空间环境分子污染设备及其测试单元装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种空间环境分子污染设备及其测试单元装置，包括小轮组件、角片、M3×8螺钉、第三垫圈、M3×10螺钉、第三隔热垫片、M4×16螺钉、第四垫圈、第四弹簧垫圈、M5×25螺钉、第五垫圈、第五弹簧垫圈、收集板组件、隔板、试样室板、试样小盒、试样室套筒、第一隔热垫片、第二隔热垫片、轴套铰链、试样小盒套筒压板、M3×6螺钉。本实用新型操作过程方便、可以节省试验的时间和人力；可一次性放入多组试样；设计零件符合操作人员操作习惯，最大限度降低操作误差可以广泛用于多种材料的空间分子污染测试。
【专利说明】空间环境分子污染设备及其测试单元装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试单元【技术领域】，具体是一种空间环境分子污染设备及其测试单元装置。
【背景技术】
[0002]航天器材料在空间环境中的放气产物和原子氧剥蚀产物，是航天器表面分子污染的主要来源。空间环境分子污染测试单元装置在国内外没有类似的说明或报道。
[0003]这些分子由材料表面释放后，沿一定的路径传播，撞击并吸附在航天器的表面，沉积后形成污染。分子污染的形成，将对航天器，特别是光学器件、太阳电池板、热控涂层、红外仪器、传感器等敏感表面的性能，带来严重的影响，如使太阳电池板输出下降、热控涂层的热控性能退化、红外仪器失灵、观察窗模糊、传感器信号衰减等等。此外，在空间环境中原子氧和紫外等辐射的作用下，沉积层还可能被氧化、固结或是暗化，使污染现象变得更为复杂、结果更加难以预料。
[0004]因此在目前，航天器设计时都对分子污染效应给予了充分的重视，除了在空间开展飞行试验研究外，还采用了理论计算和地面模拟试验的方法，以加深对分子污染效应的认识，并选择有效的控制手段，来削弱分子污染效应的影响。这里提出一种空间环境分子污染测试单元装置用于地面模拟试验系统的测试单元。
[0005]目前没有发现同本实用新型类似装置的说明或报道，也尚未收集到国内外类似的资料。
实用新型内容
[0006]针对现有技术中存在的上述不足，考虑到测试材料的密度较低，在放置试样和测试过程中，操作起来容易造成误差，从而导致整个测试结果误差较大，本实用新型提供了一种易于测试人员进行材料空间环境分子污染测试试验的空间环境分子污染设备及其测试单元装置，降低了现场测试人员的操作难度，保证试验结果的精确。本实用新型提供的空间环境分子污染设备测试单元装置是空间环境分子污染设备的关键部分。
[0007]本实用新型是通过以下技术方案实现的。
[0008]根据本实用新型的一个方面，提供了一种空间环境分子污染设备测试单元装置，包括小轮组件1、角片2、M3X8螺钉3、第三垫圈4、M3X 10螺钉5、第三隔热垫片6、M4X16螺钉7、第四垫圈8、第四弹簧垫圈9、M5X25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12、收集板组件13、隔板14、试样室板15、试样小盒16、试样室套筒17、第一隔热垫片18、第二隔热垫片19、轴套铰链20、试样小盒套筒压板21以及M3X6螺钉22，其中:
[0009]小轮组件I通过M3 X 8螺钉3和第三垫圈4连接角片2，再通过M3 X 10螺钉5、第三垫圈4和第三隔热垫片6连接在试样室板15上；轴套铰链20通过M5X25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12以及第二隔热垫片19与试样室板15相连；试样小盒16放置在试样室套筒17内，并安装于试样室板15的试样槽内，试样小盒套筒压板21通过M3 X 6螺钉22固定于试样室板15上；隔板14通过M4X 16螺钉7、第四垫圈8、第四弹簧垫圈9固定于收集板组件13上；工作时，试样室板15通过M5 X 25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12以及第一隔热垫片18与隔板14相连。
[0010]优选地，所述收集板组件13包括收集板25、收集板压板26、靶板27以及M3X5螺钉28，其中，所述收集板压板26将靶板27紧密地压在收集板25上，并通过M3X 5螺钉28压紧；所述收集板组件13上还设有多个连接孔，多个连接孔具有相同的同轴度。
