电压检测装置的制作方法

本发明涉及一种电压检测装置，特别涉及一种用以检测处理器插座的电压检测装置。

背景技术：

由于中央处理器对电压相当敏感，当主机板提供给中央处理器的供电电压过高时，很容易会烧坏或击穿中央处理器。因此，当组装人员在维修或组装中央处理器时，常常会先检测设置于主机板上的处理器插座，确定主机板要提供给中央处理器的供电电压正常后，才会将中央处理器安装于处理器插座上。

然而，随着科技的进步，中央处理器的集成功能越来愈多。为了因应中央处理器各个功能接口电路所需的电压，主机板必须提供越来越多种类的供电电压给中央处理器，进而使得组装人员在安装中央处理器时，需要预先检测更多主机板提供的供电电压，因此造成组装人员在安装中央处理器上的耗时与不便。

技术实现要素：

本发明在于提供一种电压检测装置，借以解决组装人员安装中央处理器时，需检测多个供电电压而造成的耗时与不便问题。

本发明所公开的电压检测装置，包含基板、多个测试接脚、控制模块及警示模块。基板具有第一面及第二面。多个测试接脚设置于基板的第一面，测试接脚用以可插拔地连接处理器插座的多个电性接点。处理器插座的电性接点用以提供多个供电电压。控制模块设置于基板的第二面且电性连接测试接脚。当测试接脚连接于处理器插座的电性接点时，控制模块用以比对供电电压的值与预设范围以产生检测信号。警示模块电性连接控制模块，用以依据控制模块产生的检测信号，产生警示信号。

根据上述本发明所公开的电压检测装置，电压检测装置通过多个测试接 脚电性连接处理器插座的多个电性接点，以一并地取得主机板准备提供给处理器的多个供电电压值，并通过比对每一个供电电压的值与其预设的电压值的方式，以确定每一个供电电压的值是否都在正常的电压范围内，进而发出警示信号以提示组装人员是否适合安装处理器。组装人员通过本发明电压检测装置可以更为方便且迅速地检测主机板的多个供电电压值，进而完成安装中央处理器的工作。

以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的专利申请范围更进一步的解释。

附图说明

图1为根据本发明一实施例所绘示的电压检测装置的俯视图。

图2为根据本发明一实施例所绘示的电压检测装置的仰视图。

图3为根据本发明一实施例所绘示的处理器插座的俯视图。

图4为根据本发明再一实施例所绘示的控制模块及警示模块的功能方块图。

图5为根据本发明再一实施例所绘示的比对单元中AND门的示意图。

图6为根据本发明另一实施例所绘示的控制模块及警示模块的功能方块图。

图7为根据本发明又一实施例所绘示的缓冲模块的示意图。

图8为根据本发明又一实施例所绘示的电压检测装置电性连接主机板的示意图。

图9为根据本发明又一实施例所绘示的电压检测装置电性连接外部装置的示意图。

附图标记说明：

10 电压检测装置

11 基板

113 第一面

115 第二面

13_1～13_n 测试接脚

13’_1～13’_n 接触点

15、15a、15b 控制模块

151a、151b 取样单元

153a、153b 存储单元

155a、155b 比对单元

157b 计算单元

17、17a、17b 警示模块

18a、18b 缓冲模块

19 外接插槽

30 处理器插座

50 供电缆线

70 主机板

80 通信缆线

90 外部装置

31_1～31_n 电性接点

Va_1、Vb_1、Vc_1 第一电压

Va_2、Vb_2、Vc_2 第二电压

Va_3、Vb_3、Vc_3 第三电压

Va_4、Vb_4、Vc_4 第四电压

Va_5、Vb_5、Vc_5 第五电压

Va_6、Vb_6、Vc_6 第六电压

Va_m 第m电压

SC 检测信号

SAL 警示信号

Vs1_1～Vs1_n 第一取样电压

Vs2_1～Vs2_n 第二取样电压

Vs3_1～Vs3_n 第三取样电压

Vs4_1～Vs4_n 第四取样电压

Vs5_1～Vs5_n 第五取样电压

Vs6_1～Vs6_n 第六取样电压

SP_1 第一比对信号

SP_2 第二比对信号

SP_3 第三比对信号

SP_4 第四比对信号

SP_5 第五比对信号

SP_6 第六比对信号

R1、R2、R3 电阻

C1、C2 电容

t1_1～t1_n 第一时点

t2_1～t2_n 第二时点

t3_1～t3_n 第三时点

t4_1～t4_n第四时点

t5_1～t5_n第五时点

t6_1～t6_n第六时点

具体实施方式

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求及附图，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

