掉落测试装置及其使用方法

专利名称：掉落测试装置及其使用方法
技术领域：
本发明涉及一种机器或结构部件的静或动平衡的测试，特别是涉及一种半导体晶
片封装产品的掉落测试装置及其使用方法。
背景技术：
为了确保产品在使用者操作环境及运送过程中能维持原有设计的品质，例如晶片 封装结构在封装完成之后，通常会进行最终成品测试，例如老化试验、电性试验、拉力试验、 焊球接合强度试验等，以确保其品质与可靠性，再进行组装成存储器(存储器即记忆体，本 文均称为存储器)模块(或称为模块)等电子产品，可模块化结合应用于一般日常用品中 常见的电脑主机、行动电话、数位相机、PDA等等，故对撞击与抵抗应力的特性要求更高，相 关必要测试变得更为重要。因此，业界在计算晶片封装结构或存储器模块的耐震度上，乃制 订一套严格的测试标准，例如根据封装业界标准的联合电子设备工程会议(JEDEC)所制订 的掉落试验(drop test)，以计算电子产品从高空掉落时的耐震能力。
检视现有习知的掉落试验过程中，可发现几个现象 1、试验的重复性低。难以手动定位待测试物件的高度与角度，造成每次落下的角
度及碰撞的区域可能都不相同，因此每次试验可能得到完全不相同的结果。 2、实验的成本偏高，准备时间费时由于试验的重复性低，可能需准备许多测试
品，而每次设计变更后，又必需再次准备测试品，特别是产品开发阶段，每一测试品成本单
价较高，且掉落试验属于破坏性实验，因此反复的测试将是一项材料成本负担。 3、掉落试验过程中可能发生碰撞现象，待测试物件掉落时可能发生非线性现象。 4、现有习知的掉落测试装置仅能适用单一测试条件所规范的标准，其测试参数为
固定值，例如在一固定高度H下，测试撞击时所产生的冲击波(impulse)。当待测试物件
的封装类型不同或应用环境不同时，无法改变测试条件，尤其各家厂商所使用的掉落试验
标准不相同，故每改变一种测试条件，需另行添购一套掉落测试装置，造成测试成本居高不下。 由此可见，上述现有的掉落测试装置及其使用方法在产品结构、测试方法与使用 上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂 商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产 品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问 题。因此如何能创设一种新的掉落测试装置及其使用方法，实属当前重要研发课题之一，亦 成为当前业界极需改进的目标。

发明内容
本发明的主要目的在于，克服现有的掉落测试装置存在的缺陷，而提供一种新的 掉落测试装置，所要解决的技术问题是使其能适用于不同尺寸的待测试物件、测试不同角 度的掉落表面，并且能调整不同的测试条件。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出
的掉落测试装置，包含一固定架、一掉落角度设定治具以及一夹具。该固定架是设有一滑 座，并且该滑座是具有一水平滑轨。该掉落角度设定治具是设置于该滑座上并连接有一可 调整升降的试样架，该试样架是提供一第一基准面，而该掉落角度设定治具是提供一第二 基准面，该试样架的升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置 之间，当该掉落角度设定治具在该水平滑轨的导引下作水平向移动，该第二基准面是移动 在一第二设定位置与一第二退离位置之间。当该夹具夹设一待测试物件时，在第一设定位 置的该第一基准面是可供贴触该待测试物件的一第一表面，在第二设定位置的该第二基准 面是可供贴触该待测试物件的一第二表面。 本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。 在前述掉落测试装置中，该滑座的一侧缘是可设有一第一触止块，该掉落角度设
定治具的一侧缘是连接设有一第二触止块，当该第二触止块接触该第一触止块，该第二基
准面是移动至该第二设定位置。 在前述掉落测试装置中，该第二触止块是可设有一紧迫固定件，用以固定该掉落 角度设定治具与该滑座的相对位置。 在前述掉落测试装置中，该掉落角度设定治具是可具有一调整杆与一弹性元件， 该弹性元件是提供该试样架移动朝向该第一设定位置的弹力，该调整杆是限制该试样架朝 向该第一设定位置的移动程度。 在前述掉落测试装置中，该试样架的两侧可各连接有一滑件，该掉落角度设定治 具的两侧是各设有一供该滑件垂直滑移的垂直滑轨。 在前述掉落效 滑轨的水平面。
在前述掉落领
在前述掉落领
在前述掉落领
在前述掉落效
l试装置中，该固定架的底部是可设有多个调整脚，用以调整该水平
