专利名称:一种石英晶体谐振器的测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种石英晶体谐振器的测试装置，它包括装置本体（1）、测试台（2）、两个测试头（4），所述的装置本体（1）包括底座（5）和顶部支架（6），所述的顶部支架（6）上设置有与测试头（4）相配合的矩形槽（7），所述的测试台（2）底部设置有与其相配合的滑轨（3），滑轨（3）的底部固定安装在底座（5）上，所述的测试头（4）设置于矩形槽（7）内；所述的底座（5）内部设置有测试电路。本实用新型进行测试的时候，待测石英晶体谐振器放置在测试台（2）上，通过滑轨（3）调节测试台（2）的位置，通过矩形槽（7）调节测试头（4）的距离，可以对不同大小形状的待测石英晶体谐振器进行测试。
【专利说明】一种石英晶体谐振器的测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种石英晶体谐振器的测试装置。
【背景技术】
[0002]石英晶体振荡器，石英谐振器简称为晶振，它是利用具有压电效应的石英晶体片制成的。这种石英晶体薄片受到外加交变电场的作用时会产生机械振动，当交变电场的频率与石英晶体的固有频率相同时，振动便变得很强烈，这就是晶体谐振特性的反应。利用这种特性，就可以用石英谐振器取代LC(线圈和电容)谐振回路、滤波器等。由于石英谐振器具有体积小、重量轻、频率的准确性高及稳定性高的特点，在现代电子行业如通讯、电脑、娱乐设备及其它我们所涉及的领域是不可缺少的一部分。
[0003]在石英晶体振荡器的生产过程中，测试是不可缺少的一道工序，然而现有的对石英晶体谐振器的测试中，不能提供一种可以针对不同大小的石英晶体振荡器进行测试的测试装置。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种测试台和测试头可以调节位置的石英晶体谐振器的测试装置，解决现有技术无法对不同大小的石英晶体谐振器进行测试的问题。
[0005]本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种石英晶体谐振器的测试装置，它包括装置本体、测试台、两个测试头，所述的装置本体包括底座和顶部支架，所述的顶部支架上设置有与测试头相配合的矩形槽，所述的测试台底部设置有与其相配合的滑轨，滑轨的底部固定安装在底座上，所述的测试头设置于矩形槽内；所述的底座内部设置有测试电路。
[0006]所述的测试电路包括输入衰减器和输出衰减器，所述的输入衰减器依次与待检测石英晶体谐振器Yl和输出衰减器串联。
[0007]所述的输入衰减器包括电阻R1、电阻R2和电阻R3，所述的电阻R2与电阻R3串联后与电阻Rl并联，电阻R2与电阻R3接地。
[0008]所述的输出衰减器包括电阻R4、电阻R5和电阻R6，所述的电阻R5与电阻R6串联后与电阻R4并联，电阻R5与电阻R6接地。
[0009]所述的测试电路还包括电容Cl、电容C2和电容C3，所述的电容Cl、电容C2和电容C3为由石英晶体谐振器插座和引线引入的杂散电容。
[0010]本实用新型的有益效果是:本实用新型进行测试的时候，待测石英晶体谐振器放置在测试台上，通过滑轨调节测试台的位置，通过矩形槽调节测试头的距离，可以对不同大小形状的待测石英晶体谐振器进行测试。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型外部结构示意图。
[0012]图2为本实用新型内部测试电路结构图。
[0013]图中，1-装置本体，2-测试台，3-滑轨，4-测试头，5-底座，6_支架，7_矩形槽。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。
[0015]如图1所示，一种石英晶体谐振器的测试装置，它包括装置本体1、测试台2、两个测试头4，所述的装置本体I包括底座5和顶部支架6，所述的顶部支架6上设置有与测试头4相配合的矩形槽7，所述的测试台2底部设置有与其相配合的滑轨3，滑轨3的底部固定安装在底座5上，所述的测试头4设置于矩形槽7内；所述的底座5内部设置有测试电路。
[0016]所述的测试电路包括输入衰减器和输出衰减器，所述的输入衰减器依次与待检测石英晶体谐振器Yl和输出衰减器串联。
[0017]所述的输入衰减器包括电阻R1、电阻R2和电阻R3，所述的电阻R2与电阻R3串联后与电阻Rl并联，电阻R2与电阻R3接地。
[0018]所述的输出衰减器包括电阻R4、电阻R5和电阻R6，所述的电阻R5与电阻R6串联后与电阻R4并联，电阻R5与电阻R6接地。
[0019]所述的测试电路还包括电容Cl、电容C2和电容C3，所述的电容Cl、电容C2和电容C3为由待测石英晶体谐振器与测试台2的接触部位和引线引入的杂散电容。
[0020]进行测试的时候，待测石英晶体谐振器放置在测试台2上，通过滑轨3调节测试台2的位置，通过矩形槽7调节测试头4的距离，可以对不同大小的待测石英晶体谐振器进行测试。
【权利要求】
1.一种石英晶体谐振器的测试装置，其特征在于:它包括装置本体(I)、测试台(2)、两个测试头(4)，所述的装置本体(I)包括底座(5)和顶部支架(6)，所述的顶部支架(6)上设置有与测试头(4)相配合的矩形槽(7)，所述的测试台(2)底部设置有与其相配合的滑轨(3)，滑轨(3)的底部固定安装在底座(5)上，所述的测试头(4)设置于矩形槽(7)内；所述的底座(5)内部设置有测试电路。2.根据权利要求1所述的一种石英晶体谐振器的测试装置，其特征在于:所述的测试电路包括输入衰减器和输出衰减器，所述的输入衰减器依次与待检测石英晶体谐振器Yl和输出衰减器串联。3.根据权利要求2所述的一种石英晶体谐振器的测试装置，其特征在于:所述的输入衰减器包括电阻R1、电阻R2和电阻R3，所述的电阻R2与电阻R3串联后与电阻Rl并联，电阻R2与电阻R3接地。4.根据权利要求2所述的一种石英晶体谐振器的测试装置，其特征在于:所述的输出衰减器包括电阻R4、电阻R5和电阻R6，所述的电阻R5与电阻R6串联后与电阻R4并联，电阻R5与电阻R6接地。5.根据权利要求2所述的一种石英晶体谐振器的测试装置，其特征在于:所述的测试电路还包括电容Cl、电容C2和电容C3，所述的电容Cl、电容C2和电容C3为由待测石英晶体谐振器与测试台(2)的接触部位和引线引入的杂散电容。
【文档编号】G01R31-00GK204269741SQ201420696164
【发明者】杨溢 [申请人]东晶锐康晶体（成都）有限公司