请参照图1至图3，图1为根据本发明一实施例的电压检测装置的俯视图，图2为根据本发明一实施例所绘示的电压检测装置的仰视图，图3为根据本发明一实施例所绘示的处理器插座的俯视图。如图所示，电压检测装置10包含基板11、测试接脚13_1～13_n、控制模块15、警示模块17及外接插槽19。基板11具有第一面113及第二面115，其中测试接脚13_1～13_n的接触点13’_1～13’_n、控制模块15、警示模块17及外接插槽19位于基板11的第二面115上。而测试接脚13_1～13_n由接触点13’_1～13’_n向外突出且设置于基板11的第一面113上。于本实施例中，测试接脚13_1～13_n、控制模块15、警示模块17及外接插槽19设置的位置并非用以限制本发明，于其他实施例中，测试接脚13_1～13_n亦可设置于第二面115上，或是外接插槽19 可以设置于基板11的侧表面上。

测试接脚13_1～13_n用以可插拔地连接于处理器插座30的电性接点31_1～31_n，以检测处理器插座30所提供的多种供电电压。举例来说，供电电压例如为第一电压Va_1至第m电压Va_m，处理器插座30的电性接点31_1～31_2用以传输主机板准备要提供给处理器的第一电压Va_1。测试接脚13_1～13_2插设于处理器插座30的电性接点31_1～31_2时，以检测处理器插座30提供的第一电压Va_1。处理器插座30的电性接点31_3～31_4用以传输主机板准备要提供给处理器的第二电压Va_2。测试接脚13_3～13_4插设于处理器插座30的电性接点31_3～31_4，以检测处理器插座30提供的第二电压Va_2。其余测试接脚13_5～13_n检测第一电压Va_1至第m电压Va_m的方式以此类推。

于本实施例中以两个测试接脚检测同一种供电电压，并非为限制本发明用以检测提供相同供电电压的测试接脚数量。于其他实施例中，亦可以一个测试接脚检测同一种供电电压，或是三个到四个测试接脚检测同一种供电电压。此外，电压检测装置10的测试接脚可以电性连接全部或部分提供同一种供电电压的电性接点。举例来说，处理器插座30的五个电性接点31_5～31_9传输主机板提供的同一种供电电压给处理器，而电压检测装置10可以三个到四个测试接脚，如测试接脚13_5～13_7电性连接电性接点31_5～31_7，以检测主机板提供的同一种供电电压。

控制模块15电性连接测试接脚13_1～13_n。当接测试接脚13_1～13_n电性连接电性接点31_5～31_n时，控制模块15用以比对预设范围及供电电压的值，以产生检测信号SC。供电电压关连于测试接脚13_1～13_n检测电性接点31_3～31_n的结果。更详细来说，供电电压指主机板原本通过处理器插座30准备提供给处理器的电压，而电压检测装置10在处理器插座30安装处理器之前，安装于处理器插座30上，以检测主机板原本要提供给处理器的供电电压，因此测试接脚13_1～13_n检测到的供电电压实值上为主机板提供的供电电压。于其他实施例中，供电电压亦可以指测试接脚13_1～13_n取样多次主机板提供的供电电压，并加以平均计算的结果，抑或是供电电压是指主机板提供的供电电压经过缓冲处理以后所得到的电压。而预设范围实值上可以是依据处理器容许的供电电压规格而设定的电压范围，例如可容许供电 电压的正负5％，然而并不以此为限。

在实际操作上，一种供电电压对应于一个预设范围，例如主机板提供的供电电压包含第一电压Va_1及第二电压Va_2，预设范围包含第一范围及第二范围。第一电压Va_1对应于第一范围，第二电压Va_2对应于第二范围。换言之，于比对供电电压及预设范围的程序中，比对第一电压Va_1是否在第一范围之内，第二电压Va_2是否在第二范围之内。当第一电压Va_1在第一范围之内时，表示第一电压Va_1符合处理器的需求，当第一电压Va_1在第一范围之外时，表示第一电压Va_1不符合处理器的需求。同理比对第二电压Va_2与第二范围。

之后，控制模块15会再依据比对预设范围及供电电压的结果，产生检测信号SC。而警示模块17会依据控制模块15产生的检测信号SC，选择性地产生警示信号SAL。

为了方便说明，以下将举实际的实施例进行说明。于此实施例中，处理器插座30提供六种供电电压，如第一电压Va_1至第六电压Va_6。而处理器插座30中有十六个电性接点分别用以提供第一电压Va_1至第六电压Va_6。例如处理器插座30的电性接点31_1～31_3提供第一电压Va_1、电性接点31_4～31_6提供第二电压Va_2、电性接点31_7～31_10提供第三电压Va_3、电性接点31_11～31_12提供第四电压Va_4、电性接点31_13～31_14主机板提供第五电压Va_5、电性接点31_15～31_16提供第六电压Va_6。