[0011]优选地，所述收集板25和收集板压板均采用具有良好热电导性和防蚀性的牌号为T2的紫铜材质，靶板27采用具有足够塑性和韧性的牌号为0Crl8Ni9的奥氏体不锈钢材质，M3X5螺钉28选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T70.1-2000螺钉。
[0012]优选地，所述第三隔热垫片6、第一隔热垫片18以及第二隔热垫片19均采用3024玻璃钢复合材料；所述轴套铰链20采用牌号为QA19-4的铝青铜制成。
[0013]优选地，所述试样室板15表面开设宽2mm深5mm的电阻槽，电阻槽底部设有半径为0.5mm的用于铺设加热电阻管的圆角。
[0014]优选地，所述试样室板15的试样槽上部为直径Φ 25mm深Imm的沉头槽，沉头槽内壁和底面的表面粗糙度优于3.2 μ m，沉头槽连接直径为Φ 19mm的试样室，最后连接着直径为Φ6.3长度为12.7mm的出气孔，试样室和出气孔之间采用锥面过渡连接。
[0015]优选地，所述试样室板15的试样槽设有通气孔圆心A，收集板组件13的收集板设有收集板槽圆心B，隔板14上设有通气孔圆心C，通气孔圆心A和收集板槽圆心B同轴设置，隔板14上的通气孔圆心C满足A-B同轴度在0.2mm以内。
[0016]优选地，所述试样室套筒17内壁的粗糙度以及试样室套筒17与样室板15的试样槽壁接触面的粗糙度均优于3.2 μ m，试样室套筒17与样室板15的试样槽紧密配合。
[0017]优选地，所述试样小盒16的外壁粗糙度优于3.2 μ m，试样小盒16与试样室套筒17内壁、试样室板15的试样槽壁锥面紧密配合。
[0018]优选地，所述空间环境分子污染设备测试单元装置，还包括PtlOO钼热电阻23、PtlOO钼热电阻压片24，所述试样室板15表面通过M3 X 6螺钉22和PtlOO钼热电阻压片24固定PtlOO钼热电阻23。
[0019]根据本实用新型的另一个方面，提供了一种空间环境分子污染设备，所述空间环境分子污染设备设有上述空间环境分子污染设备测试单元装置。
[0020]与现有技术相比，本实用新型具有以下技术特点:
[0021]1、操作过程方便、可以节省试验的时间和人力。
[0022]2、可一次性放入多组试样。
[0023]3、设计零件符合操作人员操作习惯，最大限度降低操作误差。
[0024]4、可以广泛用于多种材料的空间分子污染测试。
【专利附图】
【附图说明】
[0025]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
[0026]图1为本实用新型主视图
[0027]图2为本实用新型A-A剖面图；[0028]图3为本实用新型B-B剖面图；
[0029]图4为收集板组件结构图；
[0030]图中:
[0031]I为小轮组件；
[0032]2为角片；
[0033]3 为 M3 X 8 螺钉；
[0034]4为第三垫圈；
[0035]5 为 M3 X 10 螺钉；
[0036]6为第三隔热垫片；
[0037]7 为 M4 X 16 螺钉；
[0038]8为第四垫圈；
[0039]9为第四弹簧垫圈；
[0040]10 为 M5X25 螺钉；
[0041]11为第五垫圈；
[0042]12为第五弹簧垫圈；
[0043]13为收集板组件；
[0044]14为隔板；
[0045]15为试样室板；
[0046]16为试样小盒；
[0047]17为试样室套筒；
[0048]18为第一隔热垫片；
[0049]19为第二隔热垫片；
[0050]20为轴套铰链；
[0051]21为试样小盒套筒压板；
[0052]22 为 M3 X 6 螺钉；
[0053]23为PtlOO钼热电阻；
[0054]24为PtlOO钼热电阻压片；
[0055]25为收集板；
[0056]26为收集板压板；
[0057]27为靶板；
[0058]28 为 M3 X 5 螺钉。
【具体实施方式】
[0059]下面对本实用新型的实施例作详细说明:本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
[0060]请同时参阅图1至图4。
[0061]实施例1[0062]本实施例提供了一种空间环境分子污染设备测试单元装置，包括小轮组件1、角片
