专利名称：发光二极管测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种发光二极管测试治具，尤其涉及一种便于定位的发光二极管 测试治具。
背景技术：
目前，发光二极管(Light Emitting Diode,LED)因具有功耗低、寿命长、体积小及 亮度高等特性已经被广泛应用到很多领域。在发光二极管芯片封装技术之后，需要对封装后的发光二极管进行各种测试，例 如光强度、亮度或是CIE分布位置等，藉以进行发光二极管的各种分类。一般地，发光二极 管被放置在一个平板状的测试平台上进行测试。具体地，吸嘴吸取封装后的发光二极管，将 其放置在该测试平台上。由于测试平台一般为平板状，吸嘴吸取发光二极管时，不能很好地 定位以与其他元件相配合，从而影响后续具体测试程序的进行。另外，由于吸嘴一般包括一 个金属材质的真空管，在吸取发光二极管的过程中，容易损伤发光二极管。并且，由于真空 管缺少韧性，其与发光二极管接触时，密合度较差，即与发光二极管不能紧密接触。
实用新型内容下面将以实施例说明一种便于定位的发光二极管测试治具。一种发光二极管测试治具，其包括一个吸取单元，一测试平台以及一个固定单元。 该吸取单元包括一个真空管，该真空管包括一吸嘴以吸取待测试的发光二极管。该测试平 台具有一承载面。该固定单元包括一个固定在测试平台的承载面上的定位件及至少一调 节件，该定位件具有一个开口，所述调节件设置在该定位件的开口处，所述测试平台的承载 面、该定位件及调节件共同围成一容置空间以收容待测试的发光二极管。进一步地，该发光二极管测试治具的吸取单元包括一个软垫，该软垫安装在该真 空管的吸嘴上以吸取待测试的发光二极管。相对于现有技术，所述发光二极管测试治具的吸取单元吸取发光二极管并将其放 置在该测试平台时，由于该定位件及调节件共同围成一个容置空间，因此，该发光二极管测 试治具可以很好的将该发光二极管定位，以便于后续测试程序的进行。并且，该发光二极 管测试治具的真空管的吸嘴上安装的软垫，可加强该发光二极管与该吸取单元之间的密合 度，有利于该吸取单元吸取该发光二极管。并且，可以避免在吸取过程中，该真空管损伤该 发光二极管。
图1是本实用新型第一实施例提供的发光二极管测试治具的结构示意图。图2是图1中的发光二极管测试治具的使用状态参考图。图3是本实用新型第二实施例提供的发光二极管测试治具的结构示意图。主要元件符号说明[0012]发光二极管测试治具10,20吸取单元11,21固定单元13,23真空管14,24软垫15,25测试平台12,22第一电极接触部121第二电极接触部122绝缘部123承载面120,220吸嘴141通孔151定位件16、·26开口161、261端部162、262容置空间163、263调节件17、·27发光二极管18、·28第一电极181第二电极182出光面183、283顶面184、284第一表面271第二表面272通孔27具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型实施例作进一步的详细说明。请参阅图1与图2，本实用新型第一实施例提供的一种发光二极管测试治具10，其 包括一个吸取单元11，一个测试平台12以及一个固定单元13。该吸取单元11用于吸取发光二极管18。该吸取单元11包括一个真空管14与一 个软垫15。在本实施例中，该真空管14呈中空管状，其由金属材料制成。该真空管14包括 一个吸嘴141。该软垫15呈圆筒状体，其具有一个通孔151，该软垫15套设在该吸嘴141上 且与该真空管14气密连接。该软垫15远离该吸嘴141的一端用于接触该发光二极管18。 该软垫15由柔性材料制成。当然，该软垫15也可以为其他形状，也可以通过密封胶等直接 与该吸嘴141气密连接。使用该吸取单元11时，将该真空管14与一个抽气装置(图未示) 连接，该抽气装置抽除该真空管14内的空气，从而产生大气压力，以通过该软垫15吸取被 测试的该发光二极管。该测试平台12具有一承载面120。该承载面120用于承载该发光二极管18。在本实施例中，该测试平台12包括第一电极接触部121，一个第二电极接触部122以及一个绝 缘部123。该绝缘部123设置在该第一电极接触部121与第二电极接触部122之间。该固定单元13用于固定该发光二极管18。