1.一种针对SiP内嵌存储器的功能测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
步骤1：首先进行存储器外围互连线的筛选测试，分析外围互连线的故障类型，采用全0全1法与走步法相结合的方法进行测试；该步骤包括如下子步骤：
步骤101：用全0和全1测试法测试数据线是否存在固定逻辑故障及数据线固定开路故障；若存在故障，停止测试，进行故障反馈；
步骤102：用走步0和走步1对数据总线进行测试，走步0可以检测0支配的桥接短路故障，走步1可以检测1支配的桥接短路故障；若存在故障，停止测试，进行故障反馈；
步骤103：用走步0和走步1测试地址总线故障，检测地址总线是否存在开路或短路故障；若存在故障，停止测试，进行故障反馈；
步骤2：在完成步骤1的基础上，进行存储单元阵列的测试；
分析存储单元阵列的故障类型，采用March改进算法进行存储单元阵列的测试；若检测出故障，停止测试，进行故障反馈；
步骤3：最后对其进行系统功能测试：
了解SIP内部存储器的测试需求，根据应用场景规划测试方案，进行最后的系统功能测试；若有错误，反馈故障信息，结束测试。