J试装置中，该待测试物件是可为长条状的存储器模块。 J试装置中，该第一基准面与该第二基准面是可互为垂直。 J试装置中，可另包含有一夹持座，用以结合该夹具。 B式装置中，该夹具是可具有倒L形外形，以提供一第一夹面与一第
二夹面，其中该第一夹面的夹合间隙小于该第二夹面的夹合间隙并且该第一夹面相对远离 该第一基准面。 在前述掉落测试装置中，在第一设定位置的该第一基准面与在第二设定位置的该 第二基准面之间是可形成有一夹缝。 本发明还揭示适用于前述掉落测试装置的使用方法，依序包含以下步骤首先，调 整该试样架与该掉落角度设定治具，以使该第一基准面移动至该第一设定位置，该第二基 准面是移动至该第二设定位置。接着，放置一待测试物件于该掉落角度设定治具，该待测试 物件的一第一表面是贴触于该第一基准面，该待测试物件的一第二表面是贴触于该第二基 准面。之后，以该夹具固定该待测试物件。之后，下降该试样架，以使该第一基准面移动至 第一退离位置而不与该待测试物件贴触，但该待测试物件仍与该掉落角度设定治具的该第 二基准面贴触。之后，横移该掉落角度设定治具，以使该第二基准面是移动至第二退离位置 而不与该待测试物件贴触。最后，释放该待测试物件。 借由上述技术方案，本发明掉落测试装置及其使用方法至少具有下列优点及有益
—、提供待测试物件测试各种不同的掉落表面及适用于不同尺寸的待测试物件。
二、在测试时能维持相同的高度、角度及位置，提高试验的重复性，进而降低实验 的成本。 三、可以快速地、精准地与稳固地控制待测试物件的高度、角度及位置。 四、当滑座移动时不会与待测试物件产生摩擦且待测试物件不会随着滑座移动而
改变位置。 五、藉由紧迫固定件及触止块的设计，可使掉落角度设定治具快速地与稳固地回 到基准位置。 六、藉由调整脚的设计，可使掉落测试装置的试样架能维持水平面状态，使得待测 试物件能直线掉落，量测到准确的数据。 七、无论待测试物件以竖立或横置角度进行掉落测试时，都不需要调整夹具的高 度，也不需要调整夹持座的相对高度。 综上所述，本发明是有关于一种掉落测试装置及其使用方法。该掉落测试装置，主 要特征在于一掉落角度设定治具可水平滑移地设置于一固定架上，能对准一待测试物件在 预定角度，以被一夹具正确、快速及安全地夹固。治具提供一第二基准面并连接有一可调整 升降的试样架，由试样架提供一第一基准面。在夹具夹设待测试物件之后，可以退离治具而 不会对待测试物件造成摩擦，且待测试物件不会移动。因此，待测试物件能准确定位。此外， 利用滑轨与触止块的设计，治具能快速且安全地退回到参考位置。本发明在技术上有显著 的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。 上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段， 而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够 更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。


图1是本发明第一具体实施例的掉落测试装置的立体示意图。 图2是本发明第一具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至设定 位置并放置一待测试物件的局部放大立体示意图。 图3是本发明第一具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至退离 位置的局部放大立体示意图。 图4是本发明第一具体实施例的该掉落测试装置的调整脚的立体示意图。 图5A至图5F是本发明第一具体实施例的掉落测试装置在使用方法步骤中的元件
侧面示意图。 图6是本发明第一具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至设定
位置并放置一待测试物件呈第二调整掉落角度的局部放大立体示意图。 图7是本发明第一具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至设定
位置并放置一待测试物件呈第三调整掉落角度的局部放大立体示意图。 图8是掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至设定位置并可放置另一种待测
试物件的局部放大立体示意图。
6
图9是本发明第二具体实施例的一种掉落测试装置的的局部放大立体示意图。
