1.一种运算放大器集成电路的检测机构，包括检测座(10)，其特征在于：
所述检测座(10)的上端面上设有电压表(20)，检测座(10)的一端成型有向外延伸的检测板(13)，所述检测板的两侧成型有一对相向设置的弧形导向槽(131)，所述弧形导向槽的侧壁上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈(30)，所述导电圈上固定连接有导线(31)，所述导线与所述电压表(20)的电极柱(21)固定连接在一起，弧形导向槽(131)内设有检测探针(40)，所述检测探针与导电圈(30)接触，检测探针(40)的探头(41)穿过弧形导向槽(131)并位于弧形导向槽(131)的下方；
所述一对弧形导向槽(131)之间的检测板(13)底面上成型有“十”字形的导向槽(132)，所述导向槽内插接有触发器底座(50)，所述触发器底座的底面上成型有环形的调节槽(52)，所述调节槽的两端内部嵌置有两个转动球(60)，所述两个转动球的下端之间固定连接有横轴(61)，所述横轴的中部固定插套有斜置的敲击杆(62)；
所述检测板(13)所在的检测座(10)侧面上成型有长条形的夹持导轨(70)，所述夹持导轨的中部固定有第一夹持板(71)，所述第一夹持板两侧的夹持导轨(70)上活动设置有一对与第一夹持板(71)相垂直的第二夹持板(72)，所述第二夹持板和第一夹持板(71)上均成型有用于夹持运算放大器集成电路板的“匚”字形的夹持槽(74)，一对第二夹持板(72)上的夹持槽(74)相向设置。
2.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述检测探针(40)包括倒置的T型插套(42)、探针本体(43)、导电螺套(44)和压簧(45)，所述T型插套(42)的下端抵靠在检测板(13)的底面上，T型插套(42)的上端穿过弧形导向槽(131)并螺接所述导电螺套(44)，导电螺套压靠在所述导电圈(30)上，所述探针本体(43)插接在T型插套(42)内，探针本体(43)的探头(41)的上方成型有环台(431)，所述环台上方的探针本体(43)上插套有所述压簧(45)，压簧的两端分别压靠在环台(431)和T型插套(42)上，探针本体(43)的上端穿过T型插套(42)并成型有提手(432)。
3.根据权利要求2所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述导电螺套(44)的上端固定套设有绝缘套(46)。
4.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述夹持导轨(70)上成型有导轨槽(73)，所述导轨槽与第二夹持板(72)的纵向方向垂直，所述第一夹持板(71)固定在导轨槽(73)内，第二夹持板(72)的一端成型有移动块(721)，所述移动块插接在导轨槽(73)内并可沿导轨槽(73)移动。
5.根据权利要求1或4所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述第一夹持板(71)和第二夹持板(72)均位于检测探针(40)的探头(41)和敲击杆(62)的下方。
6.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述敲击杆(62)的上下端均穿过横轴(61)的中部，敲击杆(62)的下端成型有球形敲打部(621)。
7.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述触发器底座(50)的上端面中部成型有导向块(51)，所述导向块插接在所述导向槽(132)中并可在导向槽(132)内移动。
8.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述检测座(10)的上端面上成型有凹台(12)，所述电压表(20)固定在所述凹台(12)内。
9.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述检测座(10)的底面上固定连接有磁力吸盘(11)。