2、M3X8螺钉3、第三垫圈4、M3X10螺钉5、第三隔热垫片6、M4X16螺钉7、第四垫圈8、第四弹簧垫圈9、M5X25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12、收集板组件13、隔板14、试样室板15、试样小盒16、试样室套筒17、第一隔热垫片18、第二隔热垫片19、轴套铰链20、试样小盒套筒压板21以及M3 X 6螺钉22，其中:
[0063]小轮组件I通过M3 X 8螺钉3和第三垫圈4连接角片2，再通过M3 X 10螺钉5、第三垫圈4和第三隔热垫片6连接在试样室板15上；轴套铰链20通过M5X25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12以及第二隔热垫片19与试样室板15相连；试样小盒16放置在试样室套筒17内，并安装于试样室板15的试样槽内，试样小盒套筒压板21通过M3 X 6螺钉22固定于试样室板15上；隔板14通过M4X 16螺钉7、第四垫圈8、第四弹簧垫圈9固定于收集板组件13上；工作时，试样室板15通过M5 X 25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12以及第一隔热垫片18与隔板14相连。
[0064]进一步地，所述收集板组件13包括收集板25、收集板压板26、靶板27以及M3 X 5螺钉28，其中，所述收集板压板26将靶板27紧密地压在收集板25上，并通过M3 X 5螺钉28压紧；所述收集板组件13上还设有多个连接孔，多个连接孔具有相同的同轴度。
[0065]进一步地，所述收集板25和收集板压板均采用具有良好热电导性和防蚀性的牌号为T2的紫铜材质，靶板27采用具有足够塑性和韧性的牌号为0Crl8Ni9的奥氏体不锈钢材质，M3X 5螺钉28选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T70.1-2000螺钉。
[0066]进一步地，所述第三隔热垫片6、第一隔热垫片18以及第二隔热垫片19均采用3024玻璃钢复合材料；所述轴套铰链20采用牌号为QA19-4的铝青铜制成。
[0067]进一步地，所述试样室板15表面开设宽2mm深5mm的电阻槽，电阻槽底部设有半径为0.5mm的用于铺设加热电阻管的圆角。
[0068]进一步地，所述试样室板15的试样槽上部为直径Φ 25mm深Imm的沉头槽，沉头槽内壁和底面的表面粗糙度优于3.2 μ m，沉头槽连接直径为Φ 19mm的试样室，最后连接着直径为Φ6.3长度为12.7mm的出气孔，试样室和出气孔之间采用锥面过渡连接。
[0069]进一步地，所述试样室板15的试样槽设有通气孔圆心A，收集板组件13的收集板设有收集板槽圆心B，隔板14上设有通气孔圆心C，通气孔圆心A和收集板槽圆心B同轴设置，隔板14上的通气孔圆心C满足A-B同轴度在0.2mm以内。
[0070]进一步地，所述试样室套筒17内壁的粗糙度以及试样室套筒17与样室板15的试样槽壁接触面的粗糙度均优于3.2 μ m，试样室套筒17与样室板15的试样槽紧密配合。
[0071]进一步地，所述试样小盒16的外壁粗糙度优于3.2 μ m，试样小盒16与试样室套筒17内壁、试样室板15的试样槽壁锥面紧密配合。
[0072]进一步地，所述空间环境分子污染设备测试单元装置，还包括PtlOO钼热电阻23、PtlOO钼热电阻压片24，所述试样室板15表面通过M3 X 6螺钉22和PtlOO钼热电阻压片24固定PtlOO钼热电阻23。
[0073]实施例2
[0074]本实施例提供了一种空间环境分子污染设备，所述空间环境分子污染设备设有实施例I提供的空间环境分子污染设备测试单元装置。[0075]上述两个实施例具体为:
[0076]空间环境分子污染设备测试单元装置主要由小轮组件1、角片2、M3X8螺钉3、第三垫圈4、M3X 10螺钉5、第三隔热垫片6、M4X 16螺钉7、第四垫圈8、第四弹簧垫圈9、M5X25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12、收集板组件13、隔板14、试样室板15、试样小盒16、试样室套筒17、第一隔热垫片18、第二隔热垫片19、轴套铰链20、试样小盒套筒压板21、M3 X 6螺钉22组成。