该固定单元13包括一个固定在测试平 台12的承载面120上的定位件16以及两个调节件17。该定位件16的截面呈U型，其具有一个开口 161。该定位件16设置在该测试平台 12上，以暴露出该测试平台12的部分承载面120。该定位件16具有两个相对的且位于该 开口 161处的端部162。该调节件17不限形状，在本实施例中，该调节件17为长方形，该两个调节件17其 分别设置在该定位件16的开口 161处。在本实施例中，该两个调节件17分别与该定位件 16的两个端部162相连接，从而使该定位件16与该两个调节件17相配合，形成一个容置空 间163以收容该发光二极管18。在本实施例中，该调节件17可以移动，即当使用该发光二 极管测试治具10测试不同体积的发光二极管时，可以通过调节该调节件17在该测试平台 12上位置，从而改变该容置空间163的大小，以容置不同体积的发光二极管。当然，在测试 过程中，该调节件17固定不可动地设置在该测试平台12上。另外该定位件16的开口 161 处大于发光二极管18的出光面183，使得该发光二极管18的出光面183不致于被遮住而影 响测试结果。使用该发光二极管测试治具10时，该吸取单元11包括的该真空管14与一个抽气 装置(图未示)连接，该抽气装置抽除该真空管14内的空气，从而产生大气压力，以通过该 软垫15吸取被测试的该发光二极管18。在本实施例中，该发光二极管18包括一个第一电 极181，以及一个与该第一电极181相对的第二电极182。该发光二极管18具有一个出光 面183以及一个与该出光面183相邻的顶面184。该吸取单元11将吸取的该发光二极管 18的顶面184，并将该发光二极管18放置在该测试平台12的承载面120上，且位于该容置 空间163内，并且，该发光二极管18的出光面183与该定位件16的开口 161相对。该发光 二极管18的第一电极181以及第二电极182分别与该测试平台12包括的第一电极接触部 121以及第二电极接触部122电连接，以便于后续测试程序的进行。由于该发光二极管测试治具10的定位件16呈U型，并且具有设置在该U型定位 件16开口 161处的两个调节件17，因此，该定位件16与该两个调节件17相互配合，可以很 好的将该发光二极管18固定在该容置空间163内，该发光二极管18的出光面183与该定 位件16的开口 161相对，从而该发光二极管18发出的光可以出射，经由光接收器接收后进 行后续测试程序及分类。进一步地，该真空管14上设置有软垫15，因此，在使用该吸取单元 11吸取该发光二极管18时，该软垫15可加强该发光二极管18与该吸取单元11之间的密 合度，有利于该吸取单元11吸取该发光二极管18。并且，该软垫15的设置可以避免在吸取 过程中，该真空管14损伤该发光二极管18。可以理解的是，在本实施例中，该固定单元13可以仅包括一个测试平台12与一个 U型的定位件16。该发光二极管测试治具10可以仅通过该U型定位件16固定该发光二极 管18。请参见图3，本实用新型提供第二实施例提供的发光二极管测试治具20。该发光 二极管测试治具20与该发光二极管测试治具10基本相同，不同之处在于该固定单元23 包括一个定位件26以及一个调节件27。[0048]该定位件沈的截面呈U型，其具有一个开口。该定位件沈具有两个端部沈2。 该调节件27呈长方体形，其具有一个第一表面271以及一个与该第一表面271相对的第二 表面272。该调节件27具有一个贯穿该第一表面271以及该第二表面272的通孔273。在 本实施例中，该通孔273呈长方体形，且位于该调节件27的中心处。该调节件27设置在该 开口 261处。该调节件27的两端分别与该定位件沈的两个端部262相连接。并且，该调 节件27的通孔273与该定位件沈的开口 261相贯通。因此，该定位件沈与该调节件27 相配合，形成一个容置空间263用于收容该发光二极管观。该吸取单元21用于吸取发光二 极管28，并将该发光二极管观放置在该测试平台22的承载面220，且将该发光二极管观 收容于该收容空间263内。该吸取单元21包括一个真空管M与一个软垫25。该通孔273 的横截面的面积大于发光二极管观的出光面283面积，使得出光面283不致于被遮住而影 响测试结果。