技术总结
一种短路微带线法测试薄膜复数磁导率的装置，属于磁性材料测试技术领域。包括底座、外线圈、内线圈、载物平台、短路微带线夹具，外线圈和内线圈为同轴的空心圆柱线圈，内线圈位于外线圈内部，外线圈设置于底座之上，载物平台设置于内线圈的内侧，短路微带线夹具放置于载物平台之上，所述外线圈和内线圈的中心轴以及载物平台与水平面有一夹角α。本发明装置通过两个同轴的空心圆柱线圈形成中心磁场，无需采用电磁铁，体积小，重量轻，功耗低，且较少的线圈就能实现较大的中心磁场，成本低；本发明装置在线圈损坏时不用更换整个测试系统，只需对相应部分线圈进行更换，使用方便，且工作电压低。
技术研发人员：周佩珩;罗小嘉;王昕;谢建良;邓龙江;
受保护的技术使用者：电子科技大学;
文档号码：201610297281
技术研发日：2016.05.06
技术公布日：2016.07.27