图IOA至图IOC是本发明第二具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至设定位置并放置一待测试物件呈竖立、横置与横躺摆放等多种不同调整掉落角度的局部放大立体示意图。 图IIA至图IIC是本发明第二具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至设定位置并放置另一待测试物件呈竖立、横置与横躺摆放等多种不同调整掉落角度的局部放大立体示意图。10 :待测试物件11 :第一表面12 :第二表面20 :待测试物件21 :第一表面22 :第二表面100:掉落测试装置110 :固定架110A:直立架110B :底部框111:滑座112 :水平滑轨113:第一触止块114 :调整脚115:第三触止块120 :掉落角度设定治具121:试样架122 :第一基准面123:第二基准面124 :第二触止块125:紧迫固定件126 :调整杆127:弹性元件128 :滑件129:垂直滑轨130 :夹具231:第一夹面232 :第二夹面240:夹持座G:夹缝
具体实施例方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的掉落测试装置及其使用方法其具体实施方式
、结构、使用方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。 以下将配合所附图示详细说明本发明的实施例，然应注意的是，该些图示均为简
化的示意图，仅以示意方法来说明本发明的基本架构或实施方法，故仅显示与本案有关的
元件与组合关是，图中所显示的元件并非以实际实施的数目、形状、尺寸做等比例绘制，某
些尺寸比例与其他相关尺寸比例或已夸张或是简化处理，以提供更清楚的描述。实际实施
的数目、形状及尺寸比例为一种选置性的设计，详细的元件布局可能更为复杂。 请参阅图1所示，是本发明的第一具体实施例的掉落测试装置的立体示意图。本
发明第一具体实施例的掉落测试装置100，主要包含一固定架110、一掉落角度设定治具
120以及一夹具130，用以进行一待测试物件10由高处落下时的掉落试验，以检测其耐震性。 上述的待测试物件10是可为长条状的存储器模块，例如DI匪存储器模块(DualIn-Line Memory Modules)或S0-DI匪存储器模块(Small OutlineDual In-Line MemoryModules)。该待测试物件10亦可为其他的电子产品，其类型可不限定，亦可为覆晶封装结构、导线架封装结构、多晶片封装结构或其他常用的晶片封装结构等。由于晶片封装的类型种类繁多，各家厂商的所使用的测试标准不同，因此本发明乃设计一可调整的掉落测试装置，可适用于多种不同测试条件的标准，以降低测试成本。 请同时参阅图2所示，是本发明第一具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至设定位置并放置一待测试物件的局部放大立体示意图。 上述的固定架110是设有一滑座lll，并且该滑座111是具有一水平滑轨112。该固定架110是可由一直立架110A与一底部框IIOB所构成，该直立架110A是直立固定于该底部框IIOB上，该固定架110的该底部框IIOB是占据一定的面积，可使该固定架110保持稳固而不易倾倒。在本实施例中，该底部框llOB是呈n型，其内围住掉落试验的击落点(如图1所示)。该滑座111是设置在该固定架110的一悬臂上，而位于一预定高度，例如30cm、50cm、60cm甚至120cm，以供设定该掉落角度设定治具120的高度。
请同时参阅图3所示，是本发明第一具体实施例的掉落测试装置的掉落角度设定治具移动至退离位置的局部放大立体示意图。 上述的掉落角度设定治具120是设置于该滑座111上并连接有一可调整升降的试样架121 (如图3所示)，该试样架121是提供一第一基准面122，可为水平或倾斜。该掉落角度设定治具120是提供一第二基准面123，可为垂直或倾斜。该掉落角度设定治具120可藉由该水平滑轨112的导引下作水平向移动。较佳地，该第一基准面122与该第二基准面123是可互为垂直，以提供待测试物件的定位。 该试样架121的升降移动使得该第一基准面122移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间。该第一设定位置是指该试样架121是位于一上升位置(如图5A所示)，该第一退离位置是指该试样架121是位于一下降位置(如图5B所示)。 当该掉落角度设定治具120在该水平滑轨112的导引下作水平向移动，该第二基准面123是移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间。该第二设定位置是为该第二基准面123往前移动以远离该固定架110的位置(如图5A与图5B所示)，该第二退离位置是为该第二基准面123往后移动以接近该固定架110的位置(如图5D所示)。
