的第一插座Jl接芯片分类机,芯片分类机装好芯片于测试座后发送SOT信号(3011、3(^2、3(^3、3(^4分别代表一个测试工位的芯片情况,)给信号传输板(低电平有效)的光耦组IC6,进行信号隔离,再接到单片机UI的I /0 口( P2.0、P2.1、P2.2、P2.3),单片机Ul将对应测试工位的测试命令通过引脚P3.1输出串口信号至芯片U2(电平转换模块MAX323)进行电平转换(由于电脑串口RS232电平是-ΙΟν+ΙΟν,而一般的单片机应用系统的信号电压是TTL电平O +5v,电路中型号为MAX232的芯片U2就是用来进行电平转换的),芯片U2再通过九个引脚的第二插座J3接计算机,计算机上的测试软件开始测试,测试软件再将测试结果命令转化为BIN信号和EOT信号输出至单片机Ul的引脚卩3.0由单片机1]1进行接收,单片机1]1再通过引脚?0、?1、?3.4、?3.5、?3.6、?3.7发送BIN及EOT信号给芯片分类机,芯片分类机根据芯片的测试结果对芯片进行分类。
[0031]由于单片机控制电路输出的电压不够稳定,所述单片机控制电路的信号输出侧与所述芯片分类机之间设有缓冲驱动器(如图2的芯片ICl、芯片IC2、芯片IC3和芯片IC4),所述芯片IC1、芯片IC2、芯片IC3和芯片IC4的型号均是7407。
[0032]由于笔记本电脑不能与本实施例的信号传输板直接连接,无法利用笔记本电脑对信号传输板的单片机进行烧录程序,故可采用转接线JPl实现笔记本电脑与本实施例的信号传输板直接的连接,方便烧录程序时使用笔记本电脑。
[0033]最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对本实用新型保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
【主权项】
1.一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,包括计算机和芯片分类机,计算机装有测试软件,芯片分类机包括至少一个测试工位,芯片分类机用于放置待测试的芯片以及将测试完的芯片进行分类,其特征在于:还包括信号传输板,所述信号传输板包括用于实现RS232信号和TLL信号之间的转换的单片机控制电路和RS232串口逻辑电平转换电路,所述芯片分类机的芯片到位信号输出端与单片机控制电路的芯片到位信号接收端电连接,单片机控制电路的测试信号输出端与所述RS232串口逻辑电平转换电路的第一信号输入端电连接,RS232串口逻辑电平转换电路的第一信号输出端与计算机的测试输入端电连接,计算机的测试结果输出端与单片机控制电路的测试结果信号接收端电连接,单片机控制电路的测试结果信号输出端与芯片分类机的测试结果接收端电连接。2.如权利要求1所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述芯片分类机与单片机控制电路的信号输入侧之间设有信号隔离电路。3.如权利要求2所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述信号隔离电路包括光电耦合器。4.如权利要求1所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述单片机控制电路的信号输出侧与所述芯片分类机之间设有缓冲驱动器。5.如权利要求4所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述缓冲驱动器包括型号为7407的芯片。6.如权利要求1所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述RS232串口逻辑电平转换电路包括型号为MAX232的芯片。7.如权利要求1所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述单片机控制电路连接有第一插座,所述第一插座与芯片分类机电连接。8.如权利要求7所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述第一插座包括五十个引脚。9.如权利要求1所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述RS232串口逻辑电平转换电路连接有第二插座,所述第二插座与计算机电连接。10.如权利要求9所述的一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,其特征在于:所述第二插座包括九个引脚。
【专利摘要】一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备,涉及芯片测试技术领域,其结构包括芯片分类机、安装有测试软件的计算机以及用于实现RS232信号和TLL信号之间的转换的单片机控制电路和RS232串口逻辑电平转换电路,芯片分类机的芯片到位信号输出端与单片机控制电路的芯片到位信号接收端电连接,单片机控制电路的测试信号输出端与所述RS232串口逻辑电平转换电路的第一信号输入端电连接,RS232串口逻辑电平转换电路的第一信号输出端与计算机的测试输入端电连接,计算机的测试结果输出端与单片机控制电路的测试结果信号接收端电连接,单片机控制电路的测试结果信号输出端与芯片分类机的测试结果接收端电连接,可供软件工程师编写软件后实现测试软件(计算机端)与芯片分类机直接通讯。
【IPC分类】G01R31/26, B07C5/344
【公开号】CN205199969
【申请号】CN201520855796
【发明人】郑挺
【申请人】广东利扬芯片测试股份有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年10月30日
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