[0077]小轮组件I通过M3 X 8螺钉3和第三垫圈4与角片2相连，再通过M3 X 10螺钉5、第三垫圈4和第三隔热垫片6连接在试样室板15上；轴套铰链20通过M5X25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12和第二隔热垫片19与试样室板15相连；试样小盒16放置在试样室套筒17内，安装于试样室板15的试样槽内，试样小盒套筒压板21通过M3 X 6螺钉22固定于试样室板15上。隔板14通过M4X 16螺钉7、第四垫圈8、第四弹簧垫圈9固定于收集板组件13上。空间环境分子污染设备测试单元装置工作时，试样室板15通过M5X25螺钉10、第五垫圈11、第五弹簧垫圈12和第一隔热垫片18与隔板14相连。
[0078]所述收集板组件13由收集板25、收集板压板26、靶板27、M3 X 5螺钉28组成。
[0079]所述空间环境分子污染设备测试单元装置还包括PtlOO钼热电阻23、PtlOO钼热电阻压片24，试样室板15表面通过M3 X 6螺钉22和PtlOO钼热电阻压片24固定PtlOO钼热电阻23。
[0080]所述小轮组件I由小轮底板、M5 X 20开槽圆柱头螺钉、M5六角薄螺母和深沟球轴承内径5mm，外径16mm，宽度5mm组成。其中，小轮底板选用具有足够塑性和韧性的牌号为0Crl8Ni9的奥氏体不锈钢制成，M5X20开槽圆柱头螺钉选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T65-2000开槽圆柱螺钉，M5六角薄螺母选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T6172.1-2000六角薄螺母，深沟球轴承选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T276-1994深沟球轴承。小轮组件I在装配过程中允许进行修锉。安装时要确保螺钉、螺母拧紧无松动，轴承内圈顶紧，外圈转动顺畅。
[0081]所述角片2选用具有足够塑性和韧性的牌号为0Crl8Ni9的奥氏体不锈钢制成，用于连接小轮组件I与试样室板15。
[0082]所述M3 X 8螺钉3选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB /T70.1-2000 螺钉。
[0083]所述第三垫圈4选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T848-2002钢丝。
[0084]所述M3 X 10螺钉5采用的材料与M3 X 8螺钉3所采用的材料一样。
[0085]所述第三隔热垫片6的材料优选采用牌号为3204的玻璃钢复合材料。玻璃钢复合材料具有比强度高、减振性能好、抗疲劳性好、高温性能好及成型工艺好等优点。
[0086]所述M4 X 16螺钉7采用的材料与M3 X 8螺钉3所采用的材料一样。
[0087]所述第四垫圈8采用的材料与第三垫圈4所采用的材料一样。
[0088]所述第四弹簧垫圈9选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB /T93-1987弹簧钢丝。
[0089]所述M5 X 25螺钉10采用的材料与M3 X 8螺钉3所采用的材料一样。
[0090]所述第五垫圈11采用的材料与第三垫圈4所采用的材料一样。[0091]所述第五弹簧垫圈12采用的材料与第四弹簧垫圈9所采用的材料一样。
[0092]所述收集板组件13是本实用新型所提供测试单元装置中一个关键部件，由收集板25、收集板压板26，靶板27和M3 X 5螺钉28组成。其中，收集板25选用具有良好热电导性和防蚀性的牌号为T2的紫铜制成，收集板压板26采用的材料与收集板25所采用的材料一样，靶板27选用具有足够塑性和韧性的牌号为0Crl8Ni9的奥氏体不锈钢制成，M3X5螺钉28选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T70.1-2000螺钉。收集板组件13在装配过程中允许进行修锉，安装时时确保螺钉拧紧无松动，收集板压板26要把靶板27紧密地压在收集板25上。
[0093]所述隔板14选用具有足够塑性和韧性的牌号为0Crl8Ni9的奥氏体不锈钢制成。
[0094]所述试样室板15是本实用新型所提供测试单元装置中一个关键部件，选用足够导热性的牌号为T2的紫铜制成，其表面开设宽2_深5_的电阻槽，电阻槽底部打半径为
