1.一种复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，用于对待测试电路板进行柔性测试，该装置包含：
柔性探针组件，包含若干个接触针，所述的若干个接触针分别连接待测试电路板的接线柱；
定位柱组件，用于对待测电路板进行导向定位；
快锁组件，用于锁紧待测试电路板；
壳体组件，所述的壳体组件包含主壳体及接插件，所述的主壳体用于装设柔性探针组件、定位柱组件、快锁组件及接插件；所述的接插件与所述的接触针连接。
2.如权利要求1所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，所述的壳体组件还包含底盖，所述的底盖设置在所述的主壳体的下方，并与所述的主壳体连接。
3.如权利要求2所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，所述的主壳体及底盖均由铝合金材质制成。
4.如权利要求1所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，所述的柔性探针组件还包含：
接触座，所述的接触座呈台阶形，并且在接触座的顶部设有凹槽，凹槽的边沿上设有若干个台阶通孔，所述的接触座设置在所述的主壳体的上方，并与所述的主壳体连接；
固定盖，所述的固定盖设置在所述的凹槽内；
顶盖，所述的顶盖设置在所述的固定盖的上方，并且顶盖的顶部平面高于所述待测试电路板所在的平面；
压紧盖，所述的压紧盖设置在所述的固定盖的下方，所述的压紧盖上设有与台阶通孔位置对应的压紧盖通孔；
其中，接触针的一端为接触端部，另一端为焊线尾端，所述的接触端部穿过所述的台阶通孔与待测试电路板的接线柱连接，所述的焊线尾端穿过所述的压紧盖通孔与所述的接插件连接；
若干个接触针弹簧，接触针弹簧套接在所述的接触针上，并且位于所述的台阶通孔内。
5.如权利要求4所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，所述的接触座、顶盖及压紧盖均由聚四氟乙烯材料制成；所述的固定盖由铝合金材质制成；所述的接触针由黄铜材料制成；所述的接触针弹簧由不锈钢材料制成。
6.如权利要求1所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，定位组件包含若干个与待测试电路板的安装通孔对应的定位柱，所述的定位柱一端与所述的主壳体连接，另一端穿过所述的安装通孔。
7.如权利要求6所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，所述的定位柱由不锈钢材料制成。
8.如权利要求1所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，所述的快锁组件包含若干个快锁单元，每一快锁单元包含：
快锁座，所述的快锁座呈倒T形，包含相互垂直设置的横向座体与竖向座体，其中横向座体与所述的主壳体连接，所述的快锁座设有沿竖向贯穿竖向座体和横向座体的台阶沉孔；
快锁压头，所述的快锁压头设置在所述的竖向座体的上方，所述的快锁压头包含一压紧端面，与待测试电路板的安装面贴合；
快锁杆，所述的快锁杆穿过所述的台阶沉孔与所述的快锁压头连接；
快锁弹簧，所述的快锁弹簧套接在所述的快锁杆上，所述的快锁弹簧设置在所述的台阶沉孔内；
快锁盖，所述的快锁盖设置在所述的快锁杆下方，所述的快锁盖与所述的横向座体连接。
9.如权利要求8所述的复杂环境下电路板柔性快速测试装置，其特征在于，所述的快锁座、快锁杆、快锁杆及快锁弹簧由不锈钢材料制成；所述的快锁压头由聚四氟乙烯材料制成。