长距离测量联轴器装置及方法
【专利摘要】本发明公开了一种长距离联轴器找正装置，包括测量架、支撑架、千分杆和百分表，所述测量架的一端设置有法兰，所述法兰通过螺栓固定安装在基准轴的联轴器上，多个所述支撑架的一端安装在法兰上，另一端安装在测量架的另一端，所述测量架的另一端上安装百分表支架，所述百分表安装在百分表支架上，所述百分表的指针设置在待测轴的圆周面上，所述测量架上安装有可伸缩的千分杆支架，所述千分杆安装在千分杆支架上，所述千分杆的一端与基准轴的联轴器的端面接触，另一端与待测轴的端面之间设有一定间隙。本发明可以保证基准值与待测轴的两轴线倾斜偏差在0.05mm以内，保证安装时两轴的同轴度。
【专利说明】长距离测量联轴器装置及方法
【技术领域】
[0001]本发明属于机械设备安装施工【技术领域】，具体涉及一种长距离联轴器找正装置及方法。
【背景技术】
[0002]在南南铝热轧工程中，精轧机开卷机、卷取机相应的电机安装找正时，需要找正联轴器，该工程轧机开卷机、卷取机设备联轴器的端面离电机端面达3800mm，距离较远。现场常用的方法主要是:制作一段假轴，假轴的一段与轧机设备的联轴器固定，另外一端设置两块百分表，一块表用于测量联轴器端面径向位移偏差，另一块表测量联轴器端面平行度。在实际找正过程中，由于3800mm距离太长，假轴自重产生的下挠量较大，达到0.1mm以上，找正精度无法控制在0.05mm以内，夕卜方专家对此结果不予认可。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于提供一种长距离联轴器找正装置及方法，它通过制作测量架，并与大规格的千分杆百分表组合测量待测轴的端面间隙、轴心径向位移，保证基准值与待测轴的两轴线倾斜偏差在0.05mm以内，保证安装时两轴的同轴度。
[0004]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
提供一种长距离联轴器找正装置，该装置包括:测量架、支撑架、千分杆和百分表，所述测量架由轻质钢材制成，所述测量架的一端设置有法兰，所述测量架的法兰通过螺栓固定安装在基准轴的联轴器上，多个所述支撑架的一端以测量架为圆心呈圆状安装在法兰上，多个所述支撑架的另一端安装在测量架的另一端，所述测量架的另一端上安装有可伸缩的百分表支架，所述百分表安装在百分表支架上，所述百分表的指针设置在待测轴的圆周面上，所述测量架上安装有可伸缩的千分杆支架，所述千分杆安装在千分杆支架上，所述千分杆为可伸缩的千分杆，所述千分杆的一端与基准轴的联轴器的端面接触，所述千分杆的另一端与待测轴的端面之间设有一定间隙。
[0005]相应的，本发明还提供一种长距离联轴器找正方法，包括以下步骤:
51、在基准轴和待测轴之间安装如权利要求1所述的长距离联轴器找正装置，该装置的测量架带法兰的一端通过螺栓固定安装在基准轴的联轴器上，测量架的另一端距离待测轴的端面一定距离；
52、根据待测轴的直径，调节百分表支架的高度，使百分表的指针设置在待测轴的圆周面上，固定百分表支架；
53、根据基准值的直径，调节千分杆支架的高度，并微调千分杆两端的尺寸，使千分杆的一端与基准轴的联轴器的端面接触，千分杆的另一端与待测轴的端面之间保持一定间隙，固定千分杆支架，然后用塞尺测量该一定间隙，并记录数据；
54、缓慢转动基准轴一周，在待测轴不同的圆周位置上，记录百分表的读数，同时，用塞尺测量千分杆的另一端与待测轴端面之间的间隙并记录数据； 55、根据步骤S4中百分表的读数和塞尺的测量数据，分别调整待测轴的轴心径向位移偏差、以及千分杆与待测轴端面之间的间隙；
56、重复步骤S4、S5，直至调整待测轴的轴线径向位移偏差、以及千分杆与待测轴端面之间的间隙至规范允许范围内。
[0006]本发明产生的有益效果是:本发明通过设置带法兰测量架，可以减少一部分测量架自重引起的挠度，另外，测量架采用轻质钢材制成，同时，通过测量架上设置多个支撑架，可以再进一步减少测量架的挠度，这样可以使得测量架的挠度可以忽略不计，提高测量精度；
通过在测量架的另一端设置可伸缩的百分表支架，以满足不同直径待测轴的测量要求，并通过百分表测量待测轴的轴线径向位移偏差；
通过在测量架上设置可伸缩的千分杆支架，以满足不同直径基准值的测量要求，并微调千分杆的两端尺寸，使千分杆的一端与基准轴的联轴器接触，另一端与待测轴端面之间保持一定间隙，并通过塞尺测量该间隙。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中:
图1是本发明实施例的结构示意图。
[0008]1-基准轴,2-测量架,3-千分杆支架，4-千分杆,5-百分表支架,6-百分表,7_待测轴，8-固定螺栓，9-支撑架。
【具体实施方式】