0.5mm的圆角，用于铺设加热电阻管。试样室板15上均匀布置12个试样槽，每个试样槽上部为直径Φ 25mm深Imm的沉头槽，沉头槽内壁和底面的表面粗糙度优于3.2 μ m，沉头槽连接直径为Φ19_的试样室，最后连接着直径Φ 6.3长12.7_的出气孔，试样室和出气孔之间用锥面过渡连接。试样槽的通气孔圆心A要与收集板组件13上收集板槽的圆心B同轴，隔板14上的通气孔圆心满足A-B同轴度在0.2mm以内。。
[0095]所述试样小盒16选用具有低密度、高塑性和强度比的牌号为2A12T4的铝合金制成，其外壁粗糙度应优于3.2 μ m。
[0096]所述试样室套筒17采用的材料与试样小盒16所采用的材料一样。与试样室板15上试样槽壁接触面的粗糙度应优于3.2 μ m，确保试样室套筒17能和试样室板15上试样槽紧密配合。内壁的粗糙度也应优于3.2 μ m。确保能与试样小盒16、试样室板15试样槽壁锥面紧密配合，确保试验过程中材料分子挥发能够完全向收集板组件13方向运动。
[0097]所述第一隔热垫片18采用的材料与第三隔热垫片6所采用的材料一样。
[0098]所述第二隔热垫片19采用的材料与第三隔热垫片6所采用的材料一样。
[0099]所述轴套铰链20选用具有足够强度和耐磨性的牌号为QA19-4的铝青铜制成。
[0100]所述试样小盒套筒压板21采用的材料与试样室板15所采用的材料一样，试样小盒16、试样室套筒17、试样小盒套筒压板21安装时要紧密压紧，不能出现晃动。
[0101 ] 所述M3 X 6螺钉22采用的材料与M3 X 8螺钉3所采用的材料一样。
[0102]所述PtlOO钼热电阻23为热电阻温度传感器，用于实时监控试样室板15的温度。
[0103]所述PtlOO钼热电阻压片24采用的材料与试样小盒16所采用的材料一样。
[0104]在本实施例中:第三隔热垫片6采用3024玻璃钢复合材料。第一隔热垫片18采用3024玻璃钢复合材料。第二隔热垫片19采用3024玻璃钢复合材料。轴套铰链20采用牌号为QA19-4的铝青铜制成。试样室板15表面开设宽2mm深5mm的电阻槽，电阻槽底部打半径为0.5mm的圆角，用于铺设加热电阻管。试样室板15的试样槽上部为直径Φ 25mm深Imm的沉头槽，沉头槽内壁和底面的表面粗糙度优于3.2 μ m，沉头槽连接直径为Φ 19mm的试样室，最后连接着直径Φ6.3长12.7mm的出气孔，试样室和出气孔之间用锥面过渡连接。试样室板15试样槽的通气孔圆心A要与收集板组件13上收集板槽的圆心B同轴，隔板14上的通气孔圆心满足A-B同轴度在0.2mm以内。试样室套筒17与样室板15上试样槽壁接触面的粗糙度应优于3.2 μ m，确保试样室套筒17能和样室板15上试样槽紧密配合。试样室套筒17内壁的粗糙度应优于3.2 μ m。试样小盒16的外壁粗糙度应优于3.2 μ m，确保试样小盒16能和试样室套筒17内壁、试样室板15试样槽壁锥面紧密配合。收集板组件13上有多个连接孔，需要保证各个孔的同轴度，确保能够正确安装。
[0105]以上对本实用新型的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本实用新型并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本实用新型的实质内容。
【权利要求】
1.一种空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，包括小轮组件(I)、角片(2)、M3X8螺钉(3)、第三垫圈(4)、M3X10螺钉(5)、第三隔热垫片(6)、M4X16螺钉(7)、第四垫圈(8)、第四弹簧垫圈(9)、M5X25螺钉(10)、第五垫圈(11)、第五弹簧垫圈(12)、收集板组件(13)、隔板(14)、试样室板(15)、试样小盒(16)、试样室套筒(17)、第一隔热垫片(18)、第二隔热垫片(19)、轴套铰链(20)、试样小盒套筒压板(21)以及M3X6螺钉(22)，其中: 小轮组件(I)通过M3X8螺钉(3)和第三垫圈(4)连接角片(2)，再通过M3X10螺钉(5)、第三垫圈(4)和第三隔热垫片(6)连接在试样室板(15)上；轴套铰链(20)通过M5X25螺钉(10)、第五垫圈(11)、第五弹簧垫圈(12)以及第二隔热垫片(19)与试样室板(15)相连；试样小盒(16)放置在试样室套筒(17)内，并安装于试样室板(15)的试样槽内，试样小盒套筒压板(21)通过M3X6螺钉(22)固定于试样室板(15)上；隔板(14)通过M4X16螺钉(7)、第四垫圈(8)、第四弹簧垫圈(9)固定于收集板组件(13)上；工作时，试样室板(15)通过M5X25螺钉(10)、第五垫圈(11)、第五弹簧垫圈(12)以及第一隔热垫片(18)与隔板(14)相连。
