专利名称：高亮度发光二极管寿命测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于一种高亮度发光二极管寿命测试装置，尤指一种用以测试发 光二极管使用寿命的高亮度发光二极管寿命测试装置。
背景技术：
发光二极管(LED)具有高亮度、省电及寿命长等优点，而被广泛地运用在各式灯 具的照明上，例如作为道路照明的用的LED灯具即为其中一例。而发光二极管在发光时会 产生大量热量，耐热性较差，通常须借助散热装置将所产生的热量予以带离，使发光二极管 能在适当的温度下发光而不至于烧毁。故，温度对于LED灯具的使用寿命有着显著的影响， 温度过高或过低都会降低发光二极管的效能或使发光二极管烧毁，一旦发光二极管烧毁， 对于使用者而言，无疑是种损失，甚至会造成危害。因此，在使用发光二极管之前，使用者必 须知道发光二极管的规格，以及发光二极管在不同温度下的使用寿命，才能防范未然，将损 失降低。由于发光二极管在发光时会产生大量热量，若要准确测试出寿命，就必须控制发 光二极管的温度，使发光二极管发光时维持一定温。请参阅图1，习知的发光二极管测试寿 命方法通常是将发光二极管la设置于散热良好的散热装置2a上，然后利用一照度计3a量 取发光二极管la的照度，进而计算出寿命。该散热装置2a具有多数个散热鳍片21a，使发 光二极管la发光产生的热量散发于大气中，但是此种方法仅能降低温度。若要在高温环境 中测试，则必须将发光二极管la置于烤箱(图未示)中加热，但是此种方法仅能增加温度， 无法降温，且容易有对流风产生或发生烧毁的情形，加上无法利用照度计实时于烤箱中量 取发光二极管la的照度(照度会随着时间递减)，势必影响测试结果的准确性。所以，本实用新型人有感于上述缺点可改善，特潜心研究并配合学理的运用，终于 提出一种设计合理且有效改善上述缺点的本实用新型。
实用新型内容本实用新型的主要目的，是提供一种高亮度发光二极管寿命测试装置，其结构设 计可对发光二极管的温度作实时监控及调整，使发光二极管在发光过程中维持一定温环 境，且发光二极管能于不同的定温环境下接受测试，并能实时量取发光二极管的照度，测试 结果较准确。为了达成上述的目的，本实用新型提供一种高亮度发光二极管寿命测试装置，包 括有一测试模块，其内部设有一感测单元、一加热单元及一冷却单元；一发光二极管，其 设置于该测试模块上，该感测单元邻近该发光二极管；一照度计，其移动地设于该发光二极 管的上方；以及一计算控制装置，其分别电性连接于该感测单元、该加热单元、该冷却单元 及该照度计。本实用新型具有以下有益的效果1.测试模块的内部相对于该发光二极管设有感测单元、加热单元及冷却单元，可对发光二极管的温度作实时监控及调整，使发光二极管在发光过程中维持一定温环境。2.使用者可利用该计算控制装置对发光二极管作环境的条件设定，控制该加热单 元升温或控制冷却单元降温，使发光二极管能于不同的定温环境下接受测试。3.该照度计可实时量取发光二极管的照度，并将照度数据传回至该计算控制装 置，测试结果较准确。为使更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关于本实用新型 的详细说明与附图，然而所附图仅供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制者。
图1为习知发光二极管寿命测试装置的示意图。图2为本实用新型高亮度发光二极管寿命测试装置的示意图。图3为本实用新型高亮度发光二极管寿命测试装置的立体示意图。图4A为本实用新型高亮度发光二极管寿命测试装置于45°C环境下测试出的照 度-时间曲线图。图4B为本实用新型高亮度发光二极管寿命测试装置于65°C环境下测试出的照 度-时间曲线图。图4C为本实用新型高亮度发光二极管寿命测试装置于85°C环境下测试出的照 度-时间曲线图。符号说明[0019]la发光二极管2a散热装置[0020]21a散热鳍片3a照度计[0021]1测试模块11感测单元[0022]111电源线12加热单元[0023]121电源线13冷却单元[0024]131第一插接端132第二插接端[0025]2发光二极管21电源线[0026]3照度计4计算控制装置[0027]5电源供应器6机台[0028]61容置槽62入水管[0029]63出水管64控制阀
具体实施方式
请参阅图2，本实用新型是提供一种高亮度发光二极管寿命测试装置，包括有一 测试模块1、一发光二极管2、一照度计3、一计算控制装置4及一电源供应器5。该测试模块1为散热良好的金属座体，该测试模块1的内部相对于发光二极管12 设有一感测单元11、一加热单元12及一冷却单元13。该感测单元11为温度传感器，邻近 埋设于发光二极管2的下方，用以感测发光二极管2的温度，且感测单元11以电源线111 电性连接于该电源供应器5。在本实施例中，该加热单元12为电热管，以电源线121电性连 接于该电源供应器5。加热单元12设于发光二极管2的下方，用以提供热源，加热发光二极管2。该冷却单元13为冷水管道，位于发光二极管2的下方，冷却单元13分别连接有一第一插接端131及一第二插接端132，该第一插接端131连通第二插接端132，冷水可经由第 一插接端131进入冷却单元13，而后由第二插接端132排出，带走热量，用以降温。该发光二极管2为高亮度的发光二极管，具有10瓦的高功率，在一般正常的环境 下，点亮电流大于100微安培(mini-A)可持续发亮6000小时。发光二极管2是以螺丝锁 设于测试模块1的顶部，其固定方法并不以此为限。