[0009]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0010]如图1所示，一种长距离联轴器找正装置，该装置包括:测量架2、支撑架9、千分杆4和百分表6，测量架2由轻质钢材制成，测量架2的一端设置有法兰，测量架2的法兰通过螺栓固定安装在基准轴I的联轴器上，多个支撑架9的一端以测量架2为圆心呈圆状安装在法兰上，多个支撑架9的另一端安装在测量架2的另一端，测量架2的另一端上安装有可伸缩的百分表支架5，百分表支架可以通过细牙螺纹旋转的方式实现伸缩，百分表6安装在百分表支架5上，百分表6的指针设置在待测轴7的圆周面上，测量架2上安装有可伸缩的千分杆支架3,千分杆4安装在千分杆支架3上,千分杆4为可伸缩的千分杆，千分杆4的一端与基准轴I的联轴器的端面接触，千分杆4的另一端与待测轴7的端面之间设有一定间隙。
[0011]相应的，本发明还提供一种长距离联轴器找正方法，包括以下步骤:
51、在基准轴I和待测轴7之间安装上述长距离联轴器找正装置，该装置的测量架2带法兰的一端通过螺栓固定安装在基准轴I的联轴器上，测量架2的另一端距离待测轴7的端面一定距离；
52、根据待测轴的直径，调节百分表支架5的高度，使百分表6的指针设置在待测轴7的圆周面上，固定百分表支架5 ； 53、根据基准值的直径，调节千分杆4支架的高度，并微调千分杆4两端的尺寸，使千分杆4的一端与基准轴I的联轴器的端面接触，千分杆4的另一端与待测轴7的端面之间保持一定间隙，固定千分杆支架3，然后用塞尺测量该一定间隙，并记录数据；
54、缓慢转动基准轴2—周，在待测轴7不同的圆周位置上，记录百分表的读数，同时，用塞尺测量千分杆4的另一端与待测轴7端面之间的间隙并记录数据；
55、根据步骤S4中百分表6的读数和塞尺的测量数据，分别调整待测轴7的轴心径向位移偏差、以及千分杆4与待测轴7端面之间的间隙；
56、重复步骤S4、S5，直至调整待测轴7的轴线径向位移偏差、以及千分杆4与待测轴7端面之间的间隙至规范允许范围内。
[0012]本发明通过设置带法兰测量架，可以减少一部分测量架自重引起的挠度，另外，测量架采用轻质钢材制成，同时，通过测量架上设置多个支撑架，可以再进一步减少测量架的挠度，这样可以使得测量架的挠度可以忽略不计，提高测量精度；
通过在测量架的另一端设置可伸缩的百分表支架，以满足不同直径待测轴的测量要求，并通过百分表测量待测轴的轴线径向位移偏差；
通过在测量架上设置可伸缩的千分杆支架，以满足不同直径基准值的测量要求，并微调千分杆的两端尺寸，使千分杆的一端与基准轴的联轴器接触，另一端与待测轴端面之间保持一定间隙，并通过塞尺测量该间隙。
[0013]本发明用于找正轧机开卷、卷取机等设备与电机联轴器找正，百分表用于联轴器轴线径向偏移测量，千分杆用于端面间隙及两轴线倾斜度的测量，经过南南铝精轧机设备安装找正的实际应用，避免了长距离测量时测量工具下挠，精度达不到设计要求的弊端，缩短找正时间，提高工作效率。
[0014]应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种长距离联轴器找正装置，其特征在于，该装置包括:测量架、支撑架、千分杆和百分表，所述测量架由轻质钢材制成，所述测量架的一端设置有法兰，所述测量架的法兰通过螺栓固定安装在基准轴的联轴器上，多个所述支撑架的一端以测量架为圆心呈圆状安装在法兰上，多个所述支撑架的另一端安装在测量架的另一端，所述测量架的另一端上安装有可伸缩的百分表支架，所述百分表安装在百分表支架上，所述百分表的指针设置在待测轴的圆周面上，所述测量架上安装有可伸缩的千分杆支架，所述千分杆安装在千分杆支架上，所述千分杆为可伸缩的千分杆，所述千分杆的一端与基准轴的联轴器的端面接触，所述千分杆的另一端与待测轴的端面之间设有一定间隙。
2.—种长距离联轴器找正方法，其特征在于，包括以下步骤: s1、在基准轴和待测轴之间安装如权利要求1所述的长距离联轴器找正装置，该装置的测量架带法兰的一端通过螺栓固定安装在基准轴的联轴器上，测量架的另一端距离待测轴的端面一定距离； s2、根据待测轴的直径，调节百分表支架的高度，使百分表的指针设置在待测轴的圆周面上，固定百分表支架； s3、根据基准值的直径，调节千分杆支架的高度，并微调千分杆两端的尺寸，使千分杆的一端与基准轴的联轴器的端面接触，千分杆的另一端与待测轴的端面之间保持一定间隙，固定千分杆支架，然后用塞尺测量该一定间隙，并记录数据； s4、缓慢转动基准轴一周，在待测轴不同的圆周位置上，记录百分表的读数，同时，用塞尺测量千分杆的另一端与待测轴端面之间的间隙并记录数据； s5、根据步骤S4中百分表的读数和塞尺的测量数据，分别调整待测轴的轴心径向位移偏差、以及千分杆与待测轴端面之间的间隙； s6、重复步骤S4、S5，直至调整待测轴的轴线径向位移偏差、以及千分杆与待测轴端面之间的间隙至规范允许范围内。
【文档编号】G01B5/02GK104279929SQ201410551763
【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年10月17日 优先权日:2014年10月17日
【发明者】刘熬明, 王晖, 尉峰 申请人:中国一冶集团有限公司