测试治具的制作方法
【专利摘要】一种测试治具包括一本体，该本体的第一表面上设有两收容孔；两个插针，每个插针的第一端收容于一收容孔内；两根导线，每一根导线的第一端分别与一插针的第一端电性相连，两根导线的另一端分别用于与待测装置的测试点及参考点焊接，每一插针的第二端用于将待测装置的测试点及参考点的信号导出。本发明测试治具的正极探棒及该电压表的正极通过一导线及一插针与测试点相连，进而有效地提高了测试的准确度。
【专利说明】测试治具
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试治具，特别涉及一种用于测试内存条电气特性的测试治具。【背景技术】
[0002]现在对内存芯片的电气特性进行测试时，需测试者手握着示波器的正极探棒以与一测试点相连，还需握着不波器的负极探棒以与一参考点相连。同时，还需将一电压表的正极与负极分别连接至该测试点及参考点，以获得该测试点与参考点的电压。然而，若该测试点与参考点的距离较远，用户需双手分别握着一探棒，当需要调试仪器时，用户则无法空出手来调试，进而给测试带来不便。另外，由于一个测试点需同时与该正极探棒及该电压表的正极相连，一个参考点需同时与该负极探棒及该电压表的负极相连，而一般的测试点或参考点的接触面积较小，因而有可能在测试时因无法充分接触而导致测试结果不准确。
【发明内容】
[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种方便测试的测试治具。
[0004]一种测试治具包括:
一本体，该本体的第一表面上设有两收容孔；
两个插针，每个插针的第一端收容于一收容孔内；
两根导线，每一根导线的第一端分别与一插针的第一端电性相连，两根导线的另一端分别用于与待测装置的测试点及参考点焊接，每一插针的第二端用于将待测装置的测试点及参考点的信号导出。
[0005]上述测试治具通过将探棒的两探针分别与该两插针相连，同时将电压表的两接线端与该两插针相连，避免了在该接触面积较小的测试点上同时连接探棒及电压表的接线端而致使测试结果不准确的不足。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1是本发明测试治具的较佳实施方式的结构图。
[0007]图2是本发明测试治具的使用状态图。
[0008]主要元件符号说明
【权利要求】
1.一种测试治具包括: 一本体，该本体的第一表面上设有两收容孔； 两个插针，每个插针的第一端收容于一收容孔内； 两根导线，每一根导线的第一端分别与一插针的第一端电性相连，两根导线的另一端分别用于与待测装置的测试点及参考点焊接，每一插针的第二端用于将待测装置的测试点及参考点的信号导出。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于:该本体的每一收容孔内设有一中空的金属件，该金属件的内壁上设有螺纹，每一插针的第一端设有与该金属件的内壁上的螺纹相配合的外螺纹。
3.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于:该本体的第二表面上设有一对卡脚，该对卡脚用于将该测试治具固定于该待测装置上。
4.如权利要求1或2或3所述的测试治具，其特征在于:每一插针呈Z形，每一插针的中央形成一弯折部，以连接该电压表的接线端。
【文档编号】G01R1/04GK103513065SQ201210220983
【公开日】2014年1月15日 申请日期:2012年6月29日 优先权日:2012年6月29日
【发明者】王太诚, 杨雷雷, 李月姣 申请人:鸿富锦精密工业(武汉)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司