电压检测装置10的测试接脚13_1～13_16电性连接处理器插座30的电性接点31_1～31_16，而令测试接脚13_1～13_16可以将处理器插座30提供的供电电压提供给控制模块15。举例来说，测试接脚13_1～13_3可以将处理器插座30提供的第一电压Va_1提供给控制模块15、测试接脚13_4～13_6将处理器插座30提供的第二电压Va_2提供给控制模块15、测试接脚13_7～13_10将处理器插座30提供的第三电压Va_3提供给控制模块15、测试接脚13_11～13_12将处理器插座30提供的第四电压Va_4提供给控制模块15、测试接脚13_13～13_14将处理器插座30提供的第五电压Va_5提供给控制模块15、测试接脚13_15～13_16将处理器插座30提供的第六电压Va_6提供给控制模块15。

控制模块15依据检测到的第一电压Va_1至第六电压Va_6，分别比对第 一电压Va_1至第六电压Va_6与预设范围。预设范围例如第一范围至第六范围。换言之，控制模块15比对第一电压Va_1与第一范围，比对第二电压Va_2与第二范围，其余以此类推。之后，控制模块15再依据第一电压Va_1至第六电压Va_6与第一范围至第六范围比对的结果，产生检测信号SC。

警示模块17依据控制模块15产生的检测信号SC，选择性地产生警示信号，以提示维修人员电压检测装置10检测的结果。更详细来说，当控制模块15比对第一电压Va_1至第六电压Va_6中任一个值不符合第一范围至第六范围时，检测信号SC将指示警示模块17产生可以提示处理器插座30提供的供电电压不符合处理器规格的警示信号。当控制模块15比对第一电压Va_1至第六电压Va_6中的值皆符合第一范围至第六范围时，检测信号SC将指示警示模块17产生可以提示处理器插座30所提供的供电电压符合处理器规格的警示信号。

请一并参照图1至图3及图4至图5，图4为根据本发明再一实施例所绘示的控制模块及警示模块的功能方块图，图5为根据本发明再一实施例所绘示的比对单元中AND门的示意图。为了方便说明，此实施例同样以上述的六种供电电压、十六个电性接点31_1～31_16及十六个测试接脚13_1～13_16为例说明。与前一个实施例不同的是，于此实施例中，控制模块15a具有取样单元151a、存储单元153a及比对单元155a，如图4所示。取样单元151a电性连接测试接脚13_1～13_16。当测试接脚13_1～13_16中可插拔地连接于处理器插座30的电性接点31_1～31_16时，取样单元151a可于多个第一时点t1_1～t1_n到多个第六时点t6_1～t6_n从测试接脚13_1～13_16取得多个关连于第一电压Vb_1至第六电压Vb_6的取样电压。

举例来说，测试接脚13_1～13_3可以于多个第一时点t1_1～t1_n取得多个关连于第一电压Va_1的第一取样电压Vs1_1～Vs1_n，测试接脚13_4～13_6可以于多个第二时点t2_1～t2_n接收到多个关连于第二电压Va_2的第二取样电压Vs2_1～Vs2_n、测试接脚13_7～13_10可以于多个第三时点t3_1～t3_n接收到可以接收到多个关连于第三电压Va_3的第三取样电压Vs3_1～Vs3_n、测试接脚13_11～13_12可以于多个第四时点t4_1～t4_n接收到多个关连于第四电压Va_4的第四取样电压Vs4_1～Vs4_n、测试接脚13_13～13_14可以于多个第五时点t5_1～t5_n接收到多个关连于第五电压Va_5的第五取样电压 Vs5_1～Vs5_n、测试接脚13_15～13_16可以于多个第六时点t6_1～t6_n接收到多个关连于第六电压Va_6的第六取样电压Vs6_1～Vs6_n，其中第一取样电压Vs1_1～Vs1_n到第六取样电压Vs6_1～Vs6_n可存储于取样单元151a内部的存储器中。于其他实施例中，第一取样电压Vs1_1～Vs1_n到第六取样电压Vs6_1～Vs6_n亦可存储于存储单元153中。而存储单元153a亦用以存储预设范围，例如第一范围到第六范围。