该照度计3可以X方向及Y方向自由地于该发光二极管2上方移动(一般是利用 轨道与移动臂)，用以量取发光二极管12的照度，且照度计3电性连接于该计算控制装置 4 ( 一般是利用电线)，用以将量取到的照度数据传送至计算控制装置4进行分析计算。该计算控制装置4为一个人计算机(PC)，内建有可供使用者操作的软件，使用者 可透过该软件对发光二极管2作环境的条件设定。计算控制装置4电性连接加热单元12及 冷却单元13，藉使控制加热单元12及冷却单元13，作升温、降温或维持定温的动作。该环 境的条件设定包括发光二极管2的定温环境、使用的电压、使用的电流及发光时间等设定。 在本实施例中，测试的定温环境分别设定为45°C、65°C、85°C，使用的电压设定为48伏特的 高电压，使用的电流设定为1安培的定电流，并持续使发光二极管2发光一段时间。请参阅图3，本实用新型进一步提供一具有多数个矩形容置槽61的机台6，该些容 置槽61的外形相对应于该测试模块1，且以矩阵的方式排列。多数个测试模块1及发光二 极管2容设于该些容置槽61内，进行多组测试。该机台6的内部设有管道(图未示)，机台 6的一侧设有一入水管62及一出水管63，该入水管62及出水管63上分别设有一用以控制 开关的控制阀64。该入水管62的一端连接一冷水源(图未示)，冷水可由入水管62进入 机台6内，再分别被计算控制装置4控制流入指定的测试模块1中的冷却单元13冷却发光 二极管2，并将带有热量的水由出水管63排出。发光二极管2在发光的过程中，该感测单元1实时感测发光二极管2的温度，并传 回至计算控制装置4，用以监控。该计算控制装置4控制加热单元12及冷却单元13运作，可 改变发光二极管2的定温环境，并使发光二极管2在发光时维持该定温环境。同时，该照度 计3量取发光二极管2的照度，并将数据传回至计算控制装置4，待发光二极管2持续发光 一段时间后，由该计算控制装置4依照发光二极管2照度的衰减程度，计算出「照度-时间」 曲线图，即代表发光二极管2的寿命测试结果(如图4A至图4C，发光二极管2分别于不同的 定温环境下接受测试)，并可显示于计算控制装置4的屏幕上。另外，计算控制装置4也可 于此次测试中计算出发光二极管2的参数数值，例如散热系数、温度敏感系数(k-factor) 及热阻系数。本实用新型高亮度发光二极管寿命测试装置，具有下列优点1.该测试模块1的内部相对于发光二极管2设有感测单元11、加热单元12及冷 却单元13，可对发光二极管2的温度作实时监控及调整，使发光二极管2在发光过程中维持
一定温环境。2.使用者可利用于计算控制装置4中的软件对发光二极管2作环境的条件设定， 控制加热单元12升温或控制冷却单元13降温，使发光二极管2能于不同的定温环境(如 451、651或851)下接受测试。3.照度计3可实时量取发光二极管2的照度，并将照度数据传回至计算控制装置4，测试结果较准确。 但，以上所述为本实用新型的较佳可行实施例，非因此即局限本实用新型的保护 范围，故举凡运用本实用新型说明书及附图内容所为之等效结构变化，均同理包含于本实 用新型权利要求范围内，合予陈明。
权利要求一种高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，包括一测试模块，其内部设有一感测单元、一加热单元及一冷却单元；一发光二极管，其设置于该测试模块上，该感测单元邻近该发光二极管；一照度计，其移动地设于该发光二极管的上方；以及一计算控制装置，其分别电性连接于该感测单元、该加热单元、该冷却单元及该照度计。
2.根据权利要求1所述的高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，该冷却单元 分别连接有一第一插接端及一第二插接端，该第一插接端连通该第二插接端。
3.根据权利要求1所述的高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，进一步设有 一机台，该机台具有多数个呈矩阵排列的容置槽，多数个测试模块设于该些容置槽内。
4.根据权利要求1所述的高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，该感测单元 为温度传感器，该感测单元邻近埋设于该发光二极管的下方。
5.根据权利要求1所述的高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，该照度计以X 方向及Y方向自由移动地设于该些发光二极管的上方。
6.根据权利要求1所述的高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，该加热单元 为电热管，设于该发光二极管的下方。
7.根据权利要求1所述的高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，该计算控制 装置为个人计算机。
8.根据权利要求1项所述的高亮度发光二极管寿命测试装置，其特征在于，该发光二 极管、该感测单元及该加热单元分别电性连接于一电源供应器。
专利摘要一种高亮度发光二极管寿命测试装置，包括一测试模块、一发光二极管、一照度计、一计算控制装置，该测试模块内部设有一感测单元、一加热单元及一冷却单元，该发光二极管设置于测试模块上，该感测单元邻近发光二极管，该照度计移动地设于发光二极管的上方，该计算控制装置分别电性连接于该感测单元、该加热单元、该冷却单元及该照度计；藉此，发光二极管在发光过程中可维持一定温环境，且发光二极管可于不同的定温环境下接受测试。
文档编号G01R31/26GK201611377SQ200920174279
公开日2010年10月20日 申请日期2009年9月27日 优先权日2009年9月27日
发明者涂程咏 申请人:宜准科技股份有限公司