技术总结
本发明公开了一种单粒子束散射光强分布的测量装置，它包括光源、分光光路、光接收和探测组件以及微流控芯片组件，所述光源包括主测量光源、辅助测量光源和系统调整光源；所述分光光路包括分光镜和PIN管；所述光接收和探测组件包括90°离轴抛物面反射镜、望远镜镜组、光阑、滤光片、ICCD探测器、信号探测及发生电路、复合滤光片、PMT探测器、示波器和计算机；所述微流控芯片组件包括微流控芯片、光屏、三轴调节具和微流泵。另外，本发明还公开了一种单粒子束散射光强分布的测量方法。
技术研发人员：丁驰竹;戴杰
受保护的技术使用者：华中农业大学
文档号码：201610840673
技术研发日：2016.09.22
技术公布日：2017.02.22