技术总结
本发明提出的是一种太赫兹（THz）频段功率放大芯片在片功率测试系统，其结构包括处理器、探针台、信号源、扩频模块、功率计、电源、左S弯及波导探针、右S弯及波导探针、直流探卡。其测试方法，包括：1）建立信号源输出功率与扩频模块输出功率之间对应关系；2）原有系统基础上连接左、右S弯及波导探针；3）测试在片系统损耗；4）采集数据；5）处理器计算出待测太赫兹频段功率放大芯片的输入功率、输出功率及增益；6）判定是否需要进行其它芯片的测试。优点：1）实现了THz功率放大芯片输出功率、增益的精确测试；2）实现了对于THz功率放大器的在片自动测试，提高了测试效率。
技术研发人员：陆海燕;孙岩;程伟;孔月婵;陈堂胜
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第五十五研究所
文档号码：201611065710
技术研发日：2016.11.28
技术公布日：2017.05.24