比对单元155a电性连接取样单元151a及存储单元153a。比对单元155a用以比对第一电压至第六电压的值与第一范围至第六范围，以产生检测信号SC。举例来说，比对单元155a依据第一电压Vc_1与第一范围比对的结果产生第一比对信号SP_1，依据第二电压Vc_2与第二范围比对的结果产生第二比对信号SP_2，同理产生第三比对信号SP_3到第六比对信号SP_6。如图5所示，比对单元155a再通过AND门或NAND门，接收第一比对信号SP_1到第六比对信号SP_6，据以产生检测信号SC，如图5所示。之后，比对单元155再将产生的检测信号SC输出给警示模块17，由警示模块17据以产生警示信号。

请一并参照图1至图3及图6，图6为根据本发明另一实施例所绘示的控制模块及警示模块的功能方块图。为了方便说明，此实施例同样以上述的六种供电电压、十六个电性接点31_1～31_16及十六个测试接脚13_1～13_16为例说明。然而，与图4所示的实施例不同的是，本实施例的控制模块15b具有取样单元151b、存储单元153b及比对单元155b外，更具有计算单元157b。

计算单元157b电性连接取样单元151b、存储单元153b及比对单元155b。计算单元157b用以依据取样单元151b取得的第一取样电压Vs1_1～Vs1_n到第六取样电压Vs6_1～Vs6_n计算第一电压Vb_1至第六电压Vb_6的值。举例来说，第一电压Vb_1的值可以为第一取样电压Vs1_1～Vs1_n的算术平均值，第二电压Vb_2的值可以为第一取样电压Vs2_1～Vs2_n的算术平均值，第三电压Vb_3的值到第六电压Vb_2的值以此类推。于其他实施例中，计算单元157b亦可以依据部分的第一取样电压Vs1_1～Vs1_n计算第一电压Vc_1。具体来说，计算单元157b撷取部分的第一取样电压Vs1_1～Vs1_n，例如第一取样电压Vs1_10～Vs1_25，并计算第一取样电压Vs1_10～Vs1_25的算术平均值作为第一电压Vc_1的值。计算单元157b所撷取的第一取样电 压可以是去掉第一取样电压Vs1_1～Vs1_n中较为突出的电压值，例如超出平均太多或低于平均值太多的电压值，而剩下的第一取样电压，据以避免太高或太低的电压值影响检测的结果。同理，计算单元157b亦可以对第二取样电压Vs2_1～Vs2_n到第六取样电压Vs6_1～Vs6_n采用同样的方式计算出第二电压Vc_2至第六电压Vc_6的值。本实施例计算单元157b撷取部分第一取样电压的技术手段非用以限制本发明，所属技术领域技术人员亦可以其他合适的手段撷取部分的第一取样电压。

于实际例子中，第一取样电压Vs1_1～Vs1_n可以是测试接脚13_1～13_3各别取样多次的结果。更详细来说，测试接脚13_1～13_3可以于不同的时点，从处理器插座30的电性接点31_1～31_3取得多个第一取样电压Vs1_1～Vs1_n，换言之，测试接脚13_1～13_3可以于第一时点t1_1取得关连于第一电压Vc_1的第一取样电压Vs1_1，于第一时点t1_2取得关连于第一电压Vc_1的第一取样电压Vs1_2，...于第一时点t1_n取得第一取样电压Vs1_n。而同理测试接脚13_4～13_6可以于第二时点t2_1～t2_n取得关连于第二电压Vc_2的第二取样电压Vs2_1～Vs2_n。电压检测装置10可以采用轮询的方式，分时采集关连于第一电压Vc_1至第六电压Vc_6的第一取样电压Vs1_1～Vs1_n至第六取样电压Vs6_1～Vs6_n。也就是说，在采集完第一取样电压Vs1_1～Vs1_n候，采集第二取样电压Vs2_1～Vs2_n，再采集第三取样电压Vs3_1～Vs3_n，之后以此类推。本实施例不限制电压检测装置10采集第一取样电压Vs1_1～Vs1_n至第六取样电压Vs6_1～Vs6_n的顺序，并且上述第一取样电压Vs1_1～Vs1_n至第六取样电压Vs6_1～Vs6_n的取样数量亦可不同。

接着，请一并参照图1至图3及图7，图7为根据本发明另一实施例所绘示的缓冲模块的示意图。如图所示，电压检测装置10可更具有多个缓冲模块18a、18b。缓冲模块18a、18b电性连接于部分的测试接脚与控制模块15之间。以图7所示的实施例来说，缓冲模块18a电性连接于测试接脚13_1～13_3与控制模块15之间，缓冲模块18b电性连接于测试接脚13_4～13_6与控制模块15之间。缓冲模块18a可以分压电路及电容C1所构成，分压电路可以降低测试接脚13_1～13_3所接收到的第一电压或第一取样电压，例如通过分压电路中的电阻R1及电阻R2，将测试接脚13_1～13_3检测到12V(伏特)的第一电压或第一取样电压降为1.5V，再通过电容C1对第一电压或第一取样电 压进行滤波，以避免过大的电压或脉冲电压输入电压检测装置10，而烧坏电压检测装置10。

而缓冲模块18b中的电容C2及电阻R3亦可以直接对测试接脚13_4～13_6所接收到的第二电压或第二取样电压进行滤波，以避免第二电压或第二取样电压有脉冲而损坏电压检测装置10。于本实施例中，缓冲模块18a及缓冲模块18b设置于控制模块15外，于其他实施例中，亦可以是于控制模块内部具有如缓冲模块18a及缓冲模块18b的缓冲单元，于此不予限制。此外，本实施例亦不限制缓冲模块18a与缓冲模块18b与测试接脚13_1～13_16的对应关系，换言之，于其他实施例中，可于每一个测试接脚与控制模块15之间电性连接缓冲模块18a或缓冲模块18b。

于本实施例中，电压检测装置10可具有防呆的机制，如图1至图3所示，电压检测装置10上的测试接脚依据配置图形设置于基板11上，而使电压检测装置10具有特定的插接方向以对应插接于处理器插座30上。当电压检测装置10插接于处理器插座30上的方向未符合特定的插接方向时，电压检测装置就无法插设于处理器插座30上。

再者，请一并参照图1、图6及图8，图8为根据本发明又一实施例所绘示的电压检测装置电性连接主机板的示意图。如图8所示，电压检测装置10还包含供电缆线50以电性连接至主机板70，由主机板70提供电源电压给电压检测装置10。而控制模块15中的计算单元157b可依据主机板70提供的电源电压的值，修正存储于存储单元153中的预设范围。以实际的例子来说，主机板70一般提供5V的电源电压给处理器，当电压检测装置10接收主机板70提供的电源电压时，电压检测装置10可更检测主机板70提供的电源电压是否符合正常的电压范围内，例如4.5V～5.5V，并据以修正存储于存储单元153中的预设范围，例如第一范围至第六范围。

而于其他实施例中，请一并参照图1、图6及图9，图9为根据本发明又一实施例所绘示的电压检测装置电性连接外部装置的示意图。如图9所示，电压检测装置10还包含通信缆线80以电性连接至外部装置90。外部装置90例如可以为电脑或其他可以提供维修人员输入规格信息的设备。外部装置90依据维修人员输入的规格信息，产生设定信息，并将设定信息通过通信缆线80传输至电压检测装置10，由电压检测装置10内部的计算单元157b依据设 定信息设定存储于存储单元153中的预设范围，如第一范围至第六范围。

举例来说，当通信缆线80电性连接至外部装置90时，电压检测装置10可通过通信缆线80将检测到的供电电压传输到外部装置90。维修人员可由外部装置90得知电压检测装置10所检测到的供电电压的值。电压检测装置10亦可通过通信缆线80将存储于存储单元153中的预设范围传输到外部装置90，提供维修人员由外部装置90得知电压检测装置10当前设定的预设范围。维修人员可依据不同规格的处理器所需要的供电电压，于外部装置90上对应输入不同处理器的规格信息，以令外部装置90产生设定信息，并通过通信缆线80传输至电压检测装置10，由计算单元157b据以设定存储于存储单元153中的预设范围。于本实施例中，外部装置90亦可以通过通信缆线80提供电源电压给电压检测装置10，本实施例不予限制。

此外，在实际的操作中，警示模块17可以为LED(Light-Emitting Diode)灯。当第一电压Vc_1至第六电压Vc_6中任一个值不符合第一范围至第六范围时，警示模块17可以驱动红色的LED灯以提醒警示。当第一电压Vc_1至第六电压Vc_6中都符合第一范围至第六范围时警示模块17可以驱动绿色的LED灯以提示电压检测装置10的检测状况。警示模块17的实施方式及LED灯的颜色非加以限制本发明，所述技术领域技术人员应可依据上述警示模块17公开的技术内容，置换为其他的技术方法，于此不予赘述。

综合以上所述，本发明所提供的一种电压检测装置，可以通过将多个测试接脚电性连接处理器插座的多个电性接点，以一次检测主机板准备提供给处理器的多个供电电压。并且，于所举实施例中，电压检测模块更可以通过多次取样供电电压的值，而更加准确地检测到主机板提供的供电电压是否符合处理器所需的规格。组装人员通过本发明的电压检测装置，可以更为方便且迅速地检测主机板的多个供电电压值，进而完成安装中央处理器的工作。

虽然本发明以前述的实施例公开如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为的变动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求。