2.根据权利要求1所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，所述收集板组件(13)包括收集板(25)、收集板压板(26)、靶板(27)以及M3X5螺钉(28)，其中，所述收集板压板(26)将靶板(27)紧密地压在收集板(25)上，并通过M3 X 5螺钉(28)压紧；所述收集板组件(13)上还设有多个连接孔，多个连接孔具有相同的同轴度。
3.根据权利要 求1所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，所述试样室板(15)表面开设宽2mm深5_的电阻槽，电阻槽底部设有半径为0.5mm的用于铺设加热电阻管的圆角。
4.根据权利要求3所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，所述试样室板(15)的试样槽上部为直径Φ25πιπι深Imm的沉头槽，沉头槽内壁和底面的表面粗糙度优于3.2 μ m，沉头槽连接直径为Φ 19mm的试样室，最后连接着直径为Φ 6.3长度为12.7mm的出气孔，试样室和出气孔之间采用锥面过渡连接。
5.根据权利要求2所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，所述试样室板(15)的试样槽设有通气孔圆心A，收集板组件(13)的收集板设有收集板槽圆心B，隔板(14)上设有通气孔圆心C，通气孔圆心A和收集板槽圆心B同轴设置，隔板(14)上的通气孔圆心C满足A-B同轴度在0.2mm以内。
6.根据权利要求1所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，所述试样室套筒(17)内壁的粗糙度以及试样室套筒(17)与样室板(15)的试样槽壁接触面的粗糙度均优于3.2 μ m，试样室套筒(17)与样室板(15)的试样槽紧密配合。
7.根据权利要求6所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，所述试样小盒(16)的外壁粗糙度优于3.2 μ m，试样小盒(16)与试样室套筒(17)内壁、试样室板(15)的试样槽壁锥面紧密配合。
8.根据权利要求2所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，所述第三隔热垫片出)、第一隔热垫片(18)以及第二隔热垫片(19)均采用3024玻璃钢复合材料；所述轴套铰链(20)采用牌号为QA19-4的铝青铜制成； 所述收集板(25)和收集板压板均采用具有良好热电导性和防蚀性的牌号为T2的紫铜材质，靶板(27)采用具有足够塑性和韧性的牌号为0Crl8Ni9的奥氏体不锈钢材质，M3X5螺钉(28)选用具有足够塑性和韧性的牌号为:0Crl8Ni9 / GB / T70.1-2000螺钉。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的空间环境分子污染设备测试单元装置，其特征在于，还包括PtlOO钼热电阻(23)、PtlOO钼热电阻压片(24)，所述试样室板(15)表面通过M3X6螺钉(22)和PtlOO钼热电阻压片(24)固定PtlOO钼热电阻(23)。
10.一种空间环境分子污染设备，其特征在于，所述空间环境分子污染设备设置有权利要求I至9中任一项所述的空间环境分`子污染设备测试单元装置。
【文档编号】G01N33/00GK203587580SQ201320777680
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2013年11月29日 优先权日:2013年11月29日
【发明者】朱青, 杨碧琦, 刘刚, 张丽新 申请人:上海卫星装备研究所