专利名称：电晶体测试模组的压入装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电晶体测试模组的压入装置，特别涉及一种可将数个电晶体同时压入电晶体测试模组中，以进行该电晶体质量测试的压入装置。
背景技术：
请参阅图5所示，为一种习见的电晶体测试模组，其具有一电路板10，于电路板10板面设有数个晶体承座30，于一选定边设有数个讯号接点20即所说的金手指，该晶体承座30是可供电晶体50简易插拔的座体，于其内部并设有讯号接点40及扣持装置与其它构件；藉此，将该电路板10以其讯号接点20插接于一主机板等其它设备，即可于所述的数个晶体承座30中置入电晶体50，以进行该电晶体50的质量测试作业。
但是，上述习知的电晶体测试模组，其测试作业必须以人工将电晶体50一一压入该晶体承座30中，因此，反复此种动作之后，往往会造成作业人员手指红肿及磨伤，成为一种职业伤害；不仅如此，其使用人工将电晶体50一一压入于晶体承座30的动作，势必造成每一测试动作前，均耗费相当的前置作业时间，难以提升测试作业的速度，无法有效的降低质量管理成本，诚非合理。
实用新型内容本实用新型的目的是要解决习知电晶体测试模组存在的测试动作前，耗费相当的前置作业时间，难以提升测试作业速度以及造成作业人员手指红肿及磨伤的问题，而提供一种可克服上述缺点的电晶体测试模组的压入装置。
本实用新型包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有至少一驱动装置。
所述的活动架可为大于电晶体压框的中空矩形架体，以供电晶体压框枢设于其中。
所述的驱动装置可为手动装置或自动装置。
本实用新型利用活动架的升降动作，以带动电晶体压框平衡升降，方便将数个电晶体一同置入及取出电晶体测试模组中进行测试工作，提高了测试速度，降低了质量管理成本。
图1为本实用新型实施例的立体示意图。
图2为本实用新型实施例的剖视示意图。
图3为本实用新型实施例的局部立体示意图。
图4为本实用新型另一实施例的剖视示意图。
图5为习知电晶体测试模组的示意图。
具体实施方式
请参阅图1、图2所示，本实用新型是可将数个电晶体同时压入电晶体测试模组中，以供电晶体测试模组进行电晶体质量测试的压入装置，其包括有一电晶体压框1、活动架2、一驱动装置3，其中电晶体压框1为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁11，分别设有数个对应习知电晶体测试模组之晶体承座30的的突块12，并令两侧的复数突块12呈相对应状；活动架2为驱动电晶体压框1平衡下压的架体，其可为大于电晶体压框1的中空矩形架体或其它形状的结构，于一端设有一枢接部21；驱动装置3为一种可产生升降动作的装置，其可为手动装置，如图1、图2、图3所示的一种手持压动的四连杆机构组，或自动装置，如图4所示的一种气压缸或其它如油压缸、电磁阀等可产生升降动作的装置。
藉此，如图1所示，电晶体压框1以其至少一侧的中间部13与活动架2枢接组装，活动架2一端的枢接部21枢设于一底座4或其它设备处，而活动架2另一端设有驱动装置3，藉此即组成本实用新型之电晶体测试模组的压入装置。
当测试人员利用本实用新型进行电晶体测试前，操作驱动装置3扳动活动架2产生下降动作，并令电晶体压框1平衡下降，以其两内侧壁11各突块12分别抵压于晶体承座30两端上，如图3所示，并藉此同时下压数个晶体承座30，以可将电晶体50一一置放于习知的电晶体测试模组的晶体承座30中，即可透过电晶体测试模组连接于主机板等设备进行测试，测试完成后，放开活动架2，可使习知晶体承座30内部所设弹性装置释放各电晶体50，即可让作业人员取出各种质量的电晶体50，并准备进行下一次的测试作业。
综上所述，本实用新型克服了习知的电晶体测试模组需人工将电晶体50一一压入晶体承座30中的缺点，可避免长时间作业所造成的手部红肿或伤害，且可加速测试程序的前置作业，故能提高测试速度，降低质量管理成本。
权利要求1.一种电晶体测试模组的压入装置，其特征在于其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有驱动装置。
2.根据权利要求1所述的一种电晶体测试模组的压入装置，其特征在于所述的活动架为大于电晶体压框的中空矩形架体。
3.根据权利要求1所述的一种电晶体测试模组的压入装置，其特征在于所述的驱动装置为手动装置或自动装置。
专利摘要本实用新型公开了一种电晶体测试模组的压入装置，其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有至少一驱动装置，本实用新型利用活动架的升降动作，以带动电晶体压框平衡升降，方便将数个电晶体一同置入及取出电晶体测试模组中进行测试工作，提高了测试速度，降低了质量管理成本，还可避免长时间作业所造成的手部红肿或伤害。
文档编号G01R31/00GK2733362SQ20042001252
公开日2005年10月12日 申请日期2004年9月23日 优先权日2004年9月23日
发明者资重兴 申请人:资重兴