如图2所示，当上述的夹具130夹设该待测试物件10时，该待测试物件10的一第一表面11是贴触于在第一设定位置的该第一基准面122，即将该待测试物件10放置在该试样架121上；该待测试物件10的一第二表面12是贴触于在第二设定位置的该第二基准面123(如图2及图3所示)。在本实施例中，该第一表面11是为存储器模块的长侧表面，第二表面12是为存储器模块的基板表面或是元件设置面。 当放置好该待测试物件10时，该待测试物件10的第一表面11以及第二表面12是分别贴触在该第一基准面122以及该第二基准面123，并以该夹具130夹设该待测试物件10时的两侧。在本实施例中，该待测试物件io被夹固的表面是为存储器模块的短侧表面。因此，可以快速地、精准地与稳固地设置该待测试物件10的掉落高度、掉落初始角度以及位置，且能维持相同的高度及角度，不会产生偏移。具体而言，该夹具130的两端(图未绘出)是可连接于该直立架110A上并可上下调整高度，此外，该夹具130是可伸縮而夹住大小不一的待测试物件10，而能适用于不同尺寸的待测试物件。 具体而言，如图2及图3所示，该滑座111的一侧缘是可设有一第一触止块113，该掉落角度设定治具120的一侧缘是连接设有一第二触止块124。其中，该滑座111的该侧缘与该掉落角度设定治具120的该侧缘是位于同一侧边，当往后水平移动该掉落角度设定治具120时，该第二触止块124会接触到该第一触止块113，便使该第二基准面123移动至该第二退离位置(如图3及图5D所示)。此外，该滑座111的该侧缘是可另设有一第三触止块115，当往前水平移动该掉落角度设定治具120时，该第二触止块124会接触到该第三触止块115，便使该第二基准面123移动至该第二设定位置。因此，该第二设定位置与该第二退离位置能得到清楚定义。 详细而言，如图2所示，该第二触止块124是可设有一紧迫固定件125，用以固定该掉落角度设定治具120与该滑座111的相对位置，使其不再滑动。 此外，如图3所示，该掉落角度设定治具120是可具有一调整杆126与一弹性元件127，该弹性元件127是提供该试样架121移动朝向该第一设定位置的弹力，该调整杆126是限制该试样架121朝向该第一设定位置的移动程度。利用该调整杆126旋入深度的上死点以及该弹性元件127的回复弹力，该试样架121的第一基准面122能准确到达该第一设定位置。利用该调整杆126旋入深度的下死点以及该弹性元件127的回复弹力，该试样架121的第一基准面122能准确到达该第一退离位置。因此，该第一设定位置与该第一退离位置能得到清楚定义。此外，该试样架121的两侧可各连接有一滑件128，该掉落角度设定治具120的两侧是各设有一供该滑件128垂直滑移的垂直滑轨129，利用该调整杆126的旋转可使该试样架121在该垂直滑轨129的导引下作垂直向移动。 更细部而言，如图1与图4所示，该固定架110的底部是可设有多个调整脚114，该些调整脚114是可位于该固定架110的该底部框110B的其中两个或四个角落，用以调整该水平滑轨112的水平面，可使该掉落测试装置100的该试样架121能维持水平面状态，使得该待测试物件20能直线掉落，量测到准确的数据。 本发明进一步说明该掉落测试装置100的使用方法，以彰显本案的功效。请参阅图5A至图5F所示，是本发明第一具体实施例的掉落测试装置在使用方法步骤中的元件侧面示意图。首先，如图5A所示，调整该试样架121与该掉落角度设定治具120，以使该第一基准面122移动至该第一设定位置，该第二基准面123是移动至该第二设定位置。该第一设定位置是为该试样架121的第一基准面122位在一上升位置，该第二设定位置是为该第二基准面123是移动在一前方位置。该第二基准面123与该第一基准面122之间是可构成90度直角。接着，如图5A的斜向箭头所指处，放置一待测试物件10于该掉落角度设定治具120的该试样架121上，该待测试物件10的一第一表面11是贴触于该第一基准面122，该待测试物件10的一第二表面12是贴触于该第二基准面123(可参阅图5C所示)。之后，以该夹具130夹住固定该待测试物件10的两侧边(如图2所示)，故可以快速的、精准的与稳固的控制该待测试物件10的高度及角度，且维持相同的高度及角度，不会产生偏移。
