专利名称：一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法
—种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法技术领域
本发明属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域，涉及一种电路快速检 测技术。
背景技术：
稳定平台自动跟踪系统在军事上获得了广泛的应用，要获得良好的稳定跟踪性 能，采集稳定平台上传感器信息的ADC和控制稳定平台运动的DAC都需要较高精度。为了 提高精度和使控制电路具备通用性。需要对每块电路板上ADC和DAC进行详细的测试，并 对电路的初始零位进行测试并进行补偿。
人工对每块电路进行测试需要专用的仪器(高精度信号发生器和高精度数字示 波器)和一定的专业技能，并需要较长时间。发明内容
本发明的目的是在于提供一种对包含ADC和DAC的电路的不依赖外部仪器，减少 人工操作的快速检测方法。
本发明是这样实现的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其中，包含 如下步骤
步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的 零位数据AO，用于校准ADC读数；
步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平 均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出；
步骤3、DAC输出变化信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，每一次的变化幅度 为最低数据位，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对，此时的数据均 通过步骤I和步骤2中得到的零位数据进行修正；
如果步骤I和步骤2的零位数据满足预定的要求，并且步骤3中DAC输出信号和 ADC读取信号一致，则被检测件通过检测；
否则，被检测件没有通过检测。
如上所述的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其中，在步骤3中通过 检测之后，将测的零位数据AO和DO记录到板上的存储器件中。
本发明的优点是使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结，通过测试程序使DAC 输出测试用模拟信号，对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行 检测。完成闭环测试。
电路再将测得的零位信号记录到板上的存储器件中，从而在使用过程中使用此参 数对DAC和ADC进行自动校准。
测试过程不依赖于外部仪器，人工操作少，能快速准确的进行测试过程。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明做进一步的说明
一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，包括如下步骤
步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，读取的数据个数可以是一个也可 以是多个，一般读取多个，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0，用于校准ADC读数。
步骤2、然后将DAC的输出与ADC的输入相连，通过程序使DAC输出零值，ADC将读 到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC 的输出。
上述两个步骤可以判断出ADC和DAC零位是否正常，如果ADC和DAC零位数据与 设定值差别过大，则进行记录，用于本发明之后，使用高精度的仪器进行进一步的检测。如 果ADC和DAC零位正常，继续进行步骤3。
步骤3、DAC输出慢变的三角波信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，变化幅度 为最低数据位，信号长度可以是一条斜线(从最小值到最大值或者从最大值到最小值)，也 可以是一个或者多个周期，ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据(此时的数据均通 过步骤I和步骤2中得到的零位数据进行修正)进行比对，一致的话说明DAC和ADC的功 能和性能正常。
本实施例中，DAC输出数据的和ADC读取数据的频率保持一致，每个更新周期均输 出不同的值，如此，能够得到三角波的图形。
也可以DAC输出数据时，每个值均保持多个周期，这样得到的是带有台阶的三角 波信号，可以进一步的了解在每个不同的值处，DAC和ADC的性能。
进一步的，本实施例中，使用专用工装实现上述电路的连接，能够进一步加快测试 速度。
测试过程使用编写的软件程序自动完成。
如有异常还可根据读取的数据对故障进行初步定位。用于本发明之后，使用高精 度的仪器进行进一步的检测。
虽然本发明所述的方法，对故障情况定位后，之后的检测还需要使用高精度的外 部仪器进行，但是，在电路质量合格率很高的情况下，合格电路能够通过所述方法，快速的 通过检测，进而直接使用。
如此，极大的减小了人工的工作量，减小了对外部高精度仪器的依赖。
本发明以稳定平台自动跟踪系统为例进行了说明，但是实施范围不限于此，所有 设置有DAC输出电路和ADC输入电路的电路系统均可以适用。
权利要求
1.一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其特征在于包含如下步骤 步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据AO，用于校准ADC读数； 步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出； 步骤3、DAC输出变化信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，每一次的变化幅度为最低数据位，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对，此时的数据均通过步骤I和步骤2中得到的零位数据进行修正； 如果步骤I和步骤2的零位数据满足预定的要求，并且步骤3中DAC输出信号和ADC读取信号一致，则被检测件通过检测； 否则，被检测件没有通过检测。
2.如权利要求1所述的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其特征在于 在步骤3中通过检测之后，将测的零位数据AO和DO记录到板上的存储器件中。
全文摘要
本发明属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域，具体涉及一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法。目的是提供一种不依赖外部仪器，减少人工操作的快速检测方法。包含如下步骤步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0；步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0；步骤3、DAC输出变化信号，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对。优点是使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结，通过测试程序使DAC输出测试用模拟信号，对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行检测。完成闭环测试。
文档编号G01R31/28GK102998611SQ20111026600
公开日2013年3月27日 申请日期2011年9月9日 优先权日2011年9月9日
发明者张瑞 申请人:中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所