针对SiP内嵌存储器的功能测试方法与流程

技术总结
本发明属于SiP测试技术领域，具体涉及一种针对SiP内嵌存储器的功能测试方法。与现有技术相比较，本发明结合功能测试与结构测试的思想对SiP进行详尽的功能测试，一方面可以增大故障覆盖率，提高SiP应用的可靠性，另一方面，也可一定程度上提高测试效率。

技术研发人员：刘慧婕;王可;李岩;纪策
受保护的技术使用者：天津津航计算技术研究所
文档号码：201611050120
技术研发日：2016.11.25
技术公布日：2017.05.10