专利名称：用于垂直发光二极管的测试分选装置的制作方法
技术领域：
本实用新型 涉及光电技术领域，特别是用于垂直发光二极管的测试分选装置。
背景技术：
绿色环保的LED光源要用于照明领域，大功率、高效率是使其得以普及的关键要素。传统结构的LED芯片，也称正装结构LED，它的两个电极在同一面。另外一种垂直结构的LED芯片，它的上下电极分布在外延片的两个面。现有技术中对LED芯片的测试分选设备大部分是针对正装结构的。大致的方式是，将切割、裂解为单颗芯粒的正装结构LED芯片蓝宝石一面粘附于蓝膜上，用两个探针分别扎位于同一面的两个电极，测得其光电性，采用预先制定好的分类规则将这些不同光电性能的芯片分成若干个类别，一个类别成为一个bin，然后输出一个分选文档。该文档包含的信息有芯片在蓝膜上的相对坐标、所属的bin以及其光电特性。将这个文档传输给分选设备，分选设备会根据这些信息，将一个个芯片分选到其所属的bin的蓝膜上去完成测试分选过程。垂直结构的LED芯片由于其电极位于芯片的两侧，采用传统的蓝膜上测试的方式是行不通的，因为蓝膜是绝缘体，粘附于蓝膜上的下电极无法连接至测试电源。而专用于垂直结构LED芯片的流水线作业形式的测试分选设备国内外还未见公开报道过。
发明内容针对上述现有技术中存在的不足，本实用新型的目的是提供一种用于垂直发光二极管的测试分选装置。它能自动实现对垂直结构LED芯片的测试和分选作业，具有操作简单、效率高的特点。为了达到上述发明目的，本实用新型的技术方案以如下两种方式实现方式一用于垂直发光二极管的测试分选装置，它包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。其结构特点是，所述待测试盘、测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘。置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片，分选盘置于测试盘的另一侧。测试盘上表面一圈均布多个放置槽，各放置槽底部连接真空管。测试盘上方与测试位置的放置槽的对应处置有探头和探针，探头和探针分别与测试系统相连接。待测试盘和测试盘之间设有能旋转换位的测试吸嘴，分选盘和测试盘之间设有能旋转换位的分选吸嘴。方式二用于垂直发光二极管的测试分选装置，它包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。所述待测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘，置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片，分选盘置于测试盘的另一侧。测试盘上表面一圈均布多个放置槽，各放置槽底部连接真空管，测试盘上方置有能水平移动和上下移动的探头及探针，探头和探针分别与测试系统相连接。待测试盘和测试盘之间设有能旋转换位的测试吸嘴，分选盘和测试盘之间设有能旋转换位的分选吸嘴。[0010]本实用新型由于采用了上述的结构，具有如下的有益效果1.提供了一种用于垂直结构LED芯片测试分选的装置，解决了目前垂直结构LED 芯片解离后无法自动化测试的难题；2.本实用新型装置充分发挥了流水作业的优点，将芯片测试与分选有机连接起来且可以同时工作，可以有效提高测试分选的速率。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步说明。
附图1为本实用新型结构示意图。
具体实施例实施例一参看附图，本实用新型包括待测试盘102、测试盘104、分选盘110和测试系统108。 待测试盘102、测试盘104和分选盘110为能旋转、水平移动及上下移动的圆盘。待测试盘 102置于测试盘104的一侧上置芯片101，分选盘110置于测试盘104的另一侧。测试盘 104上表面一圈均布多个放置槽105，各放置槽105底部连接真空管。测试盘104上方与测试位置的放置槽105的对应处置有探头107和探针106，探头107和探针106分别与测试系统108相连接。待测试盘102和测试盘104之间设有能旋转换位的测试吸嘴103，分选盘 110和测试盘104之间设有能旋转换位的分选吸嘴109。本实用新型使用时的测试分选步骤为第一步经扩晶后的芯片101位于待测试盘102上，待测试盘102可以选用行业通用的蓝膜。由测试吸嘴103将芯片101吸取至测试盘104测试位置的放置槽105中。然后，测试盘104升高，测试位置真空打开。