专利名称：测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种应用于电子电路测试的测试治具。
背景技术：
现有技术中，应用于电子电路测试的测试治具通常包括下针板和上压板两部分， 下针板上设置有测试探针。当测试治具处于工作状态时，上压板将待测试的PCB板压下并接触下针板上的测试探针，来完成测试。当测试治具处于放置状态时，上压板压合在下针板上，会压断或压弯下针板上的测试探针，造成测试探针的损坏。
发明内容本实用新型的目的是提供一种避免测试探针损坏的测试治具。为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种测试治具，用于IXD模块的PCB板的测试，所述的测试治具包括下针板、设置于所述的下针板上方的上压板，所述的下针板包括靠近所述的上压板的上表面和远离所述的上压板的下表面，所述的下针板上设置有测试探针，所述的下针板上开设有第一通孔，所述的第一通孔中设置有隐形拉手；所述的上压板上开设有第二通孔；所述的隐形拉手包括底部、拉手本体，所述的底部包括顶面、底面，所述的拉手本体固定连接在所述的顶面上，所述的隐形拉手可旋转的设置在所述的第一通孔中；所述的测试治具包括工作状态和放置状态；当所述的测试治具处于所述的工作状态时，所述的拉手本体旋转至所述的下针板的下方，所述的底部的底面与所述的下针板的上表面相平齐，所述的上压板压下使位于所述的上压板与所述的下针板之间的PCB板接触所述的测试探针；当所述的测试治具处于所述的放置状态时，所述的拉手本体旋转至所述的下针板的上方，所述的底部的底面与所述的下针板的下表面相平齐，所述的拉手本体的上部位于所述的第二通孔中并将所述的上压板的位置限定使所述的上压板与所述的下针板之间具有一间隙。优选的，所述的上压板、所述的下针板分别为矩形。进一步优选的，所述的下针板上开设有四个所述的第一通孔，四个所述的第一通孔分别位于所述的矩形的下针板的四个角处；所述的上压板上开设有四个所述的第二通孔，四个所述的第二通孔分别位于所述的矩形的上压板的四个角处。优选的，所述的第一通孔、所述的第二通孔为矩形。进一步优选的，所述的第一通孔、所述的第二通孔的长度方向相平行设置。优选的，所述的拉手本体为半圆弧型。优选的，所述的隐形拉手上设置有锁定其位置的锁定装置。优选的，所述的测试探针安装于所述的下针板的中部。由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点本实用新型的测试治具处于工作状态时，上压板压下即可完成测试工作；而当本实用新型的测试治具处于放置状态时，由于隐形拉手使上压板和下针板之间形成一定的间隙，避免了上压板直接放置在下针板上，避免了下针板上的测试探针损坏。
附图1为本实用新型处于工作状态时的主视图。附图2为本实用新型处于放置状态时的主视图。附图3为本实用新型的上压板的俯视图。附图4为本实用新型的下针板的俯视图。以上附图中1、下针板；2、上压板；3、第二通孔；4、上表面；5、下表面；6、测试探针；7、第一通孔；8、隐形拉手；9、底部；10、拉手本体；11、顶面；12、底面；13、间隙。
具体实施方式
以下结合附图所示的实施例对本实用新型作进一步描述。实施例一参见附图1至附图4所示。一种测试治具，用于LCD模块的PCB板的测试。测试治具包括矩形的下针板1、设置于下针板1上方的矩形的上压板2。矩形的上压板2的四个角处开设有四个矩形的第二通孔3，第二通孔3的长度方向相平行设置，并与上压板2的长度方向相平行。矩形的下针板1包括靠近上压板2的上表面4和远离上压板2的小表面5，下针板1的中部设置有测试探针6。下针板1的四个角处开设有四个矩形的第一通孔7，第一通孔7的长度方向相平行设置，并与下针板1的长度方向相平行。每个第一通孔7中均设置有隐形拉手8。隐形拉手8包括底部9、半圆弧型的拉手本体10，底部9包括顶面11、地面12，拉手本体10固定连接在顶面11上，隐形拉手8可旋转的设置在第一通孔7中。隐形拉手8 上设置有锁定其位置的锁定装置。测试治具包括工作状态和放置状态。当测试治具处于工作状态时，拉手本体10旋转至下针板1的下方，底部9的地面12与下针板1的上表面4相平齐，锁定装置将隐形拉手 8的位置锁定，上压板2压下使位于上压板2与下针板1之间的PCB板接触测试探针6。当测试治具处于放置状态时，解锁锁定装置，拉手本体10旋转至下针板1的上方，底部9的地面12与下针板1的小表面5相平齐，锁定装置将隐形拉手8的位置锁定，拉手本体10的上部位于第二通孔3中并将上压板2的位置限定使上压板2与下针板1之间具有一间隙13。 由此，可以避免上压板2压下损坏下针板1上的测试探针6。上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。 凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种测试治具，用于IXD模块的PCB板的测试，所述的测试治具包括下针板、设置于所述的下针板上方的上压板，所述的下针板包括靠近所述的上压板的上表面和远离所述的上压板的下表面，所述的下针板上设置有测试探针，其特征在于所述的下针板上开设有第一通孔，所述的第一通孔中设置有隐形拉手；所述的上压板上开设有第二通孔；所述的隐形拉手包括底部、拉手本体，所述的底部包括顶面、底面，所述的拉手本体固定连接在所述的顶面上，所述的隐形拉手可旋转的设置在所述的第一通孔中；所述的测试治具包括工作状态和放置状态；当所述的测试治具处于所述的工作状态时，所述的拉手本体旋转至所述的下针板的下方，所述的底部的底面与所述的下针板的上表面相平齐，所述的上压板压下使位于所述的上压板与所述的下针板之间的PCB板接触所述的测试探针；当所述的测试治具处于所述的放置状态时，所述的拉手本体旋转至所述的下针板的上方，所述的底部的底面与所述的下针板的下表面相平齐，所述的拉手本体的上部位于所述的第二通孔中并将所述的上压板的位置限定使所述的上压板与所述的下针板之间具有一间隙。
2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于所述的上压板、所述的下针板分别为 矩形。
3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于所述的下针板上开设有四个所述的第一通孔，四个所述的第一通孔分别位于所述的矩形的下针板的四个角处；所述的上压板上开设有四个所述的第二通孔，四个所述的第二通孔分别位于所述的矩形的上压板的四个角处。
4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于所述的第一通孔、所述的第二通孔为矩形。
5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于所述的第一通孔、所述的第二通孔的长度方向相平行设置。
6.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于所述的拉手本体为半圆弧型。
7.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于所述的隐形拉手上设置有锁定其位置的锁定装置。
8.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于所述的测试探针安装于所述的下针板的中部。
专利摘要本实用新型涉及一种测试治具，用于LCD模块的PCB板的测试，测试治具包括下针板、设置于下针板上方的上压板，下针板包括靠近上压板的上表面和远离上压板的下表面，下针板上设置有测试探针，下针板上开设有第一通孔，第一通孔中设置有隐形拉手；上压板上开设有第二通孔；隐形拉手包括底部、拉手本体，底部包括顶面、底面，拉手本体固定连接在顶面上，隐形拉手可旋转的设置在第一通孔中；本实用新型的测试治具处于工作状态时，上压板压下即可完成测试工作；而当本实用新型的测试治具处于放置状态时，由于隐形拉手使上压板和下针板之间形成一定的间隙，避免了上压板直接放置在下针板上，避免了下针板上的测试探针损坏。
文档编号G01R1/073GK201955361SQ20112006209
公开日2011年8月31日 申请日期2011年3月11日 优先权日2011年3月11日
发明者赵铭 申请人:苏州市欧康诺电子科技有限公司