之后，如图5B所示，可利用旋转该调整杆126的方式下降该试样架121，以使该第一基准面122移动至第一退离位置而不与该待测试物件10的该第一表面11贴触，但该待测试物件10的该第二表面12仍与该掉落角度设定治具120的该第二基准面123贴触。其中，前述旋转该调整杆126的方向可如图5B顺时针旋转的箭头。前述下降的方向是如图5B往下指的箭头。 之后，如图5C所示，横移该掉落角度设定治具120，以使该第二基准面123是移动至第二退离位置而不与该待测试物件10贴触。其中，前述横移的方向是如图5C往左指的箭头。此时，该第二触止块124会接触到该第一触止块113，再利用该紧迫固定件125固定该掉落角度设定治具120与该滑座111的相对位置，使其不再滑动。前述固定的方法可为如图5C中逆时钟旋转的箭头方向旋转该紧迫固定件125。在该掉落角度设定治具120往后的水平移动过程，由于该待测试物件10的该第一表面11已不与该第一基准面122贴触，故当该滑座111移动时不会与该待测试物件10产生摩擦且该待测试物件10不会随着该滑座111移动而改变位置。而该待测试物件10则藉由该夹具130夹住两侧而呈现腾空现象。
之后，如图5D的斜向箭头所指处，以该夹具130释放该待测试物件10以使其该第一表面11朝下的方式往下掉落，撞击到地面以测得数据。前述掉落的方向是如图5D往下指的箭头。 当欲进行下一个待测试物件10的测试时，如图5E所示，可使该掉落角度设定治具120水平移动并回复到该第二设定位置，其中，前述水平移动的方向是如图5E往右指的箭头。此时，该第二触止块124会接触到该第三触止块115，该掉落角度设定治具120会停止移动。再利用该紧迫固定件125固定该掉落角度设定治具120与该滑座111的相对位置，使其不再滑动。前述固定的方法可为如图5E中顺时针旋转的箭头方向旋转该紧迫固定件125。 之后，如图5F所示，旋转该调整杆126使该试样架121的该水平基准面123上升
以回复到该第一设定位置(即预设的测试高度)。前述旋转该调整杆126的方向可如图5F
中旋转箭头，而前述该水平基准面123的上升方向是如图5F中往上指的箭头。 之后，再重复进行如图5A至图5F所示的步骤，以逐一测试待测试物件10。在测试
过程中待测试物件10都能维持相同的掉落高度与位置并能调整掉落的初始角度，提高试
验的重复性与准确性，进而降低实验的成本。 值得一提的，本发明的该掉落测试装置100提供待测试物件10测试各种不同的掉落初始角度并可适用于不同尺寸的待测试物件。如图6所示，该待测试物件10是可以横躺方式而置放在该试样架121。具体而言，如图3与图5F所示，在第一设定位置的该第一基准面122与在第二设定位置的该第二基准面123之间是形成有一夹缝G，该夹缝G约大于该待测试物件10的厚度。当该待测试物件10为横躺时，该待测试物件10可局部塞入该夹缝G，可不需要调整该夹具130的夹设高度，更可易于固定。此时，该待测试物件10贴触于该第一基准面122的第一表面11是为存储器模块的基板表面或是元件设置面，以放置在该试样架121上。该待测试物件10的第二表面12是为存储器模块的长侧表面，其是可嵌入上述形成在该第二基准面123与该试样架121之间的夹缝G。故该夹具130能夹设存储器模块的短侧表面。 或者，如图7所示，该待测试物件10亦可以直立方式置放在该试样架121。该待测试物件10的该第一表面11是贴触于该第一基准面122，该待测试物件10的该第二表面12是贴触于该第二基准面123。该待测试物件10的该第一表面11是为存储器模块的短侧表面。该待测试物件10的第二表面12是为存储器模块的基板表面或是元件设置面。故该夹具130能夹设存储器模块的长侧表面。 此外，如图8所示，本发明的该掉落测试装置IO亦可放置另一种尺寸或不同产品类型的待测试物件20，该待测试物件20的一第一表面21是贴触于该第一基准面122，相对地，该待测试物件20的一第二表面22是贴触于该第二基准面123 (如图7所示)。并利用伸縮调整该夹具130之间夹合间隙，以夹住不同尺寸的待测试物件20，以同一掉落测试装置10进行各种不同尺寸的待测试物件的掉落试验。 请参阅图9所示，是本发明的第二具体实施例的掉落测试装置的立体示意图。本发明的第二具体实施例的掉落测试装置主要包含一固定架110、一掉落角度设定治具120以及一夹具130。其中与第一实施例相同的主要元件将以相同符号标示，并具有相同或类似的作用与功效，在此不再予以赘述。 在本实施例中，该掉落测试装置另包含有一夹持座240，用以结合该夹具130。该夹持座240是可与该固定架110为面对面摆放，并以横杆连结该夹具130。该夹具130是具有倒L形外形，以提供一第一夹面231与一第二夹面232，其中该第一夹面231的夹合间隙小于该第二夹面232的夹合间隙并且该第一夹面231相对远离该第一基准面122，其功效为进行不同掉落角度的掉落测试时，不需要调整该夹具130与该夹持座240的高度，即不需要升降该夹持座240。