测试位置上方的探头107根据测试系统108中预先设定的标准图形来辨别芯片101的左右位置与旋转角度是否合适。第二步，测试盘104上升，并根据辨别的芯片101位置情况移动一个修正量，最终使得芯片101上的电极可准确碰到探针106，开始测试芯片101的光电特性，然后根据预先设定的分bin条件生成该芯片101所对应的bin属性档并保存。每测试完一个芯片101的光电特性，测试盘104转动一个步长，使得下一个空置的放置槽105位于测试位置，供测试吸嘴103吸取下一个芯片101放置在该放置槽105中。第三步，测试盘104下降并将芯片101旋转至分选位置，分选位置真空关闭。分选位置设有分选摄像头，分选摄像头根据预先设定的标准图形来辨别该芯片101的位置，电脑会根据测试盘104转动的步长数调出该芯片101对应的bin属性档。分选吸嘴109将分选位置的芯片101吸取至分选盘110上。需要更换分选盘110时，测试盘104会停止转动， 待新的分选盘110就位后再重新转动。第四步，重复以上步骤可最终完成对多个芯片101的测试分选。实施例二本实用新型实施例二的结构及方法与实施例一的区别在于，测试盘104是固定不动的，而测试吸嘴103、探头107及探针106、分选吸嘴109则通过水平移动和上下移动来对测试盘104上的每一个芯片101完成测试分选。[0024] 大部分情况下， 本实用新型装置中的测试吸嘴103、测试盘104、分选吸嘴109是同步作业的，因此可以同时进行测试与分选工作，提高了工作效率。
权利要求1.用于垂直发光二极管的测试分选装置，它包括待测试盘(102)、测试盘(104)、分选盘(110)和测试系统(108)，其特征在于，所述待测试盘(102)、测试盘(104)和分选盘(110) 都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘，置于测试盘(104) —侧的待测试盘(102)上置有芯片(101)，分选盘(110)置于测试盘(104)的另一侧，测试盘(104)上表面一圈均布多个放置槽(105)，各放置槽(105)底部连接真空管，测试盘(104)上方与测试位置的放置槽(105)的对应处置有探头(107)和探针(106)，探头(107)和探针(106)分别与测试系统 (108)相连接，待测试盘(102)和测试盘(104)之间设有能旋转换位的测试吸嘴(103)，分选盘(110)和测试盘(104)之间设有能旋转换位的分选吸嘴(109)。
2.用于垂直发光二极管的测试分选装置，它包括待测试盘(102)、测试盘(104)、分选盘(110)和测试系统(108)，其特征在于，所述待测试盘(102)和分选盘(110)都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘，置于测试盘(104) —侧的待测试盘(102)上置有芯片(101)，分选盘(110)置于测试盘(104)的另一侧，测试盘(104)上表面一圈均布多个放置槽 (105)，各放置槽(105)底部连接真空管，测试盘(104)上方置有能水平移动和上下移动的探头(107)及探针(106)，探头(107)和探针(106)分别与测试系统(108)相连接，待测试盘(102)和测试盘(104)之间设有能旋转换位的测试吸嘴(103)，分选盘(110)和测试盘(104) 之间设有能旋转换位的分选吸嘴(109)。
专利摘要用于垂直发光二极管的测试分选装置，涉及光电技术领域。本实用新型包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。其结构特点是，所述待测试盘、测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘。置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片，分选盘置于测试盘的另一侧。测试盘上表面一圈均布多个放置槽，各放置槽底部连接真空管。测试盘上方与测试位置的放置槽的对应处置有探头和探针，探头和探针分别与测试系统相连接。待测试盘和测试盘之间设有能旋转换位的测试吸嘴，分选盘和测试盘之间设有能旋转换位的分选吸嘴。本实用新型能自动实现对垂直结构LED芯片的测试和分选作业，具有操作简单、效率高的特点。
文档编号B07C5/00GK202070497SQ201120106750
公开日2011年12月14日 申请日期2011年4月13日 优先权日2011年4月13日
发明者刘颖 申请人:同方光电科技有限公司