技术总结
本发明公开了一种荧光寿命测量方法及系统，方法包括：以激发光照射样品，由光电倍增管接收样品产生的荧光，激发光的调制信号为频率为fE的余弦信号,并以频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益电压，样品产生的荧光经过光电倍增管后，由荧光屏接收获得第一图像，采用光电探测器采集所述第一图像，获得第二图像；根据第二图像计算样品产生荧光的荧光寿命。与现有技术相比，本发明荧光寿命测量方法及系统，基于外差高次谐波调频实现荧光寿命测量，采用低频方波信号来对光电倍增管的增益电压进行调制，可放宽对像增强器的技术要求。
技术研发人员：卢凯欣;白玉磊;周延周
受保护的技术使用者：广东工业大学
技术研发日：2016.09.05
技术公布日：2019.04.09