当该夹具130在每一侧部件中的该第一夹面231与该第二夹面232的水平矩离差恰好为一待测试物件10的长侧表面与短侧表面长度差值的二分之一时，则该夹具130能以相同的夹合行程夹固呈竖立摆置、横置摆置与横躺摆置方式的待测试物件IO。 可进行不同掉落角度的掉落测试举例说明如图IOA至图IOC所示。如图IOA所示，当该待测试物件10以竖立方式摆放在该试样架121时，该待测试物件10的该第一表面11可贴触于该第一基准面122，该待测试物件10的该第二表面12可贴触于该第二基准面123。其中该第一表面11是为存储器模块的短侧表面，该第二表面12是为存储器模块的基板表面或是元件设置面。调整该夹具130的该第一夹面231的夹合间隙，使其约等于存储器模块的短侧表面的长度时，该夹具130的该第一夹面231便能夹设存储器模块的长侧表面中间处，无需调整该夹具130的高度。 当该待测试物件10横置摆放在该试样架121时(如图10B所示)，该待测试物件10的该第一表面11可贴触于该第一基准面122，该待测试物件10的该第二表面可贴触于该第二基准面。其中该第一表面11是为存储器模块的长侧表面，该第二表面是为存储器模块的基板表面或是元件设置面。调整该夹具130的该第二夹面232的夹合间隙，使其约等于存储器模块的长侧表面的长度时，该夹具130的该第二夹面232便能夹设存储器模块的
短侧表面。 当该待测试物件10横躺摆放在该试样架121时(如图10C所示)，该待测试物件10可局部塞入该夹缝G(如图9所示)，可不需要调整该夹具130的夹设高度，更可易于固定。此时，该待测试物件10贴触于该第一基准面122的第一表面11是为存储器模块的基板表面或是元件设置面，以放置在该试样架121上。该待测试物件10的其中的一长侧表面，可嵌入上述形成在该第二基准面123与该试样架121之间的夹缝G。故该夹具130能夹设存储器模块的短侧表面。 因此，无论该待测试物件10以竖立、横置或横躺角度进行掉落测试时，都不需要调整该夹具130与该夹持座240的高度，而能对同一类待测试物件10进行多种掉落角度(包含竖立摆置、横置摆置与横躺摆置方式)的掉落测试，可供统计分析。甚至于，可利用该第一夹面231的夹合间隙与该第二夹面232的夹合间隙的差异值，能在夹合呈竖立摆置、横置摆置与横躺摆置方式的待测试物件10的过程中有相同的夹合行程。 此外，如图IIA至图IIC所示，本发明的第二具体实施例的掉落测试装置亦可放置另一种尺寸或不同产品类型的待测试物件20，可更长或更大于前述的待测试物件10。其中，该夹具130是具有倒L形外形，以提供该第一夹面231与该第二夹面232。如图IIA所示，该待测试物件20可为竖立方式摆放在该试样架121。该待测试物件20贴触于该第一基准面122的第一表面21是为存储器模块的短侧表面，该待测试物件20贴触于该第二基准面123的第二表面22是为存储器模块的基板表面或是元件设置面。该夹具130的该第一夹面231便能夹设存储器模块的长侧表面处，以进行竖立摆放方式掉落角度的掉落测试。
如图11B所示，该待测试物件20可为横置方式摆放在该试样架121。该待测试物件20贴触于该第一基准面122的第一表面21是为存储器模块的长侧表面，该待测试物件20贴触于该第二基准面123的第二表面22是为存储器模块的基板表面或是元件设置面。该夹具130的该第二夹面232便能夹设存储器模块的短侧表面处，以进行横置摆放方式掉落角度的掉落测试。 如图11C所示，该待测试物件20可为横躺方式摆放在该试样架121。该待测试物件20贴触于该第一基准面的第一表面21是为存储器模块的基板表面或是元件设置面，另将该待测试物件20的第二表面22是局部塞入该夹缝G(可参照如图9所示)，该第二表面22是为存储器模块的长侧表面。该夹具130的该第二夹面232便能夹设存储器模块的短侧表面处，以进行横躺摆放方式掉落角度的掉落测试。 因此，同一类型的待测试物件20无论是以竖立、横置或横躺摆放方式等多种掉落角度进行掉落测试时，不需要调整该夹具130与该夹持座240的高度。利用前述实施例的掉落测试装置内包含的掉落角度设定治具120以及其结合关系，能使测试条件的再现性良好，不会有手动固定待测试物件的人为误差。 以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本项技术者，在不脱离本发明的技术范围内，所作的任何简单修改、等效性变化与修饰，均仍属于本发明的技术范围内。
1权利要求
一种掉落测试装置，其特征在于其包含一固定架，是设有一滑座，该滑座具有一水平滑轨；一掉落角度设定治具，是设置于该滑座上，并连接有一调整升降的试样架，该试样架提供一第一基准面，该掉落角度设定治具提供一第二基准面，该试样架的升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间，该掉落角度设定治具在该水平滑轨的导引下作水平向移动，该第二基准面是移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间；以及一夹具，当该夹具夹设一待测试物件时，在第一设定位置的该第一基准面是供贴触该待测试物件的一第一表面，在第二设定位置的该第二基准面是供贴触该待测试物件的一第二表面。
2. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的滑座的一侧缘是设有 一第一触止块，该掉落角度设定治具的一侧缘是连接设有一第二触止块，当该第二触止块 接触该第一触止块，该第二基准面是移动至该第二设定位置。
3. 根据权利要求2所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的第二触止块是设有一 紧迫固定件，用以固定该掉落角度设定治具与该滑座的相对位置。
4. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的掉落角度设定治具具 有一调整杆与一弹性元件，该弹性元件是提供该试样架移动朝向该第一设定位置的弹力， 该调整杆是限制该试样架朝向该第一设定位置的移动程度。
5. 根据权利要求1或4所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的试样架的两侧各 连接有一滑件，该掉落角度设定治具的两侧各设有一供该滑件垂直滑移的垂直滑轨。
6. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的固定架的底部是设有 多个调整脚，用以调整该水平滑轨的水平面。
7. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的待测试物件是长条状 的存储器模块。
8. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的第一基准面与该第二 基准面是互为垂直。
9. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其还包含有一夹持座，用以结合 该夹具。
10. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的夹具是具有倒L形外 形，以提供一第一夹面与一第二夹面，其中该第一夹面的夹合间隙小于该第二夹面的夹合 间隙并且该第一夹面相对远离该第一基准面。
11. 根据权利要求1所述的掉落测试装置，其特征在于其中所述的在第一设定位置的 该第一基准面与在第二设定位置的该第二基准面之间是形成有一夹缝。
12. —种如权利要求1所述的掉落测试装置的使用方法，其特征在于其包括以下步骤 调整该试样架与该掉落角度设定治具，以使该第一基准面移动至该第一设定位置，该第二基准面是移动至该第二设定位置；放置一待测试物件于该掉落角度设定治具，该待测试物件的一第一表面是贴触于该第 一基准面，该待测试物件的一第二表面是贴触于该第二基准面；以该夹具固定该待测试物件；下降该试样架，以使该第一基准面移动至第一退离位置而不与该待测试物件贴触，但 该待测试物件仍与该掉落角度设定治具的该第二基准面贴触；横移该掉落角度设定治具，以使该第二基准面移动至第二退离位置而不与该待测试物 件贴触；以及释放该待测试物件。
13.根据权利要求12所述的掉落测试装置的使用方法，其特征在于其中所述的试样架 的下降步骤以及上述该掉落角度设定治具的横移步骤中，该待测试物件是固定不动并且不 与该试样架及该掉落角度设定治具产生磨擦。
全文摘要
本发明是有关一种掉落测试装置及其使用方法。该掉落测试装置，其包含一固定架，设有一滑座，该滑座具有一水平滑轨；一掉落角度设定治具，设置于该滑座上，连接有一调整升降的试样架，该试样架提供一第一基准面，该治具提供一第二基准面，该试样架的升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间，该治具在该水平滑轨的导引下作水平向移动，该第二基准面是移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间；以及一夹具，该夹具夹设一待测试物件。本发明的能适用于不同尺寸的待测试物件、测试不同角度的掉落表面，并且能调整不同的测试条件。
文档编号G01M7/00GK101738298SQ200810175549
公开日2010年6月16日 申请日期2008年11月7日 优先权日2008年11月7日
发明者苏庭锋 申请人:力成科技股份有限公司