由于该定位件沈与该调节件27相配合形成一个容置空间沈3，从而可以很好的将 该发光二极管观固定，以便于后续测试程序的进行。并且，该调节件27上具有一个与该定 位件26的开口 261相贯通的通孔273，因此，该发光二极管28收容于该收容空间263时，该 发光二极管观的出光面283与该通孔273相对，从而使该发光二极管观发出的光可通过 该通孔273出射，经由光接收器接收后进行后续测试程序及分类。进一步地，该真空管M 上设置有软垫25，因此，在使用该吸取单元21吸取该发光二极管观的顶面观4时，该软垫 25可加强该发光二极管观与该吸取单元21之间的密合度，有利于该吸取单元21吸取该发 光二极管观。并且，该软垫25的设置可以避免在吸取过程中，该真空管M损伤该发光二极 管28。在本实施例中，该调节件27可以在该测试平台22上移动，从而调节该容置空间 263的大小，以容置不同大小的发光二极管观。可以理解的是，本领域技术人员还可于本实用新型精神内做其它变化，如，改变调 节件与软垫的形状，材质等，只要其不偏离本实用新型的技术效果均可。这些依据本实用新 型精神所做的变化，都应包含在本实用新型所要求保护的范围之内。
权利要求1.一种发光二极管测试治具，用于测试发光二极管，其包括一个吸取单元，该吸取单元包括一个真空管，该真空管包括一吸嘴以吸取待测试的发 光二极管；一测试平台，该测试平台具有一承载面；以及一个固定单元，其包括一个固定在测试平台的承载面上的定位件及至少一调节件，该 定位件具有一个开口，所述调节件设置在该定位件的开口处，所述测试平台的承载面、该定 位件及调节件共同围成一容置空间以收容所述待测试的发光二极管。
2.如权利要求1所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该定位件呈U形设置。
3.如权利要求2所述的发光二极管测试治具，其特征在于，所述调节件的数量为两个， 该两个调节件分别设置在该测试平台的承载面上，且位于该定位件的开口处。
4.如权利要求3所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该定位件具有两个端部，该 两个调节件分别与该定位件的两个端部相连接。
5.如权利要求4所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该调节件呈长方体形，其具 有一个第一表面以及一个该第一表面相对的第二表面，该调节件具有贯穿该第一表面与该 第二表面的通孔。
6.如权利要求5所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该定位件具有两个端部，该 调节件连接该定位件的两个端部，并且，该调节件的通孔与该定位件的开口相贯通。
7.如权利要求6所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该通孔的横截面的面积大 于发光二极管的出光面面积。
8.如权利要求1所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该吸取单元进一步包括一 个软垫，该软垫安装在该真空管的吸嘴上以吸取待测试的发光二极管。
9.如权利要求8所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该软垫套设在该真空管上， 且具有一个与该真空管相对应的通孔。
10.如权利要求1所述的发光二极管测试治具，其特征在于，该调节件可以在该测试平 台上移动，用以调节该容置空间的大小。
专利摘要本实用新型涉及一种发光二极管测试治具。该发光二极管测试治具包括一个吸取单元，一测试平台以及一个固定单元。该吸取单元包括一个真空管，该真空管包括一吸嘴以吸取待测试的发光二极管。该测试平台具有一承载面。该固定单元包括一个固定在测试平台的承载面上的定位件及至少一调节件，该定位件具有一个开口，所述调节件设置在该定位件的开口处，所述测试平台的承载面、该定位件及调节件共同围成一容置空间以收容待测试的发光二极管。
文档编号G01R1/02GK201886118SQ20102021122
公开日2011年6月29日 申请日期2010年6月1日 优先权日2010年6月1日
发明者方荣熙 申请人:展晶科技(深圳)有限公司, 荣创能源科技股份有限公司