本发明涉及一种LED灯条老化测试装置，尤其涉及一种LED硬灯条老化测试装置，属于LED灯条测试技术领域。
背景技术：
LED硬灯条是用PCB硬板做组装线路板，LED有用贴片LED进行组装的，也有用直插LED进行组装的，视需要不同而采用不同的元件。
随着社会的发展，LED 硬灯条由于其环保，能耗低，发光强度大，抗冲击性能好等等优点广泛用于各种领域中，通过在80℃高温箱中高温老化1000 小时而不死灯的测试验证，是将LED 灯条应用于液晶电视设计时或者批量生产前的寿命可靠性要求，故LED 灯条的老化测试必不可少。而现有的LED灯条老化测试装置存在加热不均匀，LED灯条受热不均匀的问题，还有，LED灯条老化测试装置在高温条件下易出现LED灯条爆炸现象，而现有的LED灯条老化测试装置无防爆功能，安全性差。
技术实现要素：
本发明所要解决的技术问题是，提供一种可旋转的，LED灯条受热均匀的，并且具有自泄压功能，具防爆效果，安全系数高的LED灯条老化测试装置。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
一种LED灯条老化测试装置，包括箱体，所述箱体内设置有载物托盘，所述载物托盘下端连有转轴，所述转轴穿出所述箱体底面后与旋转电机相连，所述载物托盘上设置有若干用于固定LED灯条的夹具，所述夹具包括设置于所述载物托盘上的密闭空箱，所述密闭空箱的上表面设置有与所述LED灯条相接触的上通孔，所述密闭空箱的下表面设置有与软管相连的下通孔，全部所述软管均与总软管相连通，所述总软管与真空泵相连；所述箱体的内壁中设置有加热管；所述箱体顶端设置有泄压阀。
所述加热管与温控装置相连。
所述上通孔和下通孔均与所述密闭空箱相连通。
所述密闭空箱为正方形，所述密闭空箱的边长小于所述LED灯条的宽度。
所述转轴外套有轴承，所述轴承与所述箱体底面之间设置有密封圈。
所述密封圈包括金属密封圈。
本发明的有益效果：本发明提供的一种LED灯条老化测试装置，载物托盘、转轴和旋转电机的设置，使待测试LED灯条能够旋转，故待测试LED灯条受热均匀，测试结果准确；密闭空箱、软管、总软管和真空泵的设置，为待测试LED灯条的夹具，用于真空吸附住待测试LED灯条，防止待测试LED灯条在旋转的作用下发生位移，故本发明可进行多个LED灯条的同时测试，并且真空吸附方式作用温和，不会损伤待测试LED灯条；密闭空箱为正方形，密闭空箱的边长小于LED灯条的宽度的设置，使待测试LED灯条的加热面积实现最大化，使测试结果准确，待测试LED灯条放于密闭空箱上表面，并且待测试LED灯条与密闭空箱的接触面小，使待测试LED灯条基本上处于悬空状态，待测试LED灯条受热面积大。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作更进一步的说明。
如图1所示，一种LED灯条老化测试装置，包括箱体1，所述箱体1内设置有载物托盘2，所述载物托盘2下端连有转轴3，所述转轴3穿出所述箱体1底面后与旋转电机4相连，所述载物托盘2上设置有若干用于固定LED灯条的夹具5，所述夹具5包括设置于所述载物托盘2上的密闭空箱6，所述密闭空箱6的上表面设置有与所述LED灯条相接触的上通孔，所述密闭空箱6的下表面设置有与软管7相连的下通孔，全部所述软管7均与总软管8相连通，所述总软管8与真空泵9相连；所述箱体1的内壁中设置有加热管；所述箱体1顶端设置有泄压阀10。
所述加热管与温控装置相连。
所述上通孔和下通孔均与所述密闭空箱6相连通。
所述密闭空箱6为正方形，所述密闭空箱6的边长小于所述LED灯条的宽度。一个待测试LED灯条可放于两个密闭空箱6上表面来固定。
所述转轴3外套有轴承，所述轴承与所述箱体1底面之间设置有密封圈。
所述密封圈包括金属密封圈。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。