专利名称：测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型为一种测试治具，系用以测试一具有多个接点的集成电路。
早期的测试治具包含一具有数个凹洞的塑胶基板以及数个测试接点。该复数个测试接点则位于该塑胶基板的复数个凹洞中。然而该塑胶基板不具有耐热之特性。当该测试治具连续不断地测试具有多个接点的集成电路时，会使该测试治具的温度逐渐上升，而该高温测试治具则会造成该塑胶基板容易磨耗并渐渐损坏。
因此对于使用者而言，这无疑是一个极大的困扰及使用上之不便。再加上必需经常更新该易损坏的测试治具，不仅影响作业上的正常运作，也不符合经济效益。
本实用新型的目的在于改善以上种种之不便与缺失，提供一种改进的不易损坏的测试治具，它极耐热和耐磨耗，可使测试治具避免电源短路。
为实现上述目的，本实用新型提供一种测试治具，系用以测试一具有复数个接点的集成电路，其包含一金属基板，具有复数个凹洞；一绝缘层，涂布于该金属基板表面；以及复数个测试接点，位于涂布有该绝缘层的该复数个洞中，且对应于该集成电路的复数个接点，以测试该集成电路。
较佳者，其中该集成电路具有复数个规则排列接点，而该复数个规则排列接点系指复数个球状点阵列的接点。
较佳者，其中该金属基板系为一耐热金属基板，且该耐热金属基板系为使得该测试治具当测试过程正在进行中不易损坏。
较佳者，其中该复数个凹洞系指复数个规则排列之凹洞，而该复数个规则排列之凹洞系指复数个柱状型阵列之凹洞，其中该复数个柱状型阵列之凹洞系对应到该集成电路之该复数个接点上，且使得该复数个测试接点得以置于其中。
较佳者，其中该绝缘层系以一陶瓷材料所制成，而该绝缘层系为一耐热绝缘层；该耐热绝缘层系使得该测试治具可避免电源短路。而且该绝缘层系极耐磨耗。
较佳者，其中该复数个测试接点之一端系为一弧状型，系使相对于之该集成电路接点得以与该弧状型接点良好接触。当该弧状型接点与相对于之该集成电路接点接触後则可测试该集成电路。
较佳者，其中该复数个测试接点之另一端与一印刷电路板电连接。
本实用新型由于采用具耐热性的金属基板，当测试治具连续不断地测试具有多个接点的集成电路时，可使测试治具不易损坏，而且金属基板表层涂布了由陶瓷材料制成的绝缘层，极耐热和耐磨耗，可避免电源短路，延长该测试治具的寿命。
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步详细说明
图1为本实用新型较佳实例的外观图。
图2为本实用新型较佳实例的结构示意图。
请参见图1(、2)，本实用新型测试治具系由一金属基板1，一绝缘层2，一柱状型测试接点3所组合而成。
其中该具有复数个规则排列的柱状型凹洞之金属基板1系为一耐热金属基板，当测试过程正在进行时，该耐热金属基板可使得该测试治具不易损坏。而该金属基板1之表面则涂布了该绝缘层2。其中该绝缘层2系由一陶瓷材料所制成，且该绝缘层2具有耐热特性，可使得该测试基板避免电源短路。而且该绝缘层2也极耐磨耗。
在金属基板1的复数个规则排列之柱状型凹洞中具有复数个规则排列的测试接点3，且该复数个规则排列的测试接点3系对应于集成电路5的复数个球状点阵列接点6。其中该复数个测试接点3的一端系为一弧状4型，而该弧状型系为使对应的该集成电路5的复数个球状点阵列接点6得以与该弧状型4良好接触，以测试该集成电路5。在该复数个测试接点的另一端则与该印刷电路板7电连接。
请参见图2，系由一测试治具图。从该图中可看到该金属基板1具有复数个规则排列之凹洞。在该复数个规则排列之凹洞中具有复数个规则排列的测试接点3。而该复数个规则排列的测试接点3的一端系为一弧状型4，另一端则与该印刷电路板7电连接。
同样，其中该金属基板1的表面涂布了由陶瓷材料所制成的绝缘体2。
由上述附图及说明，我们可得出以下几点结论一，本实用新型测试治具，其中该金属基板极耐热，可使该测试治具在不断的测试过程中不易损坏；二，本实用新型测试治具，其中该绝缘体也具有耐热与耐磨耗特性，可延长该测试治具的寿命。
权利要求1．一种测试治具，系用以测试一具若干个接脚的集成电路；其特征在于，包含一金属基板，具有数个凹洞；一绝缘层，涂布于该金属基板表面；以及数个测试接点，位于涂布有该绝缘层的该数个洞中，且对应于该集成电路的该数个接脚，以测试该集成电路。
2．如权利要求1所述的测试治具，其特征在于该集成电路具有复数个规则排列接点。
3．如权利要求2所述的测试治具，其特征在于该复数个规则排列接点系指复数个球状点阵列之接点。
4．如权利要求1所述的测试治具，其特征在于该金属基板系为一耐热金属基板。
5．如权利要求1所述的测试治具，其特征在于该复数个凹洞系指复数个规则排列之凹洞。
6．如权利要求5所述的测试治具，其特征在于该复数个规则排列之凹洞系指复数个柱状型阵列之凹洞。
7．如权利要求6所述的测试治具，其特征在于复数个柱状型阵列之凹洞系对应到该集成电路之该复数个接脚上。
8．如权利要求6所述的测试治具，其特征在于该复数个柱状型阵列之凹洞系使得该复数个测试接点得以置于其中。
9．如权利要求1所述的测试治具，其特征在于该绝缘层系以一陶瓷材料所制成或一耐热绝缘层。
10．如权利要求1所述的测试治具，其特征在于该绝缘层极耐磨耗。
11．如权利要求1所述的测试治具，其特征在于该复数个测试接点之一端系为一弧状型，该弧状型接点与相对应的该集成电路接点接触後，以行测试该集成电路。
12．如权利要求11所述的测试治具，其特征在于该复数个测试接点的另一端与一印刷电路板电连接。
专利摘要一种测试治具,用以测试一具有数个接点之集成电路。其包含一具有数个规则排列之柱状型凹洞之金属基板,一绝缘层以及数个测试接点。金属基板具耐热性,当测试过程正进行时,可使测试治具不易损坏。而金属基板表层涂布了由陶瓷材料制成的绝缘层,极耐热和耐磨耗,且可使测试治具避免电源短路。在金属基板之柱状型凹洞中具数个接点,且对应于集成电路之数个接点。在测试接点之一端为一弧状形,另一端与一印刷电路板电连接。
文档编号G01R31/28GK2350775SQ98249650
公开日1999年11月24日 申请日期1998年12月22日 优先权日1998年12月22日
发明者陈建生, 周镜海 申